本發(fā)明屬于pcb電子元件測試，特別是涉及一種用于環(huán)保設備的pcb電子元件電阻測試系統(tǒng)。

背景技術：

1、電子元器件組件pcb板是元件器件的總稱，組件pcb板，也可以叫電路板，線路板。

2、而由于pcb電子元件上電阻測試的位置較多，而現(xiàn)有的測試設備大多是通過移動測試表針58與pcb電子元件上的測試孔接觸，進行電阻測試，而由于需要測試的點位較多，因此，需要測試表針頻繁與pcb板接觸，而由于測試表針是帶有一定壓力頻繁與pcb板接觸，因此，不僅容易對pcb板造成損傷，同時還容易造成pcb板表面發(fā)生磨損，進而容易降低pcb板進行電阻測試的準確性和測試的效率。

技術實現(xiàn)思路

1、為解決上述技術問題，本發(fā)明是通過以下技術方案實現(xiàn)的：

2、本發(fā)明為一種用于環(huán)保設備的pcb電子元件電阻測試系統(tǒng)，包括上料模塊，所述上料模塊采用輸送帶組件用于將待測試的pcb電子元件輸送到測試模塊下方，所述測試模塊包括測試箱、探針接觸機構和表針驅動機構，所述測試箱懸空固定在上料模塊上方，且測試箱內升降安裝有探針接觸機構，所述探針接觸機構上方設置有表針驅動機構，所述表針驅動機構用于表針驅動機構的測試表針與探針接觸機構上的多個測試探測分別進行導電連通。

3、進一步地，所述探針接觸機構包括方框架、連接角塊、探針板、金屬探針和升降氣缸，所述方框架懸空設置在測試箱內，且方框架的外框體上固定有至少四個連接角塊，所述方框架上安裝有探針板，且探針板矩陣安裝有多個金屬探針，每個所述連接角塊與豎向設置的升降氣缸的活塞桿連接，且豎向的升降氣缸的缸體頂端部固定有測試箱的頂部，多個所述金屬探針分別與待測試的pcb電子元件的測試孔接觸。

4、進一步地，所述探針接觸機構還包括絕緣板、壓緊板、限位柱和緩沖墊圈，所述探針板的上表面連接有絕緣板，且絕緣板的尺寸大于探針板的尺寸，所述方框架的上表面形成方形凹槽，且方形凹槽內插接有絕緣板，所述壓緊板貼合到方框架上表面，且壓緊板下表面向上開設有方形卡槽，所述壓緊板的厚度等于方形凹槽和方形卡槽兩者之和的深度，所述金屬探針頂端面伸出壓緊板的頂端面，且與壓緊板的頂端面平齊，絕緣板和方形卡槽的槽底對應開設有限位槽孔，所述金屬探針的針體上形成有限位柱，且限位柱插入到限槽孔內，所述限位槽孔的孔底和孔頂部均設置有緩沖墊圈，且緩沖墊圈套接在金屬探針的針體上。

5、進一步地，四個所述連接角塊分別固定在方框架的四個拐角處，且連接角塊的厚度大于方框架的厚度，所述方框架和壓緊板的四個拐角均為圓弧拐角，所述連接角塊與拐角貼合處也為圓弧設置，每個所述連接角塊上均設置有鎖緊組件。

6、進一步地，所述鎖緊組件包括螺紋桿、壓緊長條、壓緊墊圈、螺母和連接螺釘，所述連接角塊的上表面形成有插接孔，且插接孔內豎向插接有螺紋桿，所述螺紋桿上套接壓緊長條，且壓緊長條的下表面貼合到壓緊板上，所述壓緊長條上表面依次貼合有壓緊墊圈和螺母，且壓緊墊圈和螺母均套接在螺紋桿上，所述連接角塊的下表面向上開設有螺紋穿孔，且螺紋穿孔向上開設到螺紋桿內部，所述螺紋穿孔內螺紋連接有連接螺釘，且連接螺釘?shù)尼旑^位于連接角塊的下表面。

7、進一步地，所述表針驅動機構包括支撐立塊、傳動絲杠、懸空滑塊、懸空長條、支撐耳塊、雙旋向絲杠、安裝塊和測試表針，對稱的所述支撐立塊也通過對稱的升降氣缸懸空設置測試箱內部前后壁面處，且兩者之間轉動安裝有傳動絲杠，所述傳動絲杠上通過絲杠螺母套接有懸空滑塊，所述懸空滑塊的下表面左右水平固定有懸空長條，且懸空長條的兩端部固定有支撐耳塊，對稱的所述支撐耳塊之間轉動安裝有雙旋向絲杠，且雙旋向絲杠上通過對稱的絲杠螺母對稱套接有安裝塊，每個所述安裝塊的下表面可拆卸安裝有測試表針。

