具有子像素結(jié)構(gòu)的空間光調(diào)制器缺陷分類方法
【技術領域】
[0001] 本發(fā)明設及生產(chǎn)線上設備檢測技術領域，特別設及一種具有子像素結(jié)構(gòu)的空間光 調(diào)制器缺陷分類方法及裝置。
【背景技術】
[0002] 隨著信息技術的發(fā)展與應用的普及，電子設備在人們的日常生活中扮演著不可或 缺的角色。其中手機顯示屏，電腦屏幕，電視屏幕等設備的性能更成為各廠商著力研發(fā)提高 的重要環(huán)節(jié)。LED、LCDW及0L邸等空間光調(diào)制器的產(chǎn)品質(zhì)量更成為衡量一個國家在電子 設備領域技術能力的重要標志。
[0003] 空間光調(diào)制器是一類能將信息加載與一維或兩維的光學數(shù)據(jù)場上，W便有效地利 用光的固有速度、并行性和互聯(lián)能力的器件?？臻g光調(diào)制器可在隨時間變化的電驅(qū)動信號 或其他信號控制下，改變空間上光分布的振幅或強度、相位、偏振態(tài)W及波長，或者把相干 光轉(zhuǎn)化成非相干光。由于它的該種性質(zhì)，可作為實時光學信息處理、光計算和光學神經(jīng)網(wǎng)絡 等系統(tǒng)中構(gòu)造單元或關鍵器件。空間光調(diào)制器是實時光學信息處理，自適應光學和光計算 等現(xiàn)代光學領域的關鍵器件。很大程度上，光空間調(diào)制器的性能決定了該些領域的實用價 值和發(fā)展前景。
[0004] 據(jù)統(tǒng)計，僅智能手機該個子領域，2014年第一季度全球出貨量為2. 794億部，一些 公司的手機屏幕生產(chǎn)線更是能達到近乎日均近50萬片的驚人產(chǎn)量。在生產(chǎn)過程中不可避 免會產(chǎn)生一些缺陷，當前工業(yè)界的缺陷檢測主要手段是依靠人工觀察檢測，在該種原始的 檢測方法有多方面的不足；由于LCD的次品率一般僅為1%~3%，再加上檢測人員主觀因 素和外界環(huán)境的影響，誤識率和拒識率都難W獲得理想效果；此外缺乏對缺陷等級的統(tǒng)一 判定標準，檢測效率低，代價高，對工人健康有著嚴重的損害。隨著顯示屏朝著多樣化、大尺 寸、高分辨、小間距、輕薄化、低功耗、高清晰的方向發(fā)展，人工檢測的局限性將會越來越明 顯，可W預見，在不久的將來人工檢測將無法滿足產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率方面的要求，該種原 始粗放型檢測方法將成為制約電子設備產(chǎn)業(yè)的重要因素。
[0005] 學術界利用機器視覺對于空間光調(diào)制器的檢測也進行了長期深入的研究，并取得 了豐富的研究成果，但現(xiàn)有成果主要存在兩個方面弊病；首先，各學者的研究研究成果一種 或幾種缺陷類型，該就需要多種檢測方法才能涵蓋所有缺陷類型，該就嚴重影響了檢測的 精確，另一方面，現(xiàn)有的檢測算法的時間復雜度過高，無法滿足工業(yè)生產(chǎn)的效率需求。所W 現(xiàn)今的產(chǎn)業(yè)界的空間光調(diào)制器缺陷檢測很大程度上仍依賴人工檢測。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006] 本發(fā)明的目的旨在至少解決上述的技術缺陷之一。
[0007] 為此，本發(fā)明的一個目的在于提出一種具有子像素結(jié)構(gòu)的空間光調(diào)制器缺陷分類 方法。該方法具有檢測精度高、檢測效率高的優(yōu)點。
[0008] 本發(fā)明的另一個目的在于提出一種具有子像素結(jié)構(gòu)的空間光調(diào)制器缺陷分類方 法，包括w下步驟：對空間光調(diào)制器進行背光補償，其中，所述空間光調(diào)制器位于暗室中； 采集多個先驗為無壞點的空間光調(diào)制器的多種顏色圖像，并計算每種顏色圖像的顏色強度 均值，W訓練分類器，W及計算發(fā)光單元的標準顏色強度向量；采集待檢測空間光調(diào)制器的 多種顏色圖像，利用所述分類器和所述標準顏色強度向量的相關性識別所述待檢測空間光 調(diào)制器的正常點與缺陷點；根據(jù)所述分類器的分類結(jié)果和空間光調(diào)制器的多種顏色圖像中 同一發(fā)光單元的數(shù)據(jù)關系，對所述缺陷點進行進一步分類。
[0009] 根據(jù)本發(fā)明實施例的方法，通過在暗室中操作與背光補償，大大降低了外界環(huán)境 噪聲的影響，能夠更直觀地采集空間光調(diào)制器自身特性，提高了算法穩(wěn)定性與可靠性。通過 采集大量空間光調(diào)制器圖像訓練分類器降低了個別數(shù)據(jù)異常帶來的問題，提高了分類器算 法的魯椿性。本發(fā)明提出的方法的效率與準確率均高于人工檢測。本發(fā)明所需圖像采集系 統(tǒng)所需分辨率只需與空間光調(diào)制器分辨率相同。
[0010] 另外，根據(jù)本發(fā)明上述實施例的具有子像素結(jié)構(gòu)的空間光調(diào)制器缺陷分類方法還 可W具有如下附加的技術特征：
[0011] 在一些示例中，所述暗室中的照度低于lOLux。
[001引在一些示例中，利用數(shù)字相機采集多個先驗為無壞點的空間光調(diào)制器的多種顏色 圖像和待檢測空間光調(diào)制器的多種顏色圖像。
[0013] 在一些示例中，所述多種顏色圖像包括紅、綠、藍、白和黑的五種顏色圖像。
[0014] 在一些示例中，根據(jù)缺陷分類表對所述缺陷點進行進一步分類，其中，所述缺陷分 類表為：
[0015]
