一種介質(zhì)損耗測試主板的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種測試主板電路，具體是一種介質(zhì)損耗測試主板。
【背景技術(shù)】
[0002]對互感器介質(zhì)損耗的測量是判斷電力設(shè)備絕緣受潮、老化等整體劣化狀沉的重要手段。目前行業(yè)內(nèi)普遍開展的對互感器1kV以下的介損測試，由于試驗電壓遠遠沒有達到額定的工作電壓，因而不能有效反映該設(shè)備的絕緣狀況?，F(xiàn)有設(shè)備及測試技術(shù)由于存在高壓測試加壓困難，無法完成500kV高電壓互感器介質(zhì)損耗測試，同時由于采用工頻手動升壓，受到了現(xiàn)場工頻干擾，造成測試數(shù)據(jù)的不準確，影響到了對高電壓互感器介質(zhì)損耗的準確判斷。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]本實用新型的目的在于提供一種介質(zhì)損耗測試主板，以解決上述【背景技術(shù)】中提出的問題。
[0004]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供如下技術(shù)方案:
[0005]一種介質(zhì)損耗測試主板，包括變頻電源控制器VFD、變壓器Tl、電感L、電橋BDl和電橋BD2，所述變壓器Tl的輸入端連接變頻電源控制器VFD，變頻電源控制器VFD連接交流電源U,而變壓器Tl的輸出端依次連接電感L、待測設(shè)備S和電橋BD2的第2腳；所述電感L和待測設(shè)備S之間連接有電容Cl和電容C2，所述電容Cl和電容C2通過變阻器R4和變阻器R3連接電橋BDl的第I腳和第2腳，而所述電容Cl和電容C2分別并聯(lián)電阻R2和電阻R1，通過電阻Rl與變阻器R3串聯(lián)、電阻R2與變阻器R4串聯(lián)。
[0006]作為本實用新型進一步的方案:所述介質(zhì)損耗的測量電壓可在10kV_1500kV之間自由調(diào)節(jié)。
[0007]作為本實用新型再進一步的方案:所述待測設(shè)備S和電橋BD2之間連接有接地電容C4。
[0008]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的有益效果是:通過在電阻Rl和電阻R2分別與電容C2和電容Cl并聯(lián)，然后再串聯(lián)變阻器R3和變阻器R4，利用串聯(lián)分壓的原理，使得介質(zhì)損耗的測量電壓可在10kV-1500kV之間自由調(diào)節(jié)，從而根據(jù)待測設(shè)備S兩端的電壓調(diào)節(jié)介質(zhì)損耗的測量電壓的最佳量程，使得待測設(shè)備S兩端的電壓始終在量程的1/3內(nèi)，從而保證測量的精度和準確性。
【附圖說明】
[0009]圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0010]下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。
[0011]請參閱圖1，本實用新型實施例中，一種介質(zhì)損耗測試主板，包括變頻電源控制器VFD、變壓器Tl、電感L、電橋BDl和電橋BD2，所述變壓器Tl的輸入端連接變頻電源控制器VFD,變頻電源控制器VFD連接交流電源U,而變壓器Tl的輸出端依次連接電感L、待測設(shè)備S和電橋BD2的第2腳，從而構(gòu)成一個完整的損耗測試電路；所述待測設(shè)備S和電橋BD2之間連接有接地電容C4限壓儲能，所述電感L和待測設(shè)備S之間連接有電容Cl和電容C2，所述電容Cl和電容C2通過變阻器R4和變阻器R3連接電橋BDl的第I腳和第2腳，而所述電容Cl和電容C2分別并聯(lián)電阻R2和電阻Rl，通過電阻Rl與變阻器R3串聯(lián)、電阻R2與變阻器R4串聯(lián)，使得調(diào)節(jié)變阻器R3和變阻器R4可以改變電容Cl和電容C2兩端的電壓，從而使得介質(zhì)損耗的測量電壓可在10kV-1500kV之間自由調(diào)節(jié)，使得測量數(shù)值始終在量程的1/3內(nèi)，從而保證測量的精度和準確性。
