本發(fā)明涉及顯示設(shè)備檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

目前，在顯示面板在生產(chǎn)過(guò)程中，由于各種不可控因素，會(huì)出現(xiàn)一些有不良的顯示面板，會(huì)給顯示面板生產(chǎn)帶來(lái)?yè)p失。但這些有不良的顯示面板并不是所有都會(huì)報(bào)廢，其中某些特定的點(diǎn)、線等不良是可以通過(guò)維修手段來(lái)修善不良的。

在維修不良的顯示面板的過(guò)程中，需要精確標(biāo)定不良在顯示面板上的具體坐標(biāo)位置，目前，可利用信號(hào)發(fā)生器測(cè)量方式確定顯示面板中不良的坐標(biāo)位置，然后，通過(guò)人工復(fù)判的方式對(duì)顯示面板的不良的坐標(biāo)位置進(jìn)行復(fù)判，或者，通過(guò)人工測(cè)量標(biāo)定方式。

其中，人工測(cè)量標(biāo)定方式檢測(cè)人員通過(guò)測(cè)量設(shè)備例如尺子來(lái)測(cè)量顯示面板中不良的坐標(biāo)位置，這種標(biāo)定坐標(biāo)方式緩慢，生成效率低，且標(biāo)定的坐標(biāo)位置容易受人為因素影響而坐標(biāo)位置存在誤差，從而影響了維修不良的顯示面板的成功率。

其中，利用信號(hào)發(fā)生器測(cè)量的方式是通過(guò)信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生的十字光標(biāo)與顯示面板不良相重合，從信號(hào)發(fā)生器的十字光標(biāo)的位置來(lái)獲得顯示面板不良的坐標(biāo)位置。這種方式需要信號(hào)發(fā)生器能夠獲得十字光標(biāo)的位置，這就要求測(cè)量方式是探針與顯示面板的信號(hào)接線是一對(duì)一的對(duì)應(yīng)。如果顯示面板的信號(hào)接線有短接，則在第一次檢測(cè)完后，需要用激光器切割掉信號(hào)線短接的部分，再把有可維修不良的面板進(jìn)行再次人工檢測(cè)來(lái)上傳坐標(biāo)，這樣相當(dāng)于多進(jìn)行了一次檢測(cè)，降低了生產(chǎn)效率。并且對(duì)于中小尺寸的面板，信號(hào)接線間的間距較小，用探針與信號(hào)接線一對(duì)一的連接方式技術(shù)難度較大。

相關(guān)技術(shù)中的人工復(fù)判方式為在復(fù)判工位暗室中安裝激光投影儀，然后，利用所獲得的顯示面板的不良坐標(biāo)數(shù)據(jù)直接在復(fù)判面板表面進(jìn)行激光投影，標(biāo)示出不良實(shí)際位置。然而，上述復(fù)判方式至少存在以下問(wèn)題：(1)因激光投影距離與方向定位，極易出現(xiàn)投影位置與實(shí)際不良位置有較大偏差，反而干擾作業(yè)員復(fù)判操作；(2)因成盒檢測(cè)工藝設(shè)備中前偏光玻璃板的必要存在，實(shí)際投影出的光點(diǎn)反射和散射非常強(qiáng)烈，幾乎不能實(shí)際觀察到有效投影光點(diǎn)。(3)該方法僅能對(duì)點(diǎn)不良進(jìn)行標(biāo)示，對(duì)其他類型的不良無(wú)法對(duì)作業(yè)員進(jìn)行有效提示，存在一定的局限性。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明旨在至少在一定程度上解決上述技術(shù)問(wèn)題。

為此，本發(fā)明的第一個(gè)目的在于提出一種顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)方法，將顯示面板的不良坐標(biāo)位置準(zhǔn)確投射至模擬顯示面板之上，方便了相關(guān)人員根據(jù)模型顯示面板上的坐標(biāo)位置進(jìn)行復(fù)判，精確標(biāo)定了不良在顯示面板上的坐標(biāo)位置，進(jìn)而可提高維修不良的顯示面板的效率。

本發(fā)明的第二個(gè)目的在于提出一種顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)系統(tǒng)。

為達(dá)上述目的，根據(jù)本發(fā)明第一方面實(shí)施例提出了一種顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)方法，包括以下步驟：獲取待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置；根據(jù)所述待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置生成模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置；在所述模擬顯示面板中顯示所述模擬坐標(biāo)位置以將所述待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置投影至所述模擬顯示面板之上。

優(yōu)選地，所述獲取待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置具體包括：控制所述待檢測(cè)顯示面板顯示檢測(cè)畫(huà)面；對(duì)所述待檢測(cè)顯示面板進(jìn)行拍照以獲取對(duì)應(yīng)的顯示圖像；對(duì)所述顯示圖像進(jìn)行分析以獲取不良坐標(biāo)位置。

優(yōu)選地，所述根據(jù)所述待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置生成模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置具體包括：獲取所述待檢測(cè)顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率；獲取所述模擬顯示面板的橫向長(zhǎng)度值和縱向?qū)挾戎担桓鶕?jù)所述不良坐標(biāo)位置、所述待檢測(cè)顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率，以及所述模擬顯示面板的橫向長(zhǎng)度值和縱向?qū)挾戎瞪伤瞿M顯示面板的模擬坐標(biāo)位置。

優(yōu)選地，在所述對(duì)所述待檢測(cè)顯示面板進(jìn)行拍照以獲取對(duì)應(yīng)的顯示圖像之后，還包括：根據(jù)所述顯示圖像檢測(cè)所述待檢測(cè)顯示面板的不良類型代碼；在所述模擬顯示面板中標(biāo)記所述不良類型代碼。

優(yōu)選地，所述獲取待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置具體包括：讀取所述待檢測(cè)顯示面板的標(biāo)識(shí)；根據(jù)所述待檢測(cè)顯示面板的標(biāo)識(shí)從服務(wù)器讀取對(duì)應(yīng)的不良坐標(biāo)位置。

