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一種用于異型α、β探頭的檢定源盒的制作方法

文檔序號(hào):8786670閱讀:276來源:國(guó)知局
一種用于異型α、β探頭的檢定源盒的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于電離輻射計(jì)量檢定、校準(zhǔn)領(lǐng)域,具體涉及一種用于異型α、β探頭的檢定源盒,能夠用于檢定、校準(zhǔn)異型α、β探頭和存儲(chǔ)α、β標(biāo)準(zhǔn)放射源。
【背景技術(shù)】
[0002]在戰(zhàn)略武器預(yù)研、試驗(yàn)及核設(shè)施退役過程中,需使用大量的異型α、β探頭。隨著對(duì)放射性場(chǎng)所表面污染監(jiān)測(cè)的需要,各核儀器公司相繼開發(fā)出形狀各異的α、β表面污染測(cè)量?jī)x,其探頭探測(cè)窗口形狀、大小不盡相同,有圓形、長(zhǎng)方形、正方形,甚至在一個(gè)探頭上設(shè)有多個(gè)探測(cè)窗口。按電離輻射計(jì)量檢定規(guī)程JJG478-96規(guī)定,對(duì)α、β表面污染測(cè)量?jī)x進(jìn)行檢定、校準(zhǔn)時(shí)需有嚴(yán)格的實(shí)驗(yàn)操作平臺(tái)。面對(duì)這些強(qiáng)檢的α、β表面污染測(cè)量?jī)x,對(duì)標(biāo)準(zhǔn)放射源表面與探測(cè)器之間的距離、幾何中心位置,現(xiàn)有技術(shù)已不能滿足對(duì)眾多形狀各異的α、β探頭進(jìn)行檢定、校準(zhǔn)工作,從而導(dǎo)致檢定、校準(zhǔn)結(jié)果的不確定度增大,降低了檢定、校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的可靠性。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為了克服已有技術(shù)中檢定源盒難以滿足對(duì)眾多形狀各異的α、β探頭檢定、校準(zhǔn)的不足,本實(shí)用新型提供一種用于異型α、β探頭的檢定源盒。
[0004]本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:本實(shí)用新型的用于異型α、β探頭的檢定源盒,其特點(diǎn)是,所述的檢定源盒包括弧形固定嵌卡曲面、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口、底盤、屏蔽防塵蓋,其中,所述的弧形固定嵌卡曲面含有螺旋條紋1、置取卡點(diǎn)1、嵌卡弧I,所述的旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口含有置取卡點(diǎn)I1、嵌卡弧I1、固定螺鈕,所述的底盤設(shè)置有螺旋條紋II。其連接關(guān)系是,所述的弧形固定嵌卡曲面外側(cè)設(shè)置有螺旋條紋I,內(nèi)側(cè)設(shè)置有嵌卡弧I,在嵌卡弧I兩端點(diǎn)設(shè)有置取卡點(diǎn)1、置取卡點(diǎn)III。所述的旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口內(nèi)側(cè)設(shè)置有嵌卡弧II,在嵌卡弧II兩端點(diǎn)設(shè)有置取卡點(diǎn)I1、置取卡點(diǎn)IV。旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口一端點(diǎn)設(shè)置有固定螺鈕。所述的底盤設(shè)置有螺旋條紋II。所述的弧形固定嵌卡曲面固定在底盤上的一側(cè),旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口通過固定螺鈕固定在底盤上的另一側(cè),旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口通過固定螺鈕使置取卡點(diǎn)I與置取卡點(diǎn)II相嵌卡、置取卡點(diǎn)III與置取卡點(diǎn)IV相嵌卡。所述的弧形固定嵌卡曲面、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口分別設(shè)置在同一軸心線兩側(cè)。屏蔽防塵蓋設(shè)置有與螺旋條紋1、螺旋條紋II對(duì)應(yīng)的內(nèi)螺紋。弧形固定嵌卡曲面、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口、底盤固定在屏蔽防塵蓋內(nèi)。
[0005]所述的弧形固定嵌卡曲面的嵌卡弧I與旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口的嵌卡弧II對(duì)應(yīng)設(shè)置。
