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使喇曼光譜儀標(biāo)準(zhǔn)化,以獲得穩(wěn)定、可轉(zhuǎn)移的校準(zhǔn)的方法

文檔序號:6138485閱讀:260來源:國知局

專利名稱::使喇曼光譜儀標(biāo)準(zhǔn)化,以獲得穩(wěn)定、可轉(zhuǎn)移的校準(zhǔn)的方法本申請要求Alsmeyer等1997年3月14日提出的臨時(shí)申請(序列號60/043588)“使喇曼光譜儀標(biāo)準(zhǔn)化,以獲得穩(wěn)定、可轉(zhuǎn)移的校準(zhǔn)的方法”的優(yōu)先權(quán)。本發(fā)明涉及喇曼光譜儀的校準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)化,更具體地說,涉及一種使喇曼光譜儀標(biāo)準(zhǔn)化的方法,以便能夠利用可能受到變化的儀器或環(huán)境條件影響的多個(gè)類似喇曼光譜儀中的任意一個(gè)產(chǎn)生與對試樣或過程的定量分析的光譜響應(yīng)相關(guān)的穩(wěn)定、可轉(zhuǎn)移的校準(zhǔn)。校準(zhǔn)指的是利用經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)和現(xiàn)有技術(shù)確定如何根據(jù)新的測量結(jié)果估計(jì)定量分析的過程。許多分析儀器提供不直接與要求的分析測量相關(guān)的響應(yīng)。例如,色譜儀可提供與注入的用于分析的成分的量相關(guān)的一系列峰值。但是,每個(gè)成分可能具有不同的響應(yīng)因數(shù),除非進(jìn)行校準(zhǔn),確定單個(gè)成分響應(yīng)因數(shù),否則響應(yīng)因數(shù)會(huì)使分析產(chǎn)生偏差。類似地,諸如近紅外光譜學(xué)(NIRS)及喇曼光譜學(xué)之類的光譜測量提供與單個(gè)成分的分子運(yùn)動(dòng)相關(guān)的振動(dòng)光譜。每種成分具有截然不同的振動(dòng)運(yùn)動(dòng),每種振動(dòng)運(yùn)動(dòng)具有取決于分子特性的某一響應(yīng)因數(shù)。響應(yīng)因數(shù)影響每個(gè)振動(dòng)譜帶的相對強(qiáng)度,以致振動(dòng)強(qiáng)度的直接測量不能直接產(chǎn)生精確的成分信息。校準(zhǔn)提供在振動(dòng)光譜到定量成分信息的轉(zhuǎn)變中計(jì)及相對響應(yīng)因數(shù)的措施。喇曼光譜學(xué)測量來自試樣的入射輻射的非彈性散射,并把散射輻射和入射輻射相比較,以提供和取樣分子的振動(dòng)運(yùn)動(dòng)相關(guān)的能量損失(斯托克斯)光譜或能量增益(反斯托克斯)光譜。獲得的喇曼光譜可與所需要的定量分析相關(guān)聯(lián)。喇曼光譜可在多種波長下為在線或原位生產(chǎn)過程環(huán)境提供快速、準(zhǔn)確的多元信號響應(yīng)。在AnalyticalRamanSpectroscopy,編輯J.G.Grasselli和B.J.Bulkin,1991年,JohnWiley&amp;Sons,NewYork中提供了分析喇曼分譜學(xué)的綜述。在它們的最有功效的應(yīng)用中,NIRS和喇曼光譜學(xué)需要產(chǎn)生使獲得的多元信號響應(yīng)與借助一些標(biāo)準(zhǔn)分析方法,例如核磁共振譜法(NMR)、氣相色譜法或重量定量分析獲得的定量分析測量相關(guān)的校準(zhǔn)。在例如H.Martens和T.Naes的MultivariateCalibration,1989,JohnWiley&amp;Sons,NewYork中已說明了用于產(chǎn)生校準(zhǔn)的各種方法,包括諸如多重線性回歸(MLR)法、主成分回歸(PCR)法及局部最小二乘回歸法(PLS)之類的方法,及其它一些方法。構(gòu)造校準(zhǔn)的主要問題在于確定一組多元信號響應(yīng)X和一組定量測量Y之間的關(guān)系,以便能夠變換未知試樣的多元信號響應(yīng)的新的測量結(jié)果,得出未知試樣的成分的精確定量。通常,為若干已知試樣獲得多元信號響應(yīng)X和定量測量Y,所述若干已知試樣含有與未知試樣的分析測量相關(guān)的成分和物理狀態(tài)的所有預(yù)期變化。因此校準(zhǔn)的形成費(fèi)時(shí),昂貴并且冗長。校準(zhǔn)產(chǎn)生之后,存在使之變得不準(zhǔn)確的多種情況。例如,儀器組件可能嚴(yán)重?fù)p壞而失效,需要更換;更換的組件可能不同于原始組件,導(dǎo)致測得的多元信號響應(yīng)的改變,從而在利用原始校準(zhǔn)獲得的定量分析中引入漂移或偏差。類似地,隨著儀器組件的老化或當(dāng)它們暴露于變化的環(huán)境條件,例如變化的溫度和濕度條件下時(shí),儀器組件的特性可發(fā)生改變。影響測得的信號響應(yīng)的任何偏差或變化會(huì)在校準(zhǔn)的定量預(yù)測方面產(chǎn)生漂移或變化。此外,由于兩個(gè)儀器之間響應(yīng)函數(shù)方面的差別,因此當(dāng)把利用由一個(gè)儀器測得的信號響應(yīng)而產(chǎn)生的校準(zhǔn)應(yīng)用于由另一儀器測得的的信號響應(yīng)時(shí),該校準(zhǔn)可能不準(zhǔn)確。顯然,非常希望找到一種獲得穩(wěn)定的校準(zhǔn)的方式,該穩(wěn)定的校準(zhǔn)能從一個(gè)儀器轉(zhuǎn)移到另一個(gè)儀器,并且仍能提供準(zhǔn)確的定量預(yù)測。當(dāng)應(yīng)用于生產(chǎn)過程的定量分析時(shí),這種校準(zhǔn)將特別有用。如果所產(chǎn)生的校準(zhǔn)能夠在經(jīng)受各不相同的環(huán)境條件的不同儀器之間可靠地轉(zhuǎn)移,則該校準(zhǔn)可應(yīng)用于不同生產(chǎn)場所的多個(gè)儀器,這樣使得能夠在生產(chǎn)過程和產(chǎn)品中獲得更一致的質(zhì)量。這里把標(biāo)準(zhǔn)化定義為利用經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)和現(xiàn)有技術(shù)來確定如何產(chǎn)生并保持校準(zhǔn),以便在規(guī)定的誤差限度內(nèi),源于給定試樣或過程的新的測量結(jié)果的定量分析等于源于利用相同或不同儀器得到的相同試樣或過程的早先測量結(jié)果的定量分析的過程。在O.E.DeNoord的“多元校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)化”,Chemom,Intell.Lab.Syst.,1994,vol.25,第85-97頁中,及在E.Bouveresse和D.L.Massart的“近紅外光譜分析儀器標(biāo)準(zhǔn)化綜述”,Vib.Spect.,1996,vol.11,第3-15頁中描述了各種儀器標(biāo)準(zhǔn)化方法,這兩篇文獻(xiàn)的公開內(nèi)容作為參考包含于此。在一種與本發(fā)明特別相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)化策略中,變換在新的條件下,例如利用不同的儀器、在不同的溫度下,或者在稍后的時(shí)間獲得的測量數(shù)據(jù),以便使這些測量數(shù)據(jù)相當(dāng)于已在為其建立校準(zhǔn)的原始條件下獲得的測量數(shù)據(jù)。在這種途徑中,為一個(gè)儀器(基準(zhǔn)儀器)形成校準(zhǔn),變換在另一儀器(目標(biāo)儀器)上測得的數(shù)據(jù),使其看起來這些數(shù)據(jù)是在基準(zhǔn)儀器上測得的。根據(jù)“轉(zhuǎn)移樣本”的光譜的比較確定所需的變換,“轉(zhuǎn)移樣本”是具有已知性質(zhì)和組成的試樣,既在基準(zhǔn)儀器上又在目標(biāo)儀器上測量所述已知性質(zhì)和組成。在這兩個(gè)儀器上獲得的轉(zhuǎn)移樣本的光譜之間的差別用于產(chǎn)生可把在目標(biāo)儀器上測得的光譜變換為好象是在基準(zhǔn)儀器上測得的光譜的相關(guān)性。Shenk等的美國專利No.4866644描述了一種方法,其中既在基準(zhǔn)儀器上,又在目標(biāo)儀器上測量一系列標(biāo)準(zhǔn)試樣(一般為30個(gè)試樣),該專利的公開內(nèi)容作為參考包含于此。統(tǒng)計(jì)相關(guān)技術(shù)用于確定校正因數(shù),當(dāng)應(yīng)用于來自目標(biāo)儀器的未知試樣的數(shù)據(jù)時(shí),校正因數(shù)提供與如果利用基準(zhǔn)儀器測量未知的測試試樣理應(yīng)獲得的輸出基本相同的輸出。Maggard的美國專利No.5243546描述了一種用于使目標(biāo)儀器標(biāo)準(zhǔn)化為基準(zhǔn)儀器,從而在目標(biāo)儀器上測量的轉(zhuǎn)移試樣的數(shù)目可顯著少于原來的校準(zhǔn)基準(zhǔn)儀器所需的轉(zhuǎn)移試樣的數(shù)目,該專利的公開內(nèi)容作為參考包含于此。Kowalski等的美國專利No.4459677描述了用于把多元校準(zhǔn)從基準(zhǔn)儀器轉(zhuǎn)移到目標(biāo)儀器的幾種途徑,它們使用用于建立對于在基準(zhǔn)儀器和目標(biāo)儀器上測量的轉(zhuǎn)移試樣所獲得的數(shù)據(jù)之間的相關(guān)性的各種方法,該專利的公開內(nèi)容作為參考包含于此。上述三篇參考文獻(xiàn)中描述的方法依賴于用于建立原始校準(zhǔn)的基準(zhǔn)儀器。如果初始基準(zhǔn)儀器損壞,則必須在新的基準(zhǔn)儀器上產(chǎn)生新的校準(zhǔn)。Villemoes等的PCT國際申請WO96/24832描述了一種方法,其中把至少一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)試樣的光譜(或者光譜的一部分)選擇為“標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)”。把同樣的標(biāo)準(zhǔn)試樣在任意目標(biāo)儀器上的測量結(jié)果與先前規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)相比較,確定當(dāng)應(yīng)用于未知試樣的測量時(shí),產(chǎn)生與用于確定標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)的光譜儀中產(chǎn)生的光譜基本相同的光譜的參數(shù),該專利的公開內(nèi)容作為參考包含于此。但是,用于產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)的實(shí)際光譜認(rèn)儀不必被保持為基準(zhǔn)儀器。上面描述的標(biāo)準(zhǔn)化方法的缺點(diǎn)是它們依賴于已知和穩(wěn)定組成的轉(zhuǎn)移試樣的測量。轉(zhuǎn)移試樣必須非常穩(wěn)定,以便在新的條件下測得的數(shù)據(jù)和在原始條件下測得的數(shù)據(jù)之間的任意差別只與測量條件的變化相關(guān),而與試樣的改變無關(guān)。許多情況下,轉(zhuǎn)移試樣的穩(wěn)定性不足,不能保持較長的一段時(shí)間;則必須采用指定濃度的成分的制備混合物作為轉(zhuǎn)移試樣。重要的是可以完全相同的成分含量反復(fù)制備這種混合物。此外,依賴于轉(zhuǎn)移試樣的測量結(jié)果的方法不太適于用于生產(chǎn)過程中分析的儀器。生產(chǎn)過程儀器通常放置在環(huán)境條件,例如溫度、濕度顯著變化的周圍環(huán)境中。由于強(qiáng)烈依賴于溫度的化學(xué)或物理效應(yīng),例如氫鍵鍵合、降解、蒸發(fā)等的緣故,轉(zhuǎn)移試樣的光譜特性可能因環(huán)境條件而異。環(huán)境條件在轉(zhuǎn)移試樣中引起的光譜變化可能與儀器響應(yīng)的變化或者與被分析過程的變化無關(guān),從而導(dǎo)致由標(biāo)準(zhǔn)化過程本身引入的校準(zhǔn)誤差。