技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明名為一種高精度高線(xiàn)性度的互電容變化檢測(cè)電路，涉及利用電容分壓來(lái)進(jìn)行互電容變化檢測(cè)的領(lǐng)域；本發(fā)明采用電容分壓法，得到表征待測(cè)互電容Cx的電壓Vx，通過(guò)電壓跟隨器對(duì)采樣電容Cs進(jìn)行充電，充電完成，斷開(kāi)采樣電容和電壓跟隨器之間的連接，電壓Vx就以電荷的形式存儲(chǔ)在采樣電容上。調(diào)整ADC電容陣列，以逐次逼近的方法，將ADC電容陣列與內(nèi)部電容調(diào)整陣列的電容分壓，逐次逼近采樣電容上的電壓Vx，以獲得待測(cè)互電容的電容值。將當(dāng)前檢測(cè)得到的電容值與之前檢測(cè)得到的電容值進(jìn)行比較，即可得到互電容Cx的變化量。由于本發(fā)明的電路中包含ADC電容陣列，因此，易于實(shí)現(xiàn)高精度和高線(xiàn)性度。互電容變化的精確檢測(cè)，能夠提升觸摸產(chǎn)品的體驗(yàn)。

技術(shù)研發(fā)人員：趙文虎;管志強(qiáng);鄧禮君
受保護(hù)的技術(shù)使用者：蘇州芯通微電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.05.02
技術(shù)公布日：2017.07.07