一種臺階電路板的測試方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種臺階電路板的測試方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中對臺階電路板的槽內(nèi)線路需要全手工測試，耗時長且測試結(jié)果不可靠的問題。本發(fā)明一些實施方式中，方法可包括：生成測試圖形，其中，在第一線路圖形中補充槽內(nèi)線路圖形，并添加第一線路與槽內(nèi)線路的連接關系；創(chuàng)建測試點，測試點包括：位于第一面的第一類測試點，位于第二面的第二類測試點，以及，位于臺階槽內(nèi)的第三類測試點，其中，第二類測試點中還包括有與第三類測試點連接的連接測試點；由飛針測試設備分段測試，其中，在第一段測試中測試第一類測試點和第二類測試點，在第二段測試中測試位于第一面的臺階槽內(nèi)的第三類測試點和位于第二面的連接測試點。
【專利說明】
一種臺階電路板的測試方法
技術(shù)領域
[0001]本發(fā)明涉及電路板技術(shù)領域，具體涉及一種臺階電路板的測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，PCB (Printed Circuit Board，印制電路板，簡稱電路板)行業(yè)正在高速發(fā)展，產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)也越來越多樣化。其中臺階電路板的數(shù)量是日趨增多。臺階電路板是指表面具有臺階槽的電路板。臺階槽一般是利用控深銑設備在電路板表面進行控深銑加工而成的，通常是具有一定深度的凹槽。其中一部分臺階電路板的臺階槽內(nèi)還具有槽內(nèi)線路。
[0003]—般的，電路板加工完畢后，需要對電路板上的線路進行電性能測試，以確保電路板線路及質(zhì)量滿足客戶要求。常用的測試方法有兩種:
[0004]—種是利用通用測試設備配合通用測試夾具，通用測試夾具一般包括兩個測試面板，每個測試面板上具有很多個密集的測試針，各個測試針都連接通用測試設備。將兩個測試面板上的測試針分別作用到電路板的兩面，使得各個測試針接觸到電路板表面線路的各個部位，根據(jù)設計圖形給不同的測試針施加信號并接收其它測試針的反饋信號，來測試電路板表面線路的連通情況。
[0005]另一種是利用飛針測試設備來測試。飛針測試設備具有至少兩個飛針刀片，一般可以是四個或八個或更多個，飛針刀片可被控制在一定范圍內(nèi)移動?？刂撇煌娘w針刀片作用于電路板表面線路的不同部位，根據(jù)設計圖形給不同的測試針施加信號并接收其它測試針的反饋信號，來測試電路板表面線路的連通情況。
[0006]上述兩種測試方法，可以對電路板的表面線路進行測試。但是，對于臺階電路板，由于槽內(nèi)線路與表面線路位于不同的層次，上述兩種測試方法受限于圖形資料識別能力和測試設備能力，無法實現(xiàn)對槽內(nèi)線路的測試。
[0007]目前，對于臺階電路板，只能采用全手工方式，將槽內(nèi)線路的焊盤等測試點標記出來，依次對槽內(nèi)線路的每一個測試點進行手工測試。這種全手工測試方式，耗時很長(一般要數(shù)個小時)，且容易遺漏測試點，測試結(jié)果不可靠。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明實施例提供一種臺階電路板的測試方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中對臺階電路板的槽內(nèi)線路需要全手工測試，耗時長且測試結(jié)果不可靠的問題。
[0009]本發(fā)明第一方面提供一種臺階電路板的測試方法，所述臺階電路板具有第一面以及與所述第一面相對的第二面，所述臺階電路板還具有形成在所述第一面的臺階槽，所述第一面具有第一線路，所述第二面具有第二線路，所述臺階槽內(nèi)具有槽內(nèi)線路；所述方法包括:
[0010]獲取分別對應于所述第一線路和所述第二線路以及所述槽內(nèi)線路的第一線路圖形和第二線路圖形以及槽內(nèi)線路圖形；
