本技術(shù)屬于x射線芯片檢測設(shè)備領(lǐng)域，具體涉及一種應(yīng)用于x射線芯片檢測的輔助裝置。

背景技術(shù)：

1、x射線具有極強(qiáng)的穿透力，是一種人眼無法看見但能穿透物體的射線。它具有較強(qiáng)的穿透力，能透過許多對可見光不透明的物質(zhì)，例如墨紙、木料、電子設(shè)備、金屬鑄件等。x射線芯片是應(yīng)用于x射線產(chǎn)品中的一種芯片，在產(chǎn)品制造中需要對其進(jìn)行檢測。

2、現(xiàn)有的x射線芯片檢測裝置在對芯片檢測時，需要打開裝置箱門打開并將芯片放置于裝置內(nèi)部進(jìn)行檢測。然而，在打開箱門過程中，空氣中的灰塵和濕氣容易進(jìn)入裝置內(nèi)部，從而影響芯片檢測的精度。因此亟需針對上述問題，提供一種應(yīng)用于x射線芯片檢測的輔助裝置。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本實用新型的目的在于解決現(xiàn)有技術(shù)的不足，并提供一種應(yīng)用于x射線芯片檢測的輔助裝置。

2、本實用新型所采用的具體技術(shù)方案如下：

3、本實用新型提供一種應(yīng)用于x射線芯片檢測的輔助裝置，包括檢測裝置本體、芯片夾持裝置、排氣管、支撐底座和控制模塊。

4、檢測裝置本體正面設(shè)置可開啟的箱門，底部設(shè)有支撐底座。支撐底座內(nèi)腔內(nèi)設(shè)有可收納的移動輪。排氣管與檢測裝置本體的另一側(cè)頂部連通，排氣管內(nèi)部設(shè)有排氣電機(jī)?？刂颇K固定在檢測裝置本體外側(cè)，用于控制排氣電機(jī)和支撐底座中的同步電推桿。

5、檢測裝置本體側(cè)面固定有用于放置待檢測芯片的芯片夾持裝置，且檢測裝置本體和芯片夾持裝置的內(nèi)側(cè)連通。芯片夾持裝置的外側(cè)設(shè)有可拆卸的框架?？蚣苌显O(shè)有過濾網(wǎng)和除濕板。芯片夾持裝置內(nèi)腔的側(cè)壁固定有對待檢測的芯片進(jìn)行限位的擋塊。芯片夾持裝置側(cè)壁上開設(shè)用于穿過卡桿的側(cè)孔，側(cè)孔開設(shè)于擋塊前方?？U上套設(shè)有限位彈簧，限位彈簧外側(cè)固定有連接板?？U插入側(cè)孔后對擋塊前方的待檢測芯片進(jìn)行固定。

6、作為優(yōu)選，支撐底座內(nèi)腔的頂部固定有同步電推桿，同步電推桿的輸出端通過活動板與移動輪連接。支撐底座內(nèi)腔的側(cè)壁開設(shè)有限位槽，活動板兩側(cè)固定有限位塊。限位塊和限位槽構(gòu)成滑動連接，通過控制限位塊在限位槽中的位置，調(diào)整移動輪的位置。

7、作為優(yōu)選，控制模塊包括安裝柱、安裝板和電腦。安裝柱與檢測裝置本體連接，安裝柱底部固定有安裝板。安裝板上垂直設(shè)置轉(zhuǎn)桿，轉(zhuǎn)桿頂部固定有支撐板，且轉(zhuǎn)桿外套設(shè)有彈性元件。安裝板和轉(zhuǎn)桿之間采用軸承連接。支撐板上固定有電腦。