為達(dá)上述目的，本發(fā)明第二方面實(shí)施例提出了一種顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)系統(tǒng)，包括：檢測(cè)裝置，用于獲取待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置；模擬顯示面板；以及控制裝置，用于根據(jù)所述待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置生成模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置，并在所述模擬顯示面板中顯示所述模擬坐標(biāo)位置以將所述待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置投影至所述模擬顯示面板之上。

優(yōu)選地，所述檢測(cè)裝置包括：控制模塊，用于控制所述待檢測(cè)顯示面板顯示檢測(cè)畫(huà)面；圖像獲取模塊，用于對(duì)所述待檢測(cè)顯示面板進(jìn)行拍照以獲取對(duì)應(yīng)的顯示圖像；分析模塊，用于對(duì)所述顯示圖像進(jìn)行分析以獲取不良坐標(biāo)位置。

優(yōu)選地，所述控制裝置包括：第一獲取模塊，用于獲取所述待檢測(cè)顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率；第二獲取模塊，用于獲取所述模擬顯示面板的橫向長(zhǎng)度值和縱向?qū)挾戎?；生成模塊，用于根據(jù)所述不良坐標(biāo)位置、所述待檢測(cè)顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率，以及所述模擬顯示面板的橫向長(zhǎng)度值和縱向?qū)挾戎瞪伤瞿M顯示面板的模擬坐標(biāo)位置。

優(yōu)選地，所述檢測(cè)裝置還包括：檢測(cè)模塊，用于根據(jù)所述顯示圖像檢測(cè)所述待檢測(cè)顯示面板的不良類型代碼；所述控制裝置還包括：標(biāo)記模塊，用于在所述模擬顯示面板中標(biāo)記所述不良類型代碼。

優(yōu)選地，還包括：讀取裝置，用于讀取所述待檢測(cè)顯示面板的標(biāo)識(shí)；服務(wù)器，用于存儲(chǔ)所述檢測(cè)裝置發(fā)送的不良坐標(biāo)位置，其中，所述控制裝置根據(jù)所述待檢測(cè)顯示面板的標(biāo)識(shí)從所述服務(wù)器讀取對(duì)應(yīng)的不良坐標(biāo)位置。

本發(fā)明實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)方法及系統(tǒng)，獲取待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置，根據(jù)待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置生成模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置，以及在模擬顯示面板中顯示模擬坐標(biāo)位置以將待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置投影至模擬顯示面板之上，由此，將顯示面板的不良坐標(biāo)位置準(zhǔn)確投射至模擬顯示面板之上，方便了相關(guān)人員根據(jù)模型顯示面板上的坐標(biāo)位置進(jìn)行復(fù)判，精確標(biāo)定了不良在顯示面板上的坐標(biāo)位置，進(jìn)而可提高維修不良的顯示面板的效率。

本發(fā)明的附加方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過(guò)本發(fā)明的實(shí)踐了解到。

附圖說(shuō)明

本發(fā)明的上述和/或附加的方面和優(yōu)點(diǎn)從結(jié)合下面附圖對(duì)實(shí)施例的描述中將變得明顯和容易理解，其中：

圖1為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)方法的流程圖；

圖2為根據(jù)待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置生成模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置的細(xì)化流程圖；

圖3為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)具體實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)方法的流程圖；

圖4a為包含縱向貫穿線的模擬顯示面板的示例圖；

圖4b為包含橫向貫穿線的模擬顯示面板的示例圖；

圖4c為包含縱向貫穿線的模擬顯示面板的示例圖；

圖4d為包含橫向未貫穿線的模擬顯示面板的示例圖；

圖4e為橫縱交叉貫穿線的模擬顯示面板的示例圖；

圖5為在模擬顯示面板距離左邊71.6mm處顯示出縱向的線不良的示例圖；

圖6為在模擬顯示面板分別距離上邊緣處18.3mm、74.1mm、118.6mm處顯示出三條橫向的線不良的示例圖；

圖7為在模擬顯示面板(87.8,31.4)處顯示出點(diǎn)不良的示例圖；

圖8為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖9為根據(jù)本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖10為根據(jù)本發(fā)明又一個(gè)實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖11為根據(jù)本發(fā)明再一個(gè)實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖12為根據(jù)本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例，實(shí)施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標(biāo)號(hào)表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過(guò)參考附圖描述的實(shí)施例是示例性的，僅用于解釋本發(fā)明，而不能理解為對(duì)本發(fā)明的限制。

下面參考附圖描述根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)方法及系統(tǒng)。

圖1為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)方法的流程圖。

如圖1所示，根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)方法，包括以下步驟。

s11，獲取待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，在需要對(duì)待檢測(cè)顯示面板進(jìn)行核驗(yàn)時(shí)，可通過(guò)多種方式獲取待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置，可以根據(jù)實(shí)際應(yīng)用需要進(jìn)行選擇，本實(shí)施例對(duì)此不作限制，為了更加清楚的說(shuō)明獲取待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置的過(guò)程，舉例說(shuō)明如下：

方式一，可控制待檢測(cè)顯示面板顯示檢測(cè)畫(huà)面，然后，對(duì)待檢測(cè)顯示面板進(jìn)行拍照以獲取對(duì)應(yīng)的顯示圖像，以及對(duì)顯示圖像進(jìn)行分析以獲取不良坐標(biāo)位置。

具體地，在獲得待檢測(cè)顯示面板后，可對(duì)待檢測(cè)顯示面板上電，并控制待檢測(cè)顯示面板顯示預(yù)設(shè)的檢測(cè)畫(huà)面，然后，通過(guò)圖像采集裝置例如像素鏡頭對(duì)待檢測(cè)顯示面板進(jìn)行拍照，以獲取待檢測(cè)顯示面板對(duì)應(yīng)的顯示圖像，然后，通過(guò)對(duì)顯示圖像中各個(gè)像素的灰階值進(jìn)行分析，以確定出待檢測(cè)顯示面板中的不良坐標(biāo)位置。

