帶存儲(chǔ)單元的集成芯片的復(fù)測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及集成電路芯片測(cè)試領(lǐng)域，特別是涉及一種帶存儲(chǔ)單元的集成芯片的復(fù)測(cè)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]在現(xiàn)在的應(yīng)用中，因測(cè)試環(huán)境影響及存儲(chǔ)單元數(shù)據(jù)保存功能的不可重復(fù)測(cè)試性，對(duì)測(cè)試流程的可復(fù)測(cè)性提出了更高的要求。環(huán)境影響包括:針卡問(wèn)題、測(cè)試板問(wèn)題、甚至設(shè)備問(wèn)題。環(huán)境影響可導(dǎo)致測(cè)試中斷、數(shù)據(jù)誤判；同時(shí)測(cè)試中斷、數(shù)據(jù)誤判在復(fù)測(cè)時(shí)可能導(dǎo)致芯片所帶存儲(chǔ)單元內(nèi)的數(shù)據(jù)改變，影響對(duì)芯片數(shù)據(jù)保存功能判斷。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種帶存儲(chǔ)單元的集成芯片的復(fù)測(cè)方法，能夠保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性并節(jié)省復(fù)測(cè)時(shí)間。
[0004]為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明的帶存儲(chǔ)單元的集成芯片的復(fù)測(cè)方法是采用如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:
[0005]將第一次針測(cè)記為CPl,第二次針測(cè)記為CP2 ；
[0006]設(shè)置一 CPl通過(guò)標(biāo)記，用于判斷芯片是否完全通過(guò)CPl測(cè)試；設(shè)置一 CP2通過(guò)標(biāo)記，用于判斷芯片是否完全通過(guò)CP2測(cè)試；設(shè)置一 CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，用于判斷是否進(jìn)行數(shù)據(jù)保存功能測(cè)試；設(shè)置一 CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，用于判斷芯片是否通過(guò)數(shù)據(jù)保存功能測(cè)試；包括如下步驟:
[0007]步驟一，通過(guò)讀取CPl通過(guò)標(biāo)記，判斷芯片是否做過(guò)并完全通過(guò)上次CPl測(cè)試；若通過(guò)則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若失效則測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果；
[0008]步驟二，通過(guò)讀取CP2通過(guò)標(biāo)記，判斷芯片是否做過(guò)并完全通過(guò)上次CP2測(cè)試；若通過(guò)則測(cè)試結(jié)束，返回通過(guò)結(jié)果；若失效則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行；
[0009]步驟三，通過(guò)讀CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，判斷是否需要進(jìn)行數(shù)據(jù)保存功能測(cè)試；若需要?jiǎng)t測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若不需要?jiǎng)t測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果；
[0010]步驟四，通過(guò)寫(xiě)及讀CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，驗(yàn)證CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，以便復(fù)測(cè)時(shí)判斷數(shù)據(jù)保存功能是否失效。
[0011]CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記與CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記寫(xiě)入相同地址的存儲(chǔ)單元中；若CP2第一數(shù)據(jù)保存功能失效則寫(xiě)入CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，且覆蓋CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記。
[0012]采用本發(fā)明的方法，可以在任一測(cè)試項(xiàng)中斷、數(shù)據(jù)誤判時(shí)進(jìn)行復(fù)測(cè)，得到與初測(cè)相同的測(cè)試結(jié)果并最大限度節(jié)省復(fù)測(cè)試時(shí)間。
[0013]本發(fā)明可用于多個(gè)測(cè)試流程間的反復(fù)復(fù)測(cè)，保證不影響測(cè)試結(jié)果。
【附圖說(shuō)明】
[0014]下面結(jié)合附圖與【具體實(shí)施方式】對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明:
[0015]圖1是CPl測(cè)試流程圖；
[0016]圖2是CP2測(cè)試流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0017]參見(jiàn)圖1，所述帶存儲(chǔ)單元的集成芯片的復(fù)測(cè)方法中CPl測(cè)試流程，包括如下步驟:
[0018]步驟A、集成芯片上電后讀取存儲(chǔ)單元中的CPl通過(guò)標(biāo)記，判斷芯片是否做過(guò)并完全通過(guò)上次CPl測(cè)試；若通過(guò)則測(cè)試結(jié)束，返回通過(guò)結(jié)果；若失效則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行。
[0019]步驟B、進(jìn)行功能測(cè)試；若通過(guò)則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若失效則測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果O
[0020]步驟C、寫(xiě)及讀CPl通過(guò)標(biāo)記，通過(guò)寫(xiě)及讀CPl通過(guò)標(biāo)記，驗(yàn)證通過(guò)該次CPl測(cè)試的CPl通過(guò)標(biāo)記，以便后續(xù)復(fù)測(cè)使用。若通過(guò)則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若失效則測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果。
