夾著第2薄膜F2的外周緣部分的狀態(tài)安裝，將第2薄膜F2固定。
[0036]該彈性體圈6例如是橡膠帶。
[0037]此外，第I薄膜Fl及第2薄膜F2可以采用例如稱作mylar (注冊商標(biāo))薄膜的聚酯薄膜等樹脂薄膜，優(yōu)選的是透明而不出現(xiàn)雜質(zhì)的厚度幾μ m的較薄的薄膜。
[0038]在第I環(huán)狀部件3的下部外周形成有缺口狀的臺階部3b。
[0039]第2環(huán)狀部件4在上部形成有向半徑方向外方突出而擴(kuò)徑的第I凸緣部4b，在第3環(huán)狀部件5上，也在上部形成有向半徑方向外方突出而擴(kuò)徑的第2凸緣部5b。S卩，彈性體圈6設(shè)在第I凸緣部4b與第2凸緣部5b之間。
[0040]試樣設(shè)置用夾具10是在向X射線分析用試樣保持器I設(shè)置X射線分析用的試樣S時使用的夾具，如圖5及圖6所示，具備夾具主體11和透明板部12，所述夾具主體11為板狀，具有至少第I環(huán)狀部件3的下部能夠嵌入的設(shè)置孔11a，所述透明板部12將設(shè)置孔Ila的下部開口部覆蓋而設(shè)置。
[0041]上述透明板部12是透明的玻璃板或塑料板，在表面上形成有表示設(shè)置孔Ila的中心的標(biāo)記M。該標(biāo)記M例如是描繪在透明板部12的表面上的十字線的交點等。
[0042]另外，上述設(shè)置孔Ila與第I環(huán)狀部件3的臺階部3b的直徑對應(yīng)而為內(nèi)徑，被設(shè)定為底部支承部3c能夠嵌入的圓形。
[0043]接著，參照圖6對使用試樣設(shè)置用夾具10將試樣S向X射線分析用試樣保持器I安設(shè)的方法進(jìn)行說明。
[0044]首先，如圖6所示，將第I環(huán)狀部件3的下部(底部支承部3c)向試樣設(shè)置用夾具10的設(shè)置孔Ila嵌入。此時，成為將下部的臺階部3b卡止到設(shè)置孔Ila的上部外周端上并將底部支承部3c插入在設(shè)置孔Ila內(nèi)的狀態(tài)，第I環(huán)狀部件3被定位。
[0045]接著，在第I環(huán)狀部件3之上覆蓋第I薄膜F1，再從第I薄膜Fl的上方將第2環(huán)狀部件4向第I環(huán)狀部件3內(nèi)推入并將第I薄膜Fl向第I環(huán)狀部件3的內(nèi)側(cè)推入。由此，將第2環(huán)狀部件4的下部開口部覆蓋而張設(shè)第I薄膜Fl。此時，第2環(huán)狀部件4的下端抵接在第I環(huán)狀部件3底部支承部3c上而被支承。
[0046]在該狀態(tài)下，將試樣S向張設(shè)在第2環(huán)狀部件4的下部開口部處的第I薄膜Fl上載置。此時，由于能夠經(jīng)由第I薄膜Fl視覺辨認(rèn)透明板部12的標(biāo)記M，所以以標(biāo)記M為記號，將試樣S置于設(shè)置孔Ila的中央。
[0047]另一方面，在第3環(huán)狀部件5的下部開口部覆蓋第2薄膜F2，在第3環(huán)狀部件5的外周面將第2薄膜F2的周緣部分用彈性體圈6固定。此時，用比張設(shè)的第I薄膜Fl松的張力將第2薄膜F2固定。
[0048]接著，在載置試樣S后，將固定著第2薄膜F2的第3環(huán)狀部件5從上方向第2環(huán)狀部件4內(nèi)推入。此時，通過用第I薄膜Fl和第2薄膜F2夾著試樣S將位置固定，將試樣S安設(shè)到X射線分析用試樣保持器I上。
[0049]另外，由于通過彈性體圈6使第2薄膜F2的張力比第I薄膜Fl弱而固定，所以能夠在將第I薄膜Fl平坦地張設(shè)的原狀下在第3環(huán)狀部件5內(nèi)以第2薄膜F2成為凸的方式夾持試樣S。由此，能夠不使第I薄膜Fl撓曲而保持試樣S，能夠維持作為基準(zhǔn)面的第I薄膜Fl的位置，所述基準(zhǔn)面決定試樣S與X射線管的距離。
