本發(fā)明涉及一種x射線光柵相襯成像自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

在x射線光柵相襯成像領(lǐng)域，光柵相襯成像使用了普通x光源，極大地降低了實(shí)驗(yàn)成本，因此，被認(rèn)為是最接近實(shí)際應(yīng)用的一種技術(shù)手段。在該技術(shù)的整條光路上，光柵多達(dá)3個(gè)，而相襯成像技術(shù)又是對(duì)光路異常敏感的技術(shù)，要求光路非常精準(zhǔn)。

傳統(tǒng)的方法是：把光學(xué)部件放置在平移(xyz方向)、轉(zhuǎn)動(dòng)和偏轉(zhuǎn)平臺(tái)上，連接運(yùn)動(dòng)控制器和com模塊，手動(dòng)操作計(jì)算機(jī)調(diào)控光路。但是，整個(gè)光學(xué)平臺(tái)部件很多，精密光學(xué)調(diào)整容易失誤，并且非常耗時(shí)。

不同實(shí)驗(yàn)人員經(jīng)驗(yàn)不一樣，因此調(diào)整光路的時(shí)間有很大差別。由于光學(xué)平臺(tái)非常精密，外部震動(dòng)，熱脹冷縮，設(shè)備磨損等都會(huì)導(dǎo)致光路發(fā)生變化。因此，幾乎每次實(shí)驗(yàn)都需要調(diào)控光路。事實(shí)上，即使是經(jīng)驗(yàn)豐富的實(shí)驗(yàn)員，每次花在光路調(diào)整的時(shí)間也會(huì)很長(zhǎng)，這極大影響了實(shí)驗(yàn)效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

有鑒于此，有必要提供一種x射線光柵相襯成像自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)及方法。

本發(fā)明提供一種x射線光柵相襯成像自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)、與所述計(jì)算機(jī)電性連接的com模塊，與所述com模塊分別電性連接的運(yùn)動(dòng)控制模塊及圖像傳輸模塊，所述運(yùn)動(dòng)控制模塊分別與x光源及位于同一光路中心的源光柵、分束光柵、樣品臺(tái)、分析光柵、探測(cè)器電性連接，所述圖像傳輸模塊與探測(cè)器電性連接，所述計(jì)算機(jī)包括分析模塊及判斷模塊，其中：所述運(yùn)動(dòng)控制模塊用于移動(dòng)樣品臺(tái)，使樣品臺(tái)不在光路上；所述圖像傳輸模塊用于當(dāng)x光源發(fā)出的x光在探測(cè)器上形成條紋圖像時(shí)，將所述條紋圖像通過com模塊傳輸?shù)椒治瞿K；所述分析模塊用于分析得到所述條紋圖像的參數(shù)；所述判斷模塊用于判斷所述條紋圖像的參數(shù)與第一標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)是否匹配，所述第一標(biāo)準(zhǔn)圖像指：沒有樣品時(shí)，樣品臺(tái)處于合適位置，在探測(cè)儀上留下的圖像；所述運(yùn)動(dòng)控制模塊還用于當(dāng)所述條紋圖像的參數(shù)與第一標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)匹配成功時(shí)，將樣品臺(tái)移回光路，并在所述樣品臺(tái)上放置樣品；所述圖像傳輸模塊還用于當(dāng)x光源發(fā)出的x光在探測(cè)器上形成陰影圖像時(shí)，將所述陰影圖像通過com模塊傳輸?shù)椒治瞿K；所述分析模塊還用于分析得到所述陰影圖像的參數(shù)；所述判斷模塊還用于判斷所述陰影圖像的參數(shù)與第二標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)是否匹配，如果所述陰影圖像的參數(shù)與第二標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)匹配成功，則完成自動(dòng)校準(zhǔn)，所述第二標(biāo)準(zhǔn)圖像是指：放置樣品后，樣品臺(tái)處于合適位置，在探測(cè)儀上留下的陰影圖像。