[0011]生成測試圖形，其中，在所述第一線路圖形中補充所述槽內(nèi)線路圖形，并添加所述第一線路與所述槽內(nèi)線路的連接關系，得到第一測試圖形，以及，將所述第二線路圖形作為第二測試圖形；
[0012]分別在所述第一和第二測試圖形中創(chuàng)建測試點，所述測試點包括:位于所述第一面的第一類測試點，位于所述第二面的第二類測試點，以及，位于所述臺階槽內(nèi)的第三類測試點，其中，所述第二類測試點中還包括有連接測試點，所述連接測試點與所述第三類測試點連接；
[0013]由飛針測試設備根據(jù)所述第一和第二測試圖形進行分段測試，其中，在第一段測試中測試位于所述第一面的所述第一類測試點和位于所述第二面的所述第二類測試點，在第二段測試中測試位于所述第一面的臺階槽內(nèi)的所述第三類測試點和位于所述第二面的所述連接測試點。
[0014]本發(fā)明第二方面提供另一種臺階電路板的測試方法，所述臺階電路板具有第一面以及與所述第一面相對的第二面，所述臺階電路板還具有形成在所述第一面的臺階槽，所述第一面具有第一線路，所述第二面具有第二線路，所述臺階槽內(nèi)具有槽內(nèi)線路；所述方法包括:
[0015]獲取分別對應于所述第一線路和所述第二線路以及所述槽內(nèi)線路的第一線路圖形和第二線路圖形以及槽內(nèi)線路圖形；
[0016]生成測試圖形，其中，在所述第一線路圖形中補充所述槽內(nèi)線路圖形，并添加所述第一線路與所述槽內(nèi)線路的連接關系，得到第一測試圖形，以及，將所述第二線路圖形作為所述第二測試圖形；
[0017]在所述測試圖形中創(chuàng)建測試點，所述測試點包括:位于所述第一面的第一類測試點，位于所述第二面的第二類測試點，以及，位于所述臺階槽內(nèi)的第三類測試點；
[0018]提供通用測試夾具，所述通用測試夾具包括用于測試所述第一面的第一組測試針，和用于測試所述第二面的第二組測試針，所述第一組測試針包括用于測試所述第一類測試點的第一類測試針，和用于測試所述第三類測試點的第三類測試針，其中，所述第三類測試針的長度d3 = dl+dO，dl是所述第一類測試針的長度，dO是所述臺階槽的深度；
[0019]將所述第一組測試針和所述第二組測試針分別作用于所述臺階電路板的第一面和第二面，且所述第一組測試針和所述第二組測試針與通用測試設備連接，由所述通用測試設備根據(jù)所述測試圖形對所述臺階電路板進行測試。
[0020]由上可見，本發(fā)明一些實施方式中，采用預先將臺階電路板的槽內(nèi)圖形補充到表面的第一線路圖形中并添加連接關系，生成第一測試圖形，將臺階電路板另一表面的第二線路圖形作為第二測試圖形，后續(xù)由飛針測試設備根據(jù)第一和第二測試圖形進行分段測試，將第一線路圖形上的第一類測試點和槽內(nèi)圖形上的第三類測試點分別在不同段測試的技術(shù)方案，取得了以下技術(shù)效果:對于臺階電路板的槽內(nèi)線路，以自動測試取代了全手工測試，有效的提高了測試效率，可以避免遺漏測試點等問題，測試可靠性較高，解決了現(xiàn)有技術(shù)中需要全手工測試，耗時長且測試結(jié)果不可靠的問題。
[0021]由上可見，本發(fā)明另一些實施方式中，采用預先將臺階電路板的槽內(nèi)圖形補充到表面的第一線路圖形中并添加連接關系，生成第一測試圖形，將臺階電路板另一表面的第二線路圖形作為第二測試圖形，提供相應的通用測試夾具，對于槽內(nèi)線路采用較長的測試針，然后由通用測試設備配合通用測試夾具對臺階電路板兩面的第一和第二線路及槽內(nèi)線路一次測試完成的技術(shù)方案，取得了以下技術(shù)效果:對于臺階電路板的槽內(nèi)線路，以自動測試取代了全手工測試，有效的提高了測試效率，可以避免遺漏測試點等問題，測試可靠性較高，解決了現(xiàn)有技術(shù)中需要全手工測試，耗時長且測試結(jié)果不可靠的問題。
【附圖說明】
[0022]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例技術(shù)方案，下面將對實施例和現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。
