本實用新型涉及平板陶瓷膜的宏觀缺陷檢測技術，特別是一種檢測方法及檢測裝置。

背景技術：

平板陶瓷膜是新興的一種處理水的過濾膜，其在耐候性及耐酸堿蝕方面有巨大優(yōu)勢。但在生產(chǎn)過程中平板陶瓷膜的支撐體及膜層會有宏觀缺陷出現(xiàn)，宏觀缺陷對陶瓷膜的性能有很多的影響，所以在生產(chǎn)過程中需要篩選剔除。

目前，陶瓷平板膜的宏觀缺陷檢測測試主要由工人逐一檢查，甄別出不合格品。人眼檢測的缺點在于易漏選，耗費人力物力，效率低，不適用于大規(guī)模生產(chǎn)。

技術實現(xiàn)要素：

本實用新型的目的在于提供一種方法及裝置可以提高宏觀檢測的效率，降低人力物力消耗，節(jié)約資源，提高檢測效率。

為此本實用新型采用的技術方案是：本實用新型包括主傳送帶（13），主傳送帶（13）前端設置檢測模塊，以及位于所述檢測模塊后端的若干推送模塊；

所述檢測模塊包括前后設置的若干測距傳感模塊及數(shù)據(jù)處理模塊；

所述主傳送帶（13）側部位于所述推送模塊的區(qū)域設置有副傳送帶，所述主傳送帶（13）和副傳送帶垂直設置；

所述推送模塊位于主傳送帶（13）相對副傳送帶的另一側，包括擋板（8）、氣缸（9）、導向桿（10），所述擋板（8）由所述氣缸（9）推動將陶瓷膜推向副傳送帶，所述擋板（8）由位于所述擋板（8）兩側的導向桿（10）導向。

所述檢測模塊包括前后設置的第一測距傳感模塊及數(shù)據(jù)處理模塊（2）和第二測距傳感模塊及數(shù)據(jù)處理模塊（3），各檢測模塊均包括信號發(fā)射裝置、信號接受裝置、信號放大裝置、單片機和儲存裝置。

所述推送模塊還包括升降臺（11），所述升降臺（11）位于所述主傳送帶（13）的上部并可上下升降和陶瓷膜接觸。

所述檢測模塊前端設置清掃除塵模機（1）。

本實用新型的優(yōu)點是：本實用新型采用自動化的檢測裝置，實現(xiàn)了平板陶瓷膜缺陷的自動化識別，相比傳統(tǒng)的人工處理方式，不但處理效率大大提高，同時檢測的精確度也大大提高，適用于工業(yè)化大規(guī)模生產(chǎn)。

附圖說明

圖1 檢測方法流程示意圖；

圖2 檢測裝置結構示意圖；

圖中1為清掃除塵機，2為第一測距傳感模塊及數(shù)據(jù)處理模塊，3為第二測距傳感模塊及數(shù)據(jù)處理模塊，4為廢品區(qū)，5為合格品區(qū)，6為次品一區(qū)，7為次品二區(qū)，8為擋板，9為氣缸，10為導向桿，11為升降臺，12為信號感應處理器，13為主傳送帶，14為廢品傳送帶，15為廢品推送器，16為次品一區(qū)傳送帶，17為次品一區(qū)推送器，18為次品二區(qū)傳送帶，19為次品二區(qū)推送器。

具體實施方式

本實用新型檢測前清潔處理，通過清掃除塵機1，除去表面粉塵。

上述步驟完成后，進入檢測裝置，第一測距傳感模塊收集數(shù)據(jù)，發(fā)送數(shù)據(jù)給第一數(shù)據(jù)處理模塊；第一數(shù)據(jù)處理模塊處理數(shù)據(jù)后，輸出信號，篩選出廢品，確定產(chǎn)品是否進入下一階段檢測。

上述步驟完成后，第二測距傳感模塊收集數(shù)據(jù)，發(fā)送數(shù)據(jù)給第二數(shù)據(jù)處理模塊，輸出信號，篩選出合格品、次品、廢品，然后傳送到相應區(qū)域。

上述內(nèi)容中的第一、二測距傳感模塊與對應的第一、二數(shù)據(jù)處理模塊采用分段式收集、處理數(shù)據(jù)，并分段式發(fā)送信號的處理模式，根據(jù)所做產(chǎn)品的尺寸，本著節(jié)約，提高產(chǎn)品合格率的原則，由大尺寸制作成小尺寸產(chǎn)品，選擇分幾段處理的方式。

為了實現(xiàn)本實用新型還提供了一種檢測裝置，其使用特征表現(xiàn)在：

上述檢測方法中的清掃除塵機1，用于檢測前除去產(chǎn)品表面浮塵，減少信號干擾。

上述檢測方法中的第一測距傳感模塊，第二測距傳感模塊，包括信號發(fā)射裝置、信號接受裝置、信號放大裝置，傳感模塊發(fā)射光信號或者聲波信號，接收返回的信號并轉化為電信號，將信號放大，進行數(shù)據(jù)處理后獲取平面上點的數(shù)據(jù)，并將數(shù)據(jù)傳輸給數(shù)據(jù)處理模塊。測距傳感器可精確到納米級。