其中，需要說(shuō)明的是，可通過(guò)現(xiàn)有技術(shù)對(duì)顯示圖像進(jìn)行分析以獲取不良坐標(biāo)位置，此處不再贅述。

方式二，可讀取待檢測(cè)顯示面板的標(biāo)識(shí)，然后，根據(jù)待檢測(cè)顯示面板的標(biāo)識(shí)從服務(wù)器讀取對(duì)應(yīng)的不良坐標(biāo)位置。

具體地，在需要對(duì)待檢測(cè)顯示面板進(jìn)行核驗(yàn)時(shí)，可通過(guò)讀取裝置讀取待檢測(cè)顯示面板的標(biāo)識(shí)，然后，將所讀取的待檢測(cè)顯示面板的標(biāo)識(shí)發(fā)送給服務(wù)器，對(duì)應(yīng)的服務(wù)器根據(jù)待檢測(cè)顯示面板的標(biāo)識(shí)獲取待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置，并返回待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置。

其中，待檢測(cè)顯示面板的標(biāo)識(shí)用于唯一標(biāo)識(shí)待檢測(cè)顯示面板，每個(gè)待檢測(cè)顯示面板對(duì)應(yīng)的標(biāo)識(shí)均不相同。

s12，根據(jù)待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置生成模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，根據(jù)待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置生成模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置的過(guò)程，如圖2所示，可以包括：

s21，獲取待檢測(cè)顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率。

s22，獲取模擬顯示面板的橫向長(zhǎng)度值和縱向?qū)挾戎怠?/p>

s23，根據(jù)不良坐標(biāo)位置、待檢測(cè)顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長(zhǎng)度值和縱向?qū)挾戎瞪赡M顯示面板的模擬坐標(biāo)位置。

假設(shè)用(x，y)表示不良坐標(biāo)位置，(x′，y′)表示模擬坐標(biāo)位置，v和h分別表示橫向分辨率和縱向分辨率，a和b表示模擬顯示面板的橫向長(zhǎng)度值和縱向長(zhǎng)度值。不良坐標(biāo)位置和和模擬坐標(biāo)位置之間的關(guān)系如下公式所示：

s13，在模擬顯示面板中顯示模擬坐標(biāo)位置以將待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置投影至模擬顯示面板之上。

本發(fā)明實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)方法，獲取待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置，根據(jù)待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置生成模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置，以及在模擬顯示面板中顯示模擬坐標(biāo)位置以將待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置投影至模擬顯示面板之上，由此，將顯示面板的不良坐標(biāo)位置準(zhǔn)確投射至模擬顯示面板之上，方便了相關(guān)人員根據(jù)模型顯示面板上的坐標(biāo)位置進(jìn)行復(fù)判，精確標(biāo)定了不良在顯示面板上的坐標(biāo)位置，進(jìn)而可提高維修不良的顯示面板的效率。

基于上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，為了提示相關(guān)人員準(zhǔn)確選擇檢測(cè)顯示面板的不良名稱，在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，在獲取待檢測(cè)顯示面板的顯示圖像后，還可以根據(jù)顯示圖像檢測(cè)待檢測(cè)顯示面板的不良類型代碼，以及在模擬顯示面板中標(biāo)記不良類型代碼。由此，使得相關(guān)人員可根據(jù)模擬顯示面板中的標(biāo)記選擇待檢測(cè)顯示面板的不良名稱，有效提示了相關(guān)人員，進(jìn)而可提高相關(guān)人員的標(biāo)定效率。

其中，不良類型可以包括但不限于點(diǎn)、線和mura(云紋)。

其中，線不良類型可以包括縱向貫穿、橫向貫穿、縱向或者橫向未貫穿、橫向與縱向交叉貫穿等具體的線不良。

舉例而言，對(duì)于不良類型是點(diǎn)或mura，模擬顯示面板中可以用不同顏色的圓圈標(biāo)記點(diǎn)或mura不良類型，對(duì)于不良類型是線，模擬顯示面板可以用縱向貫穿線、橫向貫穿線、縱向或者橫向未貫穿線、橫向與縱向交叉貫穿線。

其中，需要理解的是，模擬顯示面板中縱向或者橫向未貫穿線的起點(diǎn)與終點(diǎn)是根據(jù)待檢測(cè)顯示面板的縱向或者橫向未貫穿線的起點(diǎn)與終點(diǎn)轉(zhuǎn)換而來(lái)的。

其中，需要說(shuō)明的是，不同不良類型所使用的不良類型代碼不同，例如，不良類型為點(diǎn)、線和mura，可通過(guò)不良類型代碼1表示不良類型點(diǎn)，可通過(guò)不良類型代碼2表示不良類型線，可通過(guò)不良類型代碼3表示不良類型mura。

其中，需要理解的是，在獲取待檢測(cè)顯示面板的不良類型代碼后，可通過(guò)解析不良類型代碼確定待檢測(cè)顯示面板的不良類型。

舉例而言，假設(shè)不良類型代碼1表示不良類型點(diǎn)，不良類型代碼2表示不良類型線，不良類型代碼3表示不良類型mura，如果獲取待檢測(cè)顯示面板的不良類型代碼為2，此時(shí)，可確定待檢測(cè)顯示面板的不良類型為線不良。

圖3為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)具體實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)方法的流程圖。