腳)17] 本發(fā)明第二方面的實施例公開了一種具有子像素結(jié)構(gòu)的空間光調(diào)制器缺陷分類 裝置，包括：補償模塊，用于對空間光調(diào)制器進行背光補償，其中，所述空間光調(diào)制器位于暗 室中；訓練模塊，用于采集多個先驗為無壞點的空間光調(diào)制器的多種顏色圖像，并計算每種 顏色圖像的顏色強度均值，W訓練分類器，W及計算發(fā)光單元的標準顏色強度向量；分類模 塊，用于采集待檢測空間光調(diào)制器的多種顏色圖像，利用所述分類器和所述標準顏色強度 向量的相關性識別所述待檢測空間光調(diào)制器的正常點與缺陷點，w及根據(jù)所述分類器的分 類結(jié)果和空間光調(diào)制器的多種顏色圖像中同一發(fā)光單元的數(shù)據(jù)關系，對所述缺陷點進行進 一步分類。
[0018] 根據(jù)本發(fā)明實施例的裝置，通過在暗室中操作與背光補償，大大降低了外界環(huán)境 噪聲的影響，能夠更直觀地采集空間光調(diào)制器自身特性，提高了算法穩(wěn)定性與可靠性。通過 采集大量空間光調(diào)制器圖像訓練分類器降低了個別數(shù)據(jù)異常帶來的問題，提高了分類器算 法的魯椿性。本發(fā)明的實施例的效率與準確率均高于人工檢測。本發(fā)明所需圖像采集系統(tǒng) 所需分辨率只需與空間光調(diào)制器分辨率相同。
[0019] 本發(fā)明附加的方面和優(yōu)點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變 得明顯，或通過本發(fā)明的實踐了解到。
【附圖說明】
[0020] 本發(fā)明上述的和/或附加的方面和優(yōu)點從下面結(jié)合附圖對實施例的描述中將變 得明顯和容易理解，其中，
[0021] 圖1是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的具有子像素結(jié)構(gòu)的空間光調(diào)制器缺陷分類方法 的流程圖；
[0022] 圖2是根據(jù)本發(fā)明另一個實施例的具有子像素結(jié)構(gòu)的空間光調(diào)制器缺陷分類方 法的流程圖；W及
[0023] 圖3是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的具有子像素結(jié)構(gòu)的空間光調(diào)制器缺陷分類裝置 的結(jié)構(gòu)框圖。
【具體實施方式】
[0024] 下面詳細描述本發(fā)明的實施例，實施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同 或類似的標號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描 述的實施例是示例性的，僅用于解釋本發(fā)明，而不能理解為對本發(fā)明的限制。
[002引在本發(fā)明的描述中，需要理解的是，術語"中屯、V縱向V橫向V上V嚇V前"、 "后"、"左"、"右"、"豎直"、"水平"、"頂"、"底"、"內(nèi)"、"外"等指示的方位或位置關系為基于 附圖所示的方位或位置關系，僅是為了便于描述本發(fā)明和簡化描述，而不是指示或暗示所 指的裝置或元件必須具有特定的方位、W特定的方位構(gòu)造和操作，因此不能理解為對本發(fā) 明的限制。此外，術語"第一"、"第二"僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要 性。
[0026] 在本發(fā)明的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規(guī)定和限定，術語"安裝"、"相 連"、"連接"應做廣義理解，例如，可W是固定連接，也可W是可拆卸連接，或一體地連接；可 W是機械連接，也可W是電連接；可W是直接相連，也可W通過中間媒介間接相連，可W是 兩個元件內(nèi)部的連通。對于本領域的普通技術人員而言，可W具體情況理解上述術語在本 發(fā)明中的具體含義。
[0027] W下結(jié)合附圖描述根據(jù)本發(fā)明實施例的具有子像素結(jié)構(gòu)的空間光調(diào)制器缺陷分 類方法及裝置。
[0028] 圖1是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的具有子像素結(jié)構(gòu)的空間光調(diào)制器缺陷分類方法 的流程圖。如圖1所示，并結(jié)合圖2,根據(jù)本發(fā)明一個實施例的具有子像素結(jié)構(gòu)的空間光調(diào) 制器缺陷分類方法，包括如下步驟：。
[002引 S101 ;對空間光調(diào)制器進行背光補償，其中，空間光調(diào)制器位于暗室中。在本發(fā)明 的一個實施例中，暗室中的照度低于lOLux。目P;在暗室中對空間光調(diào)制器進行背光補償。
[0030] S103;采集多個先驗為無壞點的空間光調(diào)制器的多種顏色圖像，并計算每種顏色 圖像的顏色強度均值，W訓練分類器，W及計算發(fā)光單元的標準顏色強度向量。目P;利用圖 像采集系統(tǒng)對多個空間光調(diào)制器采集不同顏色圖像，計算其全局統(tǒng)計特性，訓練分類器，并 計算發(fā)光單元的標準顏色強度向量。
[0031] S103;采集待檢測空間光調(diào)制器的多種顏色圖像，利用分類器和標準顏色強度向 量的相關性識別待檢測空間光調(diào)制器的正常點與缺陷點。目P;采集待檢測空