[0050]在將這樣安設(shè)了試樣S的X射線分析用試樣保持器I向X射線分析裝置安裝時，如圖1所示，向在作為試樣基座的保持器安裝部2上形成的保持器用孔2a安裝，與保持器安裝部2 —起向X射線分析裝置內(nèi)放入。另外，在保持器安裝部2的保持器用孔2a的上部外緣上，設(shè)有將臺階部3b卡止且第I環(huán)狀部件3的下部能夠嵌入的臺階部狀的凹部2b，僅通過設(shè)置到保持器用孔2a中，將X射線分析用試樣保持器I定位。
[0051 ] 對于這樣安設(shè)在X射線分析裝置中的試樣S，在X射線分析時，從保持器用孔2a的下方經(jīng)由第I薄膜Fl照射一次X射線X。
[0052]另外，在將多個X射線分析用試樣保持器I分析、測量的情況下，如圖7所示，使用能夠安裝多個X射線分析用試樣保持器I的試樣轉(zhuǎn)換器(保持器安裝部)100。S卩，向形成在試樣轉(zhuǎn)換器(sample changer) 100上的多個保持器用孔2a安裝各X射線分析用試樣保持器I。
[0053]這樣，在本實施方式的X射線分析用試樣保持器I中，由于用在第2環(huán)狀部件4和第3環(huán)狀部件5各自的下部開口部處張設(shè)的第I薄膜Fl和第2薄膜F2將X射線分析用的試樣S夾持，所以試樣S被一對薄膜夾住而不會偏移，并且由于薄膜較薄，所以不易給X射線測量帶來影響，能夠進(jìn)行準(zhǔn)確的測量。此外，通過將第I薄膜Fl的位置安設(shè)到試樣S與X射線管的距離的最優(yōu)位置，能夠總是使試樣S與X射線管的距離成為一定。進(jìn)而，由于將試樣S夾在一對薄膜間,所以對試樣S的大小及形狀限制較少,能夠安設(shè)多種多樣的試樣S。
[0054]此外，由于在第2環(huán)狀部件4的上方且第3環(huán)狀部件5的外周面上具備以夾著第2薄膜F2的外周緣部分的狀態(tài)安裝且將第2薄膜F2固定的彈性體圈6，所以能夠用彈性體圈6調(diào)節(jié)第2薄膜F2的張力程度。
[0055]進(jìn)而，由于在第I環(huán)狀部件3的下部外周上形成有缺口狀的臺階部3b，所以通過在X射線分析裝置的保持器安裝部2設(shè)置將臺階部3b卡止且第I環(huán)狀部件3的下部能夠嵌入的臺階部狀的凹部2b，能夠進(jìn)行與X射線照射口的定位，容易使試樣S對準(zhǔn)于目標(biāo)位置，還能夠再次向相同位置配置試樣S。
[0056]在該試樣設(shè)置用夾具10中，由于在透明板部12上形成有表示設(shè)置孔Ila的中心的標(biāo)記M，所以在將張設(shè)有第I薄膜Fl的第I環(huán)狀部件3及第2環(huán)狀部件4嵌入在設(shè)置孔Ila中的狀態(tài)下，能夠以能夠經(jīng)由第I薄膜Fl目視的透明板部12的標(biāo)記M為記號，將試樣S載置到第I薄膜Fl上。因而，通過使用該試樣設(shè)置用夾具10，容易在X射線分析裝置的機外將試樣S安設(shè)到與X射線束的中心對應(yīng)的測量位置。
[0057]另外，本發(fā)明的技術(shù)范圍并不限定于上述實施方式，在不脫離本發(fā)明的主旨的范圍內(nèi)能夠加以各種變更。
[0058]例如，在上述實施方式中，使第I?第3環(huán)狀部件為圓筒狀部件，但也可以為橢圓筒狀或方筒狀等筒狀部件。
[0059]在上述實施方式中，使設(shè)在透明板部上的標(biāo)記為十字線，但只要能夠視覺辨認(rèn)試樣的目標(biāo)設(shè)置位置，也可以是其他標(biāo)記。例如也可以是較小的圓形狀的標(biāo)記等。
