本申請(qǐng)涉及電路技術(shù),尤其涉及一種絕緣電阻的檢測(cè)裝置及方法。
背景技術(shù):
儲(chǔ)能技術(shù)是能源互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的重要組成部分,同時(shí)更是分布式能源系統(tǒng)和智能電網(wǎng)系統(tǒng)的重要組成部分。儲(chǔ)能技術(shù)一般分為熱儲(chǔ)能和電儲(chǔ)能,但未來應(yīng)用于全球能源互聯(lián)網(wǎng)的主要是電儲(chǔ)能。其中,電儲(chǔ)能技術(shù)主要分為物理儲(chǔ)能、電化學(xué)儲(chǔ)能和電磁儲(chǔ)能三大類。隨著電化學(xué)技術(shù)的迅速進(jìn)步,電化學(xué)儲(chǔ)能越來越廣泛的得到應(yīng)用。
圖1為電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示,電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e包括:電化學(xué)儲(chǔ)能裝置a、直流側(cè)裝置b、交直流功率變換裝置c以及交流側(cè)裝置d,其中,所述交流側(cè)裝置d連接至電網(wǎng)或負(fù)載。電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)將電網(wǎng)的電能通過交直流功率變換裝置c存入電化學(xué)儲(chǔ)能裝置a,或者,通過交直流功率變換裝置c將電化學(xué)儲(chǔ)能裝置a中的電能放出至電網(wǎng)。
為了保證電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)正常運(yùn)行以及運(yùn)行維護(hù)人員的安全,需要保證電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)對(duì)地良好絕緣。但在電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)長(zhǎng)期運(yùn)行過程中,絕緣老化、外力破壞等原因都會(huì)導(dǎo)致電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)對(duì)地絕緣電阻變小,使得電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)無法安全運(yùn)行,以及會(huì)危害運(yùn)行維護(hù)人員的人身安全。因此,需要對(duì)電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻進(jìn)行長(zhǎng)期檢測(cè)和監(jiān)控。
因此,如何對(duì)電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻進(jìn)行檢測(cè)成為目前研發(fā)人員亟待解決的技術(shù)問題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N絕緣電阻的檢測(cè)裝置及方法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻的檢測(cè)。
第一方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種絕緣電阻的檢測(cè)裝置,包括:分壓模塊、采樣模塊以及處理器,所述分壓模塊分別與所述采樣模塊和所述處理器連接;所述分壓模塊包括:至少兩個(gè)開關(guān)以及至少兩個(gè)采樣電阻;
其中,所述分壓模塊的第一輸出端連接電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)中的直流側(cè)裝置的第一輸入端,所述分壓模塊的第二輸出端連接至所述直流側(cè)裝置的第二輸入端,所述分壓模塊的第三輸出端連接至所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的地線;
所述處理器用于控制所述分壓模塊中各所述開關(guān)的閉合或斷開,以觸發(fā)所述分壓模塊中的電路連接發(fā)生變化;
所述采樣模塊用于采集所述分壓模塊中不同電路連接狀態(tài)下的所述采樣電阻的電壓;
所述處理器還用于:根據(jù)所述采樣電阻的電壓以及所述采樣電阻的電阻,確定所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻。
所述分壓模塊包括:第一采樣單元、第二采樣單元、以及第三開關(guān),所述第一采樣單元包含第一開關(guān)和第一采樣電阻,所述第二采樣單元包含第二開關(guān)和第二采樣電阻;其中,所述第一采樣單元的第一端連接所述直流側(cè)裝置的第一輸入端,所述第二采樣單元的第一端連接至所述直流側(cè)裝置的第二輸入端,所述第一采樣單元的第二端和所述第二采樣單元的第二端連接至所述第三開關(guān)的第一端,所述第三開關(guān)的第二端連接至所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的地線;
對(duì)應(yīng)地,所述采樣模塊具體用于:采集當(dāng)所述第一開關(guān)和所述第二開關(guān)閉合時(shí)所述第一采樣電阻兩端的第一電壓、所述第一開關(guān)和所述第三開關(guān)閉合時(shí)所述第一采樣電阻兩端的第二電壓、以及所述第二開關(guān)和所述第三開關(guān)閉合時(shí)所述第二采樣電阻兩端的第三電壓;
所述處理器具體用于:根據(jù)所述第一電壓、所述第二電壓、所述第三電壓、所述第一采樣電阻和所述第二采樣電阻,確定所述直流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻以及所述直流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻。
在一種可能的設(shè)計(jì)中,所述分壓模塊還包括:第四開關(guān)和第三采樣單元,所述第三采樣單元包含第五開關(guān)和第三采樣電阻;其中,所述第四開關(guān)的第一端和所述第三采樣單元的第一端連接至所述第二采樣單元的第一端,所述第四開關(guān)的第二端連接至所述第三開關(guān)的第二端,所述第三采樣單元的第二端連接至所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)中的交流側(cè)裝置的第一輸入端;
對(duì)應(yīng)地,所述采樣模塊還用于:采集當(dāng)所述第五開關(guān)閉合時(shí)所述第三采樣電阻兩端的第四電壓、以及所述第四開關(guān)和所述第五開關(guān)閉合時(shí)所述第三采樣電阻兩端的第五電壓;
所述處理器還用于:根據(jù)所述第四電壓、所述第五電壓和所述第三采樣電阻,確定所述交流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻。
在一種可能的設(shè)計(jì)中,所述分壓模塊還包括:第四采樣單元,所述第四采樣單元包含第六開關(guān)和第四采樣電阻;其中,所述第四采樣單元的第一端連接至所述第二采樣單元的第一端,所述第四采樣單元的第二端連接至所述交流側(cè)裝置的第二輸入端;
對(duì)應(yīng)地,所述采樣模塊還用于:采集當(dāng)所述第六開關(guān)閉合時(shí)所述第四采樣電阻兩端的第六電壓、以及所述第四開關(guān)和所述第六開關(guān)閉合時(shí)所述第四采樣電阻兩端的第七電壓;
所述處理器還用于:根據(jù)所述第六電壓、所述第七電壓和所述第四采樣電阻,確定所述交流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻。
在一種可能的設(shè)計(jì)中,所述分壓模塊還包括:第五采樣單元,所述第五采樣單元包含第七開關(guān)和第五采樣電阻;其中,所述第五采樣單元的第一端連接至所述第二采樣單元的第一端,所述第五采樣單元的第二端連接至所述交流側(cè)裝置的第三輸入端;
對(duì)應(yīng)地,所述采樣模塊還用于:采集當(dāng)所述第七開關(guān)閉合時(shí)所述第五采樣電阻兩端的第八電壓、以及所述第四開關(guān)和所述第七開關(guān)閉合時(shí)所述第五采樣電阻兩端的第九電壓;
所述處理器還用于:根據(jù)所述第八電壓、所述第九電壓和所述第五采樣電阻,確定所述交流側(cè)裝置的第三輸入端的對(duì)地絕緣電阻。
