1.一種低感測試設(shè)備，其特征在于：包括電流傳感器、穿過電極、外殼電極、吸收電容、上連接板和下連接板；穿過電極從電流傳感器中間的孔中穿過，外殼電極、穿過電極和電流傳感器三者不接觸，外殼電極向兩側(cè)延伸出端部，穿過電極的一端作為測試設(shè)備的一個端口，穿過電極的另一端通過下連接板連接吸收電容的一個電極，吸收電容的另一個電極通過上連接板連接外殼電極的一端，外殼電極的另一端作為測試設(shè)備的另一個端口。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低感測試設(shè)備，其特征在于：還包括設(shè)于上連接板上方的上絕緣壓柱和設(shè)于下連接板下方的下絕緣壓柱；上絕緣壓柱向下壓住上連接板，下絕緣壓柱向上頂住下連接板。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的低感測試設(shè)備，其特征在于：所述上絕緣壓柱和下絕緣壓柱之間通過螺栓連接，螺栓貫穿上連接板和下連接板，且螺栓與上連接板、下連接板均不接觸。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低感測試設(shè)備，其特征在于：所述外殼電極端部與穿過電極端部平行。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低感測試設(shè)備，其特征在于：所述外殼電極罩設(shè)在電流傳感器的局部。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的低感測試設(shè)備，其特征在于：所述電流傳感器僅有引線端露在外面，電流傳感器其他部位均被外殼電極罩住。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低感測試設(shè)備，其特征在于：所述吸收電容的兩個電極平行。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的低感測試設(shè)備，其特征在于：所述吸收電容的兩個電極設(shè)于吸收電容一側(cè)的中間。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低感測試設(shè)備，其特征在于：所述穿過電極位于電流傳感器中間的部分為圓柱狀。