8、進一步地，對稱的所述輸送帶組件對稱側面上開設有移動槽，且對稱的移動槽。

9、進一步地，所述測試箱的前側面采用透明玻璃材質，且測試箱的前側板可拆卸設置。

10、本發(fā)明具有以下有益效果：

11、本發(fā)明通過在升降的方框架內安裝有探針板，且探針板上矩形陣列安裝有多個金屬探針，因此，方框架垂直下降，進而探針板上矩陣安裝的多個金屬探針會分別接觸到pcb板上開設的待測試的測試孔內，然后表針驅動機構驅動測試表針在探針板上方滑移分別與不同點位的金屬探針頂端面接觸，而金屬探針能夠起到導電連通的作用，進而也就不需要有一定壓力的測試表針因頻繁與pcb板接觸，而造成pcb板產(chǎn)生損傷或磨損的現(xiàn)象；同時其他未與測試表針導電連通的金屬探針可以對pcb板起到接觸壓緊的作用，防止測試表針在多個金屬探針頂端面滑移連接進行電阻測試時，pcb板在輸送帶組件上發(fā)生滑移或歪斜的現(xiàn)象，進而影響pcb板電阻測試的穩(wěn)定性。

12、本發(fā)明通過壓緊板和鎖緊組件的配合，壓緊板上開設的方形卡槽可以將絕緣板壓緊固定到方框架上，然后扭轉螺母，使其帶動壓緊墊圈沿著螺紋桿向下運動，使得螺母能夠將壓緊長條鎖緊固定在壓緊板的上表面，從而使得壓緊板能夠安全牢固的安裝到方框架上，實現(xiàn)對多個金屬探針的限位固定，防止金屬探針與pcb板接觸時，金屬探針發(fā)生歪斜或晃動的現(xiàn)象，而限位槽孔內放入的緩沖墊圈能夠對金屬探針起到彈性緩沖的作用，防止多個金屬探針下降與pcb板接觸時，因金屬探針的剛性安裝而對pcb板表面產(chǎn)生損傷。

13、當然，實施本發(fā)明的任一產(chǎn)品并不一定需要同時達到以上所述的所有優(yōu)點。

技術特征：

1.一種用于環(huán)保設備的pcb電子元件電阻測試系統(tǒng)，其特征在于，包括上料模塊，所述上料模塊采用輸送帶組件（1）用于將待測試的pcb電子元件輸送到測試模塊下方，所述測試模塊包括測試箱（2）、探針接觸機構（3）和表針驅動機構（5），所述測試箱（2）懸空固定在上料模塊上方，且測試箱（2）內升降安裝有探針接觸機構（3），所述探針接觸機構（3）上方設置有表針驅動機構（5），所述表針驅動機構（5）用于表針驅動機構（5）的測試表針（58）與探針接觸機構（3）上的多個測試探測分別進行導電連通。

2.根據(jù)權利要求1所述的一種用于環(huán)保設備的pcb電子元件電阻測試系統(tǒng)，其特征在于，所述探針接觸機構（3）包括方框架（31）、連接角塊（32）、探針板（33）、金屬探針（34）和升降氣缸（35），所述方框架（31）懸空設置在測試箱（2）內，且方框架（31）的外框體上固定有至少四個連接角塊（32），所述方框架（31）上安裝有探針板（33），且探針板（33）矩陣安裝有多個金屬探針（34），每個所述連接角塊（32）與豎向設置的升降氣缸（35）的活塞桿連接，且豎向的升降氣缸（35）的缸體頂端部固定有測試箱（2）的頂部，多個所述金屬探針（34）分別與待測試的pcb電子元件的測試孔接觸。

3.根據(jù)權利要求2所述的一種用于環(huán)保設備的pcb電子元件電阻測試系統(tǒng)，其特征在于，所述探針接觸機構（3）還包括絕緣板（36）、壓緊板（37）、限位柱（38）和緩沖墊圈（39），所述探針板（33）的上表面連接有絕緣板（36），且絕緣板（36）的尺寸大于探針板（33）的尺寸，所述方框架（31）的上表面形成方形凹槽（311），且方形凹槽（311）內插接有絕緣板（36），所述壓緊板（37）貼合到方框架（31）上表面，且壓緊板（37）下表面向上開設有方形卡槽（371），所述壓緊板（37）的厚度等于方形凹槽（311）和方形卡槽（371）兩者之和的深度，所述金屬探針（34）頂端面伸出壓緊板（37）的頂端面，且與壓緊板（37）的頂端面平齊，絕緣板（36）和方形卡槽（371）的槽底對應開設有限位槽孔（372），所述金屬探針（34）的針體上形成有限位柱（38），且限位柱（38）插入到限槽孔內，所述限位槽孔（372）的孔底和孔頂部均設置有緩沖墊圈（39），且緩沖墊圈（39）套接在金屬探針（34）的針體上。