在一種可能的設(shè)計(jì)中,所述第一采樣單元還包含第一分壓電阻,所述第二采樣單元還包含第二分壓電阻,所述第一分壓電阻的第一端連接所述直流側(cè)裝置的第一輸入端,所述第一分壓電阻的第二端連接所述第一開關(guān)的第一端,所述第一開關(guān)的第二端連接所述第一采樣電阻的第一端,所述第一采樣電阻的第二端連接所述第三開關(guān)的第一端,所述第二分壓電阻的第一端連接所述直流側(cè)裝置的第二輸入端,所述第二分壓電阻的第二端連接所述第二開關(guān)的第一端,所述第二開關(guān)的第二端連接所述第二采樣電阻的第一端,所述第二采樣電阻的第二端連接所述第三開關(guān)的第一端;
對(duì)應(yīng)地,所述處理器具體用于:根據(jù)所述第一電壓、所述第二電壓、所述第三電壓、所述第一采樣電阻、所述第二采樣電阻、所述第一分壓電阻和所述第二分壓電阻,確定所述直流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻以及所述直流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻。
第二方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種絕緣電阻的檢測(cè)方法,適用于檢測(cè)裝置,所述檢測(cè)裝置包括:分壓模塊、采樣模塊以及處理器,所述分壓模塊分別與所述采樣模塊和所述處理器連接;所述分壓模塊包括:至少兩個(gè)開關(guān)以及至少兩個(gè)采樣電阻;所述分壓模塊的第一輸出端連接至電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)中的直流側(cè)裝置的第一輸入端,所述分壓模塊的第二輸出端連接至所述直流側(cè)裝置的第二輸入端,所述分壓模塊的第三輸出端連接至所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的地線;
所述方法包括:
所述處理器控制所述分壓模塊中各所述開關(guān)的閉合或斷開,以觸發(fā)所述分壓模塊中的電路連接發(fā)生變化;
所述采樣模塊采集所述分壓模塊中不同電路連接狀態(tài)下的所述采樣電阻的電壓;
所述處理器根據(jù)所述采樣電阻的電壓以及所述采樣電阻的電阻,確定所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻。
在一種可能的設(shè)計(jì)中,所述分壓模塊包括:第一采樣單元、第二采樣單元、以及第三開關(guān),所述第一采樣單元包含第一開關(guān)和第一采樣電阻,所述第二采樣單元包含第二開關(guān)和第二采樣電阻;其中,所述第一采樣單元的第一端連接所述直流側(cè)裝置的第一輸入端,所述第二采樣單元的第一端連接至所述直流側(cè)裝置的第二輸入端,所述第一采樣單元的第二端和所述第二采樣單元的第二端連接至所述第三開關(guān)的第一端,所述第三開關(guān)的第二端連接至所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的地線;
對(duì)應(yīng)地,所述采樣模塊采集所述分壓模塊中不同電路連接狀態(tài)下的所述采樣電阻的電壓,包括:
所述采樣模塊采集當(dāng)所述第一開關(guān)和所述第二開關(guān)閉合時(shí)所述第一采樣電阻兩端的第一電壓、所述第一開關(guān)和所述第三開關(guān)閉合時(shí)所述第一采樣電阻兩端的第二電壓、以及所述第二開關(guān)和所述第三開關(guān)閉合時(shí)所述第二采樣電阻兩端的第三電壓;
所述處理器根據(jù)所述采樣電阻的電壓以及所述采樣電阻的電阻,確定所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻,包括:
所述處理器根據(jù)所述第一電壓、所述第二電壓、所述第三電壓、所述第一采樣電阻和所述第二采樣電阻,確定所述直流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻以及所述直流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻。
在一種可能的設(shè)計(jì)中,所述分壓模塊還包括:第四開關(guān)和第三采樣單元,所述第三采樣單元包含第五開關(guān)和第三采樣電阻;其中,所述第四開關(guān)的第一端和所述第三采樣單元的第一端連接至所述第二采樣單元的第一端,所述第四開關(guān)的第二端連接至所述第三開關(guān)的第二端,所述第三采樣單元的第二端連接至所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)中的交流側(cè)裝置的第一輸入端;
對(duì)應(yīng)地,所述采樣模塊采集所述分壓模塊中不同電路連接狀態(tài)下的所述采樣電阻的電壓,還包括:
所述采樣模塊采集當(dāng)所述第五開關(guān)閉合時(shí)所述第三采樣電阻兩端的第四電壓、以及所述第四開關(guān)和所述第五開關(guān)閉合時(shí)所述第三采樣電阻兩端的第五電壓;
所述處理器根據(jù)所述采樣電阻的電壓以及所述采樣電阻的電阻,確定所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻,還包括:
所述處理器根據(jù)所述第四電壓、所述第五電壓和所述第三采樣電阻,確定所述交流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻。
在一種可能的設(shè)計(jì)中,所述分壓模塊還包括:第四采樣單元,所述第四采樣單元包含第六開關(guān)和第四采樣電阻;其中,所述第四采樣單元的第一端連接至所述第二采樣單元的第一端,所述第四采樣單元的第二端連接至所述交流側(cè)裝置的第二輸入端;
對(duì)應(yīng)地,所述采樣模塊采集所述分壓模塊中不同電路連接狀態(tài)下的所述采樣電阻的電壓,還包括:
所述采樣模塊采集當(dāng)所述第六開關(guān)閉合時(shí)所述第四采樣電阻兩端的第六電壓、以及所述第四開關(guān)和所述第六開關(guān)閉合時(shí)所述第四采樣電阻兩端的第七電壓;
所述處理器根據(jù)所述采樣電阻的電壓以及所述采樣電阻的電阻,確定所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻,還包括:
所述處理器根據(jù)所述第六電壓、所述第七電壓和所述第四采樣電阻,確定所述交流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻。
在一種可能的設(shè)計(jì)中,所述分壓模塊還包括:第五采樣單元,所述第五采樣單元包含第七開關(guān)和第五采樣電阻;其中,所述第五采樣單元的第一端連接至所述第二采樣單元的第一端,所述第五采樣單元的第二端連接至所述交流側(cè)裝置的第三輸入端;
對(duì)應(yīng)地,所述采樣模塊采集所述分壓模塊中不同電路連接狀態(tài)下的所述采樣電阻的電壓,還包括:
所述采樣模塊采集當(dāng)所述第七開關(guān)閉合時(shí)所述第五采樣電阻兩端的第八電壓、以及所述第四開關(guān)和所述第七開關(guān)閉合時(shí)所述第五采樣電阻兩端的第九電壓;
所述處理器根據(jù)所述采樣電阻的電壓以及所述采樣電阻的電阻,確定所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻,還包括:
所述處理器根據(jù)所述第八電壓、所述第九電壓和所述第五采樣電阻,確定所述交流側(cè)裝置的第三輸入端的對(duì)地絕緣電阻。
在一種可能的設(shè)計(jì)中,所述第一采樣單元還包含第一分壓電阻,所述第二采樣單元還包含第二分壓電阻,所述第一分壓電阻的第一端連接所述直流側(cè)裝置的第一輸入端,所述第一分壓電阻的第二端連接所述第一開關(guān)的第一端,所述第一開關(guān)的第二端連接所述第一采樣電阻的第一端,所述第一采樣電阻的第二端連接所述第三開關(guān)的第一端,所述第二分壓電阻的第一端連接所述直流側(cè)裝置的第二輸入端,所述第二分壓電阻的第二端連接所述第二開關(guān)的第一端,所述第二開關(guān)的第二端連接所述第二采樣電阻的第一端,所述第二采樣電阻的第二端連接所述第三開關(guān)的第一端;
對(duì)應(yīng)地,所述處理器根據(jù)所述第一電壓、所述第二電壓、所述第三電壓、所述第一采樣電阻和所述第二采樣電阻,確定所述直流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻以及所述直流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻,包括:
