本申請(qǐng)屬于數(shù)據(jù)處理領(lǐng)域，尤其涉及一種電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)方法及相關(guān)裝置。

背景技術(shù)：

1、電磁線（也稱為繞組線或磁線）通常由導(dǎo)電金屬（如銅或鋁）制成，其表面被一層絕緣層包覆，以隔絕電流并確保導(dǎo)體能夠在設(shè)備中安全、高效地工作。電磁線絕緣層，是包覆在電磁線導(dǎo)體外部的一層絕緣材料，用于電氣設(shè)備中的線圈和繞組，防止電流泄漏、短路或其他電氣故障。

2、電磁線絕緣層的耐電暈性能，是決定電磁線使役壽命的關(guān)鍵因素。因此預(yù)測(cè)電磁線絕緣層耐電暈壽命極為重要。在電磁線絕緣層的耐電暈壽命評(píng)估中，由于絕緣材料需要在長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)（通常高達(dá)數(shù)十年）保持其電氣性能，傳統(tǒng)的長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試方法面臨巨大的挑戰(zhàn)。具體來(lái)說(shuō)，這些挑戰(zhàn)包括時(shí)間長(zhǎng)、成本高以及試驗(yàn)條件與實(shí)際使用環(huán)境可能不完全匹配。

3、綜上，亟待提出一種全新的技術(shù)方案，用以解決上述至少一個(gè)技術(shù)問(wèn)題，以提升電磁線服役的安全性。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)方法及相關(guān)裝置，用以提升電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)效率，提高耐電暈?zāi)碗姇瀴勖A(yù)測(cè)值的準(zhǔn)確性。

2、第一方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)方法，應(yīng)用于電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)場(chǎng)景；所述電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)方法包括：

3、對(duì)于電磁線絕緣層中的測(cè)試樣本，采集所述測(cè)試樣本在不同溫度下的電導(dǎo)電流密度以及施加電場(chǎng)強(qiáng)度；所述測(cè)試樣本對(duì)應(yīng)于至少一種類型的薄膜材料；

4、基于不同溫度下的電導(dǎo)電流密度以及施加電場(chǎng)強(qiáng)度確定所述測(cè)試樣本對(duì)應(yīng)的電老化閾值；

5、基于所述電老化閾值執(zhí)行加速耐電暈測(cè)試，得到所述測(cè)試樣本在多個(gè)測(cè)試環(huán)境下的短時(shí)耐電暈壽命測(cè)試值；其中，所述多個(gè)測(cè)試環(huán)境分別采用不同溫度以及不同施加電場(chǎng)強(qiáng)度；所述多個(gè)測(cè)試環(huán)境所用的施加電場(chǎng)強(qiáng)度均小于所述電老化閾值對(duì)應(yīng)的目標(biāo)施加電場(chǎng)強(qiáng)度；

6、基于所述短時(shí)耐電暈壽命測(cè)試值構(gòu)建加速預(yù)測(cè)模型；

7、將目標(biāo)樣本所處的運(yùn)行環(huán)境參數(shù)輸入到所述加速預(yù)測(cè)模型中，得到目標(biāo)樣本對(duì)應(yīng)的目標(biāo)耐電暈壽命；其中，所述目標(biāo)樣本對(duì)應(yīng)于至少一種待測(cè)薄膜材料；所述運(yùn)行環(huán)境參數(shù)至少包括所述目標(biāo)樣本所處運(yùn)行環(huán)境中的實(shí)時(shí)溫度以及實(shí)時(shí)施加電場(chǎng)強(qiáng)度。

8、第二方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)系統(tǒng)，所述電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)系統(tǒng)包括：

9、采集單元，被配置為對(duì)于電磁線絕緣層中的測(cè)試樣本，采集所述測(cè)試樣本在不同溫度下的電導(dǎo)電流密度以及施加電場(chǎng)強(qiáng)度；所述測(cè)試樣本對(duì)應(yīng)于至少一種待測(cè)薄膜材料；

10、確定單元，被配置為基于不同溫度下的電導(dǎo)電流密度以及施加電場(chǎng)強(qiáng)度確定所述測(cè)試樣本對(duì)應(yīng)的電老化閾值；

11、測(cè)試單元，被配置為基于所述電老化閾值執(zhí)行加速耐電暈測(cè)試，得到所述測(cè)試樣本在多個(gè)測(cè)試環(huán)境下的短時(shí)耐電暈壽命測(cè)試值；其中，所述多個(gè)測(cè)試環(huán)境分別采用不同溫度以及不同施加電場(chǎng)強(qiáng)度；所述多個(gè)測(cè)試環(huán)境所用的施加電場(chǎng)強(qiáng)度均小于所述電老化閾值對(duì)應(yīng)的目標(biāo)施加電場(chǎng)強(qiáng)度；

12、構(gòu)建單元，被配置為基于所述短時(shí)耐電暈壽命測(cè)試值構(gòu)建加速預(yù)測(cè)模型；

13、預(yù)測(cè)單元，被配置為將目標(biāo)樣本所處的運(yùn)行環(huán)境參數(shù)輸入到所述加速預(yù)測(cè)模型中，得到所述目標(biāo)樣本對(duì)應(yīng)的目標(biāo)耐電暈壽命；其中，所述目標(biāo)樣本對(duì)應(yīng)于至少一種待測(cè)薄膜材料；所述運(yùn)行環(huán)境參數(shù)至少包括所述目標(biāo)樣本所處運(yùn)行環(huán)境中的實(shí)時(shí)溫度以及實(shí)時(shí)施加電場(chǎng)強(qiáng)度。