8、進(jìn)一步的，支撐板和彈性元件之間設(shè)有用于增大摩擦的摩擦板。

9、作為優(yōu)選，箱門上設(shè)有觀察窗。

10、作為優(yōu)選，框架上設(shè)有便于拆裝的把手。

11、作為優(yōu)選，框架四周設(shè)有密封條，通過密封條與芯片夾持裝置密閉連接。

12、作為優(yōu)選，排氣管套設(shè)于固定環(huán)中，通過固定環(huán)進(jìn)一步加固于檢測裝置本體上。

13、本實用新型相對于現(xiàn)有技術(shù)而言，具有以下有益效果：

14、本實用新型提供的輔助裝置設(shè)置排氣管和排氣電機(jī)，兩者相互配合能夠?qū)z測裝置本體內(nèi)部的空氣排出，起到除塵除濕的作用；芯片夾持裝置的框架上也設(shè)有過濾網(wǎng)和除濕板，對進(jìn)入的空氣進(jìn)一步除塵除濕，避免空氣中的灰塵和濕氣影響檢測芯片的精準(zhǔn)度。

技術(shù)特征：

1.一種應(yīng)用于x射線芯片檢測的輔助裝置，其特征在于，包括檢測裝置本體(1)、芯片夾持裝置(4)、排氣管(15)、支撐底座(24)和控制模塊；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于x射線芯片檢測的輔助裝置，其特征在于，所述支撐底座(24)內(nèi)腔的頂部固定有同步電推桿(25)，同步電推桿(25)的輸出端通過活動板(26)與移動輪(27)連接；支撐底座(24)內(nèi)腔的側(cè)壁開設(shè)有限位槽(28)，活動板(26)兩側(cè)固定有限位塊(29)；所述限位塊(29)和限位槽(28)構(gòu)成滑動連接，通過控制限位塊(29)在限位槽(28)中的位置，調(diào)整移動輪(27)的位置。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于x射線芯片檢測的輔助裝置，其特征在于，所述控制模塊包括安裝柱(18)、安裝板(19)和電腦(22)；所述安裝柱(18)與檢測裝置本體(1)連接，安裝柱(18)底部固定有安裝板(19)；所述安裝板(19)上垂直設(shè)置轉(zhuǎn)桿(20)，轉(zhuǎn)桿(20)頂部固定有支撐板(21)，且轉(zhuǎn)桿(20)外套設(shè)有彈性元件(23)；安裝板(19)和轉(zhuǎn)桿(20)之間采用軸承連接；所述支撐板(21)上固定有電腦(22)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的應(yīng)用于x射線芯片檢測的輔助裝置，其特征在于，所述支撐板(21)和彈性元件(23)之間設(shè)有用于增大摩擦的摩擦板(30)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于x射線芯片檢測的輔助裝置，其特征在于，所述箱門(2)上設(shè)有觀察窗(3)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于x射線芯片檢測的輔助裝置，其特征在于，所述框架(5)上設(shè)有便于拆裝的把手(9)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于x射線芯片檢測的輔助裝置，其特征在于，所述框架(5)四周設(shè)有密封條(8)，通過密封條(8)與芯片夾持裝置(4)密閉連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于x射線芯片檢測的輔助裝置，其特征在于，所述排氣管(15)套設(shè)于固定環(huán)(17)中，通過固定環(huán)(17)進(jìn)一步加固于檢測裝置本體(1)上。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開了一種應(yīng)用于X射線芯片檢測的輔助裝置，屬于X射線芯片檢測設(shè)備領(lǐng)域。該輔助裝置包括檢測裝置本體、芯片夾持裝置、排氣管、支撐底座和控制模塊。檢測裝置本體側(cè)面固定有用于放置待檢測芯片的芯片夾持裝置，兩者內(nèi)側(cè)連通。芯片夾持裝置的外側(cè)設(shè)有可拆卸的框架，框架上設(shè)有過濾網(wǎng)和除濕板。芯片夾持裝置內(nèi)腔的側(cè)壁固定有擋塊，擋塊前方開設(shè)側(cè)孔。卡桿穿過側(cè)孔，與擋塊配合作用固定待檢測芯片。檢測裝置本體正面設(shè)置可開啟的箱門，底部設(shè)有支撐底座，支撐底座內(nèi)腔內(nèi)設(shè)有可收納的移動輪。本技術(shù)提供的輔助裝置，具備除塵和除濕的有點，避免空氣中的灰塵和濕氣影響檢測芯片的精準(zhǔn)度。

技術(shù)研發(fā)人員：唐瑩,褚興宇,韋一
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國計量大學(xué)
技術(shù)研發(fā)日：20240118
技術(shù)公布日：2024/12/23