在Ruhl等的美國專利No.5357336和Ganz等的美國專利No.5303165中已說明了不需要化學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化試樣的測量的標(biāo)準(zhǔn)化方法,這些專利的公開內(nèi)容作為參考包含于此。這些方法依賴于作為標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)材料的法布里-珀羅標(biāo)準(zhǔn)具的光譜測量。對于法布里-珀羅標(biāo)準(zhǔn)具測得的光譜可用于確定波長和強(qiáng)度校準(zhǔn)參數(shù),這些參數(shù)隨后用于使每個(gè)測得的試樣光譜標(biāo)準(zhǔn)化,以使之看起來是利用與當(dāng)建立原始校準(zhǔn)時(shí)存在的相同波長和強(qiáng)度參數(shù)測得的。雖然最后兩篇文獻(xiàn)中描述的方法在原理上要應(yīng)用于許多類型的光譜測定分析,不過它們最適合于吸收測量,在吸收測量中,在來自儀器源的輻射通過試樣之后,測定其強(qiáng)度。來自儀器源的相當(dāng)強(qiáng)烈的輻射通過標(biāo)準(zhǔn)具,并且標(biāo)準(zhǔn)具產(chǎn)生的光強(qiáng)度的調(diào)制具有足夠的量值,足以確保準(zhǔn)確、精密地確定所得到的干擾光譜中最大值和最小值的位置和強(qiáng)度。這些方法不太適合于喇曼光譜學(xué),喇曼光譜測定中,和吸收測量相比,測得的輻射強(qiáng)度很弱,并且當(dāng)沒有由試樣產(chǎn)生的喇曼散射時(shí),不存在光的通過量。在Alsmeyer等的美國專利No.5455673,5638172及5652653中描述了一種使喇曼光譜儀標(biāo)準(zhǔn)化,以補(bǔ)償幾種可能的設(shè)備改變的方法,上述專利的公開內(nèi)容作為參考包含于此。該方法提供同時(shí)需要試樣材料和基準(zhǔn)材料的光譜測量結(jié)果的“動(dòng)態(tài)標(biāo)準(zhǔn)化”。確定這兩種光譜的卷積函數(shù),該卷積函數(shù)可應(yīng)用于試樣數(shù)據(jù),以產(chǎn)生已經(jīng)補(bǔ)償了儀器響應(yīng)變化的試樣標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜。雖然美國專利No.5455673,5638172和5652653中描述的方法在補(bǔ)償儀器變化和提供單個(gè)喇曼儀器的短期標(biāo)準(zhǔn)化方面非常成功,但是它不提供用于補(bǔ)償儀器到儀器的變化或者補(bǔ)償儀器響應(yīng)函數(shù)中的長期漂移或改變的措施。于是該方法不能產(chǎn)生可轉(zhuǎn)移到多個(gè)儀器上,并且在較長時(shí)間內(nèi)穩(wěn)定、耐久的校準(zhǔn)。上面描述的已知的標(biāo)準(zhǔn)化方法在某些情況下均是可行的,但是它們不能提供在生產(chǎn)過程環(huán)境中使分析喇曼光譜儀標(biāo)準(zhǔn)化所需的完整性、耐久性和可靠性。在許多情況下,因數(shù),而不是儀器變化可以導(dǎo)致校準(zhǔn)不準(zhǔn)確的方式影響測得的光譜。例如,在熔融或工業(yè)生產(chǎn)液流中,干擾影響,例如泡沫、微粒及混濁可以一種不可預(yù)見的方式改變散射輻射的總強(qiáng)度。類似地,對于固體試樣,試樣的形狀、均勻性及厚度可影響觀察信號的總強(qiáng)度。當(dāng)以多通道方式獲得喇曼光譜,即同時(shí)測量所有波長下的信號響應(yīng)時(shí),這種干擾的影響是以未知的常數(shù)乘以整個(gè)光譜,該未知常數(shù)對于單獨(dú)收集的光譜來說是唯一的。已被乘以一個(gè)未知的隨機(jī)數(shù)的光譜響應(yīng)不適于直接利用本領(lǐng)域中已知的常見多元統(tǒng)計(jì)法的校準(zhǔn)。在Alsmeyer等的美國專利No.5610836中已說明了對于利用未按照相同的強(qiáng)度標(biāo)度規(guī)一化的光譜建立校準(zhǔn)技術(shù)的問題的解決方案,該專利的公開內(nèi)容作為參考包含于此。在這種方法中,為具有由矩陣Y表示的一組已知量的一組校準(zhǔn)試樣獲得由矩陣X表示的一組多元信號響應(yīng),例如光譜。矩陣X可表示由于如上所述的干擾因素未按照相同的強(qiáng)度標(biāo)度歸一化的光譜。X和Y矩陣用于計(jì)算一組歸一化乘數(shù),這組歸一化乘數(shù)當(dāng)應(yīng)用于矩陣X時(shí),產(chǎn)生一組已按照相同的強(qiáng)度標(biāo)度歸一化的多元信號響應(yīng)。隨后把該組歸一化信號響應(yīng)用于產(chǎn)生借助特定的分析設(shè)備提供未知成分試樣的準(zhǔn)確分析的校準(zhǔn)。美國專利No.5610836中描述了該方法,該方法確實(shí)可補(bǔ)償被分析的生產(chǎn)過程或試樣中的某些變化,但是不能提供對設(shè)備變化的補(bǔ)償。通過提供可用于監(jiān)測化學(xué)反應(yīng)過程流,從而控制化學(xué)反應(yīng)過程的實(shí)時(shí)分析數(shù)據(jù),在線或原位定量分析工業(yè)生產(chǎn)過程的能力可顯著改進(jìn)過程的質(zhì)量、效率和安全性。取自工業(yè)生產(chǎn)液流,可根據(jù)本發(fā)明被有效檢驗(yàn)的試樣包括各種各樣聚合成分,包括例如,纖維素成分及由低分子量反應(yīng)化合物反應(yīng)產(chǎn)生的聚合材料,例如聚酯或聚烯烴。要由本發(fā)明的方法分析的試樣還可包括蒸餾過程中含有的物質(zhì)及位于活性有機(jī)物中的物質(zhì)。這樣,喇曼光譜學(xué)能夠?yàn)楦鞣N各樣的材料的在線或原位定量分析提供快速、準(zhǔn)確的多元信號響應(yīng)。為了實(shí)現(xiàn)這些材料的可靠的定量分析,非常希望為若干喇曼光譜儀中的任意光譜儀建立持久并且可靠的校準(zhǔn),所述校準(zhǔn)不會(huì)因?yàn)閮x器的改變可發(fā)生漂移或改變,并且可從一個(gè)喇曼光譜可靠地轉(zhuǎn)移到另一喇曼光譜儀。本發(fā)明提供了一種喇曼光譜儀的標(biāo)準(zhǔn)化方法,該方法能夠?qū)崿F(xiàn)上述目的。所得到的校準(zhǔn)還允許實(shí)現(xiàn)各種未知成分試樣的準(zhǔn)確、精密的定量分析。根據(jù)本發(fā)明,提供了一種利用特定喇曼光譜設(shè)備或任意類似的喇曼設(shè)備從試樣產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜的方法,該喇曼光譜設(shè)備或任意類似喇曼設(shè)備包括基本上單色的輻射源,激勵(lì)光學(xué)裝置,基準(zhǔn)光學(xué)收集裝置,至少一個(gè)試樣光學(xué)收集裝置,攝譜儀及多通道陣列檢測器。利用喇曼光譜設(shè)備輻照基準(zhǔn)材料和至少一個(gè)試樣,并且分別利用多通道陣列檢測器的基準(zhǔn)通道和試樣通道同時(shí)獲得基準(zhǔn)材料和試樣的卷積喇曼光譜??蛇x地識別并從基準(zhǔn)材料和試樣的卷積光譜中除去噪聲尖峰脈沖,以產(chǎn)生削峰卷積光譜。利用第二輻射源輻照各個(gè)光學(xué)收集裝置和攝譜儀,并由檢測器檢測產(chǎn)生的信號,為各個(gè)光學(xué)收集裝置產(chǎn)生光度基準(zhǔn)光譜。把基準(zhǔn)材料和試樣的每個(gè)可選削峰卷積光譜除以相應(yīng)的光度基準(zhǔn)光譜,產(chǎn)生基準(zhǔn)材料和試樣的補(bǔ)償卷積喇曼光譜。利用第三輻射源輻照攝譜儀,在檢測器的每個(gè)通道中檢測產(chǎn)生的信號,為每個(gè)檢測器通道產(chǎn)生第三輻射源光譜。根據(jù)每個(gè)通道的第三輻射源光譜和規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性,為每個(gè)檢測器通道構(gòu)成相應(yīng)的波長/能量相關(guān)等式。把這些等式中的每一個(gè)應(yīng)用于基準(zhǔn)材料和試樣的每個(gè)相應(yīng)的補(bǔ)償卷積喇曼光譜,產(chǎn)生基準(zhǔn)材料和試樣的線性化卷積喇曼光譜,可選地校正這樣獲得的基準(zhǔn)材料光譜,以除去背景信號。根據(jù)基準(zhǔn)材料的規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜,及基準(zhǔn)材料的可選校正后的線性化卷積喇曼光譜確定卷積函數(shù)。卷積函數(shù)用于調(diào)整試樣的線性化卷積喇曼光譜,從而產(chǎn)生試樣的消卷積喇曼光譜。把試樣的消卷積喇曼光譜乘以規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù),以便不僅從特定的喇曼光譜設(shè)備,而且從任意類似的喇曼設(shè)備產(chǎn)生該試樣的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜。此外根據(jù)本發(fā)明,還提供一種通過產(chǎn)生可應(yīng)用于特定喇曼光譜設(shè)備,或者任意類似喇曼光譜設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn),提供未知試樣的化學(xué)成分和/或物理性質(zhì)的準(zhǔn)確、精密定量分析的方法。通過利用已知化學(xué)成分和/或物理性質(zhì)的多個(gè)試樣,以及喇曼光譜設(shè)備,產(chǎn)生一組包含試樣的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜的多元信號響應(yīng)。根據(jù)該組多元信號響應(yīng)及試樣的已知化學(xué)成分和/或物理性質(zhì),構(gòu)成歸一化校準(zhǔn)。把歸一化校準(zhǔn)應(yīng)用于從未知化學(xué)成分和/或物理性質(zhì)的試樣獲得的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜,以提供該未知試樣的準(zhǔn)確、精密定量分析。圖1是本發(fā)明的用于使喇曼光譜儀標(biāo)準(zhǔn)化,并獲得穩(wěn)定、可轉(zhuǎn)移的校準(zhǔn)的方法的示意圖。本發(fā)明是一種使喇曼光譜儀標(biāo)準(zhǔn)化,以便能夠產(chǎn)生,保持與對試樣或過程的定量分析的喇曼光譜響應(yīng)相關(guān)的耐久、穩(wěn)定的校準(zhǔn),并可把該校準(zhǔn)轉(zhuǎn)移到任意數(shù)目的類似光譜儀的方法。該標(biāo)準(zhǔn)化方法要求確定要求的光譜儀標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài),該標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)規(guī)定給定應(yīng)用中的光譜儀所需的能量分散特征和光度響應(yīng)特征;把測得的光譜變成“標(biāo)準(zhǔn)光譜”,該“標(biāo)準(zhǔn)光譜”具有與對于光譜儀標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)規(guī)定的能量分散和光度響應(yīng)特征相同的能量分散和光度響應(yīng)特征,進(jìn)行這些變換所需的函數(shù)來源于具有已知的光譜性能的標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)材料的測量結(jié)果;利用標(biāo)準(zhǔn)光譜,建立補(bǔ)償標(biāo)準(zhǔn)光譜之間的倍增強(qiáng)度差的歸一化多元校準(zhǔn);及根據(jù)在后續(xù)的測量中獲得的標(biāo)準(zhǔn)光譜,應(yīng)用歸一化校準(zhǔn)預(yù)測定量分析。