上述檢測方法中的第一數(shù)據(jù)處理模塊，第二數(shù)據(jù)處理模塊，主要由單片機組成，用于接受傳感器的輸出數(shù)據(jù)，分析計算平面上點的數(shù)據(jù)，甄別出明顯有別于缺陷點周圍的數(shù)據(jù)，并將數(shù)據(jù)的參數(shù)值儲存，數(shù)據(jù)處理完成后，向推送器發(fā)出指令信號。

上述檢測方法中的推送模塊有三個，分別為廢品推送器15，次品一區(qū)推送器17，次品二區(qū)推送器19。均由擋板8，氣缸9，導向桿10，升降臺11，信號感應處理器12組成。推送器安置在主傳送帶13的不同位置，用于接受數(shù)據(jù)處理模塊輸出的信號，進行合格品，次品，廢品的篩選。

本實用新型的具體工作過程為：

檢測前清潔處理，通過清掃除塵機1，除去表面粉塵。

進入檢測裝置，第一測距傳感模塊及第一數(shù)據(jù)處理模塊2收集數(shù)據(jù)，并根據(jù)測試的板長度分三段進行數(shù)據(jù)處理，第一段區(qū)域數(shù)據(jù)處理后滿足誤差要求，則輸出信號為“0”，若不滿足誤差要求，則輸出信號為“1”。

然后直接進行第二段數(shù)據(jù)處理，第二段數(shù)據(jù)處理后滿足要求誤差，則輸出信號為“0”，然后進行第三段數(shù)據(jù)處理，第三段數(shù)據(jù)處理后滿足要求誤差，則輸出信號為“0”，若不滿足誤差要求，則輸出信號為“3”。

第二段數(shù)據(jù)處理后不滿足要求誤差，則輸出信號為“2”，表示產(chǎn)品采集的第二段數(shù)據(jù)區(qū)域出現(xiàn)宏觀缺陷，即產(chǎn)品為廢品，不再進行第三段數(shù)據(jù)處理，廢品推送器15中的信號感應處理器12獲得信號，由主傳送帶13傳送到廢品推送器15，主傳送帶13暫停，推送器中升降臺11升起，導向桿10同擋板8在氣缸9的作用下將廢板傳送到廢品傳送帶14上，并由廢品傳送帶14傳送至廢品區(qū)4。

第一數(shù)據(jù)處理模塊輸出信號為“02”，“103”“12”時，第二測距傳感模塊及第二數(shù)據(jù)處理模塊3不再收集數(shù)據(jù)，對應的產(chǎn)品由主傳送帶13處設置的廢品推送器15獲得信號后推送并由廢品傳送帶14傳送至廢品區(qū)4。

第一測距傳感模塊及第一數(shù)據(jù)處理模塊2輸出信號為“000”，“003”或者“100”時，第二測距傳感模塊及第二數(shù)據(jù)處理模塊3開始收集數(shù)據(jù)進行三段式數(shù)據(jù)處理，輸出對應“000”的信號為“000”時，表示產(chǎn)品無宏觀缺陷，即產(chǎn)品合格，由主輸送帶13輸送到合格品區(qū)5。

第二測距傳感模塊及第二數(shù)據(jù)處理模塊3，輸出對應“000”的信號為“003”時，表示產(chǎn)品采集的第三段數(shù)據(jù)區(qū)域出現(xiàn)宏觀缺陷，即產(chǎn)品為次品，由主傳送帶13處設置的次品一區(qū)推送器17獲得信號后推送并由次品一區(qū)傳送帶16傳送至次品一區(qū)6。

第二測距傳感模塊及第二數(shù)據(jù)處理模塊3，輸出對應“000”的信號為“100”時，表示產(chǎn)品采集的第一段數(shù)據(jù)區(qū)域出現(xiàn)宏觀缺陷，即產(chǎn)品為次品，由傳送帶處設置的次品二區(qū)推送器19獲得信號后推送并由次品二區(qū)傳送帶18傳送至至次品二區(qū)7。

第二測距傳感模塊及第二數(shù)據(jù)處理模塊3，輸出對應“000”的信號為“02”時，表示產(chǎn)品采集的第二段數(shù)據(jù)區(qū)域出現(xiàn)宏觀缺陷，即產(chǎn)品為廢品，由主傳送帶13處設置的廢品推送器15獲得信號后推送并由廢品傳送帶14傳送至廢品區(qū)4。

第二測距傳感模塊及第二數(shù)據(jù)處理模塊3，輸出對應“003”的信號為“000”“003”時，表示產(chǎn)品采集的第三段數(shù)據(jù)區(qū)域出現(xiàn)宏觀缺陷，即產(chǎn)品為次品，由主傳送帶13處設置的次品一區(qū)推送器17獲得信號后推送并由次品一區(qū)傳送帶16傳送至次品一區(qū)6。

第二測距傳感模塊及第二數(shù)據(jù)處理模塊3，輸出對應“003”的信號為“02”“100”“103”“12”時，表示產(chǎn)品分別在第二數(shù)據(jù)處理模塊3的第二段數(shù)據(jù)區(qū)域，第一數(shù)據(jù)區(qū)域，第一、三數(shù)據(jù)區(qū)域，第一二數(shù)據(jù)區(qū)域出現(xiàn)宏觀缺陷，即產(chǎn)品為廢品，由主傳送帶13處設置的廢品推送器15獲得信號后推送并由廢品傳送帶14傳送至廢品區(qū)4。