所述處理器根據(jù)所述第一電壓、所述第二電壓、所述第三電壓、所述第一采樣電阻、所述第二采樣電阻、所述第一分壓電阻和所述第二分壓電阻,確定所述直流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻以及所述直流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻。
本申請(qǐng)實(shí)施例提供的絕緣電阻的檢測(cè)裝置及方法中,所述絕緣電阻的檢測(cè)裝置的分壓模塊的第一輸出端連接電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)中的直流側(cè)裝置的第一輸入端,所述分壓模塊的第二輸出端連接至所述直流側(cè)裝置的第二輸入端,所述分壓模塊的第三輸出端連接至所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的地線。通過所述絕緣電阻的檢測(cè)裝置的處理器控制所述分壓模塊中各開關(guān)的閉合或斷開,以觸發(fā)所述分壓模塊中的電路連接發(fā)生變化;進(jìn)一步地,所述檢測(cè)裝置的采樣模塊采集所述分壓模塊中不同電路連接狀態(tài)下的各采樣電阻的電壓;進(jìn)一步地,所述處理器根據(jù)所述采樣電阻的電壓以及所述采樣電阻的電阻,確定所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻??梢?,實(shí)現(xiàn)了對(duì)電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻的檢測(cè)。
附圖說明
為了更清楚地說明本申請(qǐng)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本申請(qǐng)的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2a為本申請(qǐng)絕緣電阻的檢測(cè)裝置實(shí)施例一的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2b為本申請(qǐng)實(shí)施例中分壓模塊的結(jié)構(gòu)示意圖一;
圖3a為本申請(qǐng)實(shí)施例中分壓模塊的結(jié)構(gòu)示意圖二;
圖3b為本申請(qǐng)實(shí)施例中分壓模塊的結(jié)構(gòu)示意圖三;
圖4a為本申請(qǐng)實(shí)施例中分壓模塊的結(jié)構(gòu)示意圖四;
圖4b為本申請(qǐng)實(shí)施例中電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的直流側(cè)裝置通過交直流功率變換裝置對(duì)交流側(cè)裝置的第一輸入端的戴維南等效電路的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4c為本申請(qǐng)實(shí)施例中絕緣電阻檢測(cè)回路的等效電路結(jié)構(gòu)示意圖一;
圖4d為本申請(qǐng)實(shí)施例中絕緣電阻檢測(cè)回路的等效電路結(jié)構(gòu)示意圖二;
圖5為本申請(qǐng)實(shí)施例中分壓模塊的結(jié)構(gòu)示意圖五;
圖6為本申請(qǐng)實(shí)施例中分壓模塊的結(jié)構(gòu)示意圖六。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本申請(qǐng)實(shí)施例中的附圖,對(duì)本申請(qǐng)實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本申請(qǐng)一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。基于本申請(qǐng)中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本申請(qǐng)保護(hù)的范圍。
本申請(qǐng)的說明書和權(quán)利要求書及上述附圖中的術(shù)語“第一”、“第二”、“第三”“第四”等(如果存在)是用于區(qū)別類似的對(duì)象,而不必用于描述特定的順序或先后次序。應(yīng)該理解這樣使用的數(shù)據(jù)在適當(dāng)情況下可以互換,以便這里描述的本申請(qǐng)的實(shí)施例例如能夠以除了在這里圖示或描述的那些以外的順序?qū)嵤?。此外,術(shù)語“包括”和“具有”以及他們的任何變形,意圖在于覆蓋不排他的包含,例如,包含了一系列步驟或器的過程、方法、系統(tǒng)、產(chǎn)品或設(shè)備不必限于清楚地列出的那些步驟或器,而是可包括沒有清楚地列出的或?qū)τ谶@些過程、方法、產(chǎn)品或設(shè)備固有的其它步驟或器。
首先,對(duì)本申請(qǐng)中涉及的電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)進(jìn)行解釋說明:
如圖1所示,電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e包括:電化學(xué)儲(chǔ)能裝置a、直流側(cè)裝置b、交直流功率變換裝置c以及交流側(cè)裝置d。所述電化學(xué)儲(chǔ)能裝置a的第一輸出端與所述直流側(cè)裝置b的第一輸入端連接,所述電化學(xué)儲(chǔ)能裝置a的第二輸出端與所述直流側(cè)裝置b的第二輸入端連接,所述直流側(cè)裝置b的第一輸出端與所述交直流功率變換裝置c的第一輸入端連接,所述直流側(cè)裝置b的第二輸出端與所述交直流功率變換裝置c的第二輸入端連接,所述交直流功率變換裝置c的第一輸出端與所述交流側(cè)裝置d的第一輸入端連接,所述交直流功率變換裝置c的第二輸出端與所述交流側(cè)裝置d的第二輸入端連接,所述交直流功率變換裝置c的第三輸出端與所述交流側(cè)裝置d的第三輸入端連接,所述交流側(cè)裝置d的輸出端連接至電網(wǎng)或負(fù)載。
其次,對(duì)本申請(qǐng)實(shí)施例的應(yīng)用背景進(jìn)行介紹:
通常情況下,在電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e長(zhǎng)期運(yùn)行過程中,絕緣老化、外力破壞等原因都會(huì)導(dǎo)致電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e對(duì)地絕緣電阻變小,使得電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e無法安全運(yùn)行,以及會(huì)危害運(yùn)行維護(hù)人員的人身安全。因此,需要對(duì)電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e的絕緣電阻(例如直流側(cè)的對(duì)地絕緣電阻和/或交流側(cè)的對(duì)地絕緣電阻)進(jìn)行長(zhǎng)期檢測(cè)和監(jiān)控。
本公開實(shí)施例提供的絕緣電阻的檢測(cè)裝置及方法旨在實(shí)現(xiàn)對(duì)電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e的絕緣電阻的檢測(cè),具體的實(shí)現(xiàn)方式參見下述實(shí)施例:
下面以具體地實(shí)施例對(duì)本申請(qǐng)的技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)說明。下面這幾個(gè)具體的實(shí)施例可以相互結(jié)合,對(duì)于相同或相似的概念或過程可能在某些實(shí)施例不再贅述。
圖2a為本申請(qǐng)絕緣電阻的檢測(cè)裝置實(shí)施例一的結(jié)構(gòu)示意圖,圖2b為本申請(qǐng)實(shí)施例中分壓模塊的結(jié)構(gòu)示意圖一。結(jié)合圖1、圖2a和圖2b所示,所述絕緣電阻的檢測(cè)裝置20包括:分壓模塊201、采樣模塊202以及處理器203,可選地,所述分壓模塊201分別與所述采樣模塊202和所述處理器203連接,所述處理器203與所述采樣模塊202連接;所述分壓模塊包括:至少兩個(gè)開關(guān)以及至少兩個(gè)采樣電阻??蛇x地,所述分壓模塊201中的所述至少兩個(gè)開關(guān)在不同的狀態(tài)(如閉合或斷開)下,所述分壓模塊201中的電路連接不同??蛇x地,所述分壓模塊201中的所述開關(guān)可以采用具有物理斷點(diǎn)的開關(guān),當(dāng)然,所述分壓模塊201中的所述開關(guān)還可以采用其它形式的開關(guān),本申請(qǐng)實(shí)施例中對(duì)此并不作限制。