和現(xiàn)有技術(shù)中的已知方法相反,本發(fā)明中確定的光譜儀標(biāo)準(zhǔn)化狀態(tài)并非來源于從任何特定的“基準(zhǔn)”光譜儀獲得的測量結(jié)果或光譜,而是確定在給定應(yīng)用中光譜儀的所需性能的結(jié)構(gòu)。和本領(lǐng)域已知的方法相反,用于導(dǎo)出變換函數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)材料不是“轉(zhuǎn)移”標(biāo)準(zhǔn),因?yàn)樗鼈冊诨瘜W(xué)成分方面不與為其生成校準(zhǔn)的試樣或過程相關(guān)。本領(lǐng)域中已知的把測得的光譜變換為標(biāo)準(zhǔn)光譜,并產(chǎn)生歸一化多元校準(zhǔn)的各個(gè)過程不能提供過程喇曼光譜儀所需的標(biāo)準(zhǔn)化水平。本發(fā)明的方法形成已知的各個(gè)過程的一種新的非顯而易見組合,以構(gòu)成可從一個(gè)喇曼光譜儀轉(zhuǎn)移到多個(gè)類似儀器中的任意一個(gè)的穩(wěn)定校準(zhǔn),所述多個(gè)類似儀器包括用于生產(chǎn)過程分析的儀器。本發(fā)明的方法適用于如前面討論的美國專利No.5455673中描述的那種同時(shí)獲得基準(zhǔn)光譜和要分析試樣的光譜的光譜儀?;鶞?zhǔn)光譜可以是當(dāng)試樣改變成分、溫度等時(shí),保持不變的試樣光譜的適當(dāng)片段。但是,試樣表現(xiàn)出可用作基準(zhǔn)光譜的適當(dāng)光譜片段的情況很少。在一個(gè)最佳實(shí)施例中,該過程被應(yīng)用于多通道光譜儀,多通道光譜儀使用激光器作為單色激勵(lì)輻射源,用于波長(或能量)分散的光柵攝譜儀,及例如電荷耦合器件(CCD)檢測器之類的陣列檢測器。激光源同時(shí)輻照基準(zhǔn)材料和要分析的一個(gè)或多個(gè)試樣,利用一組不同的檢測器元件或象素檢測來自基準(zhǔn)材料及來自各個(gè)試樣的輻射,同時(shí)獲得基準(zhǔn)材料和試樣的喇曼光譜響應(yīng)。由于每組象素實(shí)際上充當(dāng)不同的檢測器,因此來自過程或試樣的輻射由不同的光學(xué)元件,例如不同的濾光器或光纖收集并傳送給檢測器,實(shí)質(zhì)上利用不同的儀器測量每個(gè)試樣或過程。于是這里不同光譜儀的基準(zhǔn)材料也和多通道光譜儀的不同通道相適合。圖1中表示了分析一個(gè)試樣的情況下,本發(fā)明方法的示意圖。在同時(shí)分析多個(gè)試樣的情況下,對于用于獲取試樣光譜的光譜儀的每個(gè)通道執(zhí)行虛線框中所示的步驟。標(biāo)準(zhǔn)化的通用喇曼環(huán)境(SURE)對于給定試樣或過程測得的多元喇曼信號響應(yīng)不僅取決于測量的試樣或過程,而且取決于許多儀器因素,包括(1)光譜儀的分散性能,(2)激勵(lì)源輻射的能量,(3)被分散的輻射照射,并且對于其測量強(qiáng)度信號的檢測器象素元素的數(shù)目,(4)不同波長下每個(gè)檢測器象素的量子效率或靈敏性,及(5)收集光學(xué)器件(探頭、光纖、濾光器、光譜儀等)的通過量,即傳輸性能。所有這些因素可因儀器和/或因測量而異。不過對于定量分析最重要的振動(dòng)特征的喇曼位移能量和光譜強(qiáng)度由被分析試樣的光譜特征決定,而不是由用于分析的儀器決定。于是本發(fā)明的標(biāo)準(zhǔn)化方法需要確定對于關(guān)心的應(yīng)用來說重要的能量區(qū),指定實(shí)現(xiàn)要求的分析所需的能量分辨率,并確定“理想的”強(qiáng)度響應(yīng)函數(shù)。隨后把這些因素用于確定說明對于給定應(yīng)用的光譜儀所需的能量分散特征及強(qiáng)度響應(yīng)函數(shù)。這樣定義的函數(shù)不取決于任何特定光譜儀的性能,而是以具有給定應(yīng)用所需的性能的光譜儀的狀態(tài)為特征。這樣表征的光譜儀提供了一種標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài),來自實(shí)際光譜儀的測量結(jié)果被變成該標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)。這里把這樣確定的標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)稱為標(biāo)準(zhǔn)化的通用喇曼環(huán)境(SURE)。SURE的特征要求確定三個(gè)參數(shù),這三個(gè)參數(shù)確定光譜中每個(gè)點(diǎn)的能量和相對強(qiáng)度標(biāo)度(a)標(biāo)準(zhǔn)能量分散特征,(b)基準(zhǔn)材料的標(biāo)準(zhǔn)光譜,(c)標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù)。這些參數(shù)將在下面的章節(jié)中討論。(a)標(biāo)準(zhǔn)能量分散特征圖1中的步驟P1規(guī)定了SURE的標(biāo)準(zhǔn)能量分散特征,它規(guī)定了各個(gè)光譜中要包括的數(shù)目點(diǎn)數(shù)目,及數(shù)據(jù)點(diǎn)之間的能量間距。在一個(gè)最佳實(shí)施例中,SURE的能量分散特征被選擇為在能量上為線性,即光譜中的相鄰點(diǎn)之間的能量間距恒定。線性能量分散基礎(chǔ)簡化了動(dòng)態(tài)標(biāo)準(zhǔn)化的過程,下面將對其進(jìn)行說明。例如可確定對于位于500cm-1~2000cm-1之間的給定應(yīng)用,喇曼位移能量區(qū)是重要的,并且希望數(shù)據(jù)點(diǎn)之間的能量間距為3cm-1。隨后可規(guī)定能量分散基礎(chǔ),以便每個(gè)光譜可包括501個(gè)間距均為3cm-1的數(shù)據(jù)點(diǎn)(i=0~500)。一旦規(guī)定了數(shù)據(jù)點(diǎn)的數(shù)目及數(shù)據(jù)點(diǎn)之間的能量間距,對每個(gè)點(diǎn)分配一個(gè)具體的能量值。不過具體能量值的選擇是隨意的,并且只適用于用于簡化線性化和動(dòng)態(tài)標(biāo)準(zhǔn)化過程中進(jìn)行的計(jì)算的數(shù)目,線性化和動(dòng)態(tài)標(biāo)準(zhǔn)化過程將在下面進(jìn)行說明。為了方便起見,所選的具體能量值近似等于實(shí)際測量期望的能量值。這樣,對于上面的例子,可建立能量標(biāo)度,以便第一點(diǎn)(i=0)對應(yīng)于500cm-1的喇曼位移能量,其它每個(gè)點(diǎn)對應(yīng)于(3i+500)cm-1的喇曼位移能量。如果優(yōu)選的話,可以總輻射能量,而不是以喇曼位移能量為單位建立能量標(biāo)度。例如,如果在上面的例子中使用標(biāo)稱波長為800納米,對應(yīng)于輻射能量為12500cm-1的激勵(lì)源,則每個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的絕對能量將具有分配的(12000-3i)cm-1能量值。不過絕對能量標(biāo)度的選擇是隨意的,并且不一定要與實(shí)際測量的絕對能量相關(guān)。用于測量的光譜儀必須被構(gòu)造成實(shí)際測量的能量等于或大于對于SURE規(guī)定的能量范圍。一旦被確定,則以數(shù)字形式存儲(chǔ)能量分散特性,即每個(gè)光譜的數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)目及對應(yīng)于每個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的能量,以便在線性化過程中使用,線性化過程將在后面說明。(b)基準(zhǔn)材料的標(biāo)準(zhǔn)光譜圖1中的步驟P2規(guī)定了SURE的標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)光譜SR(v)。該標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)光譜應(yīng)是標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)材料的測量光譜的基礎(chǔ)形狀的真實(shí)表現(xiàn)?;鶞?zhǔn)材料的選擇是隨意的,不過基準(zhǔn)材料應(yīng)提供一致、可靠的喇曼光譜響應(yīng)。例如,鉆石是一種優(yōu)選的基準(zhǔn)材料,因?yàn)殂@石在化學(xué)和物理上非常穩(wěn)定,并且其喇曼光譜簡單,其喇曼光譜包括喇曼位移能量為1332cm-1的單個(gè)峰值。標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)光譜可能是測量的基準(zhǔn)光譜的不變部分的理論表現(xiàn)(例如與測量的基準(zhǔn)光譜的峰形緊密一致的高斯或洛倫茲分布函數(shù));標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)光譜還可是先前測得的基準(zhǔn)光譜經(jīng)調(diào)整或平滑處理后得到的光譜。標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)光譜最好是通過平均幾個(gè)測得的基準(zhǔn)光譜,并利用線性過程把平均光譜變成線性能量分散基礎(chǔ)而得到,線性過程將在后面進(jìn)行說明。一旦被確定,則以數(shù)字形式存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)光譜,以便在動(dòng)態(tài)標(biāo)準(zhǔn)化過程中使用,動(dòng)態(tài)標(biāo)準(zhǔn)化過程將在后面說明。(c)標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù)在各個(gè)檢測器象素測得的輻射強(qiáng)度是試樣上的喇曼散射產(chǎn)生的輻射強(qiáng)度和收集、分散和檢測輻射的效率的函數(shù)。于是測得的喇曼光譜是具有某些儀器響應(yīng)函數(shù)的真實(shí)試樣光譜的卷積。這里把描述各個(gè)波長或能量下收集并檢測輻射的總效率的函數(shù)稱為光度響應(yīng)函數(shù)。該函數(shù)取決于用于收集散射的輻射,并將散射的輻射傳遞給檢測器的每個(gè)光學(xué)組件,即探頭、光纖、濾光器等的通過量,即傳輸效率,還取決于各個(gè)檢測器象素的效率,各個(gè)檢測器象素的效率一般隨著波長或能量而變化。由于光學(xué)組件和檢測器的易變性,光度響應(yīng)函數(shù)將因儀器而異。同樣,給定儀器的各個(gè)組件的任意變化可導(dǎo)致光度響應(yīng)函數(shù)變化,從而導(dǎo)致測量光譜變化。圖1中的步驟P3規(guī)定了SURE的標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù)。雖然給定光譜儀的光度響應(yīng)函數(shù)將取決于給定光譜儀的具體特征,不過SURE的標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù)的選擇是隨意的。該標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù)可被定義為與對于給定光譜儀測得的光度響應(yīng)函數(shù)相同,或者可被定義為對于幾個(gè)不同的光譜儀測得的多個(gè)光度響應(yīng)函數(shù)的平均。在一些應(yīng)用中,當(dāng)建立多元校準(zhǔn)技術(shù)時(shí),最好加權(quán)光譜的一些區(qū)域,而不加權(quán)其它一些區(qū)域;對于這樣的應(yīng)用,可把標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù)定義成在一些光譜區(qū)域中比在其它光譜區(qū)域中模擬更有效的檢測。