其中，所述判斷模塊還用于：當(dāng)所述條紋圖像的參數(shù)與第一標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)匹配不成功時(shí)，計(jì)算分束光柵、分析光柵的運(yùn)動(dòng)量；及當(dāng)所述陰影圖像的參數(shù)與第二標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)匹配不成功時(shí)，計(jì)算分束光柵、分析光柵的運(yùn)動(dòng)量。

所述運(yùn)動(dòng)控制模塊還用于：根據(jù)計(jì)算的運(yùn)動(dòng)量對(duì)光路中的元件位置進(jìn)行調(diào)整。

判斷所述條紋圖像的參數(shù)與第一標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)匹配的匹配標(biāo)準(zhǔn)為：如果上述條紋圖像每個(gè)參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)圖像對(duì)應(yīng)參數(shù)的誤差在10％以內(nèi)，則匹配成功。

判斷所述陰影圖像的參數(shù)與第二標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)匹配標(biāo)準(zhǔn)為：如果上述陰影圖像每個(gè)參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)圖像對(duì)應(yīng)參數(shù)的誤差在10％以內(nèi)并位于視野的中央，且所述陰影圖像的大小在視野面積的40％-80％范圍內(nèi)，則匹配成功。

本發(fā)明還提供一種x射線光柵相襯成像自動(dòng)校準(zhǔn)方法，該方法包括如下步驟：a.移動(dòng)樣品臺(tái)，使樣品臺(tái)不在光路上；b.x光源發(fā)出的x光依次通過位于同一光路中心的源光柵、分束光柵、分析光柵在探測(cè)器上形成條紋圖像；c.分析得到所述條紋圖像的參數(shù)；d.將分析得到的所述條紋圖像的參數(shù)與第一標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)比對(duì)，并判斷所述條紋圖像的參數(shù)與第一標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)是否匹配，所述第一標(biāo)準(zhǔn)圖像是指：沒有樣品時(shí)，樣品臺(tái)處于合適位置，在探測(cè)儀上留下的圖像；e.如果所述條紋圖像的參數(shù)與第一標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)匹配成功，則將樣品臺(tái)移動(dòng)回到光路，并在所述樣品臺(tái)上放置樣品；f.x光源發(fā)出的x光依次通過位于同一光路中心的源光柵、分束光柵、樣品臺(tái)、分析光柵，在探測(cè)器上形成陰影圖像；g.分析得到所述陰影圖像的參數(shù)；h.將分析得到的所述陰影圖像的參數(shù)與第二標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)比對(duì)，并判斷所述陰影圖像的參數(shù)與第二標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)是否匹配，所述第二標(biāo)準(zhǔn)圖像是指：放置樣品后，樣品臺(tái)處于合適位置，在探測(cè)儀上留下的陰影圖像；i.如果所述陰影圖像的參數(shù)與第二標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)匹配成功，則完成自動(dòng)校準(zhǔn)。

其中，該方法還包括步驟：當(dāng)所述條紋圖像的參數(shù)與第一標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)匹配不成功時(shí)，計(jì)算分束光柵、分析光柵的運(yùn)動(dòng)量，并根據(jù)計(jì)算的運(yùn)動(dòng)量對(duì)光路中的元件位置進(jìn)行調(diào)整，返回步驟b。

該方法還包括：當(dāng)所述陰影圖像的參數(shù)與第二標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)匹配不成功時(shí)，計(jì)算分束光柵、分析光柵的運(yùn)動(dòng)量，并根據(jù)計(jì)算的運(yùn)動(dòng)量對(duì)光路中的元件位置進(jìn)行調(diào)整，返回步驟f。

步驟d中判斷所述條紋圖像的參數(shù)與第一標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)匹配的匹配標(biāo)準(zhǔn)為：如果上述條紋圖像每個(gè)參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)圖像對(duì)應(yīng)參數(shù)的誤差在10％以內(nèi)，則匹配成功。