其中,所述分壓模塊201的第一輸出端①連接電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e中的直流側(cè)裝置b的第一輸入端,所述分壓模塊201的第二輸出端②連接至所述直流側(cè)裝置b的第二輸入端,所述分壓模塊201的第三輸出端③連接至所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e的地線。
可選地,所述處理器203用于控制所述分壓模塊201中各所述開關(guān)的閉合或斷開,以觸發(fā)所述分壓模塊201中的電路連接發(fā)生變化。所述采樣模塊202用于采集所述分壓模塊201中不同電路連接狀態(tài)下的所述采樣電阻的電壓??蛇x地,所述采樣模塊202將采集的所述分壓模塊201中不同電路連接狀態(tài)下的各所述采樣電阻的電壓傳輸至所述處理器203。進(jìn)一步地,所述處理器203還用于:根據(jù)所述采樣模塊202傳輸?shù)母魉霾蓸与娮璧碾妷阂约案魉霾蓸与娮璧碾娮?,確定所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e的絕緣電阻,可選地,所述絕緣電阻可以為直流側(cè)的對(duì)地絕緣電阻(例如圖1中的所述直流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻rgp和所述直流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻rgn)。當(dāng)然,所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e的絕緣電阻還可以包括其它的對(duì)地絕緣電阻,本申請(qǐng)實(shí)施例中對(duì)此并不作限制。
可選地,所述采樣模塊202可以先將采集的所述分壓模塊201中不同電路連接狀態(tài)下的各所述采樣電阻的電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字電壓信號(hào),并將各所述數(shù)字電壓信號(hào)傳輸至所述處理器203,以便所述處理器203根據(jù)各所述數(shù)字電壓信號(hào)(即所述采樣模塊202傳輸?shù)母魉霾蓸与娮璧碾妷?以及各所述采樣電阻的電阻,確定所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e的絕緣電阻。可選地,所述采樣模塊202將各所述采樣電阻的電壓通過模數(shù)轉(zhuǎn)換(analog-to-digitalconvert,a/d)轉(zhuǎn)換為數(shù)字電壓信號(hào),以便所述處理器計(jì)算??蛇x地,所述a/d轉(zhuǎn)換的方式可以采用現(xiàn)有技術(shù)中的a/d轉(zhuǎn)換方式,本申請(qǐng)實(shí)施例中對(duì)此并不作限制。
本實(shí)施例中,所述絕緣電阻的檢測(cè)裝置的分壓模塊的第一輸出端連接電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)中的直流側(cè)裝置的第一輸入端,所述分壓模塊的第二輸出端連接至所述直流側(cè)裝置的第二輸入端,所述分壓模塊的第三輸出端連接至所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的地線;所述絕緣電阻的檢測(cè)裝置的處理器用于控制所述分壓模塊中各開關(guān)的閉合或斷開,以觸發(fā)所述分壓模塊中的電路連接發(fā)生變化;所述絕緣電阻的檢測(cè)裝置的采樣模塊用于采集所述分壓模塊中不同電路連接狀態(tài)下的各采樣電阻的電壓;所述處理器還用于:根據(jù)所述采樣電阻的電壓以及所述采樣電阻的電阻,確定所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻??梢姡瑢?shí)現(xiàn)了對(duì)電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻的檢測(cè)。
圖3a為本申請(qǐng)實(shí)施例中分壓模塊的結(jié)構(gòu)示意圖二。結(jié)合圖1、圖2b和圖3a所示,在實(shí)施例的基礎(chǔ)上,所述分壓模塊201包括:第一采樣單元201a、第二采樣單元201b、以及第三開關(guān)kg1,所述第一采樣單元201a包含第一開關(guān)kp和第一采樣電阻rp2,所述第二采樣單元201b包含第二開關(guān)kn和第二采樣電阻rn2。其中,所述第一采樣單元201a的第一端(即所述分壓模塊201的第一輸出端①)連接所述直流側(cè)裝置b的第一輸入端,所述第二采樣單元201b的第一端(即所述分壓模塊201的第二輸出端②)連接至所述直流側(cè)裝置b的第二輸入端,所述第一采樣單元201a的第二端和所述第二采樣單元201b的第二端連接至所述第三開關(guān)kg1的第一端,所述第三開關(guān)kg1的第二端(即所述分壓模塊201的第三輸出端③)連接至所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e的地線。
可選地,本實(shí)施例中對(duì)所述第一采樣單元201a中的所述第一開關(guān)kp與所述第一采樣電阻rp2的連接關(guān)系,以及所述第二采樣單元201b中的所述第二開關(guān)kn和所述第二采樣電阻rn2的連接關(guān)系并不作限定。例如:所述第一開關(guān)kp的第一端可以作為所述第一采樣單元201a的第一端,所述第一開關(guān)kp的第二端連接所述第一采樣電阻rp2的第一端,所述第一采樣電阻rp2的第二端作為所述第一采樣單元201a的第二端(圖中未示出);或者,所述第一采樣電阻rp2的第一端可以作為所述第一采樣單元201a的第一端,所述第一采樣電阻rp2的第二端連接所述第一開關(guān)kp的第一端,所述第一開關(guān)kp的第二端作為所述第一采樣單元201a的第二端(如圖3a所示)。當(dāng)然,所述第一采樣單元201a和所述第二采樣單元201b還可以包括其它器件,本實(shí)施例中對(duì)此并不作限制。
可選地,所述采樣模塊202的第一檢測(cè)端和第二檢測(cè)端分別連接至所述第一采樣電阻rp2兩端,以便用于采集所述第一采樣電阻rp2兩端的電壓,以及所述采樣模塊202的第三檢測(cè)端和第四檢測(cè)端分別連接至所述第二采樣電阻rn2兩端,以便用于采集所述第二采樣電阻rn2兩端的電壓??蛇x地,所述采樣模塊202的具體電路結(jié)構(gòu)可以采用現(xiàn)有技術(shù)中的采樣電路的結(jié)構(gòu),本實(shí)施例中對(duì)此并不作限制。
可選地,所述處理器203用于:分別控制所述分壓模塊201中的所述第一開關(guān)kp和所述第二開關(guān)kn閉合且所述分壓模塊201中除所述第一開關(guān)kp和所述第二開關(guān)kn之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài)、所述分壓模塊201中的所述第一開關(guān)kp和所述第三開關(guān)kg1閉合且所述分壓模塊201中除所述第一開關(guān)kp和所述第三開關(guān)kg1之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài)、以及所述分壓模塊201中的所述第二開關(guān)kn和所述第三開關(guān)kg1閉合且所述分壓模塊201中除所述第二開關(guān)kn和所述第三開關(guān)kg1之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài)。
可選地,所述采樣模塊202具體用于:采集當(dāng)所述第一開關(guān)kp和所述第二開關(guān)kn閉合(所述分壓模塊201中除所述第一開關(guān)kp和所述第二開關(guān)kn之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài))時(shí)所述第一采樣電阻rp2兩端的第一電壓up21、所述第一開關(guān)kp和所述第三開關(guān)kg1閉合(所述分壓模塊201中除所述第一開關(guān)kp和所述第三開關(guān)kg1之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài))時(shí)所述第一采樣電阻rp2兩端的第二電壓up22、以及所述第二開關(guān)kn和所述第三開關(guān)kg1閉合(所述分壓模塊201中除所述第二開關(guān)kn和所述第三開關(guān)kg1之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài))時(shí)所述第二采樣電阻rn2兩端的第三電壓un2。