[0023]圖1是本發(fā)明實施例中臺階電路板的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0024]圖2a是本發(fā)明實施例中臺階電路板的測試方法的流程圖；
[0025]圖2b是本發(fā)明實施例中臺階電路板的測試方法的流程圖；
[0026]圖3a是本發(fā)明實施例中第一線路圖形的示意圖；
[0027]圖3b是本發(fā)明實施例中控深銑在板內(nèi)圖形位置的示意圖；
[0028]圖3c是本發(fā)明實施例中臺階槽槽底所在層次的線路圖形的示意圖；
[0029]圖4是本發(fā)明實施例中通用測試夾具的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0030]本發(fā)明實施例提供一種臺階電路板的測試方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中對臺階電路板的槽內(nèi)線路需要全手工測試，耗時長且測試結(jié)果不可靠的問題。
[0031]為了使本技術(shù)領域的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分的實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都應當屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0032]下面通過具體實施例，分別進行詳細的說明。
[0033]實施例一、
[0034]請參考圖1和圖2，本發(fā)明實施例提供一種臺階電路板的測試方法。
[0035]如圖1所示，臺階電路板100具有第一面以及與第一面相對的第二面，臺階電路板還具有形成在第一面的臺階槽110，其中，第一面具有第一線路，第二面具有第二線路，臺階槽內(nèi)具有槽內(nèi)線路。
[0036]如圖2a所示，本發(fā)明實施例方法可包括:
[0037]201、獲取分別對應于第一線路和第二線路以及槽內(nèi)線路的第一線路圖形和第二線路圖形以及槽內(nèi)線路圖形。
[0038]臺階電路板的加工是依賴設計圖形完成的，后續(xù)的測試也依賴于設計圖形進行。測試之前，首先需要獲取臺階電路板對應的線路圖形，包括:對應于第一線路的第一線路圖形，對應于第二線路的第二線路圖形，以及，對應于槽內(nèi)線路的槽內(nèi)線路圖形。
[0039]—般的，臺階電路板具有很多層，例如六層或八層或更多層等。其中，第一線路圖形和第二線路圖形，分別對應于第一層和最后一層。而臺階槽的槽內(nèi)線路一般屬于中間的某一層。本發(fā)明實施例中，可以根據(jù)臺階槽的控深銑要求，從臺階電路板的所有層次線路圖形中獲取臺階槽底面所在層次的線路圖形；從臺階槽底面所在層次的線路圖形中，獲取槽內(nèi)線路圖形。
[0040]本步驟獲取線路圖形的操作，可以在控制設備，例如一臺微處理計算機中實現(xiàn)。該控制設備可以集成在通用測試設備或飛針測試設備中，或者，也可以是獨立的控制設備。該控制設備還可以是控深銑設備的控制設備。
[0041]一些實施例中，首先可以將臺階電路板的所有線路圖形資料導入到控制設備的資料編輯軟件中，例如，臺階電路板第一面的第一線路圖形可以如圖3a所示；然后，可以打開控深銑程序，找到控深銑在板內(nèi)圖形位置，如圖3b所示；然后，可以提取控深銑的臺階槽槽底所在層次的線路圖形，如圖3c所示；最后，臺階槽底面所在層次的線路圖形中，獲取槽內(nèi)線路圖形。
[0042]202、生成測試圖形，其中，在第一線路圖形中補充槽內(nèi)線路圖形，并添加第一線路與槽內(nèi)線路的連接關系，得到第一測試圖形，以及，將第二線路圖形作為第二測試圖形。
[0043]現(xiàn)有技術(shù)中，一般直接根據(jù)設計圖形，對臺階電路板進行測試，由于表面線路圖形和槽內(nèi)線路圖形不在同一層次或者說不在同一平面，因此，無法同時完成對槽內(nèi)線路圖形的測試。
[0044]本發(fā)明實施例中，不再直接根據(jù)設計圖形進行測試，而是，將設計圖形編輯成為測試圖形，以便后續(xù)按照測試圖形進行測試。生成的測試圖形可包括:在第一線路圖形中補充槽內(nèi)線路圖形，并添加第一線路與槽內(nèi)線路的連接關系，得到的第一測試圖形；另外，可以直接將第二線路圖形作為第二測試圖形。
