1.一種三相電路檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：主板(100)，所述主板(100)上設(shè)置有第一供電端口(102)、第二供電端口(104)、第一檢測(cè)端口(106)、第二檢測(cè)端口(108)和微處理器(110)；
所述第一供電端口(102)連接三相電源的零線(N)；
所述第二供電端口(104)連接所述三相電源的第一相線路(L1)；
所述第一檢測(cè)端口(106)連接所述三相電源的第二相線路(L2)；
所述第二檢測(cè)端口(108)連接所述三相電源的第三相線路(L3)；
所述微處理器(110)，被配置為將所述第二供電端口(104)接入的第一相線路(L1)、所述第一檢測(cè)端口(106)接入的第二相線路(L2)和所述第二檢測(cè)端口(108)接入的第三相線路(L3)作為被檢測(cè)的三相電路的三條線路，并基于所述第一相線路(L1)、第二相線路(L2)和第三相線路(L3)的相位狀態(tài)判斷所述三相電路是否異常。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述主板(100)上還設(shè)置有用來實(shí)現(xiàn)強(qiáng)弱電轉(zhuǎn)換的工頻變壓器(112)、弱電相位檢測(cè)器件(114)；
所述工頻變壓器(112)的兩個(gè)輸入端(112A，112B)分別連接所述第一相線路(L1)和零線(N)；
所述弱電相位檢測(cè)器件(114)的兩個(gè)輸入端(114A，114B)分別連接所述工頻變壓器(112)的兩個(gè)輸出端(112C，112D)，所述弱電相位檢測(cè)器件(114)的輸出端(114C)連接所述微處理器(110)的第一輸入端(110A)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述主板(100)上還設(shè)置有用來實(shí)現(xiàn)強(qiáng)弱電隔離的第一光耦(116)和用來實(shí)現(xiàn)強(qiáng)弱電隔離的第二光耦(118)；
所述第一光耦(116)的兩個(gè)輸入端(116A，116B)分別連接所述第二相線路(L2)和所述零線(N)，所述第一光耦(116)的第一輸出端(116C)連接所述微處理器(110)的第二輸入端(110B)，所述第一光耦(116)的第二輸出端(116D)接地；
所述第二光耦(118)的兩個(gè)輸入端(118A，118B)分別連接所述第三相線路(L3)和所述零線(N)，所述第二光耦(118)的第一輸出端(118C)連接所述微處理器(110)的第三輸入端(110C)，所述第二光耦(118)的第二輸出端(118D)接地。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，
所述微處理器(110)，被配置為在所述弱電相位檢測(cè)器件(114)的輸出端(114C)輸出的信號(hào)的上升沿領(lǐng)先所述第一光耦(116)的第一輸出端(116C)輸出的信號(hào)的上升沿為信號(hào)周期的1/3，且所述第一光耦(116)的第一輸出端(116C)輸出的信號(hào)的上升沿領(lǐng)先所述第二光耦(118)的第一輸出端(118C)輸出的信號(hào)的上升沿為信號(hào)周期的1/3的情況下，判斷所述三相電路正常，否則，判斷所述三相電路中出現(xiàn)電路逆向的情況。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，
所述微處理器(110)，被配置為在所述第一光耦(116)的第一輸出端(116C)沒有信號(hào)輸出的情況下，判斷第二相線路(L2)缺相；
或者，
所述微處理器(110)，被配置為在所述第二光耦(118)的第一輸出端(118C)沒有信號(hào)輸出的情況下，判斷第三相線路(L3)缺相；
或者，
在所述主板(100)不工作的情況下，則第一相線路(L1)缺相。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，
所述弱電相位檢測(cè)器件(114)為由三極管、二極管和電阻組成的半導(dǎo)體網(wǎng)絡(luò)。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，還包括：所述主板(100)上還設(shè)置有第一二極管(120)和第二二極管(122)；
所述第一二極管(120)跨接在所述第一光耦(116)的兩個(gè)輸入端(116A，116B)之間；
所述第二二極管(122)跨接在所述第二光耦(118)的兩個(gè)輸入端(118A，118B)之間。