進(jìn)一步地,所述處理器203具體用于:根據(jù)所述第一電壓up21、所述第二電壓up22、所述第三電壓un2、所述第一采樣電阻rp2和所述第二采樣電阻rn2,確定所述直流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻rgp以及所述直流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻rgn。
可選地,所述處理器根據(jù)如下公式一、公式二和公式三,確定所述rgp以及所述rgn。
其中,所述udc代表所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e的直流側(cè)電壓(或者所述直流側(cè)裝置b的第一輸入端與所述直流側(cè)裝置b的第二輸入端之間的電壓)。
由于上述三個(gè)公式中除所述udc、所述rgp以及所述rgn之外的其余參數(shù)都為已知的,因此,所述處理器根據(jù)上述三個(gè)公式可以確定出所述udc、所述rgp以及所述rgn。
當(dāng)然,所述處理器還可根據(jù)上述公式一的其它等效或變形公式、上述公式二的其它等效或變形公式、以及上述公式三的其它等效或變形公式,確定所述rgp以及所述rgn,本申請(qǐng)實(shí)施例中對(duì)此并不作限制。
綜上所述,本實(shí)施例中,通過采樣模塊采集當(dāng)所述分壓模塊中的第一開關(guān)和所述第二開關(guān)閉合時(shí)所述分壓模塊中的第一采樣電阻兩端的第一電壓up21、所述第一開關(guān)和所述分壓模塊中的第三開關(guān)閉合時(shí)所述第一采樣電阻兩端的第二電壓up22、以及所述分壓模塊中的所述第二開關(guān)和所述第三開關(guān)閉合時(shí)所述分壓模塊中的第二采樣電阻兩端的第三電壓un2;進(jìn)一步地,所述處理器根據(jù)所述第一電壓up21、所述第二電壓up22、所述第三電壓un2、所述第一采樣電阻rp2和所述第二采樣電阻rn2,確定所述直流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻rgp以及所述直流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻rgn。可見,實(shí)現(xiàn)了對(duì)電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的直流側(cè)的對(duì)地絕緣電阻的檢測(cè)。
圖3b為本申請(qǐng)實(shí)施例中分壓模塊的結(jié)構(gòu)示意圖三??蛇x地,如圖3b所示,所述第一采樣單元201a還包含第一分壓電阻rp1,所述第二采樣單元還包含第二分壓電阻rn1??蛇x地,所述第一分壓電阻rp1的第一端(即所述第一采樣單元201a的第一端)連接所述直流側(cè)裝置b的第一輸入端,所述第一分壓電阻rp1的第二端連接所述第一開關(guān)kp的第一端,所述第一開關(guān)kp的第二端連接所述第一采樣電阻rp2的第一端,所述第一采樣電阻rp2的第二端(即所述第一采樣單元201a的第二端)連接所述第三開關(guān)kg1的第一端??蛇x地,所述第二分壓電阻rn1的第一端(即所述第二采樣單元201b的第一端)連接所述直流側(cè)裝置b的第二輸入端,所述第二分壓電阻rn1的第二端連接所述第二開關(guān)kn的第一端,所述第二開關(guān)kn的第二端連接所述第二采樣電阻rn2的第一端,所述第二采樣電阻rn2的第二端(即所述第二采樣單元201b的第二端)連接所述第三開關(guān)kg1的第一端。
當(dāng)然,所述第一采樣單元201a中的所述第一開關(guān)kp、第一分壓電阻rp1與所述第一采樣電阻rp2的連接關(guān)系,和/或所述第二采樣單元201b中的所述第二開關(guān)kn、第二分壓電阻rn1和所述第二采樣電阻rn2的連接關(guān)系,還可以為采用其它的連接方式;本實(shí)施例中對(duì)所述第一采樣單元201a中的所述第一開關(guān)kp、第一分壓電阻rp1與所述第一采樣電阻rp2的連接關(guān)系,以及所述第二采樣單元201b中的所述第二開關(guān)kn、第二分壓電阻rn1和所述第二采樣電阻rn2的連接關(guān)系并不作限定。
對(duì)應(yīng)地,所述處理器203具體用于:根據(jù)所述第一電壓up21、所述第二電壓up22、所述第三電壓un2、所述第一采樣電阻rp2、所述第二采樣電阻rn2、所述第一分壓電阻rp1和所述第二分壓電阻rn1,確定所述直流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻rgp以及所述直流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻rgn。
可選地,所述處理器根據(jù)如下公式四、公式五和公式六,確定所述rgp以及所述rgn。
其中,所述udc代表所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e的直流側(cè)電壓(或者所述直流側(cè)裝置b的第一輸入端與所述直流側(cè)裝置b的第二輸入端之間的電壓)。
由于上述公式四至公式六中除所述udc、所述rgp以及所述rgn之外的其余參數(shù)都為已知的,因此,所述處理器根據(jù)上述公式四至公式六可以確定出所述udc、所述rgp以及所述rgn。
當(dāng)然,所述處理器還可根據(jù)上述公式四的其它等效或變形公式、上述公式五的其它等效或變形公式、以及上述公式六的其它等效或變形公式,確定所述rgp以及所述rgn,本申請(qǐng)實(shí)施例中對(duì)此并不作限制。
可選地,所述絕緣電阻的檢測(cè)裝置的采樣模塊在采集所述第一開關(guān)kp和所述第二開關(guān)kn閉合時(shí)所述第一采樣電阻rp2兩端的第一電壓up21、所述第一開關(guān)kp和所述第三開關(guān)kg1閉合時(shí)所述第一采樣電阻rp2兩端的第二電壓up22、以及所述第二開關(guān)kn和所述第三開關(guān)kg1閉合時(shí)所述第二采樣電阻rn2兩端的第三電壓un2時(shí),如圖1所示,1)若所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e的電化學(xué)儲(chǔ)能裝置a的開關(guān)s1和開關(guān)s2閉合,則所述絕緣電阻的檢測(cè)裝置的處理器根據(jù)上述公式一至公式三、或者上述公式四至公式六所計(jì)算得到的所述rgp以及所述rgn包括電化學(xué)儲(chǔ)能裝置a的對(duì)地絕緣電阻;2)若所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e的電化學(xué)儲(chǔ)能裝置a的開關(guān)s1和開關(guān)s2斷開,則所述絕緣電阻的檢測(cè)裝置的處理器根據(jù)上述公式一至公式三、或者上述公式四至公式六所計(jì)算得到的所述rgp以及所述rgn不包括電化學(xué)儲(chǔ)能裝置a的對(duì)地絕緣電阻。
圖4a為本申請(qǐng)實(shí)施例中分壓模塊的結(jié)構(gòu)示意圖四。結(jié)合圖1、圖2b、圖3a、圖3b和圖4a所示,在實(shí)施例的基礎(chǔ)上,所述分壓模塊201還包括:第四開關(guān)kg2和第三采樣單元201c,所述第三采樣單元201c包含第五開關(guān)ka和第三采樣電阻ra。其中,所述第四開關(guān)kg2的第一端和所述第三采樣單元201c的第一端連接至所述第二采樣單元201b的第一端(即所述分壓模塊201的第二輸出端②),所述第四開關(guān)kg2的第二端連接至所述第三開關(guān)kg1的第二端(即所述分壓模塊201的第三輸出端③),所述第三采樣單元201c的第二端(即所述分壓模塊201的第四輸出端④)連接至所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e中的交流側(cè)裝置d的第一輸入端??蛇x地,所述交流側(cè)裝置的第一輸入端可以為所述交流側(cè)裝置的a相線、b相線或者c相線,為了便于附圖說明,圖1中以所述交流側(cè)裝置的第一輸入端可以為a相線為例。