[0045]生成測試圖形的步驟，可以在控制設備中完成，操作人員將槽內(nèi)圖形補充到第一線路圖形中的對應位置以后，可以操作資料編輯軟件中的軟件工具，繪制第一線路圖形與槽內(nèi)線路圖形的連接線路，完成連接關系的添加。
[0046]可選的，在生成測試圖形步驟中，可以預先判斷槽內(nèi)線路圖形是否滿足創(chuàng)建測試點的要求，若滿足，在第一線路圖形中補充槽內(nèi)線路圖形，并添加第一線路與槽內(nèi)線路的連接關系，得到第一測試圖形。其中，測試點是指后續(xù)具體用于測試的位置，一般可對應于連接焊盤等。
[0047]203、分別在第一和第二測試圖形中創(chuàng)建測試點，測試點包括:位于第一面的第一類測試點，位于第二面的第二類測試點，以及，位于臺階槽內(nèi)的第三類測試點。
[0048]其中，可選的，第二類測試點中還包括有連接測試點，連接測試點與第三類測試點連接。
[0049]本步驟中，在第一測試圖形和第二測試圖形中創(chuàng)建測試點，以指導通用測試設備或飛針測試設備按照第一測試圖形和第二測試圖形中創(chuàng)建的測試點，具體進行測試。創(chuàng)建的測試點可包括以下幾類:位于臺階電路板第一面的第一類測試點，位于第二面的第二類測試點，以及，位于臺階槽內(nèi)的第三類測試點，其中，第二類測試點中還可以包括有連接測試點，連接測試點與第三類測試點連接。
[0050]生成測試圖形和創(chuàng)建完測試點之后，就可以進行測試了。本發(fā)明實施例中，可以采用通用測試設備或者飛針測試設備進行測試。
[0051]一種實施方式中，具體采用飛針測試設備，則，步驟203之后，還可包括:
[0052]204、由飛針測試設備根據(jù)第一和第二測試圖形進行分段測試，其中，在第一段測試中測試位于第一面的第一類測試點和位于第二面的第二類測試點，在第二段測試中測試位于第一面的臺階槽內(nèi)的第三類測試點和位于第二面的連接測試點。
[0053]由于第一類測試點和第二類測試點以及第三類測試點分別位于三個平面上，采用飛針測試設備不能一次完成測試，因此，本實施例中，采用分段測試，具體的，分為兩段測試。第一段測試中，測試第一類測試點和第二類測試點，該段測試與常規(guī)的飛針測試方法相同。第二段測試中，測試第三類測試點和連接測試點，第三類測試點和連接測試點分別位于兩個平面中，可以在一次飛針測試中完成。
[0054]一般的，飛針測試設備包括至少兩個分針刀片，具體測試過程可以包括:依次將至少兩個分針刀片作用于第一類測試點和第二類測試點，進行第一段測試；然后，依次將至少兩個分針刀片作用于第三類測試點和連接測試點，進行第二段測試。
[0055]需要說明的是，本實施例中飛針分段測試方法，適用于第一面臺階槽中的槽內(nèi)線路與第二面的第二線路有連接(例如通過過孔)的情況，如果，槽內(nèi)線路與第二線路無連接，則可以采用其他測試方式。
[0056]一種實施方式中，具體采用通用測試設備，則，如圖2b所示，步驟203之后，還可包括:
[0057]205、提供通用測試夾具，通用測試夾具包括用于測試第一面的第一組測試針，和用于測試第二面的第二組測試針，第一組測試針包括用于測試第一類測試點的第一類測試針，和用于測試第三類測試點的第三類測試針，其中，第三類測試針的長度d3 = dl+dO，dl是第一類測試針的長度，dO是臺階槽的深度。
[0058]通用測試設備需要配合通用測試夾具。如圖4所示，通用測試夾具300的測試架310上安裝有測試針320，本實施例中，測試針可包括:用于測試臺階電路板100的第一面的第一組測試針，和用于測試臺階電路板100的第二面的第二組測試針。圖4中僅示出了第一組測試針。第一組測試針具體可包括:用于測試第一類測試點的第一類測試針3201，和用于測試第三類測試點的第三類測試針3203，其中，第三類測試針的長度d3 = dl+dO，dl是第一類測試針3201的長度，dO是臺階電路板100上的臺階槽110的深度。
[0059]與常用的通用測試夾具相比，本發(fā)明實施例中的通用測試夾具，需要根據(jù)需要將其中的部分標準長度的測試針更換為長度較長的測試針。例如，標準測試針的長度可以是95.25_，所增加的長度等于臺階槽的深度，例如可以是3_或者其它尺寸。
