一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測試裝置的平晶裝夾結構的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測試裝置的平晶裝夾結構，屬于機械夾具技術超精密測量領域。
【背景技術】
[0002]機床主軸是機床的關鍵部件，機床主軸的回轉(zhuǎn)精度決定機床的加工精度，且機床的加工精度越高，機床主軸回轉(zhuǎn)精度占有的比重越大;通過測試主軸的回轉(zhuǎn)誤差，可尋找主軸回轉(zhuǎn)誤差的來源、預測待加工工件表面的形狀以及提高機床的加工精度等等。
[0003]目前，主軸回轉(zhuǎn)誤差測試系統(tǒng)通常由高精度電容或電感位移傳感器、標準球和計算機等組成，傳感器的性能、標準球的加工精度決定了該種測試系統(tǒng)的測試精度，然而該種測量系統(tǒng)傳感器易受環(huán)境的干擾，影響最終主軸回轉(zhuǎn)誤差測試結果。因此，提出了一種基于動態(tài)干涉儀的主軸回轉(zhuǎn)誤差測試系統(tǒng)，該種測試方法動態(tài)干涉儀作為測量傳感器，平晶作為檢測基準，通過干涉儀實時采集獲取平晶表面三維形貌，通過分析平晶形貌信息獲取主軸回轉(zhuǎn)誤差，平晶是高精密光學元件。因此，平晶的裝夾方式影響著主軸回轉(zhuǎn)測試的測量結果O
[0004]常用的平晶檢測系統(tǒng)由激光干涉儀、平晶裝夾結構、計算機以及圖像處理軟件等軟硬件設備組成，由于平晶是高精密光學元件，稍有外力作用在平晶表面都會引起平晶表面三維結構的變化，甚至平晶自身的重力都會引起平晶表面三維形貌的變化，因此在裝配待檢測平晶時，盡量避免產(chǎn)生裝夾結構與平晶產(chǎn)生裝夾應力，以免產(chǎn)生的應力破壞平晶表面的三維形貌;那么當平晶在處于回轉(zhuǎn)過程時，將會引入新的干擾因素影響平晶表面三維形貌的測量。根據(jù)現(xiàn)有平晶的裝夾結構，尚未發(fā)現(xiàn)能適用與在動態(tài)回轉(zhuǎn)過程中檢測平晶平面度的專用夾具。因此，本文設計一種用于回轉(zhuǎn)誤差測試裝置的平晶裝夾結構，該裝夾結構具有結構簡單、操作方便以及裝夾應力小等特點。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本實用新型的目的在于克服現(xiàn)有裝夾技術存在的不足，提供一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測試裝置的平晶裝夾結構。
[0006]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供如下技術方案:
[0007]—種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測試裝置的平晶裝夾結構，所述的平晶裝夾結構包括底座托盤、預緊夾片和壓蓋，所述的底座托盤安裝在機床主軸的一端，所述的壓蓋與所述的底座托盤采用活動連接的方式固定，所述的預緊夾片安裝在所述的底座托盤的內(nèi)壁上。
[0008]所述的底座托盤安裝在機床主軸的末端，所述的底座托盤上設有頂緊螺栓孔，所述的頂緊螺栓孔周圍均勻分布安裝有配重塊。
[0009]所述的底座托盤的外部分別設有均勻分布的調(diào)節(jié)螺釘。
[0010]所述的底座托盤的內(nèi)部底面處安裝有環(huán)形墊圈。
[0011]所述的預緊夾片的厚度不超過5_，且表面設有硅膠墊片。
[0012]所述的預緊夾片的外壁上安裝有連接凹槽，底座托盤上安裝的無頭內(nèi)六角螺釘與所述的連接凹槽固定連接。
[0013]所述的壓蓋具有凹形結構，便于加入硅膠類墊圈。
[0014]有益效果:
[0015]1、本實用新型的底座托盤安裝在機床主軸的末端，通過頂緊螺栓孔安裝頂緊螺釘進行固定，并在所述的頂緊螺栓孔周圍均勻分布安裝配重塊，能夠有效防止裝夾結構在回轉(zhuǎn)過程中發(fā)生偏振。
[0016]2、本實用新型的底座托盤的外部分別設有均勻分布的調(diào)節(jié)螺釘，通過調(diào)節(jié)螺釘即可調(diào)節(jié)平晶平面與回轉(zhuǎn)軸線的垂直度，省時便捷。
[0017]3、本實用新型的預緊夾片安裝在底座托盤的內(nèi)壁上，通過調(diào)節(jié)螺釘可裝配不同口徑的光學平晶，適用性強。
[0018]4、本實用新型的預緊夾片表面設有硅膠墊片，能夠有效避免光學平晶與夾片剛性接觸而破壞平晶表面結構，安全性高。
[0019]5、本實用新型的壓蓋具有凹形結構，便于加入硅膠類墊圈，在調(diào)節(jié)光學平晶工作平面與回轉(zhuǎn)軸線的垂直度時，能夠避免光學平晶與壓蓋發(fā)生剛性接觸而破壞平晶表面結構。
【附圖說明】
