一種自動(dòng)模擬鍵盤測(cè)試的集成裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及鍵盤性能測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種自動(dòng)模擬鍵盤測(cè)試的集成裝 置。
【背景技術(shù)】
[0002] 鍵盤PCB板在生產(chǎn)過程中通常涉及到SMT貼片、IC引腳線路綁定及插件元件的插 件焊接工藝等，因其所需工藝眾多，且對(duì)工藝的要求精細(xì)，故其中任一環(huán)節(jié)出現(xiàn)問題，都將 影響鍵盤的質(zhì)量；而在生產(chǎn)過程中，若不及時(shí)將鍵盤PCB板中的部分或者全部進(jìn)行測(cè)試，將 會(huì)造成很大的損失。然而傳統(tǒng)測(cè)試工藝為：通過手動(dòng)按鍵測(cè)試線路，而手動(dòng)按鍵數(shù)量多，且 速度慢，嚴(yán)重影響生產(chǎn)效率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 本發(fā)明所解決的技術(shù)問題在于提供一種自動(dòng)模擬鍵盤測(cè)試的集成裝置，以解決上 述【背景技術(shù)】中的缺點(diǎn)。
[0004] 本發(fā)明所解決的技術(shù)問題采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)：
[0005] -種自動(dòng)模擬鍵盤測(cè)試的集成裝置，包括外接晶振電路、上電復(fù)位電路、單片機(jī)、 16路控制開關(guān)、一對(duì)8路控制開關(guān)及模擬測(cè)試鍵盤；其中，外接晶振電路與上電復(fù)位電路接 入單片機(jī)，并在單片機(jī)一側(cè)設(shè)置有觸發(fā)開關(guān)，且單片機(jī)通過I/O接口分別與16路控制開關(guān)、 一對(duì)8路控制開關(guān)連接，模擬測(cè)試鍵盤與觸發(fā)開關(guān)連接，同時(shí)16路控制開關(guān)及一對(duì)8路控 制開關(guān)的選通端分別連接至對(duì)應(yīng)的模擬測(cè)試鍵盤兩端。
[0006] 在本發(fā)明中，外接晶振電路包括晶振、諧振電容及諧振電容，上電復(fù)位電路包括電 容和外接電阻，其中，晶振與諧振電容、諧振電容連接，且電容、諧振電容及諧振電容分別與 外接電阻連接。
[0007] 在本發(fā)明中，觸發(fā)開關(guān)上連接有加速開關(guān)及減速開關(guān)，用于調(diào)整自動(dòng)按鍵的速度。
[0008] 在本發(fā)明中，模擬測(cè)試鍵盤上設(shè)置有LED燈，當(dāng)16路控制開關(guān)及一對(duì)8路控制開 關(guān)的選通端連接至對(duì)應(yīng)的模擬測(cè)試鍵盤兩端時(shí)，按動(dòng)觸發(fā)開關(guān)，即可依次點(diǎn)亮模擬測(cè)試鍵 盤上設(shè)置的LED燈，且單片機(jī)在控制16路控制開關(guān)及一對(duì)8路控制開關(guān)時(shí)LED燈熄滅，控 制完畢后LED燈亮起。
[0009] 在本發(fā)明中，觸發(fā)開關(guān)為低電平觸發(fā)，且其低電平觸發(fā)端口與待測(cè)試鍵盤PCB板 的GND端連接，在偵測(cè)到待測(cè)試鍵盤PCB板低電平時(shí)可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)觸發(fā)。
[0010] 在本發(fā)明中，上電復(fù)位電路還包括手動(dòng)開關(guān)、平衡電阻，且手動(dòng)開關(guān)與平衡電阻連 接后與電容并聯(lián)。
[0011] 在本發(fā)明中，模擬測(cè)試鍵盤上設(shè)置的測(cè)試功能按鍵為矩陣結(jié)構(gòu)，測(cè)試前首先將模 擬測(cè)試鍵盤的測(cè)試功能按鍵按照矩陣結(jié)構(gòu)依次對(duì)應(yīng)待測(cè)試鍵盤PCB板上的待測(cè)試線路，而 后接通模擬測(cè)試鍵盤的兩端，按下手動(dòng)開關(guān)即短路，用于實(shí)現(xiàn)手動(dòng)按鍵功能；再將模擬測(cè)試 鍵盤與16路控制開關(guān)及一對(duì)8路控制開關(guān)中任一項(xiàng)控制開關(guān)接通或全部接通，即可實(shí)現(xiàn)自 動(dòng)按鍵功能，過控制開關(guān)模擬按鍵開關(guān)與手工按鍵相比，不僅精確穩(wěn)定，且工作效率更高。
[0012] 有益效果：本發(fā)明中通過單片機(jī)自動(dòng)控制模擬測(cè)試鍵盤，以實(shí)現(xiàn)16路或8路線路 的測(cè)試，與手工按鍵相比，不僅精確穩(wěn)定，有效降低了人工勞動(dòng)強(qiáng)度，且工作效率更高；同時(shí) 減少了測(cè)試誤差，提高了鍵盤的質(zhì)量。
