本技術(shù)涉及電阻檢測(cè)，尤其涉及一種隔離電阻檢測(cè)電路。

背景技術(shù)：

1、隨著社會(huì)的發(fā)展，高壓供電電路也在各個(gè)領(lǐng)域的使用越來越多，這也對(duì)高壓供電電路中電阻阻值的檢測(cè)提出了更高的要求。

2、傳統(tǒng)高壓供電電路中緩沖電阻阻值的檢測(cè)電路是通過標(biāo)準(zhǔn)電壓和標(biāo)準(zhǔn)電阻與被測(cè)電阻串聯(lián)，通過mcu(microcontroller?unit，微控制單元)檢測(cè)被測(cè)電阻兩端電壓，這種電阻阻值的檢測(cè)電路存在很大缺陷，會(huì)存在被測(cè)電阻需要與mcu共地，當(dāng)被測(cè)電阻安裝在高壓供電電路主回路中容易導(dǎo)致mcu損壞的現(xiàn)象發(fā)生，因此，急需一種新的電阻阻值的檢測(cè)電路來實(shí)現(xiàn)高壓供電電路中電阻檢測(cè)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本實(shí)用新型的主要目的在于提出一種隔離電阻檢測(cè)電路及裝置，旨在如何實(shí)現(xiàn)高壓供電電路中電阻檢測(cè)的問題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供一種隔離電阻檢測(cè)電路，所述隔離電阻檢測(cè)電路包括基準(zhǔn)電源電路、并聯(lián)電阻電路和隔離測(cè)試電路；

3、所述并聯(lián)電阻電路的第一端分別與高壓供電電路中的待測(cè)電阻的第一端、所述隔離測(cè)試電路和所述基準(zhǔn)電源電路連接，所述并聯(lián)電阻電路的第二端分別與所述待測(cè)電阻的第二端、所述隔離測(cè)試電路和所述基準(zhǔn)電源電路連接；

4、其中，所述隔離測(cè)試電路用于檢測(cè)所述待測(cè)電阻的阻值。

5、可選地，所述并聯(lián)電阻電路包括并聯(lián)電阻，所述并聯(lián)電阻的第一端分別與待測(cè)電阻的第一端、所述隔離測(cè)試電路和所述基準(zhǔn)電源電路連接，所述并聯(lián)電阻的分別與待測(cè)電阻的第二端、所述隔離測(cè)試電路和所述基準(zhǔn)電源電路連接。

6、可選地，所述基準(zhǔn)電源電路包括隔離基準(zhǔn)電源，所述隔離基準(zhǔn)電源的第一端與所述并聯(lián)電阻的第一端連接，所述隔離基準(zhǔn)電源的第二端與所述并聯(lián)電阻的第二端連接。

7、可選地，所述基準(zhǔn)電源電路還包括分壓電阻，所述分壓電阻的第一端與所述并聯(lián)電阻的第一端連接，所述分壓電阻的第二端與所述隔離基準(zhǔn)電源的第一端連接，所述隔離基準(zhǔn)電源的第二端與所述并聯(lián)電阻的第二端連接，或，所述分壓電阻的第二端與所述并聯(lián)電阻的第二端連接，所述分壓電阻的第一端與所述隔離基準(zhǔn)電源的第二端連接，所述隔離基準(zhǔn)電源的第一端與所述并聯(lián)電阻的第一端連接。

8、可選地，所述隔離電阻檢測(cè)電路還包括控制開關(guān)，所述控制開關(guān)的第一端與所述并聯(lián)電阻的第一端連接，所述控制開關(guān)的第二端與所述待測(cè)電阻的第一端連接，或，所述控制開關(guān)的第一端與所述并聯(lián)電阻的第二端連接，所述控制開關(guān)的第二端與所述待測(cè)電阻的第二端連接。

9、可選地，所述控制開關(guān)包括繼電器開關(guān)。

10、可選地，所述隔離測(cè)試電路包括微控芯片，所述微控芯片的輸入端與所述并聯(lián)電阻的第一端和所述并聯(lián)電阻的第二端連接。

11、可選地，所述隔離測(cè)試電路還包括隔離放大器和運(yùn)算放大器，所述隔離放大器的第一輸入端與所述并聯(lián)電阻的第一端連接，所述隔離放大器的第二輸入端與所述并聯(lián)電阻的第二端連接，所述隔離放大器的輸出端與所述運(yùn)算放大器的輸入端連接，所述運(yùn)算放大器的輸出端與所述微控芯片的輸入端連接。

12、可選地，所述運(yùn)算放大器的輸入端包括第一運(yùn)放輸入端和第二運(yùn)放輸入端，所述隔離放大器的輸出端包括第一隔離輸出端和第二隔離輸出端，所述第一運(yùn)放輸入端與所述第一隔離輸出端連接，所述第二運(yùn)放輸入端與所述第二隔離輸出端連接。

