本發(fā)明涉及測試治具，尤其涉及一種測試治具支架及測試治具。

背景技術：

1、筆記本電腦主板的生產(chǎn)過程中，需要對主板進行功能測試，隨著筆記本電腦主板的快速發(fā)展，主板測試項越來越多，相應的測試時需要多種治具才能完成測試；而不同的測試治具均單獨設計，不僅增加了設計成本，并且數(shù)量增多也會導致存儲成本的提高。

2、目前，主板所用的測試裝置，包括底座和測試治具，底座用于放置待測試主板，測試治具位于底座的上方，并連接上下手動快夾，利用快夾手動控制測試治具的升降。上述測試裝置的結(jié)構(gòu)笨重、精度低，并且手動操作費時費力，人工成本高。

技術實現(xiàn)思路

1、為解決現(xiàn)有技術中存在的至少以上技術問題，本發(fā)明提供了一種測試治具支架及測試治具。

2、本發(fā)明一方面提供一種測試治具支架，包括支架主體、上模組件和下模組件；所述支架主體具有設定高度，并且所述支架主體包括升降驅(qū)動組件；所述上模組件和所述下模組件位于所述支架主體的同一側(cè)，所述上模組件與所述升降驅(qū)動組件連接，所述下模組件與所述支架主體的底部連接；所述升降驅(qū)動組件用于驅(qū)動所述上模組件位于第一位置和第二位置間移動，所述上模組件位于所述第一位置時，所述上模組件和所述下模組件貼合，所述上模組件位于所述第二位置時，所述上模組件和所述下模組件分離。

3、在一些實施例中，所述升降驅(qū)動組件包括驅(qū)動轉(zhuǎn)軸結(jié)構(gòu)、連桿結(jié)構(gòu)和導向結(jié)構(gòu)；所述驅(qū)動轉(zhuǎn)軸結(jié)構(gòu)包括轉(zhuǎn)軸本體和驅(qū)動件，所述驅(qū)動件與所述轉(zhuǎn)軸本體連接，并驅(qū)動所述轉(zhuǎn)軸本體轉(zhuǎn)動；所述連桿結(jié)構(gòu)包括第一連桿、第二連桿和第三連桿，所述第一連桿的一端與所述轉(zhuǎn)軸本體固定連接，所述第二連桿的一端與所述第一連桿的另一端轉(zhuǎn)動連接，所述第二連桿的另一端與所述第三連桿的一端轉(zhuǎn)動連接，所述上模組件與所述第二連桿連接，所述第三連桿的另一端與所述導向結(jié)構(gòu)連接；所述導向結(jié)構(gòu)包括沿升降方向設置的第一導向槽，所述第三連桿的另一端位于所述第一導向槽內(nèi)并用于沿升降方向滑動。

4、在一些實施例中，所述驅(qū)動件包括伺服電機、驅(qū)動輪、傳動帶和動力輪；所述伺服電機的輸出軸與所述驅(qū)動輪連接，所述動力輪固定套設于所述轉(zhuǎn)軸本體上，所述驅(qū)動輪和所述動力輪通過所述傳動帶連接，所述伺服電機驅(qū)動所述傳動帶轉(zhuǎn)動，從而驅(qū)動所述動力輪和所述轉(zhuǎn)軸本體轉(zhuǎn)動。

5、在一些實施例中，所述支架主體包括兩平行且間隔設置的立板，所述轉(zhuǎn)軸本體通過軸承與所述立板轉(zhuǎn)動連接，所述第一導向槽設于所述立板上；所述導向結(jié)構(gòu)還包括第二導向槽，所述第二導向槽設于所述立板上，并且所述第二導向與所述第一導向槽連通；所述第二連桿和所述第三連桿的連接處設有滑動件，所述滑動件位于所述第二導向槽內(nèi)，所述滑動件沿設定弧度滑動，所述第二導向槽呈弧形。

6、在一些實施例中，所述升降驅(qū)動組件還包括導向柱、升降塊和伸縮件；所述導向柱的一端與所述支架主體的底部垂直連接，所述升降塊套設于所述導向柱上，所述升降塊與所述支架主體的底部之間設置所述伸縮件，所述升降塊包括導向邊，所述第二連桿的一端與所述導向邊抵接；所述升降驅(qū)動組件下降時，所述第二連桿的一端沿所述導向邊滑動，并驅(qū)動所述升降塊沿所述導向柱下降；所述升降驅(qū)動組件上升時，所述伸縮件驅(qū)動所述升降塊上升復位，所述第二連桿的一端沿所述導向邊滑動，并且所述升降塊提升所述第二連桿上升復位。

7、在一些實施例中，所述伸縮件包括伸縮彈簧，所述伸縮彈簧套設于所述導向柱上，并且所述伸縮彈簧的一端與所述升降塊抵接，另一端與所述支架主體的底部抵接；和/或所述升降驅(qū)動組件還包括垂直滑軌，所述垂直滑軌位于所述導向柱一側(cè)，并與所述支架主體的底部垂直連接，所述升降塊與所述垂直滑軌滑動連接。

8、在一些實施例中，所述上模組件包括上框架安裝板和上?？蚣?，所述下模組件包括下框架安裝板和下?？蚣埽錾峡蚣馨惭b板與所述升降驅(qū)動組件連接，所述下框架安裝板與所述支架主體連接；所述上框架安裝板和所述上?？蚣?、所述下框架安裝板和所述下?？蚣芊謩e通過快換結(jié)構(gòu)可拆卸連接。

