一種用于檢測非接觸卡芯片不良的方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本申請涉及一種消費型卡片生產(chǎn)設(shè)備，特別涉及一種用于檢測非接觸卡芯片不良的裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]為確保IC卡卡片非接功能正常，卡片生產(chǎn)廠商需要抽調(diào)大量的人員及時間在非接觸功能的檢驗上面，因此在IC卡非接手工電測方面耗費大量的檢測工時，此前每萬張卡片手工非接電測耗時約為5-6工時，按一家中小型發(fā)卡中心每年發(fā)卡1000萬張估算，僅電測工序就耗費工時超5000小時。這種方式效率非常低下，浪費太多的人力物力，這種問題亟待解決。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]有鑒于此，本發(fā)明實施例提供一種用于檢測非接觸卡芯片不良的裝置，可以有效提尚不良卡的檢測效率。
[0004]本發(fā)明實施例是這樣實現(xiàn)的，一種用于檢測非接觸卡芯片不良的裝置，包括:刷卡器，用于接收非接觸卡反饋的高頻信號；
[0005]延時繼電器控制器，與所述刷卡器相連，用于接收所述高頻信號并在一段延時后傳遞給制卡設(shè)備控制器；
[0006]制卡設(shè)備控制器，用于判斷是否接收到所述高頻信號，如果沒有接收到所述高頻信號，則控制制卡設(shè)備暫停工作。
[0007]進(jìn)一步地，所述制卡設(shè)備控制器包括:
[0008]高頻信號接收板，與所述延時繼電器控制器相連，用于接收所述高頻信號，并控制光電感應(yīng)開關(guān)的通斷；
[0009]光電感應(yīng)開關(guān)，與所述高頻信號接收板相連，根據(jù)高頻信號板的控制產(chǎn)生反饋信號給制卡設(shè)備。
[0010]進(jìn)一步地，所述裝置還包括計數(shù)器，與所述延時繼電器控制器相連，當(dāng)刷卡器接收到所述非接觸卡反饋的高頻信號后，延時繼電器將所述高頻信號發(fā)送到計數(shù)器。
[0011 ] 進(jìn)一步地，所述延時繼電器包括一延時時間調(diào)整控制，用于控制延時時間。
[0012]進(jìn)一步地，所述裝置還包括一報警裝置，用于當(dāng)待檢測到非接觸卡芯片不良時發(fā)出報警信號。
[0013]根據(jù)本發(fā)明的另一方面，本發(fā)明實施例還提供一種用于檢測非接觸卡芯片不良的方法包括如下步驟:
[0014](I)刷卡器接收非接觸卡反饋的高頻信號；
[0015](2)延時繼電器控制器接收所述高頻信號并在一段延時后傳遞給制卡設(shè)備控制器;
[0016](3)制卡設(shè)備控制器接收所述高頻信號后，如果沒有接收到所述高頻信號，則判定所述非接觸卡不良。
[0017]進(jìn)一步地，還包括如下步驟:(4)制卡設(shè)備控制器控制制卡設(shè)備暫停工作。
[0018]進(jìn)一步地，所述步驟(3)包括:高頻信號接收板接收延時繼電器控制器發(fā)來的高頻信號，并控制光電感應(yīng)開關(guān)的通斷；當(dāng)沒有接收到所述高頻信號時，控制所述光電感應(yīng)開關(guān)打開，使制卡設(shè)備停止工作。
[0019]進(jìn)一步地，當(dāng)檢測到所述非接觸卡為良好芯片時，反饋高頻信號給計數(shù)器，計數(shù)器對良好卡片進(jìn)行計數(shù)。
[0020]進(jìn)一步地，還包括如下步驟:所述延時繼電器根據(jù)非接觸卡類型進(jìn)行延時時間調(diào)整控制。
[0021]采用上述技術(shù)方案，具有如下有益效果:減少、取締這一工耗問題，從生產(chǎn)根源出發(fā)，利用光電感應(yīng)開關(guān)以及非接刷卡技術(shù)相結(jié)合，自動控制卡片生產(chǎn)設(shè)備判別并剔除非接觸不良類型卡片。
【附圖說明】
[0022]通過閱讀參照以下附圖所作的對非限制性實施例所作的詳細(xì)描述，本申請的其它特征、目的和優(yōu)點將會變得更明顯:
[0023]圖1示出了本申請?zhí)峁┑挠糜跈z測非接觸卡芯片不良的裝置的結(jié)構(gòu)框圖；
