技術(shù)總結(jié)
本實用新型提供一種老化測試擴展板，包括擴展板主體，所述擴展板主體內(nèi)包括：第一插接區(qū)域，適于插接用于老化測試的待測器件的插座；第二插接區(qū)域，適于插接用于老化測試的待測器件的插座；轉(zhuǎn)接區(qū)域，位于所述第一插接區(qū)域與所述第二插接區(qū)域之間，且與所述第一插接區(qū)域及所述第二插接區(qū)域相連接，適于將所述第一插接區(qū)域及所述第二插接區(qū)域相連接。本實用新型的老化測試擴展板可以與現(xiàn)有的老化測試板及待測器件底座配合使用，資源容量至少相當于現(xiàn)有老化測試板的兩倍，從而增加了一次老化測試中的待測器件的數(shù)量，縮短了產(chǎn)品測試驗證周期；本實用新型的老化測試擴展板還具有結(jié)構(gòu)簡單、公用性強等優(yōu)點。

技術(shù)研發(fā)人員：趙廣艷
受保護的技術(shù)使用者：中芯國際集成電路制造（北京）有限公司;中芯國際集成電路制造（上海）有限公司
文檔號碼：201720098387
技術(shù)研發(fā)日：2017.01.26
技術(shù)公布日：2017.08.18