本發(fā)明涉及一種原子吸光光度計。
背景技術(shù):
1、為了對飲用水等液體試樣中所含的金屬等元素進行定量,使用了原子吸光光度計(例如專利文獻(xiàn)1)。在原子吸光光度計中,將液體試樣熱分解而生成原子蒸氣,對所述原子蒸氣照射光來測定吸光度。
2、原子吸光光度計包括測定部以及自動采樣器。測定部包括:試樣加熱部;光源,對由所述試樣加熱部生成的原子蒸氣照射光;以及檢測器,對穿過了原子蒸氣的光進行檢測,在試樣加熱部設(shè)置有用于注入液體試樣的試樣注入部。自動采樣器包括:試樣載置部,設(shè)置有多個收容了液體試樣的試樣容器;管狀的尖嘴(tip),用于從試樣容器采集液體試樣;臂部,前端安裝有所述尖嘴;以及移動機構(gòu),使所述臂部在試樣采集位置與試樣注入位置之間移動。在分析時,將安裝于自動采樣器的臂部的尖嘴插入至試樣容器的內(nèi)部而采集液體試樣,使所述尖嘴移動而插入至試樣注入部從而將液體試樣注入至試樣加熱部。關(guān)于試樣加熱部,多數(shù)情況下,可使用上表面設(shè)置有作為試樣注入部的開口的石墨制的爐。
3、在此種自動采樣器的情況下,在反復(fù)使用的過程中尖嘴劣化而導(dǎo)致試樣的注入量產(chǎn)生誤差,或尖嘴發(fā)生堵塞而使之前所測定的液體試樣殘留于尖嘴內(nèi)從而導(dǎo)致產(chǎn)生污染。為了防止這些情況,分析人員需要在適宜的時間點更換尖嘴。另外,由于試樣加熱部也在反復(fù)使用的過程中劣化,因此,分析人員在適宜的時間點更換試樣加熱部。此時,由于分析人員通過手工作業(yè)進行尖嘴或試樣加熱部的更換,因此,可能會產(chǎn)生尖嘴在傾斜的狀態(tài)下被安裝于臂部、或試樣加熱部的安裝位置錯位等安裝誤差。在原子吸光光度計中,例如,試樣注入部的開口的大小為直徑1.8mm,尖嘴的外徑為1.5mm,尖嘴的徑向上的兩側(cè)所允許的誤差非常小而為小于0.15mm。若安裝誤差大于此,則尖嘴會與試樣注入部接觸。因此,以往,在更換尖嘴之后,需要進行以尖嘴的前端位于試樣注入部的正上方的方式對臂部的移動控制進行調(diào)整的被稱為示教(teaching)的作業(yè)。在專利文獻(xiàn)2及專利文獻(xiàn)3中,記載了將由配置于同時捕捉尖嘴的前端以及試樣注入部此兩者的位置的照相機獲取的圖像顯示于監(jiān)視器上,分析人員在對所述圖像進行確認(rèn)的同時進行示教。
4、現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
5、專利文獻(xiàn)
6、專利文獻(xiàn)1:日本專利實用新型登記第3127657號
7、專利文獻(xiàn)2:國際公開第2021/124513號
8、專利文獻(xiàn)3:日本專利特開2012-32310號公報
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、發(fā)明所要解決的問題
2、在進行示教時,利用照相機對試樣注入部進行拍攝,在對所述圖像進行確認(rèn)的同時,使尖嘴相對于試樣注入部的開口而到達(dá)正確的位置。但是,在原子吸光光度計中,為了防止熱從試樣加熱部逃逸,除了試樣注入部的附近以外的部分由隔熱構(gòu)件被覆。另外,隔著試樣加熱部而配置的光源以及檢測器也由遮光構(gòu)件被覆。進而,如上所述,試樣加熱部為石墨制的爐,其表面為黑色。因此,即使觀察在由隔熱構(gòu)件或遮光構(gòu)件被覆的暗處對石墨制的爐的表面進行拍攝而得的圖像,也難以知曉設(shè)置于所述表面上的開口的位置,存在難以使尖嘴相對于所述開口而與正確的位置對準(zhǔn)的問題。
3、本發(fā)明所要解決的課題在于提供一種可相對于設(shè)置于原子吸光光度計的試樣加熱部的試樣注入部的開口,而容易地使尖嘴與正確的位置對準(zhǔn)的技術(shù)。
4、解決問題的技術(shù)手段
5、為解決所述課題而成的本發(fā)明的原子吸光光度計,包括:
6、試樣采集部,安裝有用于采集及噴出試樣的尖嘴;
7、試樣加熱部,上表面設(shè)置有用以注入所述試樣的開口;
8、移動機構(gòu),使所述試樣采集部在將試樣采集至所述尖嘴的第一位置與從所述尖嘴向所述開口注入試樣的第二位置之間移動;
9、光照射部,從預(yù)先決定的方向?qū)λ鲩_口照射光;以及
10、圖像獲取部,從與由所述光照射部照射的光的中心軸不同的光軸方向,對所述開口進行拍攝。
11、發(fā)明的效果
12、在本發(fā)明的原子吸光光度計的情況下,通過光照射部從預(yù)先決定的方向?qū)υO(shè)置于試樣加熱部的上表面的開口照射光,并且通過圖像獲取部從與所述光照射部的光軸不同的光軸方向?qū)λ鲩_口進行拍攝。在本發(fā)明的原子吸光光度計的情況下,由于使用具有相互不同的光軸的光照射部以及圖像獲取部來獲取在試樣加熱部的開口的周緣產(chǎn)生明暗的對比度的圖像,因此,可容易地確認(rèn)所述開口的位置,從而使尖嘴與正確的位置對準(zhǔn)。
1.一種原子吸光光度計,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原子吸光光度計,其特征在于,
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原子吸光光度計,其特征在于,
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原子吸光光度計,其特征在于,
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原子吸光光度計,其特征在于,
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原子吸光光度計,其特征在于,
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的原子吸光光度計,其特征在于,
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原子吸光光度計,其特征在于,還包括:
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的原子吸光光度計,其特征在于,
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的原子吸光光度計,其特征在于,
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的原子吸光光度計,其特征在于,
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的原子吸光光度計,其特征在于,
13.根據(jù)權(quán)利要求8所述的原子吸光光度計,其特征在于,還包括: