印刷電路板的測(cè)試方法、裝置和系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種印刷電路板的測(cè)試方法、裝置和系統(tǒng)。其中，印刷電路板的測(cè)試裝置包括：測(cè)試儀，用于對(duì)印刷電路板進(jìn)行ICT測(cè)試和FCT測(cè)試；以及分板機(jī)，與測(cè)試儀通信連接，用于根據(jù)測(cè)試儀的測(cè)試結(jié)果對(duì)印刷電路板進(jìn)行分類。通過(guò)本發(fā)明，解決了現(xiàn)有技術(shù)中印刷電路板的測(cè)試效率低的問(wèn)題，進(jìn)而達(dá)到了提高測(cè)試效率、降低勞動(dòng)強(qiáng)度的效果。
【專利說(shuō)明】印刷電路板的測(cè)試方法、裝置和系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及測(cè)試領(lǐng)域，具體而言，涉及一種印刷電路板的測(cè)試方法、裝置和系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002]在電子行業(yè)，電子產(chǎn)品的電性能參數(shù)的測(cè)試是保證電子產(chǎn)品質(zhì)量可靠性最重要的控制方式。對(duì)于任何一款電子產(chǎn)品電性能測(cè)試主要有ICT測(cè)試和FCT測(cè)試，ICT測(cè)試主要用于測(cè)試PCB印制線開短路狀態(tài)以及元器件電性能參數(shù)是否滿足選型要求，同時(shí)可以測(cè)試生產(chǎn)制造過(guò)程中的一些工藝缺陷，能夠發(fā)現(xiàn)一些隱蔽的元器件異常問(wèn)題和肉眼不易發(fā)現(xiàn)的焊接質(zhì)量問(wèn)題；FCT測(cè)試主要通過(guò)模擬各種不同工況下的負(fù)載，以模擬電信號(hào)輸入，將輸出使用聲、光、電人可以主觀判斷的信號(hào)，以判斷PCBA功能輸出、程序設(shè)計(jì)是否滿足設(shè)計(jì)要求，是否存在質(zhì)量隱患。
[0003]目前，電性能測(cè)試主要有ICT測(cè)試、FCT測(cè)試、DCT測(cè)試，其中，ICT和FCT測(cè)試是每條生產(chǎn)線的標(biāo)配檢驗(yàn)崗位。目前ICT和FCT測(cè)試多采用非在線的臺(tái)站式測(cè)試，非在線的臺(tái)站式ICT、FCT測(cè)試，是分別設(shè)置崗位進(jìn)行測(cè)試；一條控制器生產(chǎn)線需配備多人操作測(cè)試；臺(tái)站式測(cè)試方法人為操作工序較多，測(cè)試效率低，人力成本高，并且測(cè)試不受控、不可靠；同時(shí)，臺(tái)站式不具有自動(dòng)分板功能，不具有測(cè)試故障統(tǒng)計(jì)和信息保存功能。
[0004]針對(duì)相關(guān)技術(shù)中印刷電路板的測(cè)試效率低的問(wèn)題，目前尚未提出有效的解決方案。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的主要目的在于提供一種印刷電路板的測(cè)試方法、裝置和系統(tǒng)，以解決現(xiàn)有技術(shù)中印刷電路板的測(cè)試效率低的問(wèn)題。
[0006]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種印刷電路板的測(cè)試裝置。
[0007]根據(jù)本發(fā)明的印刷電路板的測(cè)試裝置包括:測(cè)試儀，用于對(duì)所述印刷電路板進(jìn)行ICT測(cè)試和FCT測(cè)試；以及分板機(jī)，與所述測(cè)試儀通信連接，用于根據(jù)所述測(cè)試儀的測(cè)試結(jié)果對(duì)所述印刷電路板進(jìn)行分類。
[0008]進(jìn)一步地，所述測(cè)試儀和所述分板機(jī)均包括用于對(duì)所述印刷電路板的標(biāo)識(shí)信息進(jìn)行讀取的讀取單元。
[0009]進(jìn)一步地，所述讀取單元包括條形碼掃描器和/或二維碼掃描器。
[0010]進(jìn)一步地，所述測(cè)試儀包括:ICT測(cè)試部，用于對(duì)所述印刷電路板進(jìn)行ICT測(cè)試；FCT測(cè)試部，用于對(duì)所述印刷電路板進(jìn)行FCT測(cè)試；以及接收部，與所述ICT測(cè)試部和所述FCT測(cè)試部均相連接，用于接收對(duì)ICT測(cè)試參數(shù)和/或FCT測(cè)試參數(shù)進(jìn)行操作的操作命令。
[0011]進(jìn)一步地，所述測(cè)試儀還包括:隔離部，用于對(duì)所述ICT測(cè)試和所述FCT測(cè)試進(jìn)行測(cè)試信號(hào)隔離。
[0012]進(jìn)一步地，所述測(cè)試裝置還包括:接駁臺(tái)，用于傳送所述印刷電路板至所述測(cè)試儀。
[0013]根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種印刷電路板的測(cè)試方法，根據(jù)本發(fā)明的印刷電路板的測(cè)試方法采用本發(fā)明上述內(nèi)容所提供的任一種印刷電路板的測(cè)試裝置對(duì)所述印刷電路板進(jìn)行測(cè)試。
[0014]根據(jù)本發(fā)明的又一方面，提供了一種印刷電路板的測(cè)試系統(tǒng)，根據(jù)本發(fā)明的印刷電路板的測(cè)試系統(tǒng)包括本發(fā)明上述內(nèi)容所提供的任一種印刷電路板的測(cè)試裝置。
[0015]在本發(fā)明中，采用具有以下結(jié)構(gòu)的印刷電路板的測(cè)試裝置:測(cè)試儀，用于對(duì)所述印刷電路板進(jìn)行ICT測(cè)試和FCT測(cè)試；以及分板機(jī)，與所述測(cè)試儀通信連接，用于根據(jù)所述測(cè)試儀的測(cè)試結(jié)果對(duì)所述印刷電路板進(jìn)行分類。通過(guò)設(shè)置對(duì)印刷電路板進(jìn)行ICT測(cè)試和FCT測(cè)試的測(cè)試儀，實(shí)現(xiàn)了對(duì)印刷電路板的一體化自動(dòng)測(cè)試，相對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中非在線測(cè)試崗位人員配備來(lái)說(shuō)，一體化自動(dòng)測(cè)試方法大大減少了測(cè)試人員的數(shù)量，降低了勞動(dòng)強(qiáng)度，同時(shí)，通過(guò)設(shè)置與測(cè)試儀通信連接的分板機(jī)，實(shí)現(xiàn)了在在線測(cè)試過(guò)程中，對(duì)印刷電路板自動(dòng)分類，無(wú)需人工判斷。因此，本發(fā)明實(shí)施例所提供的印刷電路板的測(cè)試裝置，解決了現(xiàn)有技術(shù)中印刷電路板的測(cè)試效率低的問(wèn)題，進(jìn)而達(dá)到了提高測(cè)試效率、降低勞動(dòng)強(qiáng)度的效果。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0016]構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分的附圖用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中:
[0017]圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的印刷電路板的測(cè)試裝置的示意圖；以及
[0018]圖2是根據(jù)本發(fā)明又一實(shí)施例的印刷電路板的測(cè)試裝置的示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0019]為了使本【技術(shù)領(lǐng)域】的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分的實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都應(yīng)當(dāng)屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0020]需要說(shuō)明的是，本發(fā)明的說(shuō)明書和權(quán)利要求書及上述附圖中的術(shù)語(yǔ)“第一”、“第二”等是用于區(qū)別類似的對(duì)象，而不必用于描述特定的順序或先后次序。應(yīng)該理解這樣使用的數(shù)據(jù)在適當(dāng)情況下可以互換，以便這里描述的本發(fā)明的實(shí)施例能夠以除了在這里圖示或描述的那些以外的順序?qū)嵤４送?，術(shù)語(yǔ)“包括”和“具有”以及他們的任何變形，意圖在于覆蓋不排他的包含，例如，包含了一系列步驟或單元的過(guò)程、方法、系統(tǒng)、產(chǎn)品或設(shè)備不必限于清楚地列出的那些步驟或單元，而是可包括沒(méi)有清楚地列出的或?qū)τ谶@些過(guò)程、方法、產(chǎn)品或設(shè)備固有的其它步驟或單元。
[0021]在不沖突的情況下，本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來(lái)詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明。
[0022]根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，提供了一種可以用于實(shí)施本申請(qǐng)方法實(shí)施例的裝置實(shí)施例，以下對(duì)本發(fā)明實(shí)施例所提供的裝置實(shí)施例做具體介紹。
[0023]根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，提供了一種印刷電路板的測(cè)試裝置，圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的印刷電路板的測(cè)試裝置的示意圖，如圖1所示，該印刷電路板的測(cè)試裝置主要包括測(cè)試儀20和分板機(jī)30，其中:
[0024]測(cè)試儀20用于對(duì)印刷電路板10進(jìn)行ICT測(cè)試和FCT測(cè)試，ICT測(cè)試主要用于測(cè)試印刷電路板(PCB)1的印制線開短路狀態(tài)以及元器件電性能參數(shù)是否滿足選型要求，同時(shí)可以測(cè)試生產(chǎn)制造過(guò)程中的一些工藝缺陷，能夠發(fā)現(xiàn)一些隱蔽的元器件異常問(wèn)題和肉眼不易發(fā)現(xiàn)的焊接質(zhì)量問(wèn)題；FCT測(cè)試主要通過(guò)模擬各種不同工況下的負(fù)載，以模擬電信號(hào)輸入，將輸出使用聲、光、電人可以主觀判斷的信號(hào)，以判斷印刷電路板10的功能輸出、程序設(shè)計(jì)是否滿足設(shè)計(jì)要求，是否存在質(zhì)量隱患。測(cè)試儀20還可以自動(dòng)保存對(duì)印刷電路板10進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試數(shù)據(jù)，以及將測(cè)試數(shù)據(jù)上傳至數(shù)據(jù)中心，共維修人員使用。
[0025]分板機(jī)30與測(cè)試儀20通信連接，用于根據(jù)測(cè)試儀20的測(cè)試結(jié)果對(duì)印刷電路板進(jìn)行分類，具體地，主要是將測(cè)試結(jié)果表示合格品的印刷電路板10和測(cè)試結(jié)果表示不合格品的印刷電路板10分為兩類，并分兩類輸出。
[0026]本發(fā)明實(shí)施例所提供的印刷電路板的測(cè)試裝置，通過(guò)設(shè)置對(duì)印刷電路板進(jìn)行ICT測(cè)試和FCT測(cè)試的測(cè)試儀，實(shí)現(xiàn)了對(duì)印刷電路板的一體化自動(dòng)測(cè)試，相對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中非在線測(cè)試崗位人員配備來(lái)說(shuō)，一體化自動(dòng)測(cè)試方法大大減少了測(cè)試人員的數(shù)量，降低了勞動(dòng)強(qiáng)度，同時(shí)，通過(guò)設(shè)置與測(cè)試儀通信連接的分板機(jī)，實(shí)現(xiàn)了在在線測(cè)試過(guò)程中，對(duì)印刷電路板自動(dòng)分類，無(wú)需人工判斷。因此，本發(fā)明實(shí)施例所提供的印刷電路板的測(cè)試裝置，解決了現(xiàn)有技術(shù)中印刷電路板的測(cè)試效率低的問(wèn)題，進(jìn)而達(dá)到了提高測(cè)試效率、降低勞動(dòng)強(qiáng)度的效果。