【附圖說明】
[0013] 圖1為本發(fā)明的較佳實(shí)施例的電路連接示意圖。
[0014] 圖2為本發(fā)明的較佳實(shí)施例中的模擬測(cè)試鍵盤對(duì)應(yīng)矩陣圖。
【具體實(shí)施方式】
[0015] 為了使本發(fā)明實(shí)現(xiàn)的技術(shù)手段、創(chuàng)作特征、達(dá)成目的與功效易于明白了解，下面結(jié) 合具體圖示，進(jìn)一步闡述本發(fā)明。
[0016] 參見圖1的一種自動(dòng)模擬鍵盤測(cè)試的集成裝置，包括外接晶振電路、上電復(fù)位電 路、單片機(jī)U1、16路控制開關(guān)U2、8路控制開關(guān)U3、8路控制開關(guān)U4、觸發(fā)開關(guān)S、加速開關(guān) S++、減速開關(guān)S-及模擬測(cè)試鍵盤KEYl~KEY18 ;其中，外接晶振電路與上電復(fù)位電路接 入單片機(jī)Ul，觸發(fā)開關(guān)S設(shè)置在單片機(jī)Ul -側(cè)，并在觸發(fā)開關(guān)S上連接有加速開關(guān)S++及 減速開關(guān)S-，用于調(diào)整自動(dòng)按鍵的速度；且單片機(jī)Ul通過I/O接口 Pl控制8路控制開 關(guān)U3、8路控制開關(guān)U4的選通，I/O接口 P2控制16路控制開關(guān)U2的選通，模擬測(cè)試鍵盤 KEYl~KEY18與觸發(fā)開關(guān)S連接，同時(shí)16路控制開關(guān)U2、8路控制開關(guān)U3及8路控制開關(guān) U4的選通端連接至對(duì)應(yīng)的模擬測(cè)試鍵盤KEYl~KEY18兩端；此外，外接晶振電路包括晶振 XI、諧振電容C2及諧振電容C3,上電復(fù)位電路包括電容Cl和外接電阻R91，晶振XI與諧振 電容C2、諧振電容C3連接，且電容C1、諧振電容C2及諧振電容C3分別與外接電阻R91連 接。
[0017] 在本實(shí)施例中，模擬測(cè)試鍵盤KEYl~KEY18上設(shè)置有LED燈，當(dāng)16路控制開關(guān)U2、 8路控制開關(guān)U3及8路控制開關(guān)U4的選通端連接至對(duì)應(yīng)的模擬測(cè)試鍵盤KEYl~KEY18兩 端時(shí)，按動(dòng)觸發(fā)開關(guān)S，即可依次點(diǎn)亮模擬測(cè)試鍵盤KEYl~KEY18上設(shè)置的LED燈，且單片 機(jī)Ul在控制16路控制開關(guān)U2、8路控制開關(guān)U3及8路控制開關(guān)U4時(shí)LED燈媳滅，控制完 畢后LED燈亮起。
[0018] 在本實(shí)施例中，觸發(fā)開關(guān)S為低電平觸發(fā)，并將低電平觸發(fā)端口與待測(cè)試鍵盤PCB 板的GND端連接，在偵測(cè)到待測(cè)試鍵盤PCB板低電平時(shí)可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)觸發(fā)。
[0019] 在本實(shí)施例中，上電復(fù)位電路還包括手動(dòng)開關(guān)Kl、平衡電阻Rl，通過手動(dòng)開關(guān)Kl 與平衡電阻Rl連接后與電容Cl并聯(lián)。
[0020] 在本實(shí)施例中，單片機(jī)Ul型號(hào)為STC89c52RC。
[0021] 參見圖2所示的模擬測(cè)試鍵盤KEYl~KEY18對(duì)應(yīng)矩陣圖，RO~R7依次對(duì)應(yīng)待測(cè) 試鍵盤PCB板上的8條線路P20~P27, CO~C17依次對(duì)應(yīng)待測(cè)試鍵盤PCB板上的另外18 條線路，并將R〇、CO接至模擬測(cè)試鍵盤KEYl的兩端，按下手動(dòng)開關(guān)Kl即短路RO、C0,可實(shí) 現(xiàn)手動(dòng)按鍵"PAUSE"功能，將R0、C0按附圖1所示接至16路控制開關(guān)U2、8路控制開關(guān)U3， 即可通過模擬測(cè)試鍵盤KEYl實(shí)現(xiàn)自動(dòng)按鍵功能，而模擬測(cè)試鍵盤KEYl矩陣中的"PAUSE"、 " TAB "、" S "、"F4 "、" V "、"η " " 9 " "ALTR-R"、"ENTER"、、" SPACE "、" 2 "、" 6 "、" + "、 "Shift-L"、"win-L"、"win-R"，依次對(duì)應(yīng)至待測(cè)試鍵盤PCB板上的KEYl~KEY18,同時(shí)將 KEYl~KEY18接入至所連接的控制開關(guān)CD4051BE和CD4067BE對(duì)應(yīng)的引腳中，既可實(shí)現(xiàn)對(duì) 待測(cè)試鍵盤PCB板的電子模擬自動(dòng)按鍵功能，從而完成對(duì)待測(cè)試鍵盤PCB板的測(cè)試。通過 控制開關(guān)IC模擬18個(gè)按鍵開關(guān)與手工按鍵相比，不僅精確穩(wěn)定，且工作效率更高。
