本發(fā)明涉及l(fā)vds信號監(jiān)測，尤其涉及一種監(jiān)測電路板上lvds信號的裝置。

背景技術(shù)：

1、lvds(low?voltage?differential?signaling)即低電壓差分信號，是一種低功耗、低誤碼率、低串?dāng)_和低輻射差分信號技術(shù)。lvds技術(shù)使用極低的電壓擺幅高速差動(dòng)數(shù)據(jù)傳輸，能夠?qū)崿F(xiàn)點(diǎn)對點(diǎn)或一點(diǎn)對多點(diǎn)的連接，傳輸介質(zhì)可以是銅質(zhì)pcb連線，也可以是平衡電纜。lvds作為一種成熟的差分信號傳輸技術(shù)，已經(jīng)成為現(xiàn)代電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)中不可或缺的一部分。

2、lvds技術(shù)產(chǎn)生的背景是為了解決高速率信號的互連及寬帶信道的應(yīng)用問題。隨著電子設(shè)計(jì)技術(shù)的不斷進(jìn)步，所需傳送的數(shù)據(jù)量越來越大，速度越來越快。傳統(tǒng)的點(diǎn)對點(diǎn)物理層接口如rs-422、rs-485、scsi以及其他數(shù)據(jù)傳輸標(biāo)準(zhǔn)，在速度、噪聲、emi/emc、功耗、成本等方面存在固有的限制，難以滿足實(shí)際應(yīng)用需求。因此，lvds以其固有的低電壓、低功耗和有利于高速傳輸?shù)忍攸c(diǎn)，越來越多地成為寬帶高速系統(tǒng)設(shè)計(jì)的首選接口標(biāo)準(zhǔn)。

3、lvds信號監(jiān)測的技術(shù)背景是基于對高速數(shù)據(jù)傳輸需求的不斷提升，以及對低功耗、低誤碼率、低串?dāng)_和低輻射傳輸技術(shù)的追求。

4、現(xiàn)有技術(shù)中，對于lvds的信號監(jiān)測方案基本還僅限于信號開短路檢測，需要使用開短路板對差分信號逐一分析是哪對信號異?；蛘邞?yīng)用示波器等儀器進(jìn)行較為復(fù)雜的檢測，沒辦法檢測時(shí)同時(shí)反饋所有差分信號的狀態(tài)，只能一一分析后排查，對工程師較為麻煩，并且這些檢測動(dòng)作都較為耗時(shí)無法快捷的實(shí)時(shí)反饋lvds信號狀態(tài)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此，有必要提供一種監(jiān)測電路板上lvds信號的裝置，用以解決現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷。

2、為了解決上述問題，本發(fā)明提供一種監(jiān)測電路板上lvds信號的裝置，包括：

3、信號采樣模塊，與控制端連接，用于采集lvds模擬信號；

4、ad轉(zhuǎn)換模塊，與控制端連接，用于將lvds模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，得到數(shù)字信號采樣值；

5、控制端，用于讀取數(shù)字信號采樣值并處理，根據(jù)預(yù)設(shè)的判斷函數(shù)判斷l(xiāng)vds信號狀態(tài)，將數(shù)字信號采樣值和lvds信號狀態(tài)判斷結(jié)果發(fā)送至顯示屏；

6、顯示屏，與控制端連接，用于顯示所述數(shù)字信號采樣值和lvds信號狀態(tài)判斷結(jié)果。

7、優(yōu)選的，所述裝置還包括：

8、第一轉(zhuǎn)接器，所述第一轉(zhuǎn)接器的一端連接到產(chǎn)品的lvds信號輸出端口，用于接收來自產(chǎn)品的lvds模擬信號；所述第一轉(zhuǎn)接器的另一端連接所述控制端，用于將接收到的lvds模擬信號通過控制端傳遞給信號采樣模塊。

9、優(yōu)選的，所述裝置還包括：

10、第二轉(zhuǎn)接器，所述第二轉(zhuǎn)接器的一端連接控制端；所述第二轉(zhuǎn)接器的另一端連接上位機(jī)，用于將所述數(shù)字信號采樣值和lvds信號狀態(tài)判斷結(jié)果傳輸至上位機(jī)；

11、所述上位機(jī)用于將所述數(shù)字信號采樣值和lvds信號狀態(tài)判斷結(jié)果顯示在上位機(jī)的用戶界面上，以供用戶查看。

12、優(yōu)選的，所述裝置還包括；

13、電源驅(qū)動(dòng)模塊，與控制端連接，用于為所述裝置提供工作電壓。

14、優(yōu)選的，所述信號采樣模塊為lvds接收器芯片，所述lvds接收器芯片的型號為sn65lvds或ds90。

15、優(yōu)選的，所述ad轉(zhuǎn)換模塊為模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc具體用于：