最好,并且更簡單的是,標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù)Sp可被定義成總檢測效率與能量無關(guān),于是在所有能量下,總檢測效率等于1Sp(v)=1(對于所有的v)一旦被確定,以數(shù)字形式存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù),以便在把測得的光譜變成SURE的過程中使用。選擇來確定SURE的函數(shù)是描述特定應(yīng)用所需的光譜儀的狀態(tài)的數(shù)學(xué)結(jié)構(gòu)。通過確定,這些函數(shù)與任意特定光譜儀的性能無關(guān),并且這些函數(shù)不發(fā)生漂移或改變。一旦被確定,并以數(shù)字形式存儲(chǔ),則它們可被保持并轉(zhuǎn)移到任意場所,并在其它數(shù)學(xué)過程中使用,以把利用任意光譜儀實(shí)際測得的光譜變成與對于SURE確定的光譜人有相同的能量分散特征和相對強(qiáng)度特征的光譜。這里把這樣轉(zhuǎn)變后的光譜稱為“標(biāo)準(zhǔn)光譜”。下述各個(gè)過程用于校準(zhǔn)分光光度計(jì)的能量分散和強(qiáng)度特征,并用于把測得的光譜變成標(biāo)準(zhǔn)光譜(1)卷積光譜的測量及宇宙尖峰脈沖的去除(2)光度補(bǔ)償(3)線性化(4)基準(zhǔn)光譜的背景校正(5)動(dòng)態(tài)標(biāo)準(zhǔn)化(6)標(biāo)準(zhǔn)光譜的加權(quán)(7)歸一化校準(zhǔn)的形成這些過程將分別在下面的章節(jié)中描述。(1)卷積光譜的測量及宇宙尖峰脈沖的去除在圖1的步驟R1A中,獲取基準(zhǔn)材料的卷積光譜RR(x),即與用于獲取光譜的光譜儀的響應(yīng)函數(shù)卷積的光譜。在圖1的步驟R1B中,獲取被分析試樣或過程的卷積光譜RS(x)。通過利用同一激勵(lì)輻射源輻照基準(zhǔn)材料及被分析試樣或過程,同時(shí)進(jìn)行這兩個(gè)步驟。在來自CCD檢測器的測量結(jié)果中經(jīng)常觀察到由宇宙射線產(chǎn)生的噪聲“尖峰脈沖”及與基準(zhǔn)材料或試樣的真實(shí)光譜響應(yīng)無關(guān)的其它干擾。檢測并去除噪聲尖峰脈沖的方法在本領(lǐng)域中已知,并且已經(jīng)在,例如H.Takeuchi等的“用于從電荷耦合裝置探測器所記錄的光譜中去除尖峰噪聲的簡單而有效的方法”,Appl.Spectrosc.,1993,vol.47,第129-131中進(jìn)行了說明,該文的公開內(nèi)容作為參考包含于此。在圖1的步驟R2A及R2B中,使用適當(dāng)?shù)南宄绦騎D[]分別從卷積基準(zhǔn)光譜和卷積試樣光譜中除去噪聲尖峰脈沖,給出“削峰”光譜DR(x)=TD[RR(x)]及DS(x)=TD[RS(x)](2)光度補(bǔ)償這里光度補(bǔ)償指的是這樣一個(gè)過程,借助該過程,為光譜儀的光度響應(yīng)函數(shù)中的變化,對在任意給定光譜儀上測得的光譜進(jìn)行被償。利用為某些“光度標(biāo)準(zhǔn)”測得的的光譜補(bǔ)償使用給定光譜測得的所有光譜。光度標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)提供穩(wěn)定、可再現(xiàn)并且表征良好的輻射光譜,該輻射光譜在光譜儀分析的全波長下具有相當(dāng)大的強(qiáng)度,并且在寬范圍的環(huán)境條件,例如溫度和濕度內(nèi)是不變的。光度標(biāo)準(zhǔn)的兩個(gè)光譜測量之間的任意差別應(yīng)反映用于獲取光譜的儀器的光度響應(yīng)函數(shù)方面的差別,而不是反映標(biāo)準(zhǔn)光譜方面的差別。在,例如M.Fryling等的“用于CCD/喇曼光譜儀的強(qiáng)度校準(zhǔn)和靈敏度比較”,Appl.Spectrosc.,1993,vol.47,第1965-1974頁,及Y.Wang和R.L.McCreery的“用于近紅外光譜分析的二極管激光器/電荷耦合裝置光譜儀評述”,Anal.Chem.,1989,vol.61,第2647-2651頁中已描述了包含白光發(fā)射源的光度標(biāo)準(zhǔn)器,這兩篇文獻(xiàn)的公開內(nèi)容作為參考包含于此。白光發(fā)射源具有表征良好的光譜輪廓,并提供寬廣的輻射光譜,通過調(diào)節(jié)輻射體的溫度可調(diào)整該輻射光譜。不過,利用白光發(fā)射源作為生產(chǎn)過程環(huán)境中的光度標(biāo)準(zhǔn)存在不足。一個(gè)不足之處是通常難以可再現(xiàn)地向光譜儀的收集光學(xué)器件發(fā)射發(fā)射輻射,導(dǎo)致測得的光譜輪廓發(fā)生顯著變化。在通常難以把輻射源布置在光譜儀的采樣光學(xué)器件附近的生產(chǎn)過程環(huán)境中尤其如此。此外,白光源的光譜輪廓強(qiáng)烈依賴于輻射發(fā)射器的溫度。在生產(chǎn)過程環(huán)境中,環(huán)境溫度經(jīng)常顯著波動(dòng),使得難以穩(wěn)定白光源的溫度。在,例如H.Hamaguchi的“多通道喇曼光譜儀的校準(zhǔn)”,Appl.Spec.Rev.,1988,vol.24,第137-174頁中說明了包含具有寬廣的表征良好的熒光輪廓的熒光材料的光度標(biāo)準(zhǔn)器,該文的公開內(nèi)容作為參考包含于此。熒光材料的優(yōu)點(diǎn)是它可容易地轉(zhuǎn)移到采樣光樣器件上,熒光材料可被與喇曼分析中使用的激勵(lì)源相同的激光源輻照,只要該激光具有激勵(lì)材料中的熒光的足夠能量。許多熒光材料的缺點(diǎn)是對于延長的時(shí)間段,熒光材料通常不穩(wěn)定,尤其是當(dāng)用強(qiáng)烈的激光輻射輻照熒光材料時(shí)更是如此。此外,當(dāng)用近紅外輻射(800~1000納米)(一個(gè)對于生產(chǎn)過程喇曼光譜學(xué)來說重要的區(qū)域)激勵(lì)時(shí),沒有幾種已知材料能夠發(fā)出熒光。對于利用近紅外激勵(lì)輻射的喇曼應(yīng)用,本發(fā)明的一個(gè)最佳實(shí)施例利用包含摻雜有金屬氧化物的硅酸鹽玻璃的熒光光度標(biāo)準(zhǔn)器。在,例如E.J.Sharp等的“硅酸鹽玻璃中鉻-鐿能量轉(zhuǎn)換”,J.Appl.Phys.,1973,vol.44,第4098頁中描述了這種類型的摻雜玻璃,該文的公開內(nèi)容作為參考包含于此。熒光可由這些材料的近紅外激勵(lì)產(chǎn)生,并且這些材料的熒光光譜基本上不受諸如激光功率、輻照長度、環(huán)境溫度或濕度之類的因素影響。在本實(shí)施例中,來自光譜儀的激勵(lì)源的輻射被傳送到具有用于在光譜儀的常規(guī)操作中把源輻射傳送給基準(zhǔn)材料或試樣的相同光學(xué)器件的摻雜玻璃標(biāo)準(zhǔn)器;隨后利用和光光譜儀的常規(guī)操作中使用的相同的收集光學(xué)器件及檢測器通道收集并檢測來自標(biāo)準(zhǔn)器的熒光輻射。在圖1的步驟M1A和M2A中測量適當(dāng)?shù)墓舛葮?biāo)準(zhǔn)器的光譜響應(yīng),分別為基準(zhǔn)通道和試樣通道產(chǎn)生光度標(biāo)準(zhǔn)光譜PR(x)和PS(x)。這是通過從每個(gè)通道的采樣點(diǎn)到檢測器,利用光度標(biāo)準(zhǔn)器發(fā)射的輻射照射整個(gè)收集光學(xué)器件實(shí)現(xiàn)的,從而獲得上述光譜。除非光學(xué)組件發(fā)生顯著變化或者被替換,改變組件的位置或者環(huán)境條件發(fā)生顯著的變化,否則光譜儀的光度響應(yīng)不會(huì)發(fā)生顯著改變。于是,只需要偶爾地,例如在開始的儀器安裝過程中,替換組件或維護(hù)光譜儀之后,或者進(jìn)行周期檢測時(shí),或者由給定應(yīng)用所需的分析精度要求時(shí)獲得光度標(biāo)準(zhǔn)光譜。一旦獲得每個(gè)通道的光度標(biāo)準(zhǔn)光譜,則以數(shù)字形式存儲(chǔ),并用于補(bǔ)償利用常規(guī)操作中利用光譜儀的該通道獲得的每個(gè)光譜。在圖1的步驟R3A中,削峰基準(zhǔn)光譜DR(x)除以在基準(zhǔn)通道上測得的光度標(biāo)準(zhǔn)光譜,給出光度補(bǔ)償?shù)幕鶞?zhǔn)光譜CR(x)=DR(x)/PR(x)在圖1的步驟R3B中,削峰試樣光譜DS(x)除以在試樣通道上測得的光度標(biāo)準(zhǔn)光譜,給出光度補(bǔ)償?shù)脑嚇庸庾VCS(x)=DS(x)/PS(x)(3)線性化攝譜儀把輻射分散成其波長分量,以便當(dāng)投射到檢測器的一個(gè)平面上時(shí),給定波長分量的象素位置在一級近似上與其波長線性相關(guān)。但是,輻射的能量正比于其波長的倒數(shù)。于是,象素位置是能量的非線性函數(shù),象素位置之間的能量間距不恒定??缭揭徊糠止庾V中的給定能量距離的象素(數(shù)據(jù)點(diǎn))數(shù)目不同于跨越另一部分光譜中的相等能量距離的象素?cái)?shù)目。以利用具有非線性能量分散基礎(chǔ)的光譜建立的多元校準(zhǔn)對不同能量區(qū)域進(jìn)行各不相同的有效加權(quán)。如果光譜儀很穩(wěn)定,則橫跨光譜的不同能量下的有效加權(quán)因數(shù)的差別不會(huì)發(fā)生改變,并且可容易地用校準(zhǔn)技術(shù)進(jìn)行補(bǔ)償。但是,造成喇曼散射輻射能量移動(dòng),例如激勵(lì)激光的波長漂移的任何儀器變化也將造成測得的光譜內(nèi)的有效加權(quán)因數(shù)的差別,并且在各個(gè)單獨(dú)的光譜中必須補(bǔ)償這些差別。雖然這種補(bǔ)償可以直接進(jìn)行,但是補(bǔ)償過程中的殘留誤差較大,在校準(zhǔn)中引起大的預(yù)測誤差。在本發(fā)明中,通過把測得的所有光譜變成象素位置和輻射能量之間為線性關(guān)系,并且光譜數(shù)據(jù)點(diǎn)之間的能量間距相等的等效光譜有效地除去光譜儀的非線性能量分散的加權(quán)效果。這里把這種變換稱為線性化。利用線性化的光譜建立的多元校準(zhǔn)將在所有能量區(qū)域中被相同地加權(quán)。和非線性化光譜相比,線性化光譜中光譜能量漂移的補(bǔ)償非常簡單,殘留補(bǔ)償誤差非常低,從而改進(jìn)了定量分析的精度和準(zhǔn)確性。線性化過程分兩個(gè)步驟完成(i)光譜儀的分散特征的校準(zhǔn),及(ii)原始光譜的插值,以產(chǎn)生數(shù)據(jù)點(diǎn)之間能量間距相同的光譜,該能量間距等于在SURE的標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性中規(guī)定的能量間距。(i)光譜儀分散特性的校準(zhǔn)可以幾種不同的方式確定光譜儀的波長分散特性。這里使用的特定方法是把波長定義為λ定義為象素位置x的冪級數(shù)展開λ=a0+a1x+a2x2+a3x3+…在很好的近似程度上,該級數(shù)可被舍項(xiàng)為前兩項(xiàng),得出關(guān)于波長和象素位置的線性表達(dá)式λ=a0+a1x在,例如J.T.Brownrigg的“用于低分辨率光電二極管陣列光譜儀的波長校準(zhǔn)方法”,Appl.Spectrosc.,1993,vol.47,第1007-1014頁;M.Diem等的“用于將二極管陣列光譜數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為線性波長或波數(shù)標(biāo)度的簡單算法”,ComputerEnhancedSpectrosc.,1986,vol.3,第29-33頁;M.Blanco等的“二極管陣列紫外光譜儀間的波長校準(zhǔn)轉(zhuǎn)換”,Appl,Spectrosc.,1995,第593-597頁;D.A.Carter和J.E.Pemberton的“多用途、多通道喇曼光譜儀的頻率/波長校準(zhǔn)。第I部分影響精度的儀器因素”,ibid.,第1550-1560頁;D.A.Carter和J.E.Pemberton的“多用途、多通道喇曼光譜儀的頻率/波長校準(zhǔn)。第II部分校準(zhǔn)適應(yīng)考慮”,ibid.,第1561-1576頁;及J.Cho等的“用于CCD探測器和多通道光纖探測的波長校準(zhǔn)方法”,ibid.,第1841-1845頁,上述文獻(xiàn)的公開內(nèi)容作為參考包含于此。