[0006]所述的弧形固定嵌卡曲面、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口與待檢儀器的探測(cè)探頭對(duì)應(yīng)設(shè)置。
[0007]所述的底盤的直徑分別與弧形固定嵌卡曲面、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口的直徑相匹配,由弧形固定嵌卡曲面I和旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口 2構(gòu)成的圓周與底盤3匹配。
[0008]所述的弧形固定嵌卡曲面通過低原子序數(shù)的聚四氟乙烯材料與底盤的固定連接。
[0009]本實(shí)用新型中設(shè)置的置取卡點(diǎn)1、嵌卡弧1、置取卡點(diǎn)I1、嵌卡弧II以便于標(biāo)準(zhǔn)放射源
[0010]的置入、取出、存儲(chǔ),同時(shí)固定控制標(biāo)準(zhǔn)放射源表面與異型α、β探頭保護(hù)柵網(wǎng)之間的距離、幾何中心位置,底盤、屏蔽防塵蓋起到保護(hù)標(biāo)準(zhǔn)放射源不受污染損壞。
[0011]按照電離輻射計(jì)量檢定規(guī)程JJG478-96規(guī)定,在檢定、校準(zhǔn)α、β表面污染測(cè)量?jī)x的異型α、β探頭時(shí),異型α、β探頭保護(hù)柵網(wǎng)與標(biāo)準(zhǔn)放射源表面之間距離有著不同要求。其中,檢定、校準(zhǔn)α、β表面污染測(cè)量?jī)x的異型α探頭時(shí),α標(biāo)準(zhǔn)放射源表面與異型α探頭保護(hù)柵網(wǎng)之間距離為5mm。檢定、校準(zhǔn)α、β表面污染測(cè)量?jī)x的異型β探頭時(shí),β標(biāo)準(zhǔn)放射源表面與異型β探頭保護(hù)柵網(wǎng)之間距離為10mm。
[0012]本實(shí)用新型的有益效果是,距離控制:有效固定控制標(biāo)準(zhǔn)放射源表面與異型α、β探頭保護(hù)柵網(wǎng)之間的距離、幾何中心位置,降低數(shù)據(jù)不確定度,從而提高檢定、校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確度;多功能性:適合α、β探頭形狀大小各異、多探測(cè)窗口的α、β表面污染測(cè)量?jī)x;安全性:解決標(biāo)準(zhǔn)放射源的損壞、污染;操作過程簡(jiǎn)單便捷:有效提高檢定、校準(zhǔn)異型α、β探頭的工作效率。在檢定、校準(zhǔn)異型α、β探頭的過程中,用于異型α、β探頭的檢定源盒在距離控制、多功能性、安全性、操作過程簡(jiǎn)單便捷的基礎(chǔ)上確保計(jì)量檢定量值傳遞的準(zhǔn)確可靠,具有簡(jiǎn)單、可靠、易實(shí)現(xiàn)的優(yōu)點(diǎn)。
【附圖說明】
[0013]圖1為本實(shí)用新型的用于異型α、β探頭的檢定源盒的解析圖;
[0014]圖中,1.弧形固定嵌卡曲面 2.旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口 3.底盤 4.螺旋條紋I 5.置取卡點(diǎn)I6.嵌卡弧I7.固定螺鈕 14.螺旋條紋II15.置取卡點(diǎn)II 16.嵌卡弧II。
【具體實(shí)施方式】
[0015]下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)描述。
[0016]實(shí)施例1
[0017]圖1為本實(shí)用新型的用于異型α、β探頭的檢定源盒的解析圖
[0018]在圖1中,本實(shí)用新型的用于異型α、β探頭的檢定源盒,包括弧形固定嵌卡曲面1、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口 2、底盤3、屏蔽防塵蓋,其中,所述的弧形固定嵌卡曲面I含有螺旋條紋I 4、置取卡點(diǎn)I 5、嵌卡弧I 6,所述的旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口 2含有置取卡點(diǎn)II 15、嵌卡弧II 16、固定螺鈕7,所述的底盤3設(shè)置有螺旋條紋II 14。其連接關(guān)系是,所述的弧形固定嵌卡曲面I外側(cè)設(shè)置有螺旋條紋I 4,內(nèi)側(cè)設(shè)置有嵌卡弧I 6,在嵌卡弧I 6兩端點(diǎn)設(shè)有置取卡點(diǎn)I 5、置取卡點(diǎn)III。所述的旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口 2內(nèi)側(cè)設(shè)置有嵌卡弧II 16,在嵌卡弧II 16兩端點(diǎn)設(shè)有置取卡點(diǎn)II 15、置取卡點(diǎn)IV。旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口 2 —端點(diǎn)設(shè)置有固定螺鈕7。所述的底盤3設(shè)置有螺旋條紋II 14。所述的弧形固定嵌卡曲面I固定在底盤3上的一側(cè),旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口 2通過固定螺鈕7固定在底盤3上的另一側(cè)。所述的弧形固定嵌卡曲面1、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口 2分別設(shè)置在同一軸心線兩側(cè)。屏蔽防塵蓋設(shè)置有與螺旋條紋I 4、螺旋條紋II 14對(duì)應(yīng)的內(nèi)螺紋?;⌒喂潭ㄇ犊ㄇ?、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口 2、底盤3固定在屏蔽防塵蓋內(nèi)。
[0019]所述的弧形固定嵌卡曲面I的嵌卡弧I 6與旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口 2的嵌卡弧II 16對(duì)應(yīng)設(shè)置。
[0020]所述的弧形固定嵌卡曲面1、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口 2與待檢儀器的探測(cè)探頭對(duì)應(yīng)設(shè)置。
[0021]所述的底盤3的直徑分別與弧形固定嵌卡曲面1、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口 2的直徑相匹配,由弧形固定嵌卡曲面I和旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口 2構(gòu)成的圓周與底盤3匹配。
[0022]所述的弧形固定嵌卡曲面I通過低原子序數(shù)的聚四氟乙烯材料與底盤3的固定連接。
[0023]本實(shí)用新型中的弧形固定嵌卡曲面I固定在底盤3上的一側(cè),旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口 2通過固定螺鈕7固定在底盤3上的另一側(cè),旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口 2通過固定螺鈕7使置取卡點(diǎn)I 5與置取卡點(diǎn)II 15相嵌卡、置取卡點(diǎn)III與置取卡點(diǎn)IV相嵌卡。
[0024]置取卡點(diǎn)I 5、嵌卡弧I 6、置取卡點(diǎn)II 15、嵌卡弧II 16以便于標(biāo)準(zhǔn)放射源的置入、取出、存儲(chǔ),同時(shí)固定控制標(biāo)準(zhǔn)放射源表面與α、β探頭保護(hù)柵網(wǎng)之間的距離、幾何中心位置,底盤、屏蔽防塵蓋起到保護(hù)標(biāo)準(zhǔn)放射源不受污染損壞。
[0025]按照電離輻射計(jì)量檢定規(guī)程JJG478-96規(guī)定,在檢定、校準(zhǔn)α、β表面污染測(cè)量?jī)x的異型α、β探頭時(shí),異型α、β探頭保護(hù)柵網(wǎng)與標(biāo)準(zhǔn)放射源表面之間距離有著不同要求。其中,檢定、校準(zhǔn)α、β表面污染測(cè)量?jī)x的異型α探頭時(shí),α標(biāo)準(zhǔn)放射源表面與異型α探頭保護(hù)柵網(wǎng)之間距離為5mm。檢定、校準(zhǔn)α、β表面污染測(cè)量?jī)x的異型β探頭時(shí),β標(biāo)準(zhǔn)放射源表面與異型β探頭保護(hù)柵網(wǎng)之間距離為10mm。
[0026]本實(shí)用新型的用于異型α、β探頭的檢定源盒適合檢定、校準(zhǔn)眾多形狀各異的α、β探頭,在檢定、校準(zhǔn)異型α、β探頭時(shí),把屏蔽防塵蓋打開,把待檢儀器的探測(cè)探頭放在弧形固定嵌卡曲面1、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口 2上完全貼合,即可開始檢定、校準(zhǔn)工作。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于異型α、β探頭的檢定源盒,其特征在于:所述的檢定源盒包括弧形固定嵌卡曲面(1)、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口(2)、底盤(3)、屏蔽防塵蓋,其中,所述的弧形固定嵌卡曲面(I)含有螺旋條紋I (4)、置取卡點(diǎn)I (5)、嵌卡弧I (6),所述的旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口(2)含有置取卡點(diǎn)II (15)、嵌卡弧II (16)、固定螺鈕(7),所述的底盤(3)設(shè)置有螺旋條紋II (14);其連接關(guān)系是,所述的弧形固定嵌卡曲面(I)外側(cè)設(shè)置有螺旋條紋I (4),內(nèi)側(cè)設(shè)置有嵌卡弧I(6),在嵌卡弧I(6)兩端點(diǎn)設(shè)有置取卡點(diǎn)I (5)、置取卡點(diǎn)III ;所述的旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口(2)內(nèi)側(cè)設(shè)置有嵌卡弧II (16),在嵌卡弧II (16)兩端點(diǎn)設(shè)有置取卡點(diǎn)II (15)、置取卡點(diǎn)IV ;旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口(2) —端點(diǎn)設(shè)置有固定螺鈕(7);所述的底盤(3)設(shè)置有螺旋條紋II (14);所述的弧形固定嵌卡曲面(I)固定在底盤(3)上的一側(cè),旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口(2)通過固定螺鈕(7)固定在底盤(3)上的另一側(cè),旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口(2)通過固定螺鈕(7)使置取卡點(diǎn)I(5)與置取卡點(diǎn)II (15)相嵌卡、置取卡點(diǎn)III與置取卡點(diǎn)IV相嵌卡;所述的弧形固定嵌卡曲面(1)、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口(2)分別設(shè)置在同一軸心線兩側(cè);屏蔽防塵蓋設(shè)置有與螺旋條紋I (4)、螺旋條紋II (14)對(duì)應(yīng)的內(nèi)螺紋;弧形固定嵌卡曲面(I)、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口(2)、底盤(3)固定在屏蔽防塵蓋內(nèi)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于異型α、β探頭的檢定源盒,其特征在于:所述的弧形固定嵌卡曲面(I)的嵌卡弧I (6)與旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口(2)的嵌卡弧II (16)對(duì)應(yīng)設(shè)置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于異型α、β探頭的檢定源盒,其特征在于:所述的弧形固定嵌卡曲面(1)、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口(2)與待檢儀器的探測(cè)探頭對(duì)應(yīng)設(shè)置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于異型α、β探頭的檢定源盒,其特征在于:所述的底盤(3)的直徑分別與弧形固定嵌卡曲面(1)、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口(2)的直徑相匹配。
【專利摘要】本實(shí)用新型提供了一種用于異型α、β探頭的檢定源盒,用于電離輻射計(jì)量檢定、校準(zhǔn)眾多形狀各異的α、β探頭。本實(shí)用新型含有弧形固定嵌卡曲面、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口、底盤、屏蔽防塵蓋。本實(shí)用新型中的弧形固定嵌卡曲面的嵌卡弧Ⅰ與旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口的嵌卡?、?qū)?yīng)設(shè)置,弧形固定嵌卡曲面、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口與待檢儀器的探測(cè)探頭對(duì)應(yīng)設(shè)置,底盤的直徑分別與弧形固定嵌卡曲面、旋轉(zhuǎn)式嵌取窗口的直徑相匹配。本實(shí)用新型在檢定、校準(zhǔn)異型α、β探頭的過程中,用于異型α、β探頭的檢定源盒在距離控制、多功能性、安全性、操作過程簡(jiǎn)單便捷的基礎(chǔ)上確保計(jì)量檢定量值傳遞的準(zhǔn)確可靠,具有簡(jiǎn)單、可靠、易實(shí)現(xiàn)的優(yōu)點(diǎn)。
【IPC分類】G01T7-00
【公開號(hào)】CN204496012
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520207170
【發(fā)明人】鄭慧, 楊小艷, 卓仁鴻, 文德智, 成晶, 丁大杰, 呂己祿, 涂俊, 毛本將
【申請(qǐng)人】中國(guó)工程物理研究院核物理與化學(xué)研究所
【公開日】2015年7月22日
【申請(qǐng)日】2015年4月9日
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