可選地,本實(shí)施例中對(duì)所述第三采樣單元201c中的所述第五開關(guān)ka與所述第三采樣電阻ra的連接關(guān)系并不作限定。例如:所述第五開關(guān)ka的第一端可以作為所述第三采樣單元201c的第一端,所述第五開關(guān)ka的第二端連接所述第三采樣電阻ra的第一端,所述第三采樣電阻ra的第二端作為所述第三采樣單元201c的第二端(圖中未示出);或者,所述第三采樣電阻ra的第一端可以作為所述第三采樣單元201c的第一端,所述第三采樣電阻ra的第二端連接所述第五開關(guān)ka的第一端,所述第五開關(guān)ka的第二端作為所述第三采樣單元201c的第二端(如圖4a所示)。當(dāng)然,所述第三采樣單元201c還可以包括其它器件,本實(shí)施例中對(duì)此并不作限制。
可選地,所述采樣模塊202的第五檢測(cè)端和第六檢測(cè)端分別連接至所述第三采樣電阻ra兩端,以便用于采集所述第三采樣電阻ra兩端的電壓。
可選地,所述處理器203還用于:分別控制所述分壓模塊201中的所述第五開關(guān)ka閉合且所述分壓模塊201中除所述第五開關(guān)ka之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài)、以及所述分壓模塊201中的所述第四開關(guān)kg2和所述第五開關(guān)ka閉合且所述分壓模塊201中除所述第四開關(guān)kg2和所述第五開關(guān)ka之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài)。
可選地,所述采樣模塊202還用于:采集當(dāng)所述第五開關(guān)ka閉合(所述分壓模塊201中除所述第五開關(guān)ka之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài))時(shí)所述第三采樣電阻ra兩端的第四電壓ua1、以及所述第四開關(guān)kg2和所述第五開關(guān)ka閉合(所述分壓模塊201中除所述第四開關(guān)kg2和所述第五開關(guān)ka之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài))時(shí)所述第三采樣電阻ra兩端的第五電壓ua2。
進(jìn)一步地,所述處理器203還用于:根據(jù)所述第四電壓ua1、所述第五電壓ua2和所述第三采樣電阻ra,確定所述交流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻rga(屬于電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的交流側(cè)的對(duì)地絕緣電阻)。
圖4b為本申請(qǐng)實(shí)施例中電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的直流側(cè)裝置通過交直流功率變換裝置對(duì)交流側(cè)裝置的第一輸入端的戴維南等效電路的結(jié)構(gòu)示意圖,圖4c為本申請(qǐng)實(shí)施例中絕緣電阻檢測(cè)回路的等效電路結(jié)構(gòu)示意圖一,圖4d為本申請(qǐng)實(shí)施例中絕緣電阻檢測(cè)回路的等效電路結(jié)構(gòu)示意圖二。其中,圖4c為當(dāng)所述分壓模塊中的所述第五開關(guān)ka閉合且所述分壓模塊201中除所述第五開關(guān)ka之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài)時(shí)對(duì)應(yīng)的等效電路,圖4d為所述分壓模塊中的所述第四開關(guān)kg2和所述第五開關(guān)ka閉合且所述分壓模塊201中除所述第四開關(guān)kg2和所述第五開關(guān)ka之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài)時(shí)對(duì)應(yīng)的等效電路。圖4b-圖4d中的所述udc代表所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的直流側(cè)電壓(或者所述直流側(cè)裝置b的第一輸入端與所述直流側(cè)裝置b的第二輸入端之間的電壓),r0a代表所述戴維南等效電路的內(nèi)阻。
可選地,所述處理器根據(jù)如下公式七和公式八,確定所述rga。
由于上述公式七和公式八中除所述r0a以及所述rga之外的其余參數(shù)都為已知的(udc可以采用上述實(shí)施例中確定出的數(shù)值),因此,所述處理器根據(jù)上述公式七和公式八可以確定出所述r0a以及所述rga。
當(dāng)然,所述處理器還可根據(jù)上述公式七的其它等效或變形公式、以及上述公式八的其它等效或變形公式,確定所述rga,本申請(qǐng)實(shí)施例中對(duì)此并不作限制。
圖5為本申請(qǐng)實(shí)施例中分壓模塊的結(jié)構(gòu)示意圖五。結(jié)合圖1、圖2b、圖3a、圖3b、圖4a和圖5所示,在實(shí)施例的基礎(chǔ)上,所述分壓模塊201還包括:第四采樣單元201d,所述第四采樣單元201d包含第六開關(guān)kb和第四采樣電阻rb。其中,所述第四采樣單元201d的第一端連接至所述第二采樣單元201b的第一端(即所述分壓模塊201的第二輸出端②),所述第四采樣單元201d的第二端(即所述分壓模塊201的第五輸出端⑤)連接至所述交流側(cè)裝置d的第二輸入端??蛇x地,所述交流側(cè)裝置d的第二輸入端可以為所述交流側(cè)裝置的a相線、b相線或者c相線,為了便于附圖說明,圖1中以所述交流側(cè)裝置的第二輸入端可以為b相線為例。
可選地,本實(shí)施例中對(duì)所述第四采樣單元201d中的所述第六開關(guān)kb與所述第四采樣電阻rb的連接關(guān)系并不作限定。例如:所述第六開關(guān)kb的第一端可以作為所述第四采樣單元201d的第一端,所述第六開關(guān)kb的第二端連接所述第四采樣電阻rb的第一端,所述第四采樣電阻rb的第二端作為所述第四采樣單元201d的第二端(圖中未示出);或者,所述第四采樣電阻rb的第一端可以作為所述第四采樣單元201d的第一端,所述第四采樣電阻rb的第二端連接所述第六開關(guān)kb的第一端,所述第六開關(guān)kb的第二端作為所述第四采樣單元201d的第二端(如圖5所示)。當(dāng)然,所述第四采樣單元201d還可以包括其它器件,本實(shí)施例中對(duì)此并不作限制。
可選地,所述采樣模塊202的第七檢測(cè)端和第八檢測(cè)端分別連接至所述第四采樣電阻rb兩端,以便用于采集所述第四采樣電阻rb兩端的電壓。
可選地,所述處理器203還用于:分別控制所述分壓模塊201中的所述第六開關(guān)kb閉合且所述分壓模塊201中除所述第六開關(guān)kb之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài)、以及所述分壓模塊201中的所述第四開關(guān)kg2和所述第六開關(guān)kb閉合且所述分壓模塊201中除所述第四開關(guān)kg2和所述第六開關(guān)kb之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài)。
可選地,所述采樣模塊202還用于:采集當(dāng)所述第六開關(guān)kb閉合(所述分壓模塊201中除所述第六開關(guān)kb之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài))時(shí)所述第四采樣電阻rb兩端的第六電壓ub1、以及所述第四開關(guān)kg2和所述第六開關(guān)kb閉合(所述分壓模塊201中除所述第四開關(guān)kg2和所述第六開關(guān)kb之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài))時(shí)所述第四采樣電阻rb兩端的第七電壓ub2。
進(jìn)一步地,所述處理器203還用于:根據(jù)所述第六電壓ub1、所述第七電壓ub2和所述第四采樣電阻rb,確定所述交流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻rgb(屬于電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的交流側(cè)的對(duì)地絕緣電阻)。