通常,校準(zhǔn)是通過測量標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)材料的光譜來實(shí)現(xiàn)的,標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)材料具有在已知波長或已知喇曼位移能量下,或者兩者下的光譜特征。隨后對照已知的波長(能量)回歸對于已知的光譜特征測得的象素位置,以確定使象素位置與波長(能量)相聯(lián)系的校準(zhǔn)等式的系數(shù)。在許多光譜應(yīng)用中,必須確定光譜中所有點(diǎn)的喇曼位移能量的準(zhǔn)確值。這種應(yīng)用要求準(zhǔn)確地知道光譜中每個(gè)點(diǎn)相對于激勵(lì)源的能量的絕對輻射能量。這需要提供具有眾所周知的喇曼位移能量的光譜特征的標(biāo)準(zhǔn)樣品。多種這樣的標(biāo)準(zhǔn)樣品在本領(lǐng)域中眾所周知,這種標(biāo)準(zhǔn)樣品一般為有機(jī)化合物。不過,對于使用多元校準(zhǔn)方法的定量分析應(yīng)用,并不需要絕對喇曼位移能量的嚴(yán)格校準(zhǔn)。在不知道光譜中每個(gè)點(diǎn)的絕對輻射能量的情況下,可產(chǎn)生非常準(zhǔn)確、精密的校準(zhǔn)。多元校準(zhǔn)確定試樣成分的數(shù)量或濃度之間的關(guān)系,如同由一些基準(zhǔn)分析方法所確定的那樣,及確定測得的光譜的形狀,即光譜中每個(gè)點(diǎn)的相對輻射強(qiáng)度。要根據(jù)多元校準(zhǔn)技術(shù)獲得精確的定量預(yù)測,不需要知道分散基礎(chǔ)的絕對值,也不需要知道分散基礎(chǔ)的量綱單位,例如象素位置、波長或能量。對于多元定量分析應(yīng)用最重要的分散校準(zhǔn)準(zhǔn)則是對于每個(gè)測得的光譜,分散基礎(chǔ)均相同。即使不為光譜中的每個(gè)點(diǎn)提供喇曼位移能量的精確絕對值,提供分散基礎(chǔ)的可再現(xiàn)校準(zhǔn)的任意標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)材料也已足夠。本發(fā)明中優(yōu)選的標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)材料是原子發(fā)射源。把原子發(fā)射源用于校準(zhǔn)的優(yōu)點(diǎn)是原子發(fā)射譜線的輻射波長眾所周知,并且不會(huì)隨著諸如溫度和濕度之類的環(huán)境條件發(fā)生顯著變化。另外,原子發(fā)射譜線的輻射波長和能量恒定;它們不會(huì)化學(xué)喇曼位移標(biāo)準(zhǔn)樣品的光譜特征那樣依賴于某些外部激勵(lì)源的能量或波長。此外,原子發(fā)射燈較為廉價(jià),易于從一個(gè)場所轉(zhuǎn)移到另一場所。在圖1的步驟M2A和M2B中,如下所述分別為基準(zhǔn)通道和試樣通道校準(zhǔn)光譜儀的波長色散在采樣點(diǎn)利用來自標(biāo)準(zhǔn)原子發(fā)射源的輻射照射光譜儀,并記錄光譜。把原子發(fā)射譜線的近似象素位置標(biāo)記實(shí)際象素位置,該實(shí)際象素位置對應(yīng)于超過給定強(qiáng)度門限值的測定發(fā)射光譜中的局部最大值。但是,由于檢測器象素的數(shù)目及光譜儀的分辨率有限,因此發(fā)射譜線的真實(shí)的強(qiáng)度最大值可能出現(xiàn)于位于相鄰象素之間的位置上。為了在爭散系數(shù)的確定中獲得足夠的精度和準(zhǔn)確性,必須對測得的光譜插值,找出作為象素一部分的強(qiáng)度最大值的準(zhǔn)確位置。這可借助任何適當(dāng)?shù)牟逯邓惴▽?shí)現(xiàn)。在一個(gè)最佳實(shí)施例中,通過獲取所獲得的光譜的一階導(dǎo)數(shù),并對一階導(dǎo)數(shù)光譜插值,以確定對應(yīng)于零十字的更精確的分?jǐn)?shù)象素位置。隨后對照原子發(fā)射譜線的該組已知波長,對該組更精確的象素位置進(jìn)行回歸,以確定上面的校準(zhǔn)等式中的分散系數(shù)a0和a1的值。通過多次(一次為幾百次)重復(fù)該程序,并且分別平均獲得的多個(gè)a0和a1值,可得到更為準(zhǔn)確、精度更高的分散系數(shù)。分散系數(shù)a0和a1不應(yīng)變化,除非光譜儀以改變其分散特征的一些方式發(fā)生變化。在大多數(shù)實(shí)驗(yàn)環(huán)境和生產(chǎn)過程環(huán)境中遇到的常規(guī)條件下,及當(dāng)對光譜儀作出重大的改變,例如把光譜儀移到新的場所,替換影響分散的光學(xué)組件等等時(shí)會(huì)周期性發(fā)生這種變化。于是作為維護(hù)程序,應(yīng)周期性重復(fù)步驟M2A和M2B。所需的重新校準(zhǔn)的頻率取決于所關(guān)心的應(yīng)用所需的分析精度,及光譜儀的周圍環(huán)境。(ii)原始光譜的插值為SURE規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性指定了數(shù)據(jù)點(diǎn)的數(shù)目,及對應(yīng)于標(biāo)準(zhǔn)光譜中每個(gè)點(diǎn)的輻射能量。但是通常實(shí)際光譜儀的分散性能與對于標(biāo)準(zhǔn)光譜規(guī)定的分散性能不同。不過,對于給定光譜儀,一旦分散系數(shù)a0和a1的值被確定,則可把利用該光譜儀測得的各個(gè)光譜變成等效光譜,該等效光譜具有與對于SURE規(guī)定的相同數(shù)目的數(shù)據(jù)點(diǎn)和相同的數(shù)據(jù)點(diǎn)間能量間距。標(biāo)記為TL[]的該變換在圖1的步驟R4A和R4B中分別應(yīng)用于基準(zhǔn)光譜和試樣光譜,得出線性化的基準(zhǔn)光譜和試樣光譜LR(v)=TL[CR(x)]和LS(v)=TL[CS(x)]該變換按照如下所述實(shí)現(xiàn)根據(jù)測得的象素位置及分散系數(shù),如下所示計(jì)算對應(yīng)于測得的光譜中每個(gè)點(diǎn)的絕對輻射能量E=hc&lambda;=hca0+a1x]]>其中h是普朗克常數(shù),c是光速,λ是對應(yīng)于每個(gè)點(diǎn)的輻射的波長,x是對應(yīng)于每個(gè)點(diǎn)的象素位置。用于該計(jì)算的能量單位被選擇為與用于確定SURE的標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性的能量單位相同。例如,如果關(guān)于以波數(shù)(cm-1)為單位的絕對輻射能量規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性,及關(guān)于以納米為單位的波長規(guī)定光譜儀的分散系數(shù),則對應(yīng)于測得的光譜中每個(gè)點(diǎn)的能量被計(jì)算為E(cm-1)=107&lambda;(nm)=107a0+a1x]]>或者,如果關(guān)于以cm-1為單位的喇曼位移能量確定SURE分散特性,并且關(guān)于波長(以納米為單位)確定光譜儀的分散系數(shù),則測得的光譜中的每個(gè)點(diǎn)的能量被計(jì)算為E(cm-1)=Eex(cm-1)-107a0+a1x]]>其中Eex是激勵(lì)源的標(biāo)稱輻射能量。在光譜的測量過程中,激勵(lì)源的標(biāo)稱能量不等于輻射源的確切能量無關(guān)緊要。唯一重要的是對于光譜中每個(gè)點(diǎn)計(jì)算的能量相對于光譜中所有其它點(diǎn)的能量是絕對的,及能量標(biāo)度與對于SURE的標(biāo)準(zhǔn)分散特性規(guī)定的能量標(biāo)度相同。對每個(gè)點(diǎn)計(jì)算能量絕對值僅僅簡化了相對能量的計(jì)算,并為下面討論的插值過程提供嚴(yán)格定義的能量標(biāo)度。一旦已知測得的光譜中的所有點(diǎn)的相對能量,通過使光譜擬合要求的函數(shù),確定測得的輻射強(qiáng)度和相對輻射能量之間的關(guān)系,所述函數(shù)隨后用于預(yù)測在由SURE標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性指定的能量下的預(yù)期輻射強(qiáng)度。在插值過程中可使用任何能夠提供給定應(yīng)用所需的準(zhǔn)確性和精度的所需函數(shù)。本發(fā)明的最佳實(shí)施例使用三次樣條插值算法對測得的光譜插值,以確定在由SURE標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性指定的能量下的預(yù)期輻射強(qiáng)度。在例如W.H.Press等的數(shù)值計(jì)算方法科學(xué)計(jì)算技巧,1986,CambridgeUniversityPress,第86-89頁中說明了三次樣條算法。借助規(guī)定,由這種插值程序產(chǎn)生的光譜具有與對于SURE規(guī)定的相同的能量分散特性,即對應(yīng)于相同能量的數(shù)據(jù)點(diǎn)的數(shù)目相同。應(yīng)強(qiáng)調(diào)的是雖然在上面的過程中已規(guī)定對應(yīng)于線性化光譜中的數(shù)據(jù)點(diǎn)的能量等于對于SURE規(guī)定的能量,但是它們實(shí)際上可能不等于被測量的喇曼位移能量。線性化過程的目的只是把所有測得的光譜變成等同的光譜,所述等同光譜均具有相同數(shù)目的數(shù)據(jù)點(diǎn),并且數(shù)據(jù)點(diǎn)之間的能量間距相同。線性化簡化了動(dòng)態(tài)標(biāo)準(zhǔn)化過程,并改進(jìn)了源于標(biāo)準(zhǔn)化光譜的定量分析的準(zhǔn)確性和精度。(4)基準(zhǔn)光譜的可選背景校正需要的話,圖1中的步驟R5用于校正基準(zhǔn)光譜,除去不與關(guān)心的喇曼信號直接相關(guān)的不需要的光譜特征。例如,如果鉆石用作基準(zhǔn)材料,由于寶石中的顏色雜質(zhì)的緣故,鉆石的喇曼光譜可能含有輕微的熒光背景。不同的鉆石可表現(xiàn)出稍微不同的熒光水平,而它們的喇曼峰值均近似相同。這種情況下,最好從光譜中除去不需要的熒光信號,但是保留起因于喇曼散射的峰值。這可借助除去不需要的光譜特征,同時(shí)保留關(guān)心的喇曼特征的形狀的任意方法來實(shí)現(xiàn)。例如,通過把零強(qiáng)度值賦予位于覆蓋關(guān)心的喇曼特征的指定能量范圍之外的所有數(shù)據(jù)點(diǎn),同時(shí)從位于該能量范圍內(nèi)的所有數(shù)據(jù)點(diǎn)的原始強(qiáng)度值中減去基線強(qiáng)度,產(chǎn)生校正后的光譜。把標(biāo)記為TB[]的背景校正操作應(yīng)用于線性化的基準(zhǔn)光譜,給出校正后的基準(zhǔn)光譜BR(v)=TB[LR(v)](5)動(dòng)態(tài)標(biāo)準(zhǔn)化前面討論的美國專利No.5455673、5638172和5652653中描述的動(dòng)態(tài)標(biāo)準(zhǔn)化過程補(bǔ)償激勵(lì)源輻射的波長和/或強(qiáng)度方面的變化性;該動(dòng)態(tài)標(biāo)準(zhǔn)化過程還可補(bǔ)償給定光譜儀中的檢測器和光色散元件的較小的機(jī)械定位不穩(wěn)定性。通過(a)在圖1的步驟R6確定描述非必須校正的線性化基準(zhǔn)光譜和前面確定的標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)光譜之間的光譜變化的卷積函數(shù),及(b)在圖1的步驟R7把卷積函數(shù)應(yīng)用于線性化試樣光譜,產(chǎn)生消卷積試樣光譜實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)標(biāo)準(zhǔn)化??