[0022] 在本實(shí)施例中，單片機(jī)Ul控制程序采用C語言編制，其控制程序代碼如下：
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種自動(dòng)模擬鍵盤測(cè)試的集成裝置，包括外接晶振電路、上電復(fù)位電路、單片機(jī)、16 路控制開關(guān)、一對(duì)8路控制開關(guān)及模擬測(cè)試鍵盤；其特征在于，外接晶振電路與上電復(fù)位電 路接入單片機(jī)，并在單片機(jī)一側(cè)設(shè)置有觸發(fā)開關(guān)，且單片機(jī)通過I/O接口分別與16路控制 開關(guān)、一對(duì)8路控制開關(guān)連接，模擬測(cè)試鍵盤與觸發(fā)開關(guān)連接，同時(shí)16路控制開關(guān)及一對(duì)8 路控制開關(guān)的選通端分別連接至對(duì)應(yīng)的模擬測(cè)試鍵盤兩端。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種自動(dòng)模擬鍵盤測(cè)試的集成裝置，其特征在于，外接晶振 電路包括晶振、諧振電容及諧振電容，上電復(fù)位電路包括電容和外接電阻，其中，晶振與諧 振電容、諧振電容連接，且電容、諧振電容及諧振電容分別與外接電阻連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種自動(dòng)模擬鍵盤測(cè)試的集成裝置，其特征在于，上電復(fù)位 電路還包括手動(dòng)開關(guān)、平衡電阻，且手動(dòng)開關(guān)與平衡電阻連接后與電容并聯(lián)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種自動(dòng)模擬鍵盤測(cè)試的集成裝置，其特征在于，觸發(fā)開關(guān) 上連接有加速開關(guān)及減速開關(guān)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種自動(dòng)模擬鍵盤測(cè)試的集成裝置，其特征在于，模擬測(cè)試 鍵盤上設(shè)置有LED燈。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種自動(dòng)模擬鍵盤測(cè)試的集成裝置，其特征在于，觸發(fā)開關(guān) 為低電平觸發(fā)，且其低電平觸發(fā)端口與待測(cè)試鍵盤PCB板的GND端連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求1~6任一項(xiàng)所述的一種自動(dòng)模擬鍵盤測(cè)試的集成裝置，其特征在 于，模擬測(cè)試鍵盤上設(shè)置的測(cè)試功能按鍵為矩陣結(jié)構(gòu)，測(cè)試前首先將模擬測(cè)試鍵盤的測(cè)試 功能按鍵按照矩陣結(jié)構(gòu)依次對(duì)應(yīng)待測(cè)試鍵盤PCB板上的待測(cè)試線路，而后接通模擬測(cè)試鍵 盤的兩端，按下手動(dòng)開關(guān)即短路，用于實(shí)現(xiàn)手動(dòng)按鍵功能；再將模擬測(cè)試鍵盤與16路控制 開關(guān)及一對(duì)8路控制開關(guān)中任一項(xiàng)控制開關(guān)接通或全部接通，即可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)按鍵功能。
【專利摘要】一種自動(dòng)模擬鍵盤測(cè)試的集成裝置，包括外接晶振電路、上電復(fù)位電路、單片機(jī)、16路控制開關(guān)、一對(duì)8路控制開關(guān)及模擬測(cè)試鍵盤；其中，外接晶振電路與上電復(fù)位電路接入單片機(jī)，并在單片機(jī)一側(cè)設(shè)置有觸發(fā)開關(guān)，且單片機(jī)通過I/O接口分別與16路控制開關(guān)、一對(duì)8路控制開關(guān)連接，模擬測(cè)試鍵盤與觸發(fā)開關(guān)連接，同時(shí)16路控制開關(guān)及一對(duì)8路控制開關(guān)的選通端分別連接至對(duì)應(yīng)的模擬測(cè)試鍵盤兩端。本發(fā)明中通過單片機(jī)自動(dòng)控制模擬測(cè)試鍵盤，以實(shí)現(xiàn)16路或8路線路的測(cè)試，與手工按鍵相比，不僅精確穩(wěn)定，有效降低了人工勞動(dòng)強(qiáng)度，且工作效率更高；同時(shí)減少了測(cè)試誤差，提高了鍵盤的質(zhì)量。
【IPC分類】G01R31-02
【公開號(hào)】CN104808103
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510263727
【發(fā)明人】魏沐春
【申請(qǐng)人】江西森科實(shí)業(yè)股份有限公司
【公開日】2015年7月29日
【申請(qǐng)日】2015年5月22日