[0027]其中，每一個(gè)印刷電路板10均具有唯一的ID號(hào)作為標(biāo)識(shí)信息，該標(biāo)識(shí)信息可以以條形碼的形式展現(xiàn)，也可以以二維碼的形式展現(xiàn)，測(cè)試儀20和分板機(jī)30則均包括用于對(duì)印刷電路板10的標(biāo)識(shí)信息進(jìn)行讀取的讀取單元，具體地，該讀取單元可以是條形碼掃描器，也可以是二維碼掃描器，還可以同時(shí)包括條形碼掃描器和二維碼掃描器。測(cè)試儀20在對(duì)印刷電路板10進(jìn)行測(cè)試時(shí)，讀取印刷電路板10的標(biāo)識(shí)信息，測(cè)試完成后，將與標(biāo)識(shí)信息對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果傳送到分板機(jī)30，分板機(jī)30在接收到傳送過(guò)來(lái)的印刷電路板10后，讀取印刷電路板10的標(biāo)識(shí)信息，并查找與讀取到的標(biāo)識(shí)信息對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果，然后根據(jù)測(cè)試結(jié)果將印刷電路板10分到合格品一類中，或分到不合格品一類中。
[0028]其中，測(cè)試儀20的數(shù)量可以為多個(gè)，以實(shí)現(xiàn)同時(shí)對(duì)多個(gè)印刷電路板10進(jìn)行測(cè)試，每個(gè)測(cè)試儀20均包括ICT測(cè)試部、FCT測(cè)試部和接收部，其中，ICT測(cè)試部用于對(duì)印刷電路板進(jìn)行ICT測(cè)試，F(xiàn)CT測(cè)試部用于對(duì)印刷電路板進(jìn)行FCT測(cè)試，ICT測(cè)試部和FCT測(cè)試部使用同一個(gè)硬件和軟件平臺(tái)，可以在同一個(gè)測(cè)試界面完成對(duì)印刷電路板10的測(cè)試狀態(tài)顯示，顯示內(nèi)容包括測(cè)試步驟、進(jìn)度、結(jié)果和具體故障內(nèi)容，測(cè)試結(jié)果在下一次測(cè)試開始前保留顯示。接收部與ICT測(cè)試部和FCT測(cè)試部均相連接，用于接收對(duì)ICT測(cè)試參數(shù)和/或FCT測(cè)試參數(shù)進(jìn)行操作的操作命令，在ICT測(cè)試和FCT測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試者可以通過(guò)接收部更改和設(shè)置各種不同測(cè)試條件、如電壓、時(shí)間、頻率、電流等，實(shí)現(xiàn)兩個(gè)工序的測(cè)試邏輯快速完成。比如采用電子負(fù)載模擬阻值輸入，測(cè)試者可以通過(guò)接收部輸入0-20K進(jìn)行0.1 %精密測(cè)試，或輸入0-100K進(jìn)行I %非精密測(cè)試。
[0029]對(duì)于本發(fā)明實(shí)施例所提供的印刷電路板的測(cè)試裝置，ICT測(cè)試部和FCT測(cè)試部還具有如下功能，在ICT測(cè)試前和FCT測(cè)試后，以及測(cè)試出現(xiàn)中斷時(shí)，再重新測(cè)試會(huì)對(duì)主板電源點(diǎn)和較大儲(chǔ)電部件進(jìn)行放電，保證ICT測(cè)試可靠性，以及FCT測(cè)試后的余電控制要求。對(duì)于ICT與FCT合并測(cè)試而言，控制放電時(shí)間達(dá)到預(yù)設(shè)時(shí)間，達(dá)到在提高測(cè)試效率的同時(shí)，保證被測(cè)板強(qiáng)電測(cè)試后放電徹底，保證測(cè)試效率且能保證設(shè)備安全。
[0030]進(jìn)一步地，測(cè)試儀20還包括隔離部，該隔離部用于對(duì)ICT測(cè)試和FCT測(cè)試進(jìn)行測(cè)試信號(hào)隔離。
[0031]因?yàn)镮CT測(cè)試屬靜態(tài)弱電測(cè)試，而FCT測(cè)試屬動(dòng)態(tài)強(qiáng)電測(cè)試，ICT測(cè)試的信號(hào)板、開關(guān)板、數(shù)字卡等都是弱電的，而FCT測(cè)試信號(hào)是強(qiáng)電的，而本發(fā)明實(shí)施例所提供的印刷電路板的測(cè)試裝置中的測(cè)試儀同時(shí)具有ICT測(cè)試部和FCT測(cè)試部，以在一臺(tái)機(jī)器同一個(gè)工裝上做連續(xù)性測(cè)試，因此需隔離FCT測(cè)試時(shí)強(qiáng)電信號(hào)，避免強(qiáng)電串入ICT測(cè)試板，導(dǎo)致設(shè)備測(cè)試板被燒壞。通過(guò)設(shè)置隔離部，并采取上壓斷開式的高低針隔離的方式，通過(guò)控制壓床行程，保證ICT、FCT探針不同時(shí)段與被測(cè)板接觸，有效解決強(qiáng)弱電測(cè)試隔離，避免測(cè)試過(guò)程的相互干擾以及對(duì)儀器的損傷，提高了測(cè)試精度和設(shè)備的使用壽命。