[0024]圖2示出了本申請?zhí)峁┑挠糜跈z測非接觸卡芯片不良的裝置的另外一實施例的結(jié)構(gòu)框圖。
【具體實施方式】
[0025]下面結(jié)合附圖和實施例對本申請作進(jìn)一步的詳細(xì)說明?？梢岳斫獾氖?，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋相關(guān)發(fā)明，而非對該發(fā)明的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與有關(guān)發(fā)明相關(guān)的部分。
[0026]需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結(jié)合實施例來詳細(xì)說明本申請。
[0027]如圖1所示，一種用于檢測非接觸卡芯片不良的裝置10，包括:刷卡器101，用于接收非接觸卡反饋的高頻信號；
[0028]延時繼電器控制器102，與所述刷卡器相連，用于接收所述高頻信號并在一段延時后傳遞給制卡設(shè)備控制器；
[0029]制卡設(shè)備控制器103，用于判斷是否接收到所述高頻信號，如果沒有接收到所述高頻信號，則控制制卡設(shè)備暫停工作。
[0030]刷卡器負(fù)責(zé)檢測IC卡芯片是否良品，如是良品會反饋高頻信號，不良品則無感應(yīng)，無高頻信號返回。上述刷卡器為非接刷卡器，將非接刷卡器安裝于生產(chǎn)設(shè)備最易損傷IC天線的模塊位置。
[0031]打開檢測設(shè)備，制卡設(shè)備控制器自動開啟攔截功能。制卡設(shè)備控制器進(jìn)一步包括高頻信號接收板和光電感應(yīng)開關(guān)，其中高頻信號接收板，與所述延時繼電器控制器相連，用于接收所述高頻信號，并控制光電感應(yīng)開關(guān)的通斷；其中光電感應(yīng)開關(guān)，與所述高頻信號接收板相連，根據(jù)高頻信號板的控制產(chǎn)生反饋信號給制卡設(shè)備。
[0032]當(dāng)有效的非接觸IC卡片經(jīng)過刷卡器時，刷卡器會給檢測設(shè)備一個“PASS”信號讓光電感應(yīng)開關(guān)自動開啟過卡通道，以達(dá)到正常生產(chǎn)目通過。反之，當(dāng)無效的非接觸卡片經(jīng)過刷卡器時，刷卡器則不會給檢測設(shè)備任何信號，然后就被隨時待命的光電開關(guān)攔截下來，被成功剔除。
[0033]本發(fā)明還提供另外一實施例，所述裝置還包括計數(shù)器，與所述延時繼電器控制器相連，當(dāng)刷卡器接收到所述非接觸卡反饋的高頻信號后，延時繼電器將所述高頻信號發(fā)送到計數(shù)器。當(dāng)成功識別有效卡片時，檢測設(shè)備能實時準(zhǔn)確地累加計數(shù)，讓卡片生產(chǎn)更加直觀更加明了。也可以方便產(chǎn)品生產(chǎn)完的核對操作，防止不良品流出。
[0034]本發(fā)明還提供另外一實施例，所述裝置還包括一報警裝置，用于當(dāng)待檢測非解除卡芯片不良時發(fā)出報警信號。報警裝置可以是蜂鳴器等可以發(fā)出提醒功能的裝置。
[0035]本發(fā)明還提供另外一實施例，延時繼電器包括一延時控制器，用于控制延時時間。這里的延時時間就是光電感應(yīng)被屏蔽的時間，即在此時間內(nèi)卡片經(jīng)過光電感應(yīng)，機(jī)器不會暫停，超出此時間卡片在經(jīng)過光電感應(yīng)，則機(jī)器會暫停。由于本產(chǎn)品安裝在機(jī)器的出卡處，不同卡款的卡片經(jīng)過本檢測機(jī)器的時間會有所區(qū)別，所以要用到調(diào)整延時時間來滿足正常卡片能順利經(jīng)過光電感應(yīng)，不良卡片能被及時攔下。
[0036]如圖2所示，為本發(fā)明提供的另一實施例。
[0037]在工作前需要根據(jù)相應(yīng)卡款調(diào)整光電感應(yīng)延遲時間，延遲時間調(diào)整完畢后，在打IC卡時開啟此機(jī)器。
[0038]其中IC凸字卡延時時間調(diào)整為1.6S，IC UG卡調(diào)整延時時間為2