本技術(shù)涉及電容器檢測(cè)設(shè)備，具體為一種片式電容器的高溫測(cè)試裝置。

背景技術(shù)：

1、片式電容器（mlcc）在電子行業(yè)中扮演著核心角色，特別是在高度集成的電子設(shè)備中。這些電容器因其多層陶瓷介電體和緊湊的金屬電極層而得名，能夠在極小的體積內(nèi)提供相對(duì)較高的電容量。mlcc的高溫測(cè)試至關(guān)重要，因?yàn)樗鼈兺ǔＳ糜诟邷丨h(huán)境，如車載電子系統(tǒng)、工業(yè)控制設(shè)備以及其他高性能應(yīng)用。在這些環(huán)境中，mlcc必須能夠承受長(zhǎng)期的高溫影響而不損失性能，因此，對(duì)其熱穩(wěn)定性、電容一致性及長(zhǎng)期可靠性進(jìn)行全面測(cè)試是確保其在苛刻環(huán)境中穩(wěn)定運(yùn)行的關(guān)鍵。

2、然而，在傳統(tǒng)的高溫測(cè)試方法中，通常通過烘箱對(duì)mlcc進(jìn)行加熱處理，直至觀察到其膨脹或爆炸，隨后記錄其失效溫度。這種方法的主要問題在于它無法提供關(guān)于電容器在不同溫度階段的詳細(xì)性能數(shù)據(jù)，只能確定其最終的失效點(diǎn)。此外，這種方法效率較低，因?yàn)樾枰獑为?dú)監(jiān)控每個(gè)測(cè)試樣品，且在電容器熱應(yīng)力下的表現(xiàn)缺乏連續(xù)的數(shù)據(jù)記錄。這導(dǎo)致了對(duì)mlcc在不同工作條件下的行為分析不夠全面，難以精確評(píng)估其在實(shí)際應(yīng)用中的可靠性和穩(wěn)定性。因此，需要一種更為高效、能夠提供連續(xù)性能監(jiān)測(cè)的高溫測(cè)試方法。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本實(shí)用新型的目的在于提供一種片式電容器的高溫測(cè)試裝置，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案：一種片式電容器的高溫測(cè)試裝置，包括機(jī)箱，其特征在于：所述機(jī)箱的內(nèi)側(cè)設(shè)置有高溫檢測(cè)機(jī)構(gòu)；

3、所述高溫檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括有：

4、加熱單元，所述加熱單元設(shè)置在機(jī)箱內(nèi)部；

5、測(cè)試座，所述測(cè)試座可拆卸的設(shè)置在加熱單元的下端，所述測(cè)試座的表面設(shè)置若干個(gè)第一電極和第二電極；

6、供電單元，所述供電單元設(shè)置在機(jī)箱內(nèi)部，所述供電單元與第一電極連接；

7、顯示單元，所述顯示單元設(shè)置在機(jī)箱內(nèi)部，所述顯示單元與第二電極連接。

8、優(yōu)選的，所述測(cè)試座內(nèi)部設(shè)置有隔熱部，所述隔熱部的內(nèi)部設(shè)置有若干個(gè)貫穿測(cè)試座的導(dǎo)向管。

9、優(yōu)選的，所述測(cè)試座的上端面設(shè)置有防護(hù)罩，所述防護(hù)罩旨在減少電容器爆炸影響。

10、優(yōu)選的，所述機(jī)箱的側(cè)面設(shè)置有觀察窗，所述觀察窗旨在測(cè)試過程中對(duì)機(jī)箱內(nèi)部情況觀察。

11、優(yōu)選的，所述隔熱部為隔熱陶瓷。

12、優(yōu)選的，所述導(dǎo)向管的端部設(shè)置有隔熱密封套，所述隔熱密封套旨在減少熱量擴(kuò)散。

13、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果是：

14、該一種片式電容器的高溫測(cè)試裝置，設(shè)置有高溫檢測(cè)機(jī)構(gòu)，高溫檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括加熱單元、測(cè)試座、第一電極、第二電極、供電單元、顯示單元，通過將加熱單元、測(cè)試座、供電單元和顯示單元集成于一體，提高了操作便捷性和測(cè)試效率，此外，測(cè)試座將機(jī)箱內(nèi)部加熱部進(jìn)行限制，避免下方單元受到影響；

15、該一種片式電容器的高溫測(cè)試裝置，通過設(shè)置隔熱部可進(jìn)一步隔絕機(jī)箱上部分的高溫，避免下方供電單元以及顯示單元受到影響，通過設(shè)置導(dǎo)向管可為導(dǎo)線提供穿插條件，簡(jiǎn)化了各個(gè)單元的連接過程，減少了片式電容器高溫測(cè)試工作量，提高了操作便捷性。

技術(shù)特征：

1.一種片式電容器的高溫測(cè)試裝置，包括機(jī)箱（1），其特征在于：所述機(jī)箱（1）的內(nèi)側(cè)設(shè)置有高溫檢測(cè)機(jī)構(gòu)（2）；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種片式電容器的高溫測(cè)試裝置，其特征在于：所述測(cè)試座（202）內(nèi)部設(shè)置有隔熱部（3），所述隔熱部（3）的內(nèi)部設(shè)置有若干個(gè)貫穿測(cè)試座（202）的導(dǎo)向管（4）。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種片式電容器的高溫測(cè)試裝置，其特征在于：所述測(cè)試座（202）的上端面設(shè)置有防護(hù)罩（5），所述防護(hù)罩（5）旨在減少電容器爆炸影響。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種片式電容器的高溫測(cè)試裝置，其特征在于：所述機(jī)箱（1）的側(cè)面設(shè)置有觀察窗（6），所述觀察窗（6）旨在測(cè)試過程中對(duì)機(jī)箱（1）內(nèi)部情況觀察。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種片式電容器的高溫測(cè)試裝置，其特征在于：所述隔熱部（3）為隔熱陶瓷。

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種片式電容器的高溫測(cè)試裝置，其特征在于：所述導(dǎo)向管（4）的端部設(shè)置有隔熱密封套（7），所述隔熱密封套（7）旨在減少熱量擴(kuò)散。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開了一種片式電容器的高溫測(cè)試裝置，包括機(jī)箱，所述機(jī)箱的內(nèi)側(cè)設(shè)置有高溫檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述高溫檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括有加熱單元、測(cè)試座、第一電極、第二電極、供電單元、顯示單元；本技術(shù)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，設(shè)計(jì)合理，通過將加熱單元、測(cè)試座、供電單元和顯示單元集成于一體，提高了操作便捷性和測(cè)試效率，此外，測(cè)試座將機(jī)箱內(nèi)部加熱部進(jìn)行限制，避免下方單元受到影響，通過設(shè)置隔熱部可進(jìn)一步隔絕機(jī)箱上部分的高溫，避免下方供電單元以及顯示單元受到影響，通過設(shè)置導(dǎo)向管可為導(dǎo)線提供穿插條件，簡(jiǎn)化了各個(gè)單元的連接過程，減少了片式電容器高溫測(cè)試工作量，提高了操作便捷性。

技術(shù)研發(fā)人員：李潔
受保護(hù)的技術(shù)使用者：南通星晨電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20231213
技術(shù)公布日：2024/12/26