[0020]圖1為本實用新型的結構不意圖；
[0021]圖2為本實用新型底座托盤的結構不意圖；
[0022]圖3為本實用新型壓蓋的結構示意圖；
[0023]圖4為本實用新型預緊夾片的結構示意圖；
[0024]圖中:1_底座托盤、2-壓蓋、3-預緊夾片、4-環(huán)形墊圈、5-調(diào)節(jié)螺釘、6-配重塊、7-無頭內(nèi)六角螺釘、8-頂緊螺栓孔、9-凹形結構、10-連接凹槽。
【具體實施方式】
[0025]下面結合【具體實施方式】對本專利的技術方案作進一步詳細地說明。
[0026]—種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測試裝置的平晶裝夾結構，所述的平晶裝夾結構包括底座托盤1、預緊夾片3和壓蓋2，所述的底座托盤I安裝在機床主軸的一端，所述的壓蓋2與所述的底座托盤I采用活動連接的方式固定，所述的預緊夾片3安裝在所述的底座托盤I的內(nèi)壁上。
[0027]所述的底座托盤I安裝在機床主軸的末端，所述的底座托盤I上設有頂緊螺栓孔8，所述的頂緊螺栓孔8周圍均勻分布安裝有配重塊6。
[0028]所述的底座托盤I的外部分別設有均勻分布的調(diào)節(jié)螺釘5。
[0029]所述的底座托盤I的內(nèi)部底面處安裝有環(huán)形墊圈4。
[0030]所述的預緊夾片3的厚度不超過5mm，且表面設有硅膠墊片。
[0031]所述的預緊夾片3的外壁上安裝有連接凹槽10，底座托盤I上安裝的無頭內(nèi)六角螺釘7與所述的連接凹槽1固定連接。
[0032]所述的壓蓋2具有凹形結構9，便于加入硅膠類墊圈。
[0033]上面對本專利的較佳實施方式作了詳細說明，但是本專利并不限于上述實施方式，在本領域的普通技術人員所具備的知識范圍內(nèi)，還可以在不脫離本專利宗旨的前提下做出各種變化。
【主權項】
1.一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測試裝置的平晶裝夾結構，其特征在于，所述的平晶裝夾結構包括底座托盤、預緊夾片和壓蓋，所述的底座托盤安裝在機床主軸的一端，所述的壓蓋與所述的底座托盤采用活動連接的方式固定，所述的預緊夾片安裝在所述的底座托盤的內(nèi)壁上。2.根據(jù)權利要求1所述的一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測試裝置的平晶裝夾結構，其特征在于:所述的底座托盤安裝在機床主軸的末端，所述的底座托盤上設有頂緊螺栓孔，所述的頂緊螺栓孔周圍均勻分布安裝有配重塊。3.根據(jù)權利要求1所述的一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測試裝置的平晶裝夾結構，其特征在于:所述的底座托盤的外部分別設有均勻分布的調(diào)節(jié)螺釘。4.根據(jù)權利要求1所述的一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測試裝置的平晶裝夾結構，其特征在于:所述的底座托盤的內(nèi)部底面處安裝有環(huán)形墊圈。5.根據(jù)權利要求1所述的一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測試裝置的平晶裝夾結構，其特征在于:所述的預緊夾片的厚度不超過5_，且表面設有硅膠墊片。6.根據(jù)權利要求1所述的一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測試裝置的平晶裝夾結構，其特征在于:所述的預緊夾片的外壁上安裝有連接凹槽，底座托盤上安裝的無頭內(nèi)六角螺釘與所述的連接凹槽固定連接。7.根據(jù)權利要求1所述的一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測試裝置的平晶裝夾結構，其特征在于:所述的壓蓋具有凹形結構，便于加入硅膠類墊圈。
【專利摘要】本實用新型公開了一種用于主軸回轉(zhuǎn)誤差測試裝置的平晶裝夾結構，其組成包括底座托盤、預緊夾片和壓蓋，所述的底座托盤安裝在機床主軸的一端，所述的壓蓋與所述的底座托盤采用活動連接的方式固定，所述的預緊夾片安裝在所述的底座托盤的內(nèi)壁上，所述的底座托盤安裝在機床主軸的末端，所述的底座托盤上設有頂緊螺栓孔，所述的頂緊螺栓孔周圍均勻分布安裝有配重塊。本實用新型用于靜壓主軸回轉(zhuǎn)誤差測試，通過調(diào)節(jié)底座托盤的螺釘，可減小夾結構與主軸之間的裝配誤差，操作方便成本低。
【IPC分類】B23Q17/00
【公開號】CN205166548
【申請?zhí)枴緾N201520953297
【發(fā)明人】葛江華, 張德偉, 付鵬強, 任博遠
【申請人】哈爾濱理工大學
【公開日】2016年4月20日
【申請日】2015年11月25日