如圖3所示，根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)方法，包括以下步驟。

s31，檢測(cè)裝置控制待檢測(cè)顯示面板顯示檢測(cè)畫(huà)面。

具體地，在檢測(cè)裝置獲取待檢測(cè)顯示面后，檢測(cè)裝置可對(duì)待檢測(cè)顯示面板上電，并控制待檢測(cè)顯示面板顯示預(yù)設(shè)的檢測(cè)畫(huà)面。

s32，檢測(cè)裝置對(duì)待檢測(cè)顯示面板進(jìn)行拍照以獲取對(duì)應(yīng)的顯示圖像。

在檢測(cè)裝置控制待檢測(cè)顯示面板顯示預(yù)設(shè)的檢測(cè)畫(huà)面后，檢測(cè)裝置可通過(guò)圖像采集裝置例如像素鏡頭對(duì)待檢測(cè)顯示面板進(jìn)行拍照，以獲取對(duì)應(yīng)的顯示圖像。

s33，檢測(cè)裝置對(duì)顯示圖像進(jìn)行分析以獲取不良坐標(biāo)位置。

作為一種示例性的實(shí)施方式，在檢測(cè)裝置獲取待檢測(cè)顯示面板對(duì)應(yīng)的顯示圖像(不良相貌原始圖像)后，檢測(cè)裝置可通過(guò)以左上角為坐標(biāo)原點(diǎn)的圖像分析軟件對(duì)顯示圖像進(jìn)行分析，以通過(guò)顯示圖像的分析結(jié)果確定出待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置信息。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，在檢測(cè)裝置獲取待檢測(cè)顯示面板對(duì)應(yīng)的顯示圖像(不良相貌原始圖像)后，檢測(cè)裝置根據(jù)顯示圖像檢測(cè)待檢測(cè)顯示面板的不良類型代碼。

s34，檢測(cè)裝置通過(guò)對(duì)待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置進(jìn)行分析，以生成待檢測(cè)顯示面板的判級(jí)信息。

其中，待檢測(cè)顯示面板的判級(jí)信息可以包括但不限于待檢測(cè)顯示面板的等級(jí)、不良類型代碼和不良坐標(biāo)位置等信息。其中，待檢測(cè)顯示面板的等級(jí)是根據(jù)出貨客戶端的要求以及根據(jù)不良的程度進(jìn)行區(qū)分的。其中，客戶要求不同等級(jí)也有所不同。例如，待測(cè)顯示面板的等級(jí)可以包括p等級(jí)、s等級(jí)、q等級(jí)和n等級(jí)，其中，p等級(jí)、s等級(jí)、q等級(jí)和n等級(jí)表示待檢測(cè)顯示面板的等級(jí)依次降低。

s35，檢測(cè)裝置將待檢測(cè)顯示面板的判級(jí)信息上傳至服務(wù)器，以使服務(wù)器保存待檢測(cè)顯示面板的判級(jí)信息。

s36，控制裝置讀取待檢測(cè)顯示面板的標(biāo)識(shí)。

s37，控制裝置根據(jù)待檢測(cè)顯示面板的標(biāo)識(shí)從服務(wù)器中讀取待檢測(cè)顯示面板的判級(jí)信息。

其中，判級(jí)信息中包含待檢測(cè)顯示面板的等級(jí)、不良類型代碼和不良坐標(biāo)等信息。

s38，控制裝置根據(jù)待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置生成模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，在獲取待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)和不良類型代碼后，還可以根據(jù)不良類型代碼和不良坐標(biāo)位置生成模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置。

作為一種示例性的實(shí)施方式，在獲取待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)和不良類型代碼后，可根據(jù)不良類型代碼和不良坐標(biāo)位置，按照預(yù)先設(shè)置的轉(zhuǎn)換規(guī)則，生成模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置。

在控制裝置獲取待檢測(cè)顯示面板的判級(jí)信息后，可分析判級(jí)信息中的不良類型代碼和不良坐標(biāo)位置的特征確定待檢測(cè)顯示面板的不良類型以及不良的坐標(biāo)位置。

作為一種示例性的實(shí)施方式，在獲取待檢測(cè)顯示面板的判級(jí)信息，如果根據(jù)不良類型代碼確定不良類型為點(diǎn)，則根據(jù)不良坐標(biāo)位置、待檢測(cè)顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長(zhǎng)度值和縱向?qū)挾戎瞪赡M顯示面板的模擬坐標(biāo)位置。

如果根據(jù)不良類型代碼確定不良類型為mura，則根據(jù)不良坐標(biāo)位置、待檢測(cè)顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長(zhǎng)度值和縱向?qū)挾戎瞪赡M顯示面板的模擬坐標(biāo)位置。

如果根據(jù)不良類型代碼確定不良類型為線不良，則根據(jù)不良坐標(biāo)位置的特征確定線不良的具體類型，下面分別對(duì)確定線不良的具體分類的過(guò)程進(jìn)行描述：

(1)縱向貫穿的線不良

如果分析確定不良坐標(biāo)位置中坐標(biāo)的第二個(gè)數(shù)值為1，則確定待檢測(cè)顯示面板的不良為縱向貫穿的線不良，然后，根據(jù)不良坐標(biāo)位置中的x軸上的數(shù)值、待檢測(cè)顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長(zhǎng)度值和縱向?qū)挾戎瞪赡M顯示面板的模擬坐標(biāo)位置中x軸上的數(shù)值了，并在模擬顯示面板中對(duì)應(yīng)的x軸上的相應(yīng)位置上以縱向貫穿線標(biāo)示。

其中，模擬顯示面板上的x位置上，以縱向貫穿線標(biāo)示，坐標(biāo)顯示(x,1)的示例圖，如圖4a所示。

(2)橫向貫穿的線不良

如果分析確定不良坐標(biāo)位置中坐標(biāo)的第一個(gè)數(shù)值為1，則確定待檢測(cè)顯示面板的不良為橫向貫穿的線不良，然后，根據(jù)不良坐標(biāo)位置中的y軸上的數(shù)值、待檢測(cè)顯示面板的橫向分辨率和橫向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長(zhǎng)度值和橫向?qū)挾戎瞪赡M顯示面板的模擬坐標(biāo)位置中y軸上的數(shù)值了，并在模擬顯示面板中對(duì)應(yīng)的y軸上的相應(yīng)位置上以橫向貫穿線標(biāo)示。