13、可選地，所述隔離放大器的隔離接地端口與所述微控芯片的芯片接地端口連接。

14、本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N隔離電阻檢測(cè)電路，該電路包括隔離電阻檢測(cè)電路包括基準(zhǔn)電源電路、并聯(lián)電阻電路和隔離測(cè)試電路；所述并聯(lián)電阻電路的第一端分別與高壓供電電路中的待測(cè)電阻的第一端、所述隔離測(cè)試電路和所述基準(zhǔn)電源電路連接，所述并聯(lián)電阻電路的第二端分別與所述待測(cè)電阻的第二端、所述隔離測(cè)試電路和所述基準(zhǔn)電源電路連接；其中，所述隔離測(cè)試電路用于檢測(cè)所述待測(cè)電阻的阻值。通過在基準(zhǔn)電源電路、并聯(lián)電阻電路和隔離測(cè)試電路的連接關(guān)系，進(jìn)而通過隔離測(cè)試電路檢測(cè)待測(cè)電阻的阻值，從而避免了現(xiàn)有技術(shù)中被測(cè)電阻需要與mcu共地，當(dāng)被測(cè)電阻安裝在高壓供電電路主回路中容易導(dǎo)致mcu損壞的現(xiàn)象發(fā)生，這種隔離電阻檢測(cè)電路可以避免直接mcu測(cè)量造成mcu損壞，進(jìn)而可以在保證mcu的安全的同時(shí)實(shí)現(xiàn)高壓供電電路中電阻檢測(cè)。

技術(shù)特征：

1.一種隔離電阻檢測(cè)電路，其特征在于，所述隔離電阻檢測(cè)電路包括基準(zhǔn)電源電路、并聯(lián)電阻電路和隔離測(cè)試電路；

2.如權(quán)利要求1所述隔離電阻檢測(cè)電路，其特征在于，所述并聯(lián)電阻電路包括并聯(lián)電阻，所述并聯(lián)電阻的第一端分別與待測(cè)電阻的第一端、所述隔離測(cè)試電路和所述基準(zhǔn)電源電路連接，所述并聯(lián)電阻的分別與待測(cè)電阻的第二端、所述隔離測(cè)試電路和所述基準(zhǔn)電源電路連接。

3.如權(quán)利要求2所述隔離電阻檢測(cè)電路，其特征在于，所述基準(zhǔn)電源電路包括隔離基準(zhǔn)電源，所述隔離基準(zhǔn)電源的第一端與所述并聯(lián)電阻的第一端連接，所述隔離基準(zhǔn)電源的第二端與所述并聯(lián)電阻的第二端連接。

4.如權(quán)利要求3所述隔離電阻檢測(cè)電路，其特征在于，所述基準(zhǔn)電源電路還包括分壓電阻，所述分壓電阻的第一端與所述并聯(lián)電阻的第一端連接，所述分壓電阻的第二端與所述隔離基準(zhǔn)電源的第一端連接，所述隔離基準(zhǔn)電源的第二端與所述并聯(lián)電阻的第二端連接，或，所述分壓電阻的第二端與所述并聯(lián)電阻的第二端連接，所述分壓電阻的第一端與所述隔離基準(zhǔn)電源的第二端連接，所述隔離基準(zhǔn)電源的第一端與所述并聯(lián)電阻的第一端連接。

5.如權(quán)利要求2所述隔離電阻檢測(cè)電路，其特征在于，所述隔離電阻檢測(cè)電路還包括控制開關(guān)，所述控制開關(guān)的第一端與所述并聯(lián)電阻的第一端連接，所述控制開關(guān)的第二端與所述待測(cè)電阻的第一端連接，或，所述控制開關(guān)的第一端與所述并聯(lián)電阻的第二端連接，所述控制開關(guān)的第二端與所述待測(cè)電阻的第二端連接。

6.如權(quán)利要求5所述隔離電阻檢測(cè)電路，其特征在于，所述控制開關(guān)包括繼電器開關(guān)。

7.如權(quán)利要求2所述隔離電阻檢測(cè)電路，其特征在于，所述隔離測(cè)試電路包括微控芯片，所述微控芯片的輸入端與所述并聯(lián)電阻的第一端和所述并聯(lián)電阻的第二端連接。

8.如權(quán)利要求7所述隔離電阻檢測(cè)電路，其特征在于，所述隔離測(cè)試電路還包括隔離放大器和運(yùn)算放大器，所述隔離放大器的第一輸入端與所述并聯(lián)電阻的第一端連接，所述隔離放大器的第二輸入端與所述并聯(lián)電阻的第二端連接，所述隔離放大器的輸出端與所述運(yùn)算放大器的輸入端連接，所述運(yùn)算放大器的輸出端與所述微控芯片的輸入端連接。

9.如權(quán)利要求8所述隔離電阻檢測(cè)電路，其特征在于，所述運(yùn)算放大器的輸入端包括第一運(yùn)放輸入端和第二運(yùn)放輸入端，所述隔離放大器的輸出端包括第一隔離輸出端和第二隔離輸出端，所述第一運(yùn)放輸入端與所述第一隔離輸出端連接，所述第二運(yùn)放輸入端與所述第二隔離輸出端連接。

10.如權(quán)利要求9所述隔離電阻檢測(cè)電路，其特征在于，所述隔離放大器的隔離接地端口與所述微控芯片的芯片接地端口連接。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)涉及電阻檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，并公開了一種隔離電阻檢測(cè)電路，該電路包括：基準(zhǔn)電源電路、并聯(lián)電阻電路和隔離測(cè)試電路；所述并聯(lián)電阻電路的第一端分別與高壓供電電路中的待測(cè)電阻的第一端、所述隔離測(cè)試電路和所述基準(zhǔn)電源電路連接，所述并聯(lián)電阻電路的第二端分別與所述待測(cè)電阻的第二端、所述隔離測(cè)試電路和所述基準(zhǔn)電源電路連接；其中，所述隔離測(cè)試電路用于檢測(cè)所述待測(cè)電阻的阻值。本申請(qǐng)實(shí)現(xiàn)了高壓供電電路中電阻檢測(cè)。

技術(shù)研發(fā)人員：李欲強(qiáng)
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市匯川技術(shù)股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20231225
技術(shù)公布日：2024/12/26