一種測量錐度的檢具的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種檢具，具體來講是一種測量錐度的檢具。
【背景技術(shù)】
[0002]以往的測量錐度的檢具一般是通過錐度塞規(guī)與待測工件內(nèi)錐度配接觸，然后在測量平板上待測工件高度和標準錐度的塞規(guī)高度通過計算得出測量結(jié)果，現(xiàn)有測量方法缺少待測工件與錐度塞規(guī)的定位，很容易造成測量誤差過大。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明要解決的問題是提供一種測量錐度的檢具，可使錐度塞規(guī)與待測工件間定位測量準確可靠，測量誤差小。
[0004]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:一種測量錐度的檢具，包括塊狀的測量底板，測量底板上開有圓形通孔，所述圓形通孔中塞有錐度塞規(guī)，所述測量底板上設(shè)有百分表，百分表接有測量頭，測量頭朝下對準錐度塞規(guī)上端面，所述的測量底板的圓形通孔中套有定位套，所述定位套中心開有內(nèi)通孔，錐度塞規(guī)塞入定位套的內(nèi)通孔中，所述定位套上部設(shè)有定位圈，所述定位圈下端面與測量面板貼合，所述定位圈與測量面板以螺栓緊固，所述定位圈上端面置有待測工件，錐度塞規(guī)與待測工件內(nèi)錐度配接觸。
[0005]優(yōu)選的，所述的測量底板上設(shè)有測量等高塊，測量等高塊的高度等于定位套肩面厚度、待測工件高度、錐度塞規(guī)的環(huán)規(guī)高度三者之和。
[0006]優(yōu)選的，所述的測量底板的平行度為0.0095mm-0.015mm。
[0007]優(yōu)選的，所述的測量底板上設(shè)有滑套底座，滑套底座上設(shè)有滑套，滑套中插有滑軌，滑軌靠近錐度塞規(guī)端皆有表架，表架與百分表、測量頭相接，百分表和測量頭隨滑軌一起水平移動。
[0008]采用上述技術(shù)方案后，本發(fā)明具有如下優(yōu)點:
[0009]在錐度塞規(guī)與測量底板間設(shè)置定位套后，因為定位套與測量底板間是緊固連接，待測工件置于定位套上后能保證與錐度塞規(guī)的平行度，較以往沒有定位套定位測量的準確性大大提高，測量的誤差非常小。
【附圖說明】
[0010]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的【具體實施方式】作進一步說明:
[0011]圖1為本發(fā)明測量錐度的檢具的縱向部分剖面示意圖。
【具體實施方式】
[0012]如圖1所示，一種測量錐度的檢具，包括塊狀的測量底板1，測量底板1上開有圓形通孔，所述圓形通孔中塞有錐度塞規(guī)3，測量底板1上設(shè)有百分表5，百分表5接有測量頭7，測量頭7朝下對準錐度塞規(guī)3上端面，所述的測量底板1的圓形通孔中套有定位套2，所述定位套2中心開有內(nèi)通孔，錐度塞規(guī)3塞入定位套2的內(nèi)通孔中，所述定位套2上部設(shè)有定位圈，所述定位圈下端面與測量面板1貼合，所述定位圈與測量面板1以螺栓緊固，所述定位圈上端面置有待測工件，錐度塞規(guī)3與待測工件內(nèi)錐度配接觸，測量底板1上設(shè)有測量等高塊4，測量等高塊4的高度等于定位套2肩面厚度、待測工件高度、錐度塞規(guī)3的環(huán)規(guī)高度三者之和，測量底板1的平行度為0.0095mm-0.015mm，所述的測量底板1上設(shè)有滑套底座10，滑套底座10上設(shè)有滑套9，滑套9中插有滑軌8，滑軌8靠近錐度塞規(guī)3端皆有表架6，表架6與百分表6、測量頭7相接，百分表6和測量頭7隨滑軌8 一起水平移動，表架6安裝在滑軌8上，滑軌8前后移動在錐度塞規(guī)3和測量等高塊4之間運動，百分表5在測量等高塊4上對零位，然后移動滑軌8至錐度塞規(guī)3測量表面讀出測量值即可。
[0013]在錐度塞規(guī)3與測量底板1間設(shè)置定位套2后，因為定位套2與測量底板1間是緊固連接，待測工件置于定位套2上后能保證與錐度塞規(guī)3的平行度，較以往沒有定位套2定位測量的準確性大大提高，測量的誤差非常小。
[0014]除上述優(yōu)選實施例外，本發(fā)明還有其他的實施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以根據(jù)本發(fā)明作出各種改變和變形，只要不脫離本發(fā)明的精神，均應(yīng)屬于本發(fā)明所附權(quán)利要求所定義的范圍。
【主權(quán)項】
1.一種測量錐度的檢具，包括塊狀的測量底板(1)，測量底板(1)上開有圓形通孔，所述圓形通孔中塞有錐度塞規(guī)(3)，所述測量底板(1)上設(shè)有百分表(5)，百分表(5)接有測量頭(7)，測量頭(7)朝下對準錐度塞規(guī)(3)上端面，其特征在于:所述的測量底板(1)的圓形通孔中套有定位套(2)，所述定位套(2)中心開有內(nèi)通孔，錐度塞規(guī)(3)塞入定位套(2)的內(nèi)通孔中，所述定位套(2)上部設(shè)有定位圈，所述定位圈下端面與測量面板(1)貼合，所述定位圈與測量面板(1)以螺栓緊固，所述定位圈上端面置有待測工件，錐度塞規(guī)(3)與待測工件內(nèi)錐度配接觸。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量錐度的檢具，其特征在于:所述的測量底板(1)上設(shè)有測量等高塊(4)，測量等高塊(4)的高度等于定位套(2)肩面厚度、待測工件高度、錐度塞規(guī)(3)的環(huán)規(guī)高度三者之和。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量錐度的檢具，其特征在于:所述的測量底板(1)的平行度為 0.0095mm-0.015mm。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量錐度的檢具，其特征在于:所述的測量底板(1)上設(shè)有滑套底座(10)，滑套底座(10)上設(shè)有滑套(9)，滑套(9)中插有滑軌(8)，滑軌(8)靠近錐度塞規(guī)(3)端皆有表架￠)，表架(6)與百分表￠)、測量頭(7)相接，百分表(6)和測量頭(7)隨滑軌(8) —起水平移動。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種測量錐度的檢具，包括塊狀的測量底板，測量底板上開有圓形通孔，所述圓形通孔中塞有錐度塞規(guī)，所述測量底板上設(shè)有百分表，百分表接有測量頭，測量頭朝下對準錐度塞規(guī)上端面，定位圈下端面與測量面板貼合，所述定位圈與測量面板以螺栓緊固，所述定位圈上端面置有待測工件，錐度塞規(guī)與待測工件內(nèi)錐度配接觸，在錐度塞規(guī)與測量底板間設(shè)置定位套后，因為定位套與測量底板間是緊固連接，待測工件置于定位套上后能保證與錐度塞規(guī)的平行度，較以往沒有定位套定位測量的準確性大大提高，測量的誤差非常小。
【IPC分類】G01B5/24
【公開號】CN105258616
【申請?zhí)枴緾N201410345220
【發(fā)明人】朱寶強, 章生輝
【申請人】金華大眾齒輪有限公司
【公開日】2016年1月20日
【申請日】2014年7月18日