步驟h中判斷所述陰影圖像的參數(shù)與第二標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)匹配標(biāo)準(zhǔn)為：如果上述陰影圖像每個(gè)參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)圖像對(duì)應(yīng)參數(shù)的誤差在10％以內(nèi)并位于視野的中央，且所述陰影圖像的大小在視野面積的40％-80％范圍內(nèi)，則匹配成功。

本發(fā)明x射線光柵相襯成像自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)及方法，能夠完成光柵相襯的自動(dòng)校準(zhǔn)，降低了人工調(diào)整的工作量，大幅度減少了實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)備時(shí)間，提高了實(shí)驗(yàn)效率，同時(shí)也減少了人眼誤差。

附圖說明

圖1為本發(fā)明x射線光柵相襯成像自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)的硬件架構(gòu)圖；

圖2為本發(fā)明x射線光柵相襯成像自動(dòng)校準(zhǔn)方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。

參閱圖1所示，是本發(fā)明x射線光柵相襯成像自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)的硬件架構(gòu)圖。

該系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)101、com模塊102、運(yùn)動(dòng)控制模塊103、x光源104、源光柵105、分束光柵106、樣品臺(tái)107、分析光柵108、探測(cè)器109及圖像傳輸模塊110。其中：x光源104、源光柵105、分束光柵106、樣品臺(tái)107、分析光柵108及探測(cè)器109位于同一光路中心，com模塊102分別與計(jì)算機(jī)101、運(yùn)動(dòng)控制模塊103、圖像傳輸模塊110電性連接；運(yùn)動(dòng)控制模塊103分別與x光源104、源光柵105、分束光柵106、樣品臺(tái)107、分析光柵108、探測(cè)器109電性連接；圖像傳輸模塊110與探測(cè)器109電性連接。

所述計(jì)算機(jī)101控制整個(gè)系統(tǒng)的運(yùn)作，負(fù)責(zé)整個(gè)系統(tǒng)的信號(hào)控制及數(shù)據(jù)處理。所述計(jì)算機(jī)101包括分析模塊111及判斷模塊112。

所述com模塊102用于接收計(jì)算機(jī)101的指令，并將所述指令傳遞給運(yùn)動(dòng)控制模塊103、圖像傳輸模塊110；及將傳遞給運(yùn)動(dòng)控制模塊103、圖像傳輸模塊110的數(shù)據(jù)傳遞給計(jì)算機(jī)101。

所述運(yùn)動(dòng)控制模塊103用于移動(dòng)樣品臺(tái)107，使樣品臺(tái)107不在光路上。

所述圖像傳輸模塊110用于當(dāng)x光源104發(fā)出x光在探測(cè)器109上形成條紋圖像時(shí)，將所述條紋圖像通過com模塊102傳輸?shù)椒治瞿K111。具體而言：

x光源104發(fā)射的x光依次通過位于同一光路中心的源光柵105、分束光柵106、分析光柵108，在探測(cè)器109上形成條紋圖像，圖像傳輸模塊110將所述條紋圖像通過com模塊102傳輸?shù)椒治瞿K111。所述條紋圖像為莫氏條紋圖像。

所述分析模塊111用于分析得到所述條紋圖像的參數(shù)。具體而言：

所述分析模塊111分析所述條紋圖像，并得到所述條紋圖像的參數(shù)，所述參數(shù)包括：尺寸、黑白條紋間距、條紋彎曲度、條紋偏轉(zhuǎn)度。

所述判斷模塊112用于將分析得到的所述條紋圖像的參數(shù)與第一標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)比對(duì)，并判斷是否匹配。所述第一標(biāo)準(zhǔn)圖像是指：沒有樣品時(shí)，樣品臺(tái)107處于合適位置，在探測(cè)儀109上留下的圖像。具體而言：

將所述條紋圖像的尺寸、黑白條紋間距、條紋彎曲度、條紋偏轉(zhuǎn)度，分別與所述第一標(biāo)準(zhǔn)圖像的尺寸、黑白條紋間距、條紋彎曲度、條紋偏轉(zhuǎn)度進(jìn)行比對(duì)：如果上述條紋圖像每個(gè)參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)圖像對(duì)應(yīng)參數(shù)的誤差在10％以內(nèi)，則匹配成功；否則，所述判斷模塊112計(jì)算分束光柵106、分析光柵108的運(yùn)動(dòng)量。