[0060]206、將第一組測試針和第二組測試針分別作用于臺階電路板的第一面和第二面，且第一組測試針和第二組測試針與通用測試設備連接，由通用測試設備根據(jù)測試圖形對臺階電路板進行測試。
[0061]通用測試夾具上的各個測試針是與通用測試設備相連的，可以將通用測試設備施加的信號傳遞到臺階電路板的測試點上。測試時，如圖4所示，可以將臺階電路板100固定在通用測試夾具300中，使得第一組測試針和第二組測試針分別作用于臺階電路板100的第一面和第二面，由通用測試設備根據(jù)測試圖形對臺階電路板進行測試。具體的，可根據(jù)測試圖形給不同的測試針施加信號并接收其它測試針的反饋信號，來測試臺階電路板上線路的連通情況。
[0062]由上可見，本發(fā)明實施例公開了一種臺階電路板的測試方法。
[0063]其中一些實施方式中，采用預先將臺階電路板的槽內(nèi)圖形補充到表面的第一線路圖形中并添加連接關系，生成第一測試圖形，將臺階電路板另一表面的第二線路圖形作為第二測試圖形，后續(xù)由飛針測試設備根據(jù)第一和第二測試圖形進行分段測試，將第一線路圖形上的第一類測試點和槽內(nèi)圖形上的第三類測試點分別在不同段測試的技術(shù)方案。
[0064]取得了以下技術(shù)效果:
[0065]對于臺階電路板的槽內(nèi)線路，以自動測試取代了全手工測試，有效的提高了測試效率，可以避免遺漏測試點等問題，測試可靠性較高，解決了現(xiàn)有技術(shù)中需要全手工測試，耗時長且測試結(jié)果不可靠的問題。
[0066]另一些實施方式中，采用預先將臺階電路板的槽內(nèi)圖形補充到表面的第一線路圖形中并添加連接關系，生成第一測試圖形，將臺階電路板另一表面的第二線路圖形作為第二測試圖形，提供相應的通用測試夾具，對于槽內(nèi)線路采用較長的測試針，然后由通用測試設備配合通用測試夾具對臺階電路板兩面的第一和第二線路及槽內(nèi)線路一次測試完成的技術(shù)方案。
[0067]取得了以下技術(shù)效果:
[0068]對于臺階電路板的槽內(nèi)線路，以自動測試取代了全手工測試，有效的提高了測試效率，可以避免遺漏測試點等問題，測試可靠性較高，解決了現(xiàn)有技術(shù)中需要全手工測試，耗時長且測試結(jié)果不可靠的問題。
[0069]在上述實施例中，對各個實施例的描述都各有側(cè)重，某個實施例中沒有詳細描述的部分，可以參見其它實施例的相關描述。
[0070]需要說明的是，對于前述的各方法實施例，為了簡單描述，故將其都表述為一系列的動作組合，但是本領域技術(shù)人員應該知悉，本發(fā)明并不受所描述動作順序的限制，因為依據(jù)本發(fā)明，某些步驟可以采用其它順序或者同時進行。其次，本領域技術(shù)人員也應該知悉，說明書中所描述的實施例均屬于優(yōu)選實施例，所涉及的動作和模塊并不一定是本發(fā)明所必須的。
[0071]以上對本發(fā)明實施例所提供的臺階電路板的測試方法進行了詳細介紹，但以上實施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想，不應理解為對本發(fā)明的限制。本技術(shù)領域的技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種臺階電路板的測試方法，其特征在于，所述臺階電路板具有第一面以及與所述第一面相對的第二面，所述臺階電路板還具有形成在所述第一面的臺階槽，所述第一面具有第一線路，所述第二面具有第二線路，所述臺階槽內(nèi)具有槽內(nèi)線路；所述方法包括: 獲取分別對應于所述第一線路和所述第二線路以及所述槽內(nèi)線路的第一線路圖形和第二線路圖形以及槽內(nèi)線路圖形； 生成測試圖形，其中，在所述第一線路圖形中補充所述槽內(nèi)線路圖形，并添加所述第一線路與所述槽內(nèi)線路的連接關系，得到第一測試圖形，以及，將所述第二線路圖形作為第二測試圖形； 分別在所述第一和第二測試圖形中創(chuàng)建測試點，所述測試點包括:位于所述第一面的第一類測試點，位于所述第二面的第二類測試點，以及，位于所述臺階槽內(nèi)的第三類測試點，其中，所述第二類測試點中還包括有連接測試點，所述連接測試點與所述第三類測試點連接； 由飛針測試設備根據(jù)所述第一和第二測試圖形進行分段測試，其中，在第一段測試中測試位于所述第一面的所述第一類測試點和位于所述第二面的所述第二類測試點，在第二段測試中測試位于所述第一面的臺階槽內(nèi)的所述第三類測試點和位于所述第二面的所述連接測試點。