14、第三方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)設(shè)備，所述電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)設(shè)備包括：

15、至少一個(gè)處理器、存儲(chǔ)器和輸入輸出單元；

16、其中，所述存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序，所述處理器用于調(diào)用所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的計(jì)算機(jī)程序來(lái)執(zhí)行第一方面的電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)方法。

17、第四方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其包括指令，當(dāng)其在計(jì)算機(jī)上運(yùn)行該指令時(shí)，使得計(jì)算機(jī)執(zhí)行第一方面的電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)方法。

18、本申請(qǐng)?zhí)峁┑募夹g(shù)方案，在電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)方案中，對(duì)于電磁線絕緣層中的測(cè)試樣本，采集所述測(cè)試樣本在不同溫度下的電導(dǎo)電流密度以及施加電場(chǎng)強(qiáng)度；基于不同溫度下的電導(dǎo)電流密度以及施加電場(chǎng)強(qiáng)度確定所述測(cè)試樣本對(duì)應(yīng)的電老化閾值；基于所述電老化閾值執(zhí)行加速耐電暈測(cè)試，得到所述測(cè)試樣本在多個(gè)測(cè)試環(huán)境下的短時(shí)耐電暈壽命測(cè)試值；基于所述短時(shí)耐電暈壽命測(cè)試值構(gòu)建加速預(yù)測(cè)模型；將目標(biāo)樣本所處的運(yùn)行環(huán)境參數(shù)輸入到所述加速預(yù)測(cè)模型中，得到目標(biāo)樣本對(duì)應(yīng)的目標(biāo)耐電暈壽命。該技術(shù)方案通過(guò)短時(shí)耐電暈壽命測(cè)試值構(gòu)建加速預(yù)測(cè)模型，并采用加速預(yù)測(cè)模型實(shí)時(shí)預(yù)測(cè)對(duì)應(yīng)的耐電暈壽命，提升電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)效率，提高耐電暈壽命預(yù)測(cè)值的準(zhǔn)確性。

技術(shù)特征：

1.一種電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)方法，其特征在于，應(yīng)用于薄膜材料的耐電暈壽命預(yù)測(cè)場(chǎng)景，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)方法，其特征在于，所述基于不同溫度下的電導(dǎo)電流密度以及施加電場(chǎng)強(qiáng)度確定所述測(cè)試樣本對(duì)應(yīng)的電老化閾值，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)方法，其特征在于，所述基于所述電老化閾值執(zhí)行加速耐電暈測(cè)試，得到所述測(cè)試樣本在多個(gè)測(cè)試環(huán)境下的短時(shí)耐電暈壽命測(cè)試值之后，還包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)方法，其特征在于，所述生成多組隨機(jī)權(quán)重參數(shù)，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)方法，其特征在于，所述將多組第二混合數(shù)據(jù)與原始測(cè)試值融合得到優(yōu)化后的短時(shí)耐電暈壽命測(cè)試值之前，還包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)方法，其特征在于，所述基于所述短時(shí)耐電暈壽命測(cè)試值構(gòu)建加速預(yù)測(cè)模型，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)方法，其特征在于，

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)方法，其特征在于，測(cè)試環(huán)境下用于測(cè)試的電場(chǎng)場(chǎng)強(qiáng)小于所述電老化閾值，并且測(cè)試環(huán)境下用于測(cè)試的電場(chǎng)場(chǎng)強(qiáng)大于實(shí)際環(huán)境下的實(shí)際施加電場(chǎng)場(chǎng)強(qiáng)。

9.一種電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，應(yīng)用于薄膜材料的耐電暈壽命預(yù)測(cè)場(chǎng)景，所述系統(tǒng)包括：

10.一種電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備至少包括耐電暈壽命預(yù)測(cè)裝置，所述耐電暈壽命預(yù)測(cè)裝置包括至少一個(gè)處理器、存儲(chǔ)器和輸入輸出單元；

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)屬于數(shù)據(jù)處理領(lǐng)域，尤其涉及一種電磁線絕緣層耐電暈壽命加速預(yù)測(cè)方法及裝置，該方法包括：對(duì)于電磁線絕緣層中的測(cè)試樣本，采集測(cè)試樣本在不同溫度下的電導(dǎo)電流密度以及施加電場(chǎng)強(qiáng)度；基于不同溫度下的電導(dǎo)電流密度以及施加電場(chǎng)強(qiáng)度確定測(cè)試樣本對(duì)應(yīng)的電老化閾值；基于電老化閾值執(zhí)行加速耐電暈測(cè)試，得到測(cè)試樣本在多個(gè)測(cè)試環(huán)境下的短時(shí)耐電暈壽命測(cè)試值；基于短時(shí)耐電暈壽命測(cè)試值構(gòu)建加速預(yù)測(cè)模型；將目標(biāo)樣本所處的運(yùn)行環(huán)境參數(shù)輸入到加速預(yù)測(cè)模型中，得到對(duì)應(yīng)的目標(biāo)耐電暈壽命。通過(guò)短時(shí)耐電暈壽命測(cè)試值構(gòu)建加速預(yù)測(cè)模型，采用加速預(yù)測(cè)模型實(shí)時(shí)預(yù)測(cè)對(duì)應(yīng)的耐電暈壽命，提升耐電暈壽命預(yù)測(cè)效率，提高耐電暈壽命預(yù)測(cè)值的準(zhǔn)確性。

技術(shù)研發(fā)人員：相恒高,李樂(lè),徐志軍,陳光
受保護(hù)的技術(shù)使用者：南京理工大學(xué)
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/30