[0060]附圖標(biāo)記說明
I…X射線分析用試樣保持器；2…保持器安裝部；3…第I環(huán)狀部件；3b…臺階部；4…第2環(huán)狀部件；5…第3環(huán)狀部件；6…彈性體圈；10…試樣設(shè)置用夾具；11…夾具主體；Ila…設(shè)置孔；12...透明板部；100…試樣轉(zhuǎn)換器；F1...第I薄膜；F2...第2薄膜；M…標(biāo)記；S...試樣。
【主權(quán)項】
1.一種X射線分析用試樣保持器，其特征在于， 具備第I環(huán)狀部件、第2環(huán)狀部件和第3環(huán)狀部件； 所述第2環(huán)狀部件在與上述第I環(huán)狀部件之間夾著第I薄膜的狀態(tài)下嵌入插入在上述第I環(huán)狀部件內(nèi)，將下部開口部覆蓋而張設(shè)上述第I薄膜； 所述第3環(huán)狀部件在與上述第2環(huán)狀部件之間夾著第2薄膜的狀態(tài)下嵌入插入在上述第2環(huán)狀部件內(nèi)，將下部開口部覆蓋而張設(shè)上述第2薄膜； 用在上述第2環(huán)狀部件和上述第3環(huán)狀部件各自的下部開口部處張設(shè)的上述第I薄膜和上述第2薄膜將X射線分析用的試樣夾持。
2.如權(quán)利要求1所述的X射線分析用試樣保持器，其特征在于， 上述第3環(huán)狀部件形成得比上述第2環(huán)狀部件高； 在上述第2環(huán)狀部件的上方且上述第3環(huán)狀部件的外周面上，具備彈性體圈，所述彈性體圈以夾著上述第2薄膜的外周緣部分的狀態(tài)安裝，將上述第2薄膜固定。
3.如權(quán)利要求1所述的X射線分析用試樣保持器，其特征在于， 在上述第I環(huán)狀部件的下部外周上形成有缺口狀的臺階部。
4.一種試樣設(shè)置用夾具，在向權(quán)利要求1所述的X射線分析用試樣保持器設(shè)置X射線分析用的試樣時使用，其特征在于， 具備夾具主體和透明板部； 所述夾具主體為板狀，具有上述第I環(huán)狀部件的下部能夠嵌入的設(shè)置孔； 所述透明板部將上述設(shè)置孔的下部開口部覆蓋而設(shè)置； 在上述透明板部上形成有標(biāo)記，所述標(biāo)記表示上述設(shè)置孔的中心。
【專利摘要】提供一種能夠消除試樣的偏移并使試樣與X射線管的距離為一定、進(jìn)而能夠?qū)?yīng)于各種各樣的形狀的試樣的X射線分析用試樣保持器及在將試樣向該保持器安設(shè)時使用的試樣設(shè)置用夾具。具備第1環(huán)狀部件（3）、第2環(huán)狀部件（4）和第3環(huán)狀部件（5）；所述第2環(huán)狀部件（4）在與第1環(huán)狀部件之間夾著第1薄膜（F1）的狀態(tài)下嵌入插入在第1環(huán)狀部件內(nèi)，將下部開口部覆蓋而張設(shè)第1薄膜；所述第3環(huán)狀部件（5）在與第2環(huán)狀部件之間夾著第2薄膜（F2）的狀態(tài)下嵌入插入在第2環(huán)狀部件內(nèi)，將下部開口部覆蓋而張設(shè)第2薄膜；用在第2環(huán)狀部件和第3環(huán)狀部件各自的下部開口部處張設(shè)的第1薄膜和第2薄膜將X射線分析用的試樣（S）夾持。
【IPC分類】G01N1-36
【公開號】CN104849128
【申請?zhí)枴緾N201410749791
【發(fā)明人】竹內(nèi)俊公
【申請人】日本株式會社日立高新技術(shù)科學(xué)
【公開日】2015年8月19日
【申請日】2014年12月10日
【公告號】DE102015101866A1, US20150226686