16、根據(jù)需要轉(zhuǎn)換的lvds模擬信號，選擇相應(yīng)的adc輸入通道；

17、對待轉(zhuǎn)換的lvds模擬信號進(jìn)行采樣；

18、啟動(dòng)adc轉(zhuǎn)換，將lvds模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，得到數(shù)字信號采樣值。

19、優(yōu)選的，所述控制端為stm32微控制器；所述顯示屏為薄膜晶體管液晶顯示器。

20、優(yōu)選的，所述控制端具體用于：

21、初始化系統(tǒng)配置；

22、設(shè)置定時(shí)器以控制lvds模擬信號采樣的頻率；

23、根據(jù)設(shè)定頻率持續(xù)通過ad轉(zhuǎn)換模塊讀取數(shù)字信號采樣值。

24、基于所述數(shù)字信號采樣值，通過轉(zhuǎn)換函數(shù)將字符串轉(zhuǎn)換為數(shù)字后，再通過預(yù)設(shè)的判斷函數(shù)判斷l(xiāng)vds信號狀態(tài)，將所述數(shù)字信號采樣值和lvds信號狀態(tài)判斷結(jié)果發(fā)送至顯示屏。

25、本發(fā)明提供的監(jiān)測電路板上lvds信號的裝置，與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有如下有益效果：

26、1)本發(fā)明提供的監(jiān)測電路板上lvds信號的裝置，能夠?qū)崟r(shí)地采集、轉(zhuǎn)換并顯示lvds信號的狀態(tài)，無需像傳統(tǒng)方法那樣使用開短路板逐一分析或依賴示波器進(jìn)行復(fù)雜檢測，大大縮短了lvds信號檢測時(shí)間，提高了工作效率。

27、2)通過本裝置實(shí)時(shí)反饋lvds信號的狀態(tài)，能夠即時(shí)了解到所有l(wèi)vds信號的狀態(tài)，從而迅速定位并解決問題，避免了傳統(tǒng)方法中逐一排查的繁瑣過程。

28、3)在產(chǎn)品出貨前利用本裝置執(zhí)行l(wèi)vds信號監(jiān)測工序，可以提前發(fā)現(xiàn)lvds信號異常的不良品，從而降低不良率，提升產(chǎn)品質(zhì)量。

技術(shù)特征：

1.一種監(jiān)測電路板上lvds信號的裝置，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的監(jiān)測電路板上lvds信號的裝置，其特征在于，還包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的監(jiān)測電路板上lvds信號的裝置，其特征在于，還包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的監(jiān)測電路板上lvds信號的裝置，其特征在于，還包括；

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的監(jiān)測電路板上lvds信號的裝置，其特征在于，所述信號采樣模塊為lvds接收器芯片，所述lvds接收器芯片的型號為sn65lvds或ds90。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的監(jiān)測電路板上lvds信號的裝置，其特征在于，所述ad轉(zhuǎn)換模塊為模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器adc具體用于：

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的監(jiān)測電路板上lvds信號的裝置，其特征在于，所述控制端為stm32微控制器；所述顯示屏為薄膜晶體管液晶顯示器。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的監(jiān)測電路板上lvds信號的裝置，其特征在于，所述控制端具體用于：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種監(jiān)測電路板上LVDS信號的裝置，包括信號采樣模塊、AD轉(zhuǎn)換模塊、控制端和顯示屏，其中，信號采樣模塊用于采集LVDS模擬信號，AD轉(zhuǎn)換模塊用于將LVDS模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，得到數(shù)字信號采樣值；控制端用于讀取并處理數(shù)字信號采樣值，根據(jù)預(yù)設(shè)的判斷函數(shù)判斷LVDS信號狀態(tài)，將數(shù)字信號采樣值和LVDS信號狀態(tài)判斷結(jié)果發(fā)送至顯示屏。本發(fā)明提供的監(jiān)測電路板上LVDS信號的裝置，能夠?qū)崟r(shí)地采集、轉(zhuǎn)換并顯示LVDS信號的狀態(tài)，大大縮短了LVDS信號檢測時(shí)間，提高了工作效率。在產(chǎn)品出貨前利用本裝置執(zhí)行LVDS信號監(jiān)測工序，可以提前發(fā)現(xiàn)LVDS信號異常的不良品，提升產(chǎn)品質(zhì)量。

技術(shù)研發(fā)人員：劉杰昊,郭琳,劉晉熙,趙楊
受保護(hù)的技術(shù)使用者：精電（河源）顯示技術(shù)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/6