一種校準(zhǔn)三針圓度的輔助定位裝置的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種校準(zhǔn)三針圓度的輔助定位裝置，包括底座、夾持器、V型測座、三針、平面測帽，其中底座的中心部設(shè)有圓形通孔，夾持器呈倒置凸臺結(jié)構(gòu)，夾持器下端的凸臺與底座上的通孔裝配連接，V型測座固定在夾持器上，三針裝夾在V型測座的V型槽內(nèi)，平面測帽位于V型槽的正上方。采用本發(fā)明，整個測量過程控制在10分鐘之內(nèi)，而且使用此裝置，僅需單人就能夠完成全部的測量工作；采用本發(fā)明大大提高了工作效率，且由于是一體設(shè)計，因此穩(wěn)定性好，準(zhǔn)確度更高，保證了檢測數(shù)據(jù)的可靠。
【專利說明】
一種校準(zhǔn)三針圓度的輔助定位裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及一種校準(zhǔn)三針圓度的輔助定位裝置，屬于測量技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]三針是帶有標(biāo)稱直徑的圓柱體量具。通常成組使用，三根直徑相同的三針為一組，用于測量螺紋中徑。校準(zhǔn)三針的只要技術(shù)指標(biāo)有直線度、圓度、直徑偏差三項(xiàng)，利用立式光學(xué)計進(jìn)行測量，但由于無圓度輔助定位校準(zhǔn)裝置，導(dǎo)致三針圓度無法校準(zhǔn)，只能對三針部分項(xiàng)目校準(zhǔn)，影響測量準(zhǔn)確度。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明提供一種校準(zhǔn)三針圓度的輔助定位裝置，一次性解決了此型三針的圓度校準(zhǔn)問題。
[0004]本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:一種校準(zhǔn)三針圓度的輔助定位裝置，包括底座、夾持器、V型測座、三針、平面測帽，其中底座的中心部設(shè)有圓形通孔，夾持器呈倒置凸臺結(jié)構(gòu)，夾持器下端的凸臺與底座上的通孔裝配連接，V型測座固定在夾持器上，三針裝夾在V型測座的V型槽內(nèi)，平面測帽位于V型槽的正上方。
[0005]本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn):采用本發(fā)明，整個測量過程控制在10分鐘之內(nèi)，而且使用此裝置，僅需單人就能夠完成全部的測量工作;采用本發(fā)明大大提高了工作效率，且由于是一體設(shè)計，因此穩(wěn)定性好，準(zhǔn)確度更高，保證了檢測數(shù)據(jù)的可靠。
【附圖說明】
[0006]圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0007]如圖1所示的一種校準(zhǔn)三針圓度的輔助定位裝置，包括底座1、夾持器2、V型測座3、三針4、平面測帽5，其中底座I的中心部設(shè)有圓形通孔，夾持器2呈倒置凸臺結(jié)構(gòu)，夾持器2下端的凸臺與底座I上的通孔裝配連接，V型測座3固定在夾持器2上，三針4裝夾在V型測座3的V型槽內(nèi)，平面測帽5位于V型槽的正上方。
[0008]使用時，采用以下步驟:
1、將立式光學(xué)計放在工作平臺上；
2、將本發(fā)明輔助定位裝置放在立式光學(xué)計的工作平臺上；
3、將三針4安裝在本發(fā)明輔助定位裝置上；
4、將平面測帽5安裝在立式光學(xué)計測量頭上；
5、利用本發(fā)明輔助定位裝置調(diào)整三針上工作面與平面測帽相接觸；
6、每隔90°手動旋轉(zhuǎn)三針，在360°范圍內(nèi)開始一次測量；
7、通過立式光學(xué)計讀數(shù)窗口讀取測量值，其中變化量最大值減去最小值之差的1/3SP為三針圓度值；
8、通過測量三針圓度的示值，計算測量誤差，判斷合格與否。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種校準(zhǔn)三針圓度的輔助定位裝置，其特征在于:包括底座(1)、夾持器(2)、V型測座(3)、三針(4)、平面測帽(5)，其中底座(1)的中心部設(shè)有圓形通孔，夾持器(2)呈倒置凸臺結(jié)構(gòu)，夾持器(2)下端的凸臺與底座(1)上的通孔裝配連接，V型測座(3)固定在夾持器(2)上，三針(4)裝夾在V型測座(3)的V型槽內(nèi)，平面測帽(5)位于V型槽的正上方。
【文檔編號】G01B5/08GK105841583SQ201610420668
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2016年6月16日
【發(fā)明人】劉洪霞, 李大偉, 劉中陽
【申請人】沈陽飛機(jī)工業(yè)（集團(tuán)）有限公司