1.一種電子元器件外觀缺陷檢測設(shè)備，包括底座(1)、兩個(gè)傳送組件、兩個(gè)拍攝模塊(2)和兩個(gè)圖像檢測模塊(3)，其特征在于，所述底座(1)上設(shè)有抓取翻轉(zhuǎn)部件，所述抓取翻轉(zhuǎn)部件位于兩個(gè)傳送組件之間，兩個(gè)所述傳送組件上均設(shè)有拍攝輔助結(jié)構(gòu)，兩個(gè)所述拍攝模塊(2)分別設(shè)置在兩個(gè)拍攝輔助結(jié)構(gòu)上；
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元器件外觀缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)部件包括齒圈(11)、齒輪件(12)、兩個(gè)錐齒輪(42)、皮帶件(13)和兩個(gè)皮帶輪(14)，所述齒圈(11)固定連接在旋轉(zhuǎn)環(huán)(10)上，所述底座(1)上設(shè)有支架一(40)和兩個(gè)支架二(41)，所述齒輪件(12)轉(zhuǎn)動(dòng)連接在支架一(40)上，所述齒輪件(12)與齒圈(11)相嚙合，兩個(gè)所述錐齒輪(42)分別轉(zhuǎn)動(dòng)連接在兩個(gè)支架二(41)上，兩個(gè)所述錐齒輪(42)相互嚙合，其中一個(gè)所述錐齒輪(42)與齒輪件(12)相連，兩個(gè)所述皮帶輪(14)分別設(shè)置在另一個(gè)錐齒輪(42)和驅(qū)動(dòng)電機(jī)(5)的輸出軸上，兩個(gè)所述皮帶件(13)的兩端設(shè)置在兩個(gè)皮帶輪(14)上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電子元器件外觀缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，還包括滑板(15)和連接架(16)，所述滑板(15)滑動(dòng)連接在底座(1)上，所述支架一(40)和環(huán)形架(9)均固定連接在滑板(15)上，所述齒輪件(12)的一側(cè)壁上設(shè)有往復(fù)槽(17)，所述往復(fù)槽(17)內(nèi)滑動(dòng)連接有往復(fù)柱(18)，所述往復(fù)柱(18)和往復(fù)槽(17)之間通過往復(fù)彈簧(19)相連，所述往復(fù)柱(18)的另一端固定連接在其中一個(gè)錐齒輪(42)上，所述連接架(16)的兩端均固定連接在環(huán)形架(9)上，所述連接架(16)的上端面上設(shè)有伸縮槽(20)，所述伸縮槽(20)內(nèi)滑動(dòng)連接有伸縮塊(21)，所述伸縮塊(21)的一端呈斜面結(jié)構(gòu)，所述伸縮塊(21)和伸縮槽(20)之間通過伸縮彈簧(22)相連，多個(gè)所述盛放臺(8)的下端面上均設(shè)有攔截塊(23)，多個(gè)所述攔截塊(23)均與伸縮塊(21)相匹配。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種電子元器件外觀缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，所述環(huán)形架(9)和旋轉(zhuǎn)環(huán)(10)之間設(shè)有調(diào)控結(jié)構(gòu)，所述調(diào)控結(jié)構(gòu)包括調(diào)控環(huán)(24)、凸塊組(25)和升降架(26)，所述調(diào)控環(huán)(24)固定連接在環(huán)形架(9)上，所述凸塊組(25)固定連接在調(diào)控環(huán)(24)的內(nèi)壁上，所述旋轉(zhuǎn)環(huán)(10)上設(shè)有升降口(27)，所述升降架(26)滑動(dòng)連接在升降口(27)內(nèi)，所述拍攝模塊(2)設(shè)置在升降架(26)上，所述升降架(26)的一側(cè)壁上設(shè)有升降槽(28)，所述升降槽(28)內(nèi)通過升降彈簧(29)滑動(dòng)連接有升降塊(30)，所述升降塊(30)固定連接在升降口(27)的內(nèi)壁上。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種電子元器件外觀缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，所述抓取翻轉(zhuǎn)部件包括懸架(31)、往復(fù)滑軌(32)、升降氣缸(33)、u形架(34)、夾持氣缸(35)、翻轉(zhuǎn)電機(jī)(43)和兩個(gè)夾爪(36)，所述往復(fù)滑軌(32)設(shè)置在懸架(31)上，且懸架(31)設(shè)置在底座(1)上，所述u形架(34)設(shè)置在升降氣缸(33)上，且升降氣缸(33)設(shè)置在往復(fù)滑軌(32)上，兩個(gè)所述夾爪(36)分別設(shè)置在夾持氣缸(35)和翻轉(zhuǎn)電機(jī)(43)上，且夾持氣缸(35)和翻轉(zhuǎn)電機(jī)(43)設(shè)置在u形架(34)的兩端。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種電子元器件外觀缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，兩個(gè)所述傳動(dòng)輥(6)上均設(shè)有缺口(37)，兩個(gè)所述缺口(37)與多個(gè)攔截塊(23)的位置相匹配。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種電子元器件外觀缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，所述伸縮槽(20)的一側(cè)內(nèi)壁上設(shè)有限位槽(38)，伸縮限位槽(38)內(nèi)滑動(dòng)連接有限位塊(39)，所述限位塊(39)固定連接在伸縮塊(21)上。
8.一種根據(jù)權(quán)利要求7所述的電子元器件外觀缺陷檢測設(shè)備的檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：