上述計(jì)算分束光柵106、分析光柵108的運(yùn)動(dòng)量具體方法為：若所述條紋圖像與所述第一標(biāo)準(zhǔn)圖像在大小上有大于10％的差異，則分別調(diào)整分析光柵106、分束光柵108下面xyz軸平臺(tái)的z軸；若所述條紋圖像與所述第一標(biāo)準(zhǔn)圖像在水平方向上有大于10％的差異，則分別調(diào)整分析光柵106、分束光柵108下面xyz軸平臺(tái)的x軸；若所述條紋圖像與所述第一標(biāo)準(zhǔn)圖像在豎直方向上有大于10％的差異，則分別調(diào)整分析光柵106、分束光柵108下面xyz軸平臺(tái)的y軸；若所述條紋圖像與所述第一標(biāo)準(zhǔn)圖像的條紋夾角大于5°，則分別調(diào)整分析光柵106、分束光柵108下面的旋轉(zhuǎn)電機(jī)。

所述運(yùn)動(dòng)控制模塊103還用于根據(jù)計(jì)算的運(yùn)動(dòng)量，對(duì)光路中的元件位置進(jìn)行調(diào)整。

所述運(yùn)動(dòng)控制模塊103還用于將樣品臺(tái)107移動(dòng)回到光路，并在所述樣品臺(tái)107上放置樣品。

所述圖像傳輸模塊110還用于當(dāng)x光源104發(fā)出x光在探測(cè)器109上形成條紋圖像時(shí)，將所述條紋圖像通過com模塊102傳輸?shù)接?jì)算機(jī)101的分析模塊111。具體而言：

x光源104發(fā)射的x光依次通過位于同一光路中心的源光柵105、分束光柵106、樣品臺(tái)107、分析光柵108，在探測(cè)器109上形成陰影圖像，探測(cè)器109通過圖像傳輸模塊110將所述陰影圖像傳輸?shù)椒治瞿K111。

所述分析模塊111還用于分析得到所述陰影圖像的參數(shù)。具體而言：

所述分析模塊111分析所述陰影圖像，并得到所述陰影圖像的參數(shù)，所述參數(shù)包括：尺寸、黑白條紋間距、條紋彎曲度、條紋偏轉(zhuǎn)度。

所述判斷模塊112還用于將分析得到的所述陰影圖像的參數(shù)與第二標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)比對(duì)，并判斷是否匹配。所述第二標(biāo)準(zhǔn)圖像是指：放置樣品后，樣品臺(tái)107處于合適位置，在探測(cè)儀109上留下的陰影圖像具體而言：

將所述陰影圖像的尺寸、黑白條紋間距、條紋彎曲度、條紋偏轉(zhuǎn)度，分別與所述標(biāo)準(zhǔn)圖像的尺寸、黑白條紋間距、條紋彎曲度、條紋偏轉(zhuǎn)度進(jìn)行比對(duì)：如果上述陰影圖像每個(gè)參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)圖像對(duì)應(yīng)參數(shù)的誤差在10％以內(nèi)并位于視野的中央，且所述陰影圖像的大小在視野面積的40％-80％范圍內(nèi)，則匹配成功，校準(zhǔn)結(jié)束；否則，所述判斷模塊112計(jì)算分束光柵106、分析光柵108的運(yùn)動(dòng)量。