可選地,所述處理器203根據(jù)所述第六電壓ub1、所述第七電壓ub2和所述第四采樣電阻rb,確定所述交流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻rgb的實(shí)現(xiàn)方式,可以參見本申請(qǐng)上述實(shí)施例中關(guān)于“所述處理器203根據(jù)所述第四電壓ua1、所述第五電壓ua2和所述第三采樣電阻ra,確定所述交流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻rga”的相關(guān)內(nèi)容(例如,可以將上述公式七和上述公式八中的ua1替換為ub1、ua2替換為ub2、ra替換為rb、r0a替換為r0b、以及rga替換為rgb),本申請(qǐng)實(shí)施例中對(duì)此不再贅述。
圖6為本申請(qǐng)實(shí)施例中分壓模塊的結(jié)構(gòu)示意圖六。結(jié)合圖1、圖2b、圖3a、圖3b、圖4a、圖5和圖6所示,在實(shí)施例的基礎(chǔ)上,所述分壓模塊201還包括:第五采樣單元201e,所述第五采樣單元201e包含第七開關(guān)kc和第五采樣電阻rc。其中,所述第五采樣單元201e的第一端連接至所述第二采樣單元201b的第一端(即所述分壓模塊201的第二輸出端②),所述第五采樣單元201e的第二端(即所述分壓模塊201的第六輸出端⑥)連接至所述交流側(cè)裝置d的第三輸入端??蛇x地,所述交流側(cè)裝置d的第三輸入端可以為所述交流側(cè)裝置的a相線、b相線或者c相線,為了便于附圖說明,圖1中以所述交流側(cè)裝置的第三輸入端可以為c相線為例。
可選地,本實(shí)施例中對(duì)所述第五采樣單元201e中的所述第七開關(guān)kc與所述第五采樣電阻rc的連接關(guān)系并不作限定。例如:所述第七開關(guān)kc的第一端可以作為所述第五采樣單元201e的第一端,所述第七開關(guān)kc的第二端連接所述第五采樣電阻rc的第一端,所述第五采樣電阻rc的第二端作為所述第五采樣單元201e的第二端(圖中未示出);或者,所述第五采樣電阻rc的第一端可以作為所述第五采樣單元201e的第一端,所述第五采樣電阻rc的第二端連接所述第七開關(guān)kc的第一端,所述第七開關(guān)kc的第二端作為所述第五采樣單元201e的第二端(如圖6所示)。當(dāng)然,所述第五采樣單元201e還可以包括其它器件,本實(shí)施例中對(duì)此并不作限制。
可選地,所述采樣模塊202的第九檢測(cè)端和第十檢測(cè)端分別連接至所述第五采樣電阻rc兩端,以便用于采集所述第五采樣電阻rc兩端的電壓。
可選地,所述處理器203還用于:分別控制所述分壓模塊201中的所述第七開關(guān)kc閉合且所述分壓模塊201中除所述第七開關(guān)kc之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài)、以及所述分壓模塊201中的所述第四開關(guān)kg2和所述第七開關(guān)kc閉合且所述分壓模塊201中除所述第四開關(guān)kg2和所述第七開關(guān)kc之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài)。
可選地,所述采樣模塊202還用于:采集當(dāng)所述第七開關(guān)kc閉合(所述分壓模塊201中除所述第七開關(guān)kc之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài))時(shí)所述第五采樣電阻rc兩端的第八電壓uc1、以及所述第四開關(guān)kg2和所述第七開關(guān)kc閉合(所述分壓模塊201中除所述第四開關(guān)kg2和所述第七開關(guān)kc之外的其余開關(guān)都處于斷開狀態(tài))時(shí)所述第五采樣電阻rc兩端的第九電壓uc2。
進(jìn)一步地,所述處理器203還用于:根據(jù)所述第八電壓uc1、所述第九電壓uc2和所述第五采樣電阻rc,確定所述交流側(cè)裝置的第三輸入端的對(duì)地絕緣電阻rgc(屬于電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的交流側(cè)的對(duì)地絕緣電阻)。
可選地,所述處理器203根據(jù)所述所述第八電壓uc1、所述第九電壓uc2和所述第五采樣電阻rc,確定所述交流側(cè)裝置的第三輸入端的對(duì)地絕緣電阻rgc的實(shí)現(xiàn)方式,可以參見本申請(qǐng)上述實(shí)施例中關(guān)于“所述處理器203根據(jù)所述第四電壓ua1、所述第五電壓ua2和所述第三采樣電阻ra,確定所述交流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻rga”的相關(guān)內(nèi)容(例如,可以將上述公式七和上述公式八中的ua1替換為uc1、ua2替換為uc2、ra替換為rc、r0a替換為r0c、以及rga替換為rgc),本申請(qǐng)實(shí)施例中對(duì)此不再贅述。
綜上所述,本申請(qǐng)?zhí)峁┑慕^緣電阻的檢測(cè)裝置,通過所述處理器根據(jù)所述采集模塊采集的所述第一電壓up21、所述第二電壓up22、所述第三電壓un2、所述分壓模塊中的所述第一采樣電阻rp2和所述第二采樣電阻rn2,確定所述直流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻rgp以及所述直流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻rgn、根據(jù)所述采集模塊采集的所述第四電壓ua1、所述第五電壓ua2和所述第三采樣電阻ra,確定所述交流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻rga、根據(jù)所述采集模塊采集的所述第六電壓ub1、所述第七電壓ub2和所述第四采樣電阻rb,確定所述交流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻rgb、以及根據(jù)所述采集模塊采集的所述第八電壓uc1、所述第九電壓uc2和所述第五采樣電阻rc,確定所述交流側(cè)裝置的第三輸入端的對(duì)地絕緣電阻rgc??梢?,實(shí)現(xiàn)了對(duì)電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的直流側(cè)的對(duì)地絕緣電阻(包括所述rgp和rgn)和交流側(cè)的對(duì)地絕緣電阻(包括所述rga、所述rgb和所述rgc)的檢測(cè),從而保證了電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)安全運(yùn)行以及運(yùn)行維護(hù)人員的人身安全。
可選地,在上述各實(shí)施例中,所述絕緣電阻的檢測(cè)裝置的采樣模塊在采集所述分壓模塊中不同電路連接狀態(tài)下的各所述采樣電阻的電壓時(shí),如圖1所示,所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)e的交直流功率變換裝置d應(yīng)停止工作,并且所述交流側(cè)裝置d的開關(guān)組s3應(yīng)斷開。
本申請(qǐng)實(shí)施例還提供一種絕緣電阻的檢測(cè)方法實(shí)施例,可選地,該絕緣電阻的檢測(cè)方法可以適用于本申請(qǐng)上述實(shí)施例提供的絕緣電阻的檢測(cè)裝置??蛇x地,所述檢測(cè)裝置包括:分壓模塊、采樣模塊以及處理器,所述分壓模塊分別與所述采樣模塊和所述處理器連接;所述分壓模塊包括:至少兩個(gè)開關(guān)以及至少兩個(gè)采樣電阻;所述分壓模塊的第一輸出端連接至電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)中的直流側(cè)裝置的第一輸入端,所述分壓模塊的第二輸出端連接至所述直流側(cè)裝置的第二輸入端,所述分壓模塊的第三輸出端連接至所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的地線。
該絕緣電阻的檢測(cè)方法,包括:
所述處理器控制所述分壓模塊中各所述開關(guān)的閉合或斷開,以觸發(fā)所述分壓模塊中的電路連接發(fā)生變化;
所述采樣模塊采集所述分壓模塊中不同電路連接狀態(tài)下的所述采樣電阻的電壓;
所述處理器根據(jù)所述采樣電阻的電壓以及所述采樣電阻的電阻,確定所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻。