[0032]更進(jìn)一步地，如圖2所示，本發(fā)明實(shí)施例所提供的印刷電路板的測(cè)試裝置還包括接駁臺(tái)40，該接駁臺(tái)40用于傳送印刷電路板10至測(cè)試儀20，實(shí)現(xiàn)對(duì)印刷電路板10的連續(xù)測(cè)試。
[0033]本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種通過(guò)上述印刷電路板的測(cè)試裝置執(zhí)行的印刷電路板的測(cè)試方法，即，采用本發(fā)明實(shí)施例上述內(nèi)容所提供的任一種印刷電路板的測(cè)試裝置對(duì)印刷電路板進(jìn)行測(cè)試。
[0034]此外，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種印刷電路板的測(cè)試系統(tǒng)，該測(cè)試系統(tǒng)包括印刷電路板，還包括本發(fā)明實(shí)施例上述內(nèi)容所提供的任一種印刷電路板的測(cè)試裝置。
[0035]從以上的描述中，可以看出，本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了對(duì)印刷電路板的一體化自動(dòng)測(cè)試，大大減少了測(cè)試人員的數(shù)量，降低了勞動(dòng)強(qiáng)度，提高了測(cè)試效率。
[0036]以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種印刷電路板的測(cè)試裝置，其特征在于，包括: 測(cè)試儀，用于對(duì)所述印刷電路板進(jìn)行ICT測(cè)試和FCT測(cè)試；以及 分板機(jī)，與所述測(cè)試儀通信連接，用于根據(jù)所述測(cè)試儀的測(cè)試結(jié)果對(duì)所述印刷電路板進(jìn)行分類。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試儀和所述分板機(jī)均包括用于對(duì)所述印刷電路板的標(biāo)識(shí)信息進(jìn)行讀取的讀取單元。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述讀取單元包括條形碼掃描器和/或二維碼掃描器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試儀包括: ICT測(cè)試部，用于對(duì)所述印刷電路板進(jìn)行ICT測(cè)試； FCT測(cè)試部，用于對(duì)所述印刷電路板進(jìn)行FCT測(cè)試；以及 接收部，與所述ICT測(cè)試部和所述FCT測(cè)試部均相連接，用于接收對(duì)ICT測(cè)試參數(shù)和/或FCT測(cè)試參數(shù)進(jìn)行操作的操作命令。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試儀還包括: 隔離部，用于對(duì)所述ICT測(cè)試和所述FCT測(cè)試進(jìn)行測(cè)試信號(hào)隔離。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試裝置還包括: 接駁臺(tái)，用于傳送所述印刷電路板至所述測(cè)試儀。
7.—種印刷電路板的測(cè)試方法，其特征在于，采用權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的印刷電路板的測(cè)試裝置對(duì)所述印刷電路板進(jìn)行測(cè)試。
8.—種印刷電路板的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的印刷電路板的測(cè)試裝置。
【文檔編號(hào)】G01R31/28GK104049201SQ201410298970
【公開日】2014年9月17日 申請(qǐng)日期:2014年6月26日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月26日
【發(fā)明者】宋明岑, 馮文科, 林漢鈿, 卞國(guó)任, 白小平, 呂惠清, 楊艷, 黃鴻發(fā) 申請(qǐng)人:珠海格力電器股份有限公司