[0012]本實用新型的工作原理是:通過在電阻Rl和電阻R2分別與電容C2和電容Cl并聯(lián)，然后再串聯(lián)變阻器R3和變阻器R4，利用串聯(lián)分壓的原理，使得介質(zhì)損耗的測量電壓可在10kV-1500kV之間自由調(diào)節(jié)，從而根據(jù)待測設(shè)備S兩端的電壓調(diào)節(jié)介質(zhì)損耗的測量電壓的最佳量程，使得待測設(shè)備S兩端的電壓始終在量程的1/3內(nèi)，從而保證測量的精度和準確性。
[0013]對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言，顯然本實用新型不限于上述示范性實施例的細節(jié)，而且在不背離本實用新型的精神或基本特征的情況下，能夠以其他的具體形式實現(xiàn)本實用新型。因此，無論從哪一點來看，均應(yīng)將實施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本實用新型的范圍由所附權(quán)利要求而不是上述說明限定，因此旨在將落在權(quán)利要求的等同要件的含義和范圍內(nèi)的所有變化囊括在本實用新型內(nèi)。不應(yīng)將權(quán)利要求中的任何附圖標記視為限制所涉及的權(quán)利要求。
[0014]此外，應(yīng)當理解，雖然本說明書按照實施方式加以描述，但并非每個實施方式僅包含一個獨立的技術(shù)方案，說明書的這種敘述方式僅僅是為清楚起見，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當將說明書作為一個整體，各實施例中的技術(shù)方案也可以經(jīng)適當組合，形成本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的其他實施方式。
【主權(quán)項】
1.一種介質(zhì)損耗測試主板，包括變頻電源控制器VFD、變壓器Tl、電感L、電橋BDl和電橋BD2，其特征在于，所述變壓器Tl的輸入端連接變頻電源控制器VFD，變頻電源控制器VFD連接交流電源U,而變壓器Tl的輸出端依次連接電感L、待測設(shè)備S和電橋BD2的第2腳；所述電感L和待測設(shè)備S之間連接有電容Cl和電容C2，所述電容Cl和電容C2通過變阻器R4和變阻器R3連接電橋BDl的第I腳和第2腳，而所述電容Cl和電容C2分別并聯(lián)電阻R2和電阻R1，通過電阻Rl與變阻器R3串聯(lián)、電阻R2與變阻器R4串聯(lián)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種介質(zhì)損耗測試主板，其特征在于，所述介質(zhì)損耗的測量電壓可在10kV-1500kV之間自由調(diào)節(jié)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種介質(zhì)損耗測試主板，其特征在于，所述待測設(shè)備S和電橋BD2之間連接有接地電容C4。
【專利摘要】本實用新型公開了一種介質(zhì)損耗測試主板，包括變頻電源控制器VFD、變壓器T1、電感L、電橋BD1和電橋BD2，所述變壓器T1的輸入端連接變頻電源控制器VFD，變頻電源控制器VFD連接交流電源U，而變壓器T1的輸出端依次連接電感L、待測設(shè)備S和電橋BD2的第2腳。通過在電阻R1和電阻R2分別與電容C2和電容C1并聯(lián)，然后再串聯(lián)變阻器R3和變阻器R4，利用串聯(lián)分壓的原理，使得介質(zhì)損耗的測量電壓可在10KV-1500KV之間自由調(diào)節(jié)，從而根據(jù)待測設(shè)備S兩端的電壓調(diào)節(jié)介質(zhì)損耗的測量電壓的最佳量程，使得待測設(shè)備S兩端的電壓始終在量程的1/3內(nèi)，從而保證測量的精度和準確性。
【IPC分類】G01R27-26
【公開號】CN204389595
【申請?zhí)枴緾N201520049358
【發(fā)明人】張曉冰
【申請人】張曉冰
【公開日】2015年6月10日
【申請日】2015年1月26日