其中，在模擬顯示面板上的y位置上，以橫向貫穿線標(biāo)示，坐標(biāo)顯示(1,y)的示例圖，如圖4b所示。

(3)縱向未貫穿的線不良

如果確定待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置有兩個(gè)，且這兩個(gè)不良坐標(biāo)位置中x軸上的坐標(biāo)數(shù)值相同，y軸上的坐標(biāo)取值不同，則確定待檢測(cè)顯示面板的不良為縱向未貫穿的線不良，然后，根據(jù)不良坐標(biāo)位置、待檢測(cè)顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長(zhǎng)度值和縱向?qū)挾戎瞪赡M顯示面板的模擬坐標(biāo)位置。假設(shè)獲取模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置為(x,y1)和(x,y2)，在模擬顯示面板的x位置上以縱向未貫穿線標(biāo)示。其中，縱向未貫穿線的起點(diǎn)坐標(biāo)(x,y1)，終點(diǎn)坐標(biāo)(x,y2)，如圖4c所示。

(4)橫向未貫穿的線不良

如果確定待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置有兩個(gè)，且這兩個(gè)不良坐標(biāo)位置中y軸上的坐標(biāo)數(shù)值相同，x軸上的坐標(biāo)取值不同，則確定待檢測(cè)顯示面板的不良為橫向未貫穿的線不良，然后，根據(jù)不良坐標(biāo)位置、待檢測(cè)顯示面板的橫向分辨率和橫向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長(zhǎng)度值和橫向?qū)挾戎瞪赡M顯示面板的模擬坐標(biāo)位置。假設(shè)獲取模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置為(x1,y)和(x2,y)，在模擬顯示面板的y位置上以橫向未貫穿線標(biāo)示。其中，橫向未貫穿線的起點(diǎn)坐標(biāo)(x1,y)，終點(diǎn)坐標(biāo)(x2,y)，如圖4d所示。

(5)橫縱交叉貫穿的線不良

如果確定待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置有兩個(gè)，且這兩個(gè)不良坐標(biāo)位置中有一個(gè)不良坐標(biāo)位置中坐標(biāo)的第一個(gè)數(shù)值為1，且另一個(gè)不良坐標(biāo)位置中坐標(biāo)的第二個(gè)數(shù)值為1，或者，或者有一個(gè)不良坐標(biāo)位置中坐標(biāo)的第二個(gè)數(shù)值為1，且另一個(gè)不良坐標(biāo)位置中坐標(biāo)的第二個(gè)數(shù)值為1，則確定待檢測(cè)顯示面板的不良為橫縱交叉貫穿的線不良。然后，根據(jù)不良坐標(biāo)位置、待檢測(cè)顯示面板的橫向分辨率和橫向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長(zhǎng)度值和橫向?qū)挾戎瞪赡M顯示面板的模擬坐標(biāo)位置。假設(shè)獲取模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置為(x,1)和(1,y)，在模擬顯示面板的y位置上以橫向貫穿線標(biāo)示，并在模擬顯示面板的x位置上以縱向貫穿線標(biāo)示。其中，模擬顯示面板中顯示的橫縱交叉貫穿的線不良的示例圖，如圖4e所示。

舉例而言，當(dāng)一張?jiān)诘?72列像素處有亮線不良的32寸高清顯示面板進(jìn)入到檢測(cè)裝置進(jìn)行點(diǎn)亮并判定時(shí)，檢測(cè)裝置中的像素鏡頭可對(duì)顯示面板的各個(gè)檢測(cè)畫(huà)面進(jìn)行拍照，檢測(cè)判定結(jié)束后生成面板不良相貌原始圖片，然后，通過(guò)分析原始圖片判定顯示面板有一條縱向貫穿亮線并標(biāo)定坐標(biāo)為(372,1)，即不良坐標(biāo)位置為(372,1)，并將線不良對(duì)應(yīng)的不良類型代碼以及不良坐標(biāo)位置上傳至服務(wù)器。在該顯示面板進(jìn)入人工復(fù)判時(shí)，控制裝置可根據(jù)顯示面板的標(biāo)識(shí)從服務(wù)器中獲取顯示面板的判級(jí)信息，根據(jù)不良類型代碼可以知道是線不良，以及根據(jù)不良坐標(biāo)位置的第二個(gè)坐標(biāo)是“1”，根據(jù)模擬規(guī)則為縱向線不良。假設(shè)32寸高清顯示面板的分辨率為1366×768，利用不良坐標(biāo)變換出不良在263×148大小的模擬顯示面板上的位置是距離左邊緣71.6mm。在模擬顯示面板距離左邊71.6mm處顯示出縱向的線不良(如圖5所示)。在作業(yè)員對(duì)該顯示面板進(jìn)行復(fù)判時(shí)，通過(guò)模擬顯示面板的提示，在顯示面板對(duì)應(yīng)的位置上發(fā)現(xiàn)了一條縱向的線不良。作業(yè)員判定等級(jí)和不良名稱后，點(diǎn)擊模擬顯示面板上縱向的線，控制裝置根據(jù)作業(yè)員點(diǎn)擊的線不良，生成檢測(cè)裝置判定的坐標(biāo)(372,1)，即，在模擬顯示面板上顯示(372,1)。