梢远喾N不同的方式確定描述測得的基準(zhǔn)光譜和標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)光譜之間的光譜變化的卷積函數(shù),例如借助迭代計(jì)算來確定卷積函數(shù),不過迭代計(jì)算非常緩慢,極端費(fèi)時(shí)。優(yōu)選的方法是利用在例如前面提及的Press等的文獻(xiàn)第381-383頁和第407-412中描述的傅里葉變換(FT)算法同時(shí)對非必須校正的線性化基準(zhǔn)光譜BR(v)和標(biāo)準(zhǔn)化光譜SR(v)進(jìn)行傅里葉變換,該文的公開內(nèi)容作為參考包含于此。隨后通過把測得的光譜的FT除以標(biāo)準(zhǔn)光譜的FT確定卷積函數(shù)f(z)f(z)=BR(z)[/]SR(z),其中撇號(')代表函數(shù)的FT,[/]代表計(jì)算出FT的實(shí)數(shù)部分和虛數(shù)部分的復(fù)數(shù)除法。計(jì)算得到的卷積函數(shù)f(z)含有補(bǔ)償試樣光譜的采集過程中發(fā)生的儀器變化及不穩(wěn)定性所必需的信息。隨后再次利用復(fù)數(shù)除法把試樣光譜Ls'(v)的FT除以f(z),并計(jì)算所得結(jié)果的傅里葉逆變換,給出消卷積試樣光譜SD(v)SD(v)=FT-1{LS(z)[/]f(z)}其中FT-1代表傅里葉逆變換運(yùn)算。雖然如美國專利No.5455673、5638172及5652653中證明的那樣,動(dòng)態(tài)標(biāo)準(zhǔn)化過程本身在補(bǔ)償幾種變化及提供單個(gè)喇曼光譜儀的短期標(biāo)準(zhǔn)化方面非常成功,但是它不提供對儀器到儀器的改變或者儀器響應(yīng)函數(shù)方面的變化的補(bǔ)償。如果把動(dòng)態(tài)標(biāo)準(zhǔn)化直接應(yīng)用于測得的光譜,由于儀器之間光度響應(yīng)函數(shù)和分散特性方面的變化,來自一個(gè)光譜儀的消卷積光譜可能不會(huì)表面出與來自另一光譜儀的消卷積光譜相同的能量和相對強(qiáng)度。但是,如果把動(dòng)態(tài)標(biāo)準(zhǔn)化應(yīng)用于早先已借助上述方法進(jìn)行光度補(bǔ)償和線性化的光譜,則可改進(jìn)定量分析的準(zhǔn)確性和精度,并且可產(chǎn)生持久、可轉(zhuǎn)移的校準(zhǔn)。如果為SURE規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)化函數(shù)用于對所有光譜儀施加光度補(bǔ)償、線性化和動(dòng)態(tài)標(biāo)準(zhǔn)化,則顯著降低來自不同光譜儀的標(biāo)準(zhǔn)光譜的能量和相對強(qiáng)度方面的變化。(6)標(biāo)準(zhǔn)光譜的加權(quán)在圖1的步驟R8中,把消卷積試樣光譜SD(v)乘以為SURE規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù)SP(v),給出標(biāo)準(zhǔn)試樣光譜SS(v)SS(v)=SD(v)·SP(v)在一些應(yīng)用中,當(dāng)建立多元校準(zhǔn)時(shí),和光譜中的其它區(qū)域相比,可能希望對光譜的一些區(qū)域進(jìn)行更大的加權(quán)。對于這些應(yīng)用,可把標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù)規(guī)定成用和光譜中的其它區(qū)域相比更大的因數(shù)乘以光譜中的這些區(qū)域。在不需要對光譜進(jìn)行選擇性加權(quán)的情況下,把標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù)定義為與能量無關(guān),并且在所有能量下等于1。這種情況下,標(biāo)準(zhǔn)試樣光譜等于從步驟R7得出的消卷積試樣光譜,即步驟R8對該光譜沒有任何作用。由上面描述的變換產(chǎn)生的所有標(biāo)準(zhǔn)光譜已被補(bǔ)償了儀器變化,以致它們看來象是在處于和對于SURE規(guī)定的相同標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下操作的同一光譜儀上得到的。于是利用標(biāo)準(zhǔn)光譜建立的多元校準(zhǔn)能夠用于根據(jù)已被變成SURE的任意其它標(biāo)準(zhǔn)光譜預(yù)測定量分析,而與借助其獲得該光譜的特定光譜儀無關(guān)。(7)歸一化校準(zhǔn)的形成許多情況下,因數(shù),而不是儀器變化可以一種上面所述的變換不能補(bǔ)償?shù)姆绞接绊憸y得的光譜。例如,在熔融或工業(yè)生產(chǎn)液流中,非偶然或偶然干擾影響,例如泡沫、微粒及混濁可以一種不可預(yù)見的方式改變散射輻射的總強(qiáng)度。類似地,對于固體試樣,試樣的形狀、均勻性及厚度可影響觀察信號的總強(qiáng)度。當(dāng)以多通道方式獲得喇曼光譜,即同時(shí)測量所有波長下的信號響應(yīng)時(shí),這種干擾的影響是以未知的常數(shù)放大整個(gè)光譜,該未知常數(shù)對于單獨(dú)收集的光譜來說是唯一的。已被乘以一個(gè)未知的隨機(jī)數(shù)的光譜響應(yīng)不適于直接利用本領(lǐng)域中已知的常見多元統(tǒng)計(jì)法進(jìn)行校準(zhǔn)。如前指出的那樣,美國專利No.5610836描述了一種利用沒有按照相同的能量標(biāo)度歸一化的光譜建立校準(zhǔn)的方法。在圖1的步驟C1中,對于一組具有已知成分或性質(zhì)的試樣獲得的標(biāo)準(zhǔn)光譜用于根據(jù)該參考文獻(xiàn)的方法產(chǎn)生歸一化校準(zhǔn)。一旦產(chǎn)生,則在圖1的步驟R9,把該歸一化校準(zhǔn)應(yīng)用于未知試樣的標(biāo)準(zhǔn)光譜,以預(yù)測該未知試樣的成分或性質(zhì)。下面將進(jìn)一步舉例說明本發(fā)明實(shí)例-二甲苯混合物的定量分析通過分析一組包含濃度各不相同的對二甲苯、間二甲苯和鄰二甲苯的17個(gè)化學(xué)混合物試樣,證明了本發(fā)明方法的技術(shù)能力,該技術(shù)能力使喇曼光譜儀標(biāo)準(zhǔn)化,以便能夠產(chǎn)生,保持與對試樣或過程的定量分析的喇曼光譜響應(yīng)相關(guān)的耐久、穩(wěn)定的校準(zhǔn)技術(shù),并可把該校準(zhǔn)轉(zhuǎn)移到任意的類似光譜儀。通過仔細(xì)稱量加入混合物中的各個(gè)組分的不同含量制備該組試樣。根據(jù)測得的重量計(jì)算各個(gè)組分的摩爾百分比濃度(見表1)。下面稱為SPECl和SPEC2的兩個(gè)喇曼光譜儀用于進(jìn)行混合物的定量分析。每個(gè)光譜儀被構(gòu)造成含有產(chǎn)生797納米附近輻射的700mW多模二極管激光器,該797納米附近的輻射被輸出到100微米硅石英線芯纖維光纜(SpectraDiodeLab,Inc.SanJose,CA,型號SDL-2372-P3)。入射輻射由纖維光學(xué)分光儀(OzOpticsLtd.,Carp,Ontario,Canada,型號FOBS-12-555-MMM-750-50/50)分成兩束。每束輻射被聚集到200微米線芯的聚酰亞胺緩沖的石英硅纖維光纜(FiberguideIndustries,Stirling,NJ)。上述兩個(gè)纖維光纜把輻射傳送到試樣探頭和基準(zhǔn)探頭。在進(jìn)入各個(gè)探頭之前,每個(gè)纖維光纜中的輻射被濾光。濾光器被設(shè)計(jì)成只透射800納米附近的狹窄波長范圍(OmegaOptical,Brattleboro,VT,型號800BP10),并被插入固定的纖維濾光器夾持裝置(OzOpticsLtd.,型號ND-200-55-750-M-30)中。利用Buchanan等的美國專利申請“高性能光譜光學(xué)探頭”(序列號08/450597,申請日1995年5月25日),現(xiàn)在為美國專利No.5657404中描述的方法自行構(gòu)成基準(zhǔn)纖維光學(xué)探頭和試樣纖維光學(xué)探頭,該專利的公開內(nèi)容作為參考包含于此?;鶞?zhǔn)探頭用于照射小的鉆石碎片。試樣探頭被插入316不銹鋼試樣管中,該試樣管中放置有混合的二甲苯試樣。借助探頭中緊鄰激勵(lì)纖維周圍放置的各個(gè)200微米光纖收集來自基準(zhǔn)材料和試樣的散射輻射。在進(jìn)入返回光纖之前,收集的散射輻射被濾光,以便基本上除去所有的瑞利散射激光。每個(gè)濾光器(OmegaOptical,型號800REFLP)夾持在固定的纖維濾光器夾持裝置(OzOpticsLtd.,型號ND-200-55-750-M-30)中。兩個(gè)返回光纖均反向朝著利用在750納米下炫耀的300線/毫米光柵的ActonSpectraPro攝譜儀(ActonResearchCorporation,Acton,MA)。SPEC1上的光柵以901納米的波長為中心。SPEC2上的光柵以899納米的波長為中心。有意地使兩個(gè)攝譜儀以不同的波長為中心是為了強(qiáng)調(diào)本發(fā)明標(biāo)準(zhǔn)化方法的成功。具有8個(gè)200微米的光纖輸入端的光纖接合器連接到每個(gè)攝譜儀的入口,以使在每個(gè)儀器上能夠同時(shí)獲得多達(dá)8個(gè)喇曼信號。這些光纖被布置成線性陣列,并且直接放置在攝譜儀的入口狹縫前面。這8個(gè)光纖中的一個(gè)與基準(zhǔn)探頭相連,另一個(gè)光纖與試樣探頭相連。來自單色儀的分散輻射由熱電冷卻檢測器(PrincetonInstruments,Trenton,NJ,型號TEA/CCD-512-TKM/2)檢測,并被轉(zhuǎn)變成電信號。CCD芯片是Techtronix512×512象素背照式檢測器。利用由PrincetonInstruments提供的ST130軟件工具控制該儀器,ST130軟件工具包括在自行開發(fā)的用于實(shí)現(xiàn)必需的數(shù)據(jù)采集和變換算法的軟件組中。含有氫氣的原子發(fā)射燈(Oriel,型號AR-6030)用于利用具有已知波長826.4522納米、840.821納米、842.4648納米、852.1442納米、912.2967納米、922.4499納米及965.7786納米的7個(gè)發(fā)射譜線校準(zhǔn)各個(gè)光譜儀的各個(gè)通道的分散特性。一種專有的近紅外熒光染料用作光度標(biāo)準(zhǔn)樣品。該染料的稀釋溶液被放置到用于容納試樣光學(xué)探頭或基準(zhǔn)光學(xué)探頭的不銹鋼試樣管中。利用二極管激光器作為熒光激勵(lì)源,通過把相應(yīng)的探頭浸入該染料溶液中,并測量每個(gè)通道上的熒光光譜來測量每個(gè)儀器的基準(zhǔn)通道和試樣通道的光度響應(yīng)函數(shù)。對于二甲苯混合物應(yīng)用,把SURE的標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)規(guī)定為(a)標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)光譜包含覆蓋352cm-1~1950cm-1能量范圍的800個(gè)等間距數(shù)據(jù)點(diǎn),間距為cm-1(喇曼位移能量單位)。(b)標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)光譜鉆石碎片用作這些測量的基準(zhǔn)材料。通過在SPEC1上測量鉆石基準(zhǔn)材料的幾個(gè)光譜,并平均測得的結(jié)果得到平均光譜而獲得標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)光譜。隨后利用如前面提及的Press等的文獻(xiàn)中描述的三次樣條插值算法使該平均光譜線性化,以便把它變成標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性。隨后通過把鉆石喇曼峰值的最大值周圍60個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)范圍外的所有數(shù)據(jù)點(diǎn)設(shè)為零強(qiáng)度,并從該范圍內(nèi)的所有數(shù)據(jù)點(diǎn)減去基線強(qiáng)度,對基準(zhǔn)光譜進(jìn)行背景校正,以除去基線噪聲和殘留的熒光信號。