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取分別對應于所述第一線路和所述第二線路以及所述槽內(nèi)線路的第一線路圖形和第二線路圖形以及槽內(nèi)線路圖形包括: 根據(jù)所述臺階槽的控深銑要求，從所述臺階電路板的所有層次線路圖形中獲取所述臺階槽底面所在層次的線路圖形； 從所述臺階槽底面所在層次的線路圖形中，獲取所述槽內(nèi)線路圖形。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述生成測試圖形包括: 判斷所述槽內(nèi)線路圖形是否滿足創(chuàng)建測試點的要求，若滿足，在所述第一線路圖形中補充所述槽內(nèi)線路圖形，并添加所述第一線路與所述槽內(nèi)線路的連接關系，得到第一測試圖形。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述飛針測試設備包括至少兩個分針刀片，所述由飛針測試設備根據(jù)所述第一和第二測試圖形進行分段測試包括: 依次將所述至少兩個分針刀片作用于所述第一類測試點和所述第二類測試點，進行第一段測試； 依次將所述至少兩個分針刀片作用于所述第三類測試點和所述連接測試點，進行第二段測試。5.一種臺階電路板的測試方法，其特征在于，所述臺階電路板具有第一面以及與所述第一面相對的第二面，所述臺階電路板還具有形成在所述第一面的臺階槽，所述第一面具有第一線路，所述第二面具有第二線路，所述臺階槽內(nèi)具有槽內(nèi)線路；所述方法包括: 獲取分別對應于所述第一線路和所述第二線路以及所述槽內(nèi)線路的第一線路圖形和第二線路圖形以及槽內(nèi)線路圖形； 生成測試圖形，其中，在所述第一線路圖形中補充所述槽內(nèi)線路圖形，并添加所述第一線路與所述槽內(nèi)線路的連接關系，得到第一測試圖形，以及，將所述第二線路圖形作為所述第二測試圖形； 在所述測試圖形中創(chuàng)建測試點，所述測試點包括:位于所述第一面的第一類測試點，位于所述第二面的第二類測試點，以及，位于所述臺階槽內(nèi)的第三類測試點； 提供通用測試夾具，所述通用測試夾具包括用于測試所述第一面的第一組測試針，和用于測試所述第二面的第二組測試針，所述第一組測試針包括用于測試所述第一類測試點的第一類測試針，和用于測試所述第三類測試點的第三類測試針，其中，所述第三類測試針的長度d3 = dl+dO，dl是所述第一類測試針的長度，dO是所述臺階槽的深度； 將所述第一組測試針和所述第二組測試針分別作用于所述臺階電路板的第一面和第二面，且所述第一組測試針和所述第二組測試針與通用測試設備連接，由所述通用測試設備根據(jù)所述測試圖形對所述臺階電路板進行測試。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述獲取分別對應于所述第一線路和所述第二線路以及所述槽內(nèi)線路的第一線路圖形和第二線路圖形以及槽內(nèi)線路圖形包括: 根據(jù)所述臺階槽的控深銑要求，從所述臺階電路板的所有層次線路圖形中獲取所述臺階槽底面所在層次的線路圖形； 從所述臺階槽底面所在層次的線路圖形中，獲取所述槽內(nèi)線路圖形。7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述生成測試圖形包括: 判斷所述槽內(nèi)線路圖形是否滿足創(chuàng)建測試點的要求，若滿足，在所述第一線路圖形中補充所述槽內(nèi)線路圖形，并添加所述第一線路與所述槽內(nèi)線路的連接關系，得到第一測試圖形。
【文檔編號】G01R31/28GK106033109SQ201510105444
【公開日】2016年10月19日
【申請日】2015年3月11日
【發(fā)明人】朱海軍, 魏自平, 高峰
【申請人】深南電路股份有限公司