其中，需要說(shuō)明的是，在實(shí)際應(yīng)用中，圖5中所示的縱向貫穿的線是有顏色的。

又例如，當(dāng)一張?jiān)诘?082行像素處有亮線不良的55寸超高清顯示面板進(jìn)入到檢測(cè)裝置進(jìn)行點(diǎn)亮并判定時(shí)，檢測(cè)裝置中的像素鏡頭會(huì)對(duì)顯示面板的各個(gè)檢測(cè)畫(huà)面進(jìn)行拍照，檢測(cè)判定結(jié)束后生成面板不良相貌原始圖片，假設(shè)根據(jù)不良相貌原始圖片分析出三條橫向亮線并標(biāo)定坐標(biāo)分別為(1,267)、(1,1082)、(1,1731)，將線不良對(duì)應(yīng)的不良類型代碼以及不良坐標(biāo)位置上傳至服務(wù)器，以使服務(wù)器保存該顯示面板的不良類型代碼以及不良坐標(biāo)位置。在該顯示面板需要復(fù)判時(shí)，控制裝置根據(jù)顯示面板的標(biāo)識(shí)從服務(wù)器中獲取該顯示面板的不良類型代碼以及不良坐標(biāo)位置，根據(jù)不良代碼可以知道是線不良，通過(guò)分析可以確定三個(gè)不良坐標(biāo)位置中，每個(gè)不良坐標(biāo)位置中坐標(biāo)的第一個(gè)數(shù)值均是“1”，根據(jù)模擬規(guī)則確定不良為橫向線不良。55寸超高清顯示面板的分辨率為3840×2160，利用不良坐標(biāo)變換出不良在263×148大小的模擬顯示面板上的位置是距離上邊緣18.3mm、74.1mm、118.6mm。在模擬顯示面板分別距離上邊緣處18.3mm、74.1mm、118.6mm處顯示出三條橫向的線不良(如圖6所示)，在作業(yè)員對(duì)該顯示面板復(fù)判時(shí)，通過(guò)模擬顯示面板的提示，在顯示面板上只發(fā)現(xiàn)了一條橫向的線不良。作業(yè)員根據(jù)實(shí)際顯示面板上不良判定等級(jí)和不良名稱后，點(diǎn)擊模擬顯示面板上與真實(shí)不良位置相對(duì)應(yīng)的橫向線，控制模塊就能根據(jù)作業(yè)員點(diǎn)擊的線不良，生成檢測(cè)裝置判定的坐標(biāo)(1082,1)。

其中，需要說(shuō)明的是，在實(shí)際應(yīng)用中，圖6中所示的三條橫向貫穿的線是有顏色的。

又例如，在一張?jiān)谙袼?456,163)處有點(diǎn)不良的32寸高清顯示面板進(jìn)入到檢測(cè)裝置進(jìn)行點(diǎn)亮并判定時(shí)，檢測(cè)裝置中的像素鏡頭會(huì)對(duì)顯示面板的各個(gè)檢測(cè)畫(huà)面進(jìn)行拍照，檢測(cè)判定結(jié)束后生成面板不良相貌原始圖片，通過(guò)分析原始圖片判定顯示面板點(diǎn)不良并標(biāo)定坐標(biāo)為(456,163)，然后，檢測(cè)裝置將點(diǎn)不良對(duì)應(yīng)的不良類型代碼以及不良坐標(biāo)位置上傳至服務(wù)器。當(dāng)該顯示面板進(jìn)入人工復(fù)判時(shí)，控制裝置根據(jù)該顯示面板的標(biāo)識(shí)從服務(wù)器中獲取該顯示面板的判級(jí)信息，根據(jù)不良代碼可以知道是點(diǎn)不良。假設(shè)32寸高清顯示面板的分辨率為1366×768，利用不良坐標(biāo)變換出不良在263×148大小的模擬顯示面板上的位置是(87.8,31.4)。在模擬顯示面板(87.8,31.4)處顯示出點(diǎn)不良(如圖7所示)，作業(yè)員在對(duì)該顯示面板復(fù)判時(shí)，通過(guò)模擬顯示面板的提示，在顯示面板對(duì)應(yīng)的位置上發(fā)現(xiàn)了一個(gè)點(diǎn)不良。作業(yè)員選擇不良名稱后，點(diǎn)擊模擬顯示面板上的點(diǎn)不良，控制模塊能根據(jù)作業(yè)員點(diǎn)擊的點(diǎn)不良，生成檢測(cè)裝置判定的坐標(biāo)(456,163)。

s39，控制裝置在模擬顯示面板中顯示模擬坐標(biāo)位置以及不良代碼類型對(duì)應(yīng)的標(biāo)記。

其中，需要理解的是，在模擬顯示面板中顯示不良類型代碼的標(biāo)記后，在作業(yè)員進(jìn)行待檢測(cè)顯示面板復(fù)判時(shí)，作業(yè)員可根據(jù)該標(biāo)記的提示來(lái)選擇不良名稱，控制模塊接收作業(yè)員選擇的不良名稱，并根據(jù)作業(yè)員的點(diǎn)擊操作生成檢測(cè)裝置判定的不良坐標(biāo)，即，在模擬顯示面板中顯示待檢測(cè)面板中的不良坐標(biāo)位置信息。

其中，需要說(shuō)明的是，若作業(yè)員在選擇不良名稱后，控制模塊接收到作業(yè)員的多次點(diǎn)擊操作，控制模塊可根據(jù)點(diǎn)擊操作將不良名稱與顯示待檢測(cè)面板中的多個(gè)不良坐標(biāo)位置對(duì)應(yīng)。

本發(fā)明實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)方法，獲取待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置，根據(jù)待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置生成模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置，以及在模擬顯示面板中顯示模擬坐標(biāo)位置以將待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置投影至模擬顯示面板之上，由此，將顯示面板的不良坐標(biāo)位置準(zhǔn)確投射至模擬顯示面板之上，方便了相關(guān)人員根據(jù)模型顯示面板上的坐標(biāo)位置進(jìn)行復(fù)判，精確標(biāo)定了不良在顯示面板上的坐標(biāo)位置，進(jìn)而可提高維修不良的顯示面板的效率。

為了實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例，本發(fā)明還提出一種顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)系統(tǒng)。

圖8為根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

如圖8所示，根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)系統(tǒng)，包括檢測(cè)裝置100、模擬顯示面板200和控制裝置300，其中：