并把最后得到的光譜存儲(chǔ)為標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)光譜。(c)標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù)標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù)被定義為在所有喇曼位移能量下均等于1。在SPEC1上獲得用作校準(zhǔn)試樣組的11個(gè)二甲苯混合物(表1中A-K)的喇曼光譜。6個(gè)不同的混合物(表1中L-Q)用作獨(dú)立的證實(shí)試樣組。既在SPEC1又在SPEC2上獲得證實(shí)試樣的喇曼光譜。利用30秒信號積分周期,按照隨機(jī)的次序,同時(shí)獲得每個(gè)試樣的試樣光譜和基準(zhǔn)光譜。建立兩個(gè)校準(zhǔn),以便根據(jù)測得的喇曼光譜以二甲苯混合物的三種組分中每種成分的摩爾百分比的形式預(yù)測各個(gè)組成。通過利用未處理的測量光譜作為多元信號響應(yīng)(矩陣X)建立控制校準(zhǔn)CAL1。利用借助本發(fā)明的方法而變成標(biāo)準(zhǔn)光譜的光譜建立根據(jù)本發(fā)明的校正CAL2,本發(fā)明的方法包含前面討論的美國專利No.5610836中說明的歸一化方法。局部最小二乘(PLS)算法(UNSCRAMBLER,計(jì)算機(jī)輔助A.S.模型化,Trondheim,Norway)用于建立這兩種校準(zhǔn)?;旌衔锏囊阎柊俜譂舛扔米鬟@兩種校準(zhǔn)的定量測量結(jié)果(矩陣Y)。利用獲得的23個(gè)光譜(SPEC1上的11個(gè)校準(zhǔn)試樣,SPEC1上的6個(gè)證實(shí)試樣及SPEC2上的6個(gè)證實(shí)試樣),把每個(gè)校準(zhǔn)應(yīng)用于以每種成分的摩爾百分比預(yù)測二甲苯混合物的組成??刂艭AL1應(yīng)用于未被標(biāo)準(zhǔn)化的光譜。本發(fā)明的CAL2應(yīng)用于被轉(zhuǎn)變成標(biāo)準(zhǔn)光譜的光譜。計(jì)算校準(zhǔn)的均方根誤差(RMSEC)和預(yù)測的均方根誤差(RMSEP),評價(jià)每種校準(zhǔn)的預(yù)測能力。對于每種混合物成分,RMSEC計(jì)算為RMSEC(i)+&Sigma;n=111[p(i)-k(i)]211]]>其中i=對二甲苯、間二甲苯或鄰二間苯,p(i)是預(yù)測的摩爾百分值,k(i)是已知的摩爾百分值,和覆蓋校準(zhǔn)組的11個(gè)試樣。利用在SPEC1(RMSEP-SPEC1)或者SPEC2(RMSEP-SPEC2)上測得的光譜為證實(shí)試樣組計(jì)算每個(gè)混合物成分的RMSEPRMSEP(i)+&Sigma;n=16[p(i)-k(i)]26]]>其中和覆蓋證實(shí)組的6個(gè)試樣。結(jié)果總結(jié)在表2中。本發(fā)明的校準(zhǔn)CAL2的平均RMSEC約為控制校準(zhǔn)CAL1的平均RMSEC的三分之一,CAL2的平均RMSEP-SPEC1約為CAL1的平均RMSEP-SPEC1的四分之一。這些結(jié)果證明當(dāng)利用已被轉(zhuǎn)變成SURE的光譜產(chǎn)生校準(zhǔn)時(shí),該校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性和精度可得到顯著改進(jìn)。更重要的是,對于每種混合物成分,本發(fā)明的CAL2的RMSEP-SPEC2始終小于0.15摩爾百分比,而控制CAL1的RMSEP-SPEC2超過3.5摩爾百分比。對于CAL2,即使特意把SPEC2的攝譜儀光柵設(shè)定在與SPEC1的攝譜儀光柵不同的波長下,平均RMSEP-SPEC2只是稍高于平均RMSEP-SPEC1(0.124摩爾百分比對0.104摩爾百分比)。這些結(jié)果清楚證明利用本發(fā)明的方法產(chǎn)生的校準(zhǔn)可成功地轉(zhuǎn)移到其它儀器上,并可用于提供準(zhǔn)確、精密的定量分析。表1混合的二甲苯試樣的組成表2二甲苯混合物的校準(zhǔn)均方根誤差(RMSEC)和預(yù)測均方根據(jù)誤差(RMSEP)(摩爾%)</tables>上面已經(jīng)參照本發(fā)明的最佳實(shí)施例詳細(xì)說明了本發(fā)明,但是要明白在本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)可作出各種變化和修改。權(quán)利要求1.一種用于利用特定的喇曼光譜設(shè)備或多個(gè)類似喇曼光譜設(shè)備中的任意設(shè)備從試樣產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜的方法,每個(gè)所述喇曼光譜設(shè)備包括基本上單色的輻射源,激勵(lì)光學(xué)裝置,基準(zhǔn)光學(xué)收集裝置,至少一個(gè)試樣光學(xué)收集裝置,攝譜儀及多通道陣列檢測器,所述方法包括(a)利用所述光譜設(shè)備同時(shí)輻照基準(zhǔn)材料和至少一個(gè)試樣;(b)確定標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性,所述基準(zhǔn)材料的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜,及標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù);(c)利用所述多通道陣列檢測器的基準(zhǔn)通道和試樣通道,在一個(gè)以上的波長下同時(shí)獲得所述基準(zhǔn)材料的卷積喇曼光譜,及所述試樣的卷積喇曼光譜,所述卷積光譜包括包含在所述標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性中的喇曼位移能量區(qū);(d)可選地識別并從基準(zhǔn)材料和試樣的每個(gè)卷積喇曼光譜中除去噪聲尖峰脈沖,從而產(chǎn)生所述基準(zhǔn)材料和所述試樣的削峰卷積喇曼光譜;(e)利用第二輻射源輻照各個(gè)光學(xué)收集裝置和攝譜儀,并利用所述測器檢測所產(chǎn)生的信號,從而為各個(gè)光學(xué)收集裝置產(chǎn)生相應(yīng)的光度基準(zhǔn)光譜;(f)把基準(zhǔn)材料和試樣的每個(gè)可選削峰卷積喇曼光譜除以所述相應(yīng)的光度基準(zhǔn)光譜,從而產(chǎn)生所述基準(zhǔn)材料和所述試樣的補(bǔ)償卷積喇曼光譜;(g)利用第三輻射源輻照攝譜儀,并檢測多通道檢測器的每個(gè)通道中得到的信號,從而為每個(gè)檢測器通道產(chǎn)生相應(yīng)的第三輻射源光譜;(h)根據(jù)每個(gè)檢測器通道的相應(yīng)的第三輻射源光譜和所述標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性,為每個(gè)檢測器通道構(gòu)成相應(yīng)的波長/能量相關(guān)等式;(i)把每個(gè)檢測器通道的相應(yīng)波長/能量相關(guān)等式應(yīng)用于基準(zhǔn)材料和試樣的每個(gè)相應(yīng)的補(bǔ)償卷積喇曼光譜,從而產(chǎn)生所述基準(zhǔn)材料和所述試樣的線性化卷積喇曼光譜;(j)可選地校正基準(zhǔn)材料的線性化卷積喇曼光譜,以除去背景信號,從而產(chǎn)生所述基準(zhǔn)材料的校正后的線性化卷積喇曼光譜;(k)根據(jù)基準(zhǔn)材料的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜,及所述基準(zhǔn)材料的可選校正后的線性化卷積喇曼光譜確定卷積函數(shù);(l)應(yīng)用卷積函數(shù)調(diào)整試樣的線性化卷積喇曼光譜,從而產(chǎn)生所述試樣的消卷積喇曼光譜;及(m)把試樣的消卷積喇曼光譜乘以標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù),從而從特定的喇曼光譜設(shè)備,或者從多個(gè)類似喇曼設(shè)備中的任意一個(gè)設(shè)備產(chǎn)生所述試樣的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜。2.按照權(quán)利要求1所述的方法,其中所述基本上單色的輻射源包括激光器。3.按照權(quán)利要求2所述的方法,其中所述激光器是多模二極管激光器。4.按照權(quán)利要求1所述的方法,其中所述試樣的所述卷積喇曼光譜包括所述基準(zhǔn)材料的所述卷積喇曼光譜。5.按照權(quán)利要求1所述的方法,其中所述基準(zhǔn)材料包括鉆石。6.按照權(quán)利要求1所述的方法,其中所述多通道陣列檢測器包括電荷耦合器件。7.按照權(quán)利要求1所述的方法,其中所述第二輻射源包括從摻雜至少一種金屬氧化的硅酸鹽玻璃,或者從熒光染料的溶液獲得的熒光輻射。8.按照權(quán)利要求1所述的方法,其中所述第二輻射源包括白光發(fā)射源或者黑體輻射源。9.按照權(quán)利要求1所述的方法,其中所述第三輻射源包括原子發(fā)射源。10.按照權(quán)利要求9所述的方法,其中所述原子發(fā)射源是氬氣燈。11.按照權(quán)利要求1所述的方法,其中所述第三輻射源包括具有光譜特征對應(yīng)于已知喇曼位移能量的喇曼光譜的材料。12.按照權(quán)利要求1所述的方法,其中通過利用三次樣條插值算法把每個(gè)檢測通道的相應(yīng)波長/能量相關(guān)等式應(yīng)用于基準(zhǔn)材料和試樣的每個(gè)相應(yīng)的補(bǔ)償卷積喇曼光譜。13.按照權(quán)利要求1所述的方法,其中通過調(diào)整所述基準(zhǔn)材料的先前獲得的卷積喇曼光譜,或者通過平均所述基準(zhǔn)材料的多個(gè)先前獲得的喇曼光譜,確定基準(zhǔn)材料的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜。14.按照權(quán)利要求1所述的方法,其中通過利用傅里葉變換算法確定卷積函數(shù)。15.按照權(quán)利要求1所述的方法,其中所述標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性包含多個(gè)間隔一定距離的點(diǎn),每個(gè)所述點(diǎn)對應(yīng)于給定的能量值。16.按照權(quán)利要求15所述的方法,其中每個(gè)所述點(diǎn)與相鄰的點(diǎn)間隔恒定相等的能量值。17.按照權(quán)利要求16所述的方法,其中所述標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù)包含加權(quán)函數(shù),所述加權(quán)函數(shù)應(yīng)用于構(gòu)成所述標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性的所述多個(gè)點(diǎn)。18.按照權(quán)利要求17所述的方法,其中和其它點(diǎn)相比,所述加權(quán)函數(shù)對所述多個(gè)點(diǎn)中的指定點(diǎn)進(jìn)行更大的加權(quán)。19.按照權(quán)利要求1所述的方法,其中借助相各個(gè)光學(xué)收集裝置,攝譜儀及檢測器,沿著強(qiáng)度軸對每個(gè)光學(xué)收集裝置的每個(gè)相應(yīng)光度基準(zhǔn)光譜進(jìn)行調(diào)制。20.按照權(quán)利要求1所述的方法,其中借助攝譜儀和檢測器,沿著波長/能量分散軸對每個(gè)檢測器通道的每個(gè)相應(yīng)的第三輻射源光譜進(jìn)行調(diào)制。21.