4.根據(jù)權利要求3所述的一種用于環(huán)保設備的pcb電子元件電阻測試系統(tǒng)，其特征在于，四個所述連接角塊（32）分別固定在方框架（31）的四個拐角處，且連接角塊（32）的厚度大于方框架（31）的厚度，所述方框架（31）和壓緊板（37）的四個拐角均為圓弧拐角，所述連接角塊（32）與拐角貼合處也為圓弧設置，每個所述連接角塊（32）上均設置有鎖緊組件（4）。

5.根據(jù)權利要求4所述的一種用于環(huán)保設備的pcb電子元件電阻測試系統(tǒng)，其特征在于，所述鎖緊組件（4）包括螺紋桿（41）、壓緊長條（42）、壓緊墊圈（43）、螺母（44）和連接螺釘（45），所述連接角塊（32）的上表面形成有插接孔（321），且插接孔（321）內豎向插接有螺紋桿（41），所述螺紋桿（41）上套接壓緊長條（42），且壓緊長條（42）的下表面貼合到壓緊板（37）上，所述壓緊長條（42）上表面依次貼合有壓緊墊圈（43）和螺母（44），且壓緊墊圈（43）和螺母（44）均套接在螺紋桿（41）上，所述連接角塊（32）的下表面向上開設有螺紋穿孔（322），且螺紋穿孔（322）向上開設到螺紋桿（41）內部，所述螺紋穿孔（322）內螺紋連接有連接螺釘（45），且連接螺釘（45）的釘頭位于連接角塊（32）的下表面。

6.根據(jù)權利要求3所述的一種用于環(huán)保設備的pcb電子元件電阻測試系統(tǒng)，其特征在于，所述表針驅動機構（5）包括支撐立塊（51）、傳動絲杠（52）、懸空滑塊（53）、懸空長條（54）、支撐耳塊（55）、雙旋向絲杠（56）、安裝塊（57）和測試表針（58），對稱的所述支撐立塊（51）也通過對稱的升降氣缸（35）懸空設置測試箱（2）內部前后壁面處，且兩者之間轉動安裝有傳動絲杠（52），所述傳動絲杠（52）上通過絲杠螺母（44）套接有懸空滑塊（53），所述懸空滑塊（53）的下表面左右水平固定有懸空長條（54），且懸空長條（54）的兩端部固定有支撐耳塊（55），對稱的所述支撐耳塊（55）之間轉動安裝有雙旋向絲杠（56），且雙旋向絲杠（56）上通過對稱的絲杠螺母（44）對稱套接有安裝塊（57），每個所述安裝塊（57）的下表面可拆卸安裝有測試表針（58）。

7.根據(jù)權利要求1所述的一種用于環(huán)保設備的pcb電子元件電阻測試系統(tǒng)，其特征在于，對稱的所述輸送帶組件（1）對稱側面上開設有移動槽，且對稱的移動槽。

8.根據(jù)權利要求1所述的一種用于環(huán)保設備的pcb電子元件電阻測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試箱（2）的前側面采用透明玻璃材質，且測試箱（2）的前側板可拆卸設置。

技術總結
本發(fā)明屬于PCB電子元件測試技術領域，特別是涉及一種用于環(huán)保設備的PCB電子元件電阻測試系統(tǒng)，包括上料模塊，上料模塊采用輸送帶組件用于將待測試的PCB電子元件輸送到測試模塊下方，測試模塊包括測試箱、探針接觸機構和表針驅動機構，測試箱懸空固定在上料模塊上方，且測試箱內升降安裝有探針接觸機構，探針接觸機構上方設置有表針驅動機構，表針驅動機構用于表針驅動機構的測試表針與探針接觸機構上的多個測試探測分別進行導電連通；本發(fā)明不會因測試表針頻繁與PCB板接觸，而對其造成磨損或損傷，且還能夠提高PCB板進行電阻測試的準確性。

技術研發(fā)人員：張云飛
受保護的技術使用者：云舟鴻業(yè)（北京）科技有限公司
技術研發(fā)日：
技術公布日：2025/1/9