9、在一些實施例中，所述快換結(jié)構(gòu)包括第一連接架、第二連接架、滑動桿和連接柱，所述滑動桿與所述第一連接架滑動連接，所述連接柱垂直設于所述第二連接架；所述滑動桿包括穿孔，所述第一連接架上設有通孔，所述穿孔與所述通孔疊加，所述穿孔包括連接部和鎖定部，所述連接柱的頂端包括釘帽；所述第一連接架和所述第二連接架貼合，并且所述連接柱的所述釘帽依次穿過所述通孔和所述連接部，所述滑動桿在所述第一連接架上滑動，所述鎖定部滑動至所述連接柱位置，并與所述釘帽疊加設置，所述鎖定部的孔徑小于所述釘帽的外徑。

10、在一些實施例中，所述快換結(jié)構(gòu)還包括鎖定結(jié)構(gòu)，所述鎖定結(jié)構(gòu)包括鎖定件和鎖定孔；所述鎖定件設于所述滑動桿上，所述鎖定孔設于所述第一連接架上，所述鎖定件與所述滑動桿同步滑動，所述鎖定部滑動至所述連接柱位置時，所述鎖定件與所述鎖定孔連接鎖定。

11、本發(fā)明另一方面還提供一種測試治具，包括上述測試治具支架。

12、本發(fā)明提供的一種測試治具支架及測試治具，上模組件和下模組件設置在支架主體上，利用升降驅(qū)動組件驅(qū)動上模組件沿設定的路徑自動移動，從而可實現(xiàn)上模組件和下模組件的自動對接，以完成測試；以及上模組件和下模組件設置快換結(jié)構(gòu)，可利用快換結(jié)構(gòu)快速連接/更換所需的治具。本發(fā)明技術方案，測試治具支架自動移動，實現(xiàn)上模組件和下模組件的對接，測試可自動移動，不僅測試精度高、效率高，且可節(jié)省人工成本，以及與上模組件和下模組件可快速拆裝、更換，節(jié)省更換時間，并且可使用更多種類的模塊，使測試治具支架具有更高的通用性。

技術特征：

1.一種測試治具支架，其特征在于，包括支架主體(10)、上模組件(20)和下模組件(30)；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試治具支架，其特征在于，所述升降驅(qū)動組件(11)包括驅(qū)動轉(zhuǎn)軸結(jié)構(gòu)(111)、連桿結(jié)構(gòu)(112)和導向結(jié)構(gòu)(113)；

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試治具支架，其特征在于，所述驅(qū)動件(1112)包括伺服電機(11121)、驅(qū)動輪(11122)、傳動帶(11123)和動力輪(11124)；

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試治具支架，其特征在于，所述支架主體(10)包括兩平行且間隔設置的立板(12)，所述轉(zhuǎn)軸本體(1111)通過軸承與所述立板(12)轉(zhuǎn)動連接，所述第一導向槽(1131)設于所述立板(12)上；

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試治具支架，其特征在于，所述升降驅(qū)動組件(11)還包括導向柱(114)、升降塊(115)和伸縮件(116)；

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試治具支架，其特征在于，所述伸縮件(116)包括伸縮彈簧，所述伸縮彈簧套設于所述導向柱(114)上，并且所述伸縮彈簧的一端與所述升降塊(115)抵接，另一端與所述支架主體(10)的底部抵接；和/或

7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項所述的測試治具支架，其特征在于，所述上模組件(20)包括上框架安裝板(21)和上模框架(22)，所述下模組件(30)包括下框架安裝板(31)和下模框架(32)，所述上框架安裝板(21)與所述升降驅(qū)動組件(11)連接，所述下框架安裝板(31)與所述支架主體(10)連接；

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測試治具支架，其特征在于，所述快換結(jié)構(gòu)(40)包括第一連接架(41)、第二連接架(42)、滑動桿(43)和連接柱(44)，所述滑動桿(43)與所述第一連接架(41)滑動連接，所述連接柱(44)垂直設于所述第二連接架(42)；

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試治具支架，其特征在于，所述快換結(jié)構(gòu)(40)還包括鎖定結(jié)構(gòu)(45)，所述鎖定結(jié)構(gòu)(45)包括鎖定件(451)和鎖定孔(452)；

10.一種測試治具，其特征在于，包括如權(quán)利要求1至9中任一項所述的測試治具支架。

技術總結(jié)
本發(fā)明涉及測試治具技術領域，尤其涉及一種測試治具支架及測試治具，該支架包括支架主體、上模組件和下模組件；支架主體具有設定高度，并且支架主體包括升降驅(qū)動組件；上模組件和下模組件位于支架主體的同一側(cè)，上模組件與升降驅(qū)動組件連接，下模組件與支架主體的底部連接；升降驅(qū)動組件用于驅(qū)動上模組件位于第一位置和第二位置間移動，上模組件位于第一位置時，上模組件和下模組件貼合，上模組件位于第二位置時，上模組件和下模組件分離。本發(fā)明技術方案，測試可自動移動，不僅測試精度高、效率高，且可節(jié)省人工成本，與上模組件和下模組件可快速拆裝、更換，節(jié)省更換時間，可使用更多種類的模塊，使測試治具支架具有更高的通用性。

技術研發(fā)人員：宗海鵬,凌旗,陳小慶,李銀平,靖高見,徐黎明,許鳴,楊震,儲海燕
受保護的技術使用者：合肥聯(lián)寶信息技術有限公司
技術研發(fā)日：
技術公布日：2025/1/9