技術(shù)總結(jié)
本實用新型公開了一種低感測試設(shè)備，包括電流傳感器、穿過電極、外殼電極、吸收電容、上連接板和下連接板；穿過電極從電流傳感器中間的孔中穿過，外殼電極、穿過電極和電流傳感器三者不接觸，外殼電極向兩側(cè)延伸出端部，穿過電極的一端作為測試設(shè)備的一個端口，穿過電極的另一端通過下連接板連接吸收電容的一個電極，吸收電容的另一個電極通過上連接板連接外殼電極的一端，外殼電極的另一端作為測試設(shè)備的另一個端口。本實用新型能夠有效降低寄生電感，提高測試的準(zhǔn)確度。

技術(shù)研發(fā)人員：王玉林;滕鶴松;徐文輝;牛利剛;劉凱
受保護的技術(shù)使用者：揚州國揚電子有限公司
文檔號碼：201720177336
技術(shù)研發(fā)日：2017.02.27
技術(shù)公布日：2017.10.24