[0021]步驟D、寫(xiě)及讀CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記(即CP2數(shù)據(jù)保存標(biāo)記I )，通過(guò)寫(xiě)及讀CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，驗(yàn)證CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，以便后續(xù)復(fù)測(cè)使用。若通過(guò)證明芯片為良品，若失效則測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果。
[0022]參見(jiàn)圖2，所述帶存儲(chǔ)單元的集成芯片的可復(fù)測(cè)方法中CP2測(cè)試流程，包括如下步驟:
[0023]步驟a、集成芯片上電后、讀取存儲(chǔ)單元中的CP2通過(guò)標(biāo)記，通過(guò)讀取CP2通過(guò)標(biāo)記判，斷芯片是否做過(guò)并完全通過(guò)上次CP2測(cè)試；若通過(guò)則測(cè)試結(jié)束，返回通過(guò)結(jié)果；若失效則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行。
[0024]步驟b、讀取存儲(chǔ)單元中的CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記(即CP2數(shù)據(jù)保存標(biāo)記1)，判斷是否需要進(jìn)行數(shù)據(jù)保存功能測(cè)試，若需要?jiǎng)t測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若不需要?jiǎng)t測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果。
[0025]步驟C、進(jìn)行數(shù)據(jù)保存功能測(cè)試，若通過(guò)則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若失效則寫(xiě)及讀CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記(即CP2數(shù)據(jù)保存標(biāo)記2)，通過(guò)寫(xiě)及讀CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，驗(yàn)證CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，以便復(fù)測(cè)時(shí)判斷數(shù)據(jù)保存功能是否失效；然后測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果。
[0026]步驟d、寫(xiě)及讀CP2通過(guò)標(biāo)記，通過(guò)寫(xiě)及讀CP2通過(guò)標(biāo)記，驗(yàn)證通過(guò)該次CP2測(cè)試的CP2通過(guò)標(biāo)記，以便后續(xù)復(fù)測(cè)使用。若通過(guò)證明芯片為良品，若失效則測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果。
[0027]步驟e、進(jìn)行功能測(cè)試，若通過(guò)則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若失效則測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果O
[0028]在上述步驟中“返回失效結(jié)果”即證明芯片為不良品，然后下電。
[0029]以上通過(guò)【具體實(shí)施方式】對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明，但這些并非構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。在不脫離本發(fā)明原理的情況下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員還可做出許多變形和改進(jìn)，這些也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種帶存儲(chǔ)單元的集成芯片的復(fù)測(cè)方法，其特征在于，將第一次針測(cè)記為CP1，第二次針測(cè)記為CP2 ;設(shè)置一 CPl通過(guò)標(biāo)記，用于判斷芯片是否完全通過(guò)CPl測(cè)試；設(shè)置一 CP2通過(guò)標(biāo)記，用于判斷芯片是否完全通過(guò)CP2測(cè)試；設(shè)置一 CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，用于判斷是否進(jìn)行數(shù)據(jù)保存功能測(cè)試；設(shè)置一 CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，用于判斷芯片是否通過(guò)數(shù)據(jù)保存功能測(cè)試；包括如下步驟: 步驟一，通過(guò)讀取CPl通過(guò)標(biāo)記，判斷芯片是否做過(guò)并完全通過(guò)上次CPl測(cè)試；若通過(guò)則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若失效則測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果； 步驟二，通過(guò)讀取CP2通過(guò)標(biāo)記，判斷芯片是否做過(guò)并完全通過(guò)上次CP2測(cè)試；若通過(guò)則測(cè)試結(jié)束，返回通過(guò)結(jié)果；若失效則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行； 步驟三，通過(guò)讀CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，判斷是否需要進(jìn)行數(shù)據(jù)保存功能測(cè)試；若需要?jiǎng)t測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若不需要?jiǎng)t測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果； 步驟四，通過(guò)寫(xiě)及讀CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，驗(yàn)證CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，以便復(fù)測(cè)時(shí)判斷數(shù)據(jù)保存功能是否失效。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于:CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記與CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記寫(xiě)入相同地址的存儲(chǔ)單元中；若CP2第一數(shù)據(jù)保存功能失效則寫(xiě)入CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，且覆蓋CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述CPl測(cè)試包括如下步驟: 步驟A、集成芯片上電后讀取存儲(chǔ)單元中的CPl通過(guò)標(biāo)記，判斷芯片是否做過(guò)并完全通過(guò)上次CPl測(cè)試；若通過(guò)則測(cè)試結(jié)束，返回通過(guò)結(jié)果；若失效則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行； 步驟B、進(jìn)行功能測(cè)試；若通過(guò)則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若失效則測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果；步驟C、寫(xiě)及讀CPl通過(guò)標(biāo)記，通過(guò)寫(xiě)及讀CPl通過(guò)標(biāo)記，驗(yàn)證通過(guò)該次CPl測(cè)試的CPl通過(guò)標(biāo)記，以便后續(xù)復(fù)測(cè)使用；若通過(guò)則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若失效則測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果; 步驟D、寫(xiě)及讀CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，通過(guò)寫(xiě)及讀CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，驗(yàn)證CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，以便后續(xù)復(fù)測(cè)使用；若通過(guò)證明芯片為良品，若失效則測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果。
4.如權(quán)利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述CP2測(cè)試包括如下步驟: 步驟a、集成芯片上電后、讀取存儲(chǔ)單元中的CP2通過(guò)標(biāo)記，通過(guò)讀取CP2通過(guò)標(biāo)記判，斷芯片是否做過(guò)并完全通過(guò)上次CP2測(cè)試；若通過(guò)則測(cè)試結(jié)束，返回通過(guò)結(jié)果；若失效則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行； 步驟b、讀取存儲(chǔ)單元中的CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，判斷是否需要進(jìn)行數(shù)據(jù)保存功能測(cè)試，若需要?jiǎng)t測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若不需要?jiǎng)t測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果； 步驟C、進(jìn)行數(shù)據(jù)保存功能測(cè)試，若通過(guò)則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若失效則寫(xiě)及讀CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，通過(guò)寫(xiě)及讀CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，驗(yàn)證CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，以便復(fù)測(cè)時(shí)判斷數(shù)據(jù)保存功能是否失效；然后測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果； 步驟d、寫(xiě)及讀CP2通過(guò)標(biāo)記，通過(guò)寫(xiě)及讀CP2通過(guò)標(biāo)記，驗(yàn)證通過(guò)該次CP2測(cè)試的CP2通過(guò)標(biāo)記，以便后續(xù)復(fù)測(cè)使用；若通過(guò)證明芯片為良品，若失效則測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果; 步驟e、進(jìn)行功能測(cè)試，若通過(guò)則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若失效則測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果。
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種帶存儲(chǔ)單元的集成芯片的復(fù)測(cè)方法，包括如下步驟：步驟一，通過(guò)讀取CP1通過(guò)標(biāo)記，判斷芯片是否做過(guò)并完全通過(guò)上次CP1測(cè)試；若通過(guò)則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若失效則測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果；步驟二，通過(guò)讀取CP2通過(guò)標(biāo)記，判斷芯片是否做過(guò)并完全通過(guò)上次CP2測(cè)試；若通過(guò)則測(cè)試結(jié)束，返回通過(guò)結(jié)果；若失效則測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行；步驟三，通過(guò)讀CP2第一數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，判斷是否需要進(jìn)行數(shù)據(jù)保存功能測(cè)試；若需要?jiǎng)t測(cè)試?yán)^續(xù)進(jìn)行，若不需要?jiǎng)t測(cè)試結(jié)束，返回失效結(jié)果；步驟四，通過(guò)寫(xiě)及讀CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，驗(yàn)證CP2第二數(shù)據(jù)保存標(biāo)記，以便復(fù)測(cè)時(shí)判斷數(shù)據(jù)保存功能是否失效。本發(fā)明能夠保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性并節(jié)省復(fù)測(cè)時(shí)間。
【IPC分類(lèi)】G01R31-28
【公開(kāi)號(hào)】CN104635138
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201310561690
【發(fā)明人】鄧俊萍
【申請(qǐng)人】上海華虹集成電路有限責(zé)任公司
【公開(kāi)日】2015年5月20日
【申請(qǐng)日】2013年11月12日