可選地,所述分壓模塊包括:第一采樣單元、第二采樣單元、以及第三開關(guān),所述第一采樣單元包含第一開關(guān)和第一采樣電阻,所述第二采樣單元包含第二開關(guān)和第二采樣電阻;其中,所述第一采樣單元的第一端連接所述直流側(cè)裝置的第一輸入端,所述第二采樣單元的第一端連接至所述直流側(cè)裝置的第二輸入端,所述第一采樣單元的第二端和所述第二采樣單元的第二端連接至所述第三開關(guān)的第一端,所述第三開關(guān)的第二端連接至所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的地線;
對(duì)應(yīng)地,所述采樣模塊采集所述分壓模塊中不同電路連接狀態(tài)下的所述采樣電阻的電壓,包括:
所述采樣模塊采集當(dāng)所述第一開關(guān)和所述第二開關(guān)閉合時(shí)所述第一采樣電阻兩端的第一電壓、所述第一開關(guān)和所述第三開關(guān)閉合時(shí)所述第一采樣電阻兩端的第二電壓、以及所述第二開關(guān)和所述第三開關(guān)閉合時(shí)所述第二采樣電阻兩端的第三電壓;
所述處理器根據(jù)所述采樣電阻的電壓以及所述采樣電阻的電阻,確定所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻,包括:
所述處理器根據(jù)所述第一電壓、所述第二電壓、所述第三電壓、所述第一采樣電阻和所述第二采樣電阻,確定所述直流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻以及所述直流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻。
可選地,所述分壓模塊還包括:第四開關(guān)和第三采樣單元,所述第三采樣單元包含第五開關(guān)和第三采樣電阻;其中,所述第四開關(guān)的第一端和所述第三采樣單元的第一端連接至所述第二采樣單元的第一端,所述第四開關(guān)的第二端連接至所述第三開關(guān)的第二端,所述第三采樣單元的第二端連接至所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)中的交流側(cè)裝置的第一輸入端;
對(duì)應(yīng)地,所述采樣模塊采集所述分壓模塊中不同電路連接狀態(tài)下的所述采樣電阻的電壓,還包括:
所述采樣模塊采集當(dāng)所述第五開關(guān)閉合時(shí)所述第三采樣電阻兩端的第四電壓、以及所述第四開關(guān)和所述第五開關(guān)閉合時(shí)所述第三采樣電阻兩端的第五電壓;
所述處理器根據(jù)所述采樣電阻的電壓以及所述采樣電阻的電阻,確定所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻,還包括:
所述處理器根據(jù)所述第四電壓、所述第五電壓和所述第三采樣電阻,確定所述交流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻。
可選地,所述分壓模塊還包括:第四采樣單元,所述第四采樣單元包含第六開關(guān)和第四采樣電阻;其中,所述第四采樣單元的第一端連接至所述第二采樣單元的第一端,所述第四采樣單元的第二端連接至所述交流側(cè)裝置的第二輸入端;
對(duì)應(yīng)地,所述采樣模塊采集所述分壓模塊中不同電路連接狀態(tài)下的所述采樣電阻的電壓,還包括:
所述采樣模塊采集當(dāng)所述第六開關(guān)閉合時(shí)所述第四采樣電阻兩端的第六電壓、以及所述第四開關(guān)和所述第六開關(guān)閉合時(shí)所述第四采樣電阻兩端的第七電壓;
所述處理器根據(jù)所述采樣電阻的電壓以及所述采樣電阻的電阻,確定所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻,還包括:
所述處理器根據(jù)所述第六電壓、所述第七電壓和所述第四采樣電阻,確定所述交流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻。
可選地,所述分壓模塊還包括:第五采樣單元,所述第五采樣單元包含第七開關(guān)和第五采樣電阻;其中,所述第五采樣單元的第一端連接至所述第二采樣單元的第一端,所述第五采樣單元的第二端連接至所述交流側(cè)裝置的第三輸入端;
對(duì)應(yīng)地,所述采樣模塊采集所述分壓模塊中不同電路連接狀態(tài)下的所述采樣電阻的電壓,還包括:
所述采樣模塊采集當(dāng)所述第七開關(guān)閉合時(shí)所述第五采樣電阻兩端的第八電壓、以及所述第四開關(guān)和所述第七開關(guān)閉合時(shí)所述第五采樣電阻兩端的第九電壓;
所述處理器根據(jù)所述采樣電阻的電壓以及所述采樣電阻的電阻,確定所述電化學(xué)儲(chǔ)能系統(tǒng)的絕緣電阻,還包括:
所述處理器根據(jù)所述第八電壓、所述第九電壓和所述第五采樣電阻,確定所述交流側(cè)裝置的第三輸入端的對(duì)地絕緣電阻。
可選地,所述第一采樣單元還包含第一分壓電阻,所述第二采樣單元還包含第二分壓電阻,所述第一分壓電阻的第一端連接所述直流側(cè)裝置的第一輸入端,所述第一分壓電阻的第二端連接所述第一開關(guān)的第一端,所述第一開關(guān)的第二端連接所述第一采樣電阻的第一端,所述第一采樣電阻的第二端連接所述第三開關(guān)的第一端,所述第二分壓電阻的第一端連接所述直流側(cè)裝置的第二輸入端,所述第二分壓電阻的第二端連接所述第二開關(guān)的第一端,所述第二開關(guān)的第二端連接所述第二采樣電阻的第一端,所述第二采樣電阻的第二端連接所述第三開關(guān)的第一端;
對(duì)應(yīng)地,所述處理器根據(jù)所述第一電壓、所述第二電壓、所述第三電壓、所述第一采樣電阻和所述第二采樣電阻,確定所述直流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻以及所述直流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻,包括:
所述處理器根據(jù)所述第一電壓、所述第二電壓、所述第三電壓、所述第一采樣電阻、所述第二采樣電阻、所述第一分壓電阻和所述第二分壓電阻,確定所述直流側(cè)裝置的第一輸入端的對(duì)地絕緣電阻以及所述直流側(cè)裝置的第二輸入端的對(duì)地絕緣電阻。
本申請(qǐng)實(shí)施例的絕緣電阻的檢測(cè)方法,可以采用本申請(qǐng)上述絕緣電阻的檢測(cè)裝置任意實(shí)施例中的技術(shù)方案,其實(shí)現(xiàn)原理和技術(shù)效果類似,此處不再贅述。
在本申請(qǐng)所提供的幾個(gè)實(shí)施例中,應(yīng)該理解到,所揭露的裝置和方法,可以通過其它的方式實(shí)現(xiàn)。例如,以上所描述的裝置實(shí)施例僅僅是示意性的,例如,所述單元或模塊的劃分,僅僅為一種邏輯功能劃分,實(shí)際實(shí)現(xiàn)時(shí)可以有另外的劃分方式,例如多個(gè)單元或模塊可以結(jié)合或者可以集成到另一個(gè)系統(tǒng),或一些特征可以忽略,或不執(zhí)行。另一點(diǎn),所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口,設(shè)備或模塊的間接耦合或通信連接,可以是電性,機(jī)械或其它的形式。
所述作為分離部件說明的模塊可以是或者也可以不是物理上分開的,作為模塊顯示的部件可以是或者也可以不是物理模塊,即可以位于一個(gè)地方,或者也可以分布到多個(gè)網(wǎng)絡(luò)單元上??梢愿鶕?jù)實(shí)際的需要選擇其中的部分或者全部模塊來實(shí)現(xiàn)本實(shí)施例方案的目的。
最后應(yīng)說明的是:以上各實(shí)施例僅用以說明本申請(qǐng)的技術(shù)方案,而非對(duì)其限制;盡管參照前述各實(shí)施例對(duì)本申請(qǐng)進(jìn)行了詳細(xì)的說明,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解:其依然可以對(duì)前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改,或者對(duì)其中部分或者全部技術(shù)特征進(jìn)行等同替換;而這些修改或者替換,并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本申請(qǐng)各實(shí)施例技術(shù)方案的范圍。