檢測(cè)裝置100用于獲取待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置。

控制裝置300用于根據(jù)待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置生成模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置，并在模擬顯示面板200中顯示模擬坐標(biāo)位置以將待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置投影至模擬顯示面板之上。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，在圖8所示的基礎(chǔ)上，如圖9所示，該檢測(cè)裝置100可以包括控制模塊110、圖像獲取模塊120和分析模塊130，其中：

控制模塊110用于控制待檢測(cè)顯示面板顯示檢測(cè)畫(huà)面。

圖像獲取模塊120用于對(duì)待檢測(cè)顯示面板進(jìn)行拍照以獲取對(duì)應(yīng)的顯示圖像。

分析模塊130用于對(duì)顯示圖像進(jìn)行分析以獲取不良坐標(biāo)位置。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，在圖8所示的基礎(chǔ)上，如圖10所示，控制裝置300可以包括第一獲取模塊310、第二獲取模塊320和生成模塊330，其中：

第一獲取模塊310用于獲取待檢測(cè)顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率。

第二獲取模塊320用于獲取模擬顯示面板的橫向長(zhǎng)度值和縱向?qū)挾戎怠?/p>

生成模塊330用于根據(jù)不良坐標(biāo)位置、待檢測(cè)顯示面板的橫向分辨率和縱向分辨率，以及模擬顯示面板的橫向長(zhǎng)度值和縱向?qū)挾戎瞪赡M顯示面板的模擬坐標(biāo)位置。

假設(shè)用(x，y)表示不良坐標(biāo)位置，(x′，y′)表示模擬坐標(biāo)位置，v和h分別表示橫向分辨率和縱向分辨率，a和b表示模擬顯示面板的橫向長(zhǎng)度值和縱向長(zhǎng)度值。不良坐標(biāo)位置和和模擬坐標(biāo)位置之間的關(guān)系如下公式所示：

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，在圖9所示的基礎(chǔ)上，如圖11所示，該檢測(cè)裝置100還可以包括檢測(cè)模塊140，該檢測(cè)模塊140用于根據(jù)顯示圖像檢測(cè)待檢測(cè)顯示面板的不良類型代碼。

如圖11所示，該控制裝置300還可以包括標(biāo)記模塊340，該標(biāo)記模塊340用于在模擬顯示面板中標(biāo)記不良類型代碼。

其中，不良類型可以包括但不限于點(diǎn)、線和mura(云紋)。

其中，線不良類型可以包括縱向貫穿、橫向貫穿、縱向或者橫向未貫穿、橫向與縱向交叉貫穿等具體的線不良。

舉例而言，對(duì)于不良類型是點(diǎn)或mura，模擬顯示面板中可以用不同顏色的圓圈標(biāo)記點(diǎn)或mura不良類型，對(duì)于不良類型是線，模擬顯示面板可以用縱向貫穿線、橫向貫穿線、縱向或者橫向未貫穿線、橫向與縱向交叉貫穿線。

其中，需要理解的是，模擬顯示面板中縱向或者橫向未貫穿線的起點(diǎn)與終點(diǎn)是根據(jù)待檢測(cè)顯示面板的縱向或者橫向未貫穿線的起點(diǎn)與終點(diǎn)轉(zhuǎn)換而來(lái)的。

其中，需要說(shuō)明的是，不同不良類型所使用的不良類型代碼不同，例如，不良類型為點(diǎn)、線和mura，可通過(guò)不良類型代碼1表示不良類型點(diǎn)，可通過(guò)不良類型代碼2表示不良類型線，可通過(guò)不良類型代碼3表示不良類型mura。

其中，需要理解的是，在控制裝置300獲取待檢測(cè)顯示面板的不良類型代碼后，控制裝置300可通過(guò)解析不良類型代碼確定待檢測(cè)顯示面板的不良類型。舉例而言，假設(shè)不良類型代碼1表示不良類型點(diǎn)，不良類型代碼2表示不良類型線，不良類型代碼3表示不良類型mura，如果獲取待檢測(cè)顯示面板的不良類型代碼為2，此時(shí)，可確定待檢測(cè)顯示面板的不良類型為線不良。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，在獲取待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)和不良類型代碼后，控制裝置300還可以根據(jù)不良類型代碼和不良坐標(biāo)位置生成模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置。

作為一種示例性的實(shí)施方式，在獲取待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)和不良類型代碼后，控制裝置300可根據(jù)不良類型代碼和不良坐標(biāo)位置，按照預(yù)先設(shè)置的轉(zhuǎn)換規(guī)則，生成模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置。

其中，需要說(shuō)明的是，根據(jù)不良類型代碼和不良坐標(biāo)位置，按照預(yù)先設(shè)置的轉(zhuǎn)換規(guī)則，生成模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置的具體過(guò)程，可參見(jiàn)上述顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)方法實(shí)施例的相關(guān)描述，此處不再贅述。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，如圖8所示的基礎(chǔ)上，如圖12所示，該系統(tǒng)還可以包括讀取裝置400和服務(wù)器500，其中：

讀取裝置400用于讀取待檢測(cè)顯示面板的標(biāo)識(shí)。

服務(wù)器500用于存儲(chǔ)檢測(cè)裝置發(fā)送的不良坐標(biāo)位置，其中，控制裝置300根據(jù)待檢測(cè)顯示面板的標(biāo)識(shí)從服務(wù)器500讀取對(duì)應(yīng)的不良坐標(biāo)位置。

其中，需要說(shuō)明的是，前述對(duì)顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)方法的解釋說(shuō)明也適用于該實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)系統(tǒng)，此處不再贅述。