一種通過產(chǎn)生可應(yīng)用于特定喇曼光譜設(shè)備,或者多個(gè)類似喇曼光譜設(shè)備中的任意設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn),提供未知試樣的化學(xué)成分和/或物理性質(zhì)的準(zhǔn)確、精密定量分析的方法,每個(gè)所述喇曼光譜設(shè)備包括基本上單色的輻射源,激勵(lì)光學(xué)裝置,基準(zhǔn)光學(xué)收集裝置,至少一個(gè)試樣光學(xué)收集裝置,攝譜儀及多通道陣列檢測器,所述方法包括(a)利用所述光譜設(shè)備,借助所述基本上單色的輻射源同時(shí)輻照基準(zhǔn)材料和至少一個(gè)具有已知化學(xué)成分和/或已知物理性質(zhì)的試樣;(b)確定標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性,所述基準(zhǔn)材料的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜,及標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù);(c)利用所述多通道陣列檢測器的基準(zhǔn)通道和試樣通道,在一個(gè)以上的波長下同時(shí)獲得所述基準(zhǔn)材料的卷積喇曼光譜,以及所述試樣的卷積喇曼光譜,包含喇曼位移能量區(qū)的所述卷積光譜包括在所述標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性中;(d)可選地識別并從基準(zhǔn)材料和試樣的每個(gè)卷積喇曼光譜中除去噪聲尖峰脈沖,從而產(chǎn)生所述基準(zhǔn)材料和所述試樣的削峰卷積喇曼光譜;(e)利用第二輻射源輻照各個(gè)光學(xué)收集裝置和攝譜儀,并利用所述測器檢測產(chǎn)生的信號,從而為各個(gè)光學(xué)收集裝置產(chǎn)生相應(yīng)的光度基準(zhǔn)光譜;(f)把基準(zhǔn)材料和試樣的每個(gè)可選削峰卷積喇曼光譜除以所述相應(yīng)的光度基準(zhǔn)光譜,從而產(chǎn)生所述基準(zhǔn)材料和所述試樣的補(bǔ)償卷積喇曼光譜;(g)利用第三輻射源輻照攝譜儀,并檢測多通道檢測器的每個(gè)通道中得到的信號,從而為每個(gè)檢測器通道產(chǎn)生相應(yīng)的第三輻射源光譜;(h)根據(jù)每個(gè)檢測器通道的相應(yīng)第三輻射源光譜和所述標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性,為每個(gè)檢測器通道構(gòu)成相應(yīng)的波長/能量相關(guān)等式;(i)把每個(gè)檢測器通道的相應(yīng)波長/能量相關(guān)等式應(yīng)用于基準(zhǔn)材料和試樣的每個(gè)相應(yīng)的補(bǔ)償卷積喇曼光譜,從而產(chǎn)生所述基準(zhǔn)材料和所述試樣的線性化卷積喇曼光譜;(j)可選地校正基準(zhǔn)材料的線性化卷積喇曼光譜,以除去背景信號,從而產(chǎn)生所述基準(zhǔn)材料的校正后的線性化卷積喇曼光譜;(k)根據(jù)基準(zhǔn)材料的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜,及所述基準(zhǔn)材料的可選校正后的線性化卷積喇曼光譜確定卷積函數(shù);(l)應(yīng)用卷積函數(shù)調(diào)整試樣的線性化卷積喇曼光譜,從而產(chǎn)生所述試樣的消卷積喇曼光譜;及(m)把試樣的消卷積喇曼光譜乘以標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù),從而產(chǎn)生所述試樣的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜;(n)利用已知化學(xué)成分和/或物理性質(zhì)的多個(gè)試樣,重復(fù)前述步驟(a)~(m)中描述的過程,從而產(chǎn)生一組包含所述試樣的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜的多元信號響應(yīng);(o)根據(jù)包含試樣的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜的該組多元信號響應(yīng),以及根據(jù)所述試樣的已知化學(xué)成分和/或物理性質(zhì),構(gòu)成歸一化校準(zhǔn);及(p)把該歸一化校準(zhǔn)應(yīng)用于利用所述喇曼光譜設(shè)備或者具有與所述喇曼光譜設(shè)備基本相同的組件的任意類似喇曼光譜設(shè)備,從未知化學(xué)成分和/或物理性質(zhì)的試樣獲得的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜,從而提供所述試樣的化學(xué)成化和/或物理性質(zhì)的準(zhǔn)確、精密定量分析。22.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中所述基本上單色的輻射源包括激光器。23.按照權(quán)利要求22所述的方法,其中所述激光器是多模二極管激光器。24.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中所述試樣的所述卷積喇曼光譜包括所述基準(zhǔn)材料的所述卷積喇曼光譜。25.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中所述基準(zhǔn)材料包括鉆石。26.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中所述多通道陣列檢測器包括電荷耦合器件。27.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中所述第二輻射源包括從摻雜至少一種金屬氧化的硅酸鹽玻璃,或者從熒光染料的溶液獲得的熒光輻射。28.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中所述第二輻射源包括白光發(fā)射源或者黑體輻射源。29.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中所述第三輻射源包括原子發(fā)射源。30.按照權(quán)利要求29所述的方法,其中所述原子發(fā)射源是氬氣燈。31.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中所述第三輻射源包括具有光譜特征對應(yīng)于已知喇曼位移能量的喇曼光譜的材料。32.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中通過利用三次樣條插值算法把每個(gè)檢測通道的相應(yīng)波長/能量相關(guān)等式應(yīng)用于基準(zhǔn)材料和試樣的每個(gè)相應(yīng)的補(bǔ)償卷積喇曼光譜。33.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中通過調(diào)整所述基準(zhǔn)材料的先前獲得的卷積喇曼光譜,或者通過平均所述基準(zhǔn)材料的多個(gè)先前獲得的喇曼光譜,確定基準(zhǔn)材料的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜。34.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中通過利用傅里葉變換算法確定卷積函數(shù)。35.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中所述標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性包含多個(gè)間隔一定距離的點(diǎn),每個(gè)所述點(diǎn)對應(yīng)于給定的能量值。36.按照權(quán)利要求35所述的方法,其中每個(gè)所述點(diǎn)與相鄰的點(diǎn)間隔恒定相等的能量值。37.按照權(quán)利要求36所述的方法,其中所述標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù)包含加權(quán)函數(shù),所述加權(quán)函數(shù)應(yīng)用于構(gòu)成所述標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性的所述多個(gè)點(diǎn)。38.按照權(quán)利要求37所述的方法,其中和其它點(diǎn)相比,所述加權(quán)函數(shù)對所述多個(gè)點(diǎn)中的指定點(diǎn)進(jìn)行更大的加權(quán)。39.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中借助相各個(gè)光學(xué)收集裝置,攝譜儀及檢測器,沿著強(qiáng)度軸對每個(gè)光學(xué)收集裝置的每個(gè)相應(yīng)光度基準(zhǔn)光譜進(jìn)行調(diào)制。40.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中借助攝譜儀和檢測器,沿著波長/能量分散軸對每個(gè)檢測器通道的每個(gè)相應(yīng)的第三輻射源光譜進(jìn)行調(diào)制。41.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中利用主要因數(shù)分析或者局部最小二乘算法為所述喇曼光譜設(shè)備構(gòu)造歸一化校準(zhǔn)。42.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中所述未知試樣包含聚合成分。43.按照權(quán)利要求42所述的方法,其中所述聚合成分包含纖維素成分。44.按照權(quán)利要求42所述的方法,其中所述聚合成分包含由低分子量反應(yīng)化合物的反應(yīng)產(chǎn)生的聚合物質(zhì)。45.按照權(quán)利要求44所述的方法,其中所述聚合物質(zhì)包含聚酯。46.按照權(quán)利要求44所述的方法,其中所述聚合物質(zhì)包含聚烯烴。47.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中所述未知試樣包含位于化學(xué)反應(yīng)過程流中的物質(zhì)。48.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中所述未知試樣包含位于蒸餾設(shè)備中的的物質(zhì)。49.按照權(quán)利要求21所述的方法,其中所述未知試樣包含位于活性有機(jī)體中的物質(zhì)。全文摘要一種用于提供未知試樣的化學(xué)成分和/或物理性質(zhì)的準(zhǔn)確、精密定量分析的方法使用多個(gè)已知試樣的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜構(gòu)造歸一化校準(zhǔn)(步驟C1),把歸一化校準(zhǔn)應(yīng)用于從特定喇曼光譜設(shè)備或者任意類似喇曼光譜設(shè)備獲得的未知試樣的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜,喇曼光譜設(shè)備用于同時(shí)輻照基準(zhǔn)材料和至少一個(gè)試樣,從而獲得它們各自的卷積喇曼光譜。利用確定的標(biāo)準(zhǔn)能量分散特性和基準(zhǔn)材料的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜(步驟P2),確定卷積函數(shù)(步驟R6),并把該函數(shù)用于產(chǎn)生試樣的消卷積喇曼光譜(步驟R7)。把該消卷積光譜確定的標(biāo)準(zhǔn)光度響應(yīng)函數(shù),以產(chǎn)生該試樣的標(biāo)準(zhǔn)喇曼光譜(步驟R8),從而提供準(zhǔn)確、精密的定量分析。文檔編號G01J3/44GK1264466SQ98804871公開日2000年8月23日申請日期1998年3月5日優(yōu)先權(quán)日1997年3月14日發(fā)明者小霍華德·S·卡曼,丹尼爾·C·阿爾斯邁耶,卡洛斯·H·華爾茲-加西亞,艾倫·W·加里特,布魯斯·E·威爾遜,文森特·A·尼斯里申請人:伊斯特曼化學(xué)公司
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