本發(fā)明實(shí)施例的顯示面板中不良坐標(biāo)位置的核驗(yàn)系統(tǒng)，獲取待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置，根據(jù)待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置生成模擬顯示面板的模擬坐標(biāo)位置，以及在模擬顯示面板中顯示模擬坐標(biāo)位置以將待檢測(cè)顯示面板的不良坐標(biāo)位置投影至模擬顯示面板之上，由此，將顯示面板的不良坐標(biāo)位置準(zhǔn)確投射至模擬顯示面板之上，方便了相關(guān)人員根據(jù)模型顯示面板上的坐標(biāo)位置進(jìn)行復(fù)判，精確標(biāo)定了不良在顯示面板上的坐標(biāo)位置，進(jìn)而可提高維修不良的顯示面板的效率。

在本說(shuō)明書(shū)的描述中，參考術(shù)語(yǔ)“一個(gè)實(shí)施例”、“一些實(shí)施例”、“示例”、“具體示例”、或“一些示例”等的描述意指結(jié)合該實(shí)施例或示例描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)包含于本發(fā)明的至少一個(gè)實(shí)施例或示例中。在本說(shuō)明書(shū)中，對(duì)上述術(shù)語(yǔ)的示意性表述不必須針對(duì)的是相同的實(shí)施例或示例。而且，描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)可以在任一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例或示例中以合適的方式結(jié)合。此外，在不相互矛盾的情況下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以將本說(shuō)明書(shū)中描述的不同實(shí)施例或示例以及不同實(shí)施例或示例的特征進(jìn)行結(jié)合和組合。

此外，術(shù)語(yǔ)“第一”、“第二”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對(duì)重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括至少一個(gè)該特征。在本發(fā)明的描述中，“多個(gè)”的含義是兩個(gè)或兩個(gè)以上，除非另有明確具體的限定。

流程圖中或在此以其他方式描述的任何過(guò)程或方法描述可以被理解為，表示包括一個(gè)或更多個(gè)用于實(shí)現(xiàn)特定邏輯功能或過(guò)程的步驟的可執(zhí)行指令的代碼的模塊、片段或部分，并且本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式的范圍包括另外的實(shí)現(xiàn)，其中可以不按所示出或討論的順序，包括根據(jù)所涉及的功能按基本同時(shí)的方式或按相反的順序，來(lái)執(zhí)行功能，這應(yīng)被本發(fā)明的實(shí)施例所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員所理解。

在流程圖中表示或在此以其他方式描述的邏輯和/或步驟，例如，可以被認(rèn)為是用于實(shí)現(xiàn)邏輯功能的可執(zhí)行指令的定序列表，可以具體實(shí)現(xiàn)在任何計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)中，以供指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設(shè)備(如基于計(jì)算機(jī)的系統(tǒng)、包括處理器的系統(tǒng)或其他可以從指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設(shè)備取指令并執(zhí)行指令的系統(tǒng))使用，或結(jié)合這些指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設(shè)備而使用。就本說(shuō)明書(shū)而言，"計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)"可以是任何可以包含、存儲(chǔ)、通信、傳播或傳輸程序以供指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設(shè)備或結(jié)合這些指令執(zhí)行系統(tǒng)、裝置或設(shè)備而使用的裝置。計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)的更具體的示例(非窮盡性列表)包括以下：具有一個(gè)或多個(gè)布線的電連接部(電子裝置)，便攜式計(jì)算機(jī)盤(pán)盒(磁裝置)，隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(ram)，只讀存儲(chǔ)器(rom)，可擦除可編輯只讀存儲(chǔ)器(eprom或閃速存儲(chǔ)器)，光纖裝置，以及便攜式光盤(pán)只讀存儲(chǔ)器(cdrom)。另外，計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)甚至可以是可在其上打印所述程序的紙或其他合適的介質(zhì)，因?yàn)榭梢岳缤ㄟ^(guò)對(duì)紙或其他介質(zhì)進(jìn)行光學(xué)掃描，接著進(jìn)行編輯、解譯或必要時(shí)以其他合適方式進(jìn)行處理來(lái)以電子方式獲得所述程序，然后將其存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器中。

應(yīng)當(dāng)理解，本發(fā)明的各部分可以用硬件、軟件、固件或它們的組合來(lái)實(shí)現(xiàn)。在上述實(shí)施方式中，多個(gè)步驟或方法可以用存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中且由合適的指令執(zhí)行系統(tǒng)執(zhí)行的軟件或固件來(lái)實(shí)現(xiàn)。例如，如果用硬件來(lái)實(shí)現(xiàn)，和在另一實(shí)施方式中一樣，可用本領(lǐng)域公知的下列技術(shù)中的任一項(xiàng)或他們的組合來(lái)實(shí)現(xiàn)：具有用于對(duì)數(shù)據(jù)信號(hào)實(shí)現(xiàn)邏輯功能的邏輯門(mén)電路的離散邏輯電路，具有合適的組合邏輯門(mén)電路的專用集成電路，可編程門(mén)陣列(pga)，現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(fpga)等。

本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法攜帶的全部或部分步驟是可以通過(guò)程序來(lái)指令相關(guān)的硬件完成，所述的程序可以存儲(chǔ)于一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時(shí)，包括方法實(shí)施例的步驟之一或其組合。

此外，在本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例中的各功能單元可以集成在一個(gè)處理模塊中，也可以是各個(gè)單元單獨(dú)物理存在，也可以兩個(gè)或兩個(gè)以上單元集成在一個(gè)模塊中。上述集成的模塊既可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn)，也可以采用軟件功能模塊的形式實(shí)現(xiàn)。所述集成的模塊如果以軟件功能模塊的形式實(shí)現(xiàn)并作為獨(dú)立的產(chǎn)品銷售或使用時(shí)，也可以存儲(chǔ)在一個(gè)計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中。

上述提到的存儲(chǔ)介質(zhì)可以是只讀存儲(chǔ)器，磁盤(pán)或光盤(pán)等。盡管上面已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實(shí)施例，可以理解的是，上述實(shí)施例是示例性的，不能理解為對(duì)本發(fā)明的限制，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在本發(fā)明的范圍內(nèi)可以對(duì)上述實(shí)施例進(jìn)行變化、修改、替換和變型。