上述計(jì)算分束光柵106、分析光柵108的運(yùn)動(dòng)量具體方法為：若所述條紋圖像與所述第二標(biāo)準(zhǔn)圖像在大小上有大于10％的差異，則分別調(diào)整分析光柵106、分束光柵108下面xyz軸平臺(tái)的z軸；若所述條紋圖像與所述第一標(biāo)準(zhǔn)圖像在水平方向上有大于10％的差異，則分別調(diào)整分析光柵106、分束光柵108下面xyz軸平臺(tái)的x軸；若所述條紋圖像與所述第二標(biāo)準(zhǔn)圖像在豎直方向上有大于10％的差異，則分別調(diào)整分析光柵106、分束光柵108下面xyz軸平臺(tái)的y軸；若所述條紋圖像與所述第二標(biāo)準(zhǔn)圖像的條紋夾角大于5°，則分別調(diào)整分析光柵106、分束光柵108下面的旋轉(zhuǎn)電機(jī)。

所述運(yùn)動(dòng)控制模塊103還用于根據(jù)計(jì)算的運(yùn)動(dòng)量，對(duì)光路中的元件位置進(jìn)行調(diào)整。

參閱圖2所示，是本發(fā)明x射線光柵相襯成像自動(dòng)校準(zhǔn)方法較佳實(shí)施例的作業(yè)流程圖。

步驟s401，移動(dòng)樣品臺(tái)107，使樣品臺(tái)107不在光路上。

步驟s402，x光源104發(fā)出x光在探測(cè)器109上形成條紋圖像，探測(cè)器109通過圖像傳輸模塊110將所述條紋圖像傳輸?shù)接?jì)算機(jī)101。具體而言：

x光源104發(fā)射的x光依次通過位于同一光路中心的源光柵105、分束光柵106、分析光柵108，在探測(cè)器109上形成條紋圖像，探測(cè)器109通過圖像傳輸模塊110將所述條紋圖像傳輸?shù)接?jì)算機(jī)101。所述條紋圖像為莫氏條紋圖像。

步驟s403，分析得到所述條紋圖像的參數(shù)。具體而言：

計(jì)算機(jī)101分析所述條紋圖像，并得到所述條紋圖像的參數(shù)，所述參數(shù)包括：尺寸、黑白條紋間距、條紋彎曲度、條紋偏轉(zhuǎn)度。

步驟s404，將分析得到的所述條紋圖像的參數(shù)與第一標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)比對(duì)，并判斷是否匹配。所述第一標(biāo)準(zhǔn)圖像是指：沒有樣品時(shí)，樣品臺(tái)107處于合適位置，在探測(cè)儀109上留下的圖像。具體而言：

將所述條紋圖像的尺寸、黑白條紋間距、條紋彎曲度、條紋偏轉(zhuǎn)度，分別與所述第一標(biāo)準(zhǔn)圖像的尺寸、黑白條紋間距、條紋彎曲度、條紋偏轉(zhuǎn)度進(jìn)行比對(duì)：如果上述條紋圖像每個(gè)參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)圖像對(duì)應(yīng)參數(shù)的誤差在10％以內(nèi)，則匹配成功，進(jìn)入步驟s406；否則，計(jì)算分束光柵106、分析光柵108的運(yùn)動(dòng)量，進(jìn)入步驟s405。

上述計(jì)算分束光柵106、分析光柵108的運(yùn)動(dòng)量具體方法為：若所述條紋圖像與所述第一標(biāo)準(zhǔn)圖像在大小上有大于10％的差異，則分別調(diào)整分析光柵106、分束光柵108下面xyz軸平臺(tái)的z軸；若所述條紋圖像與所述第一標(biāo)準(zhǔn)圖像在水平方向上有大于10％的差異，則分別調(diào)整分析光柵106、分束光柵108下面xyz軸平臺(tái)的x軸；若所述條紋圖像與所述第一標(biāo)準(zhǔn)圖像在豎直方向上有大于10％的差異，則分別調(diào)整分析光柵106、分束光柵108下面xyz軸平臺(tái)的y軸；若所述條紋圖像與所述第一標(biāo)準(zhǔn)圖像的條紋夾角大于5°，則分別調(diào)整分析光柵106、分束光柵108下面的旋轉(zhuǎn)電機(jī)。

步驟s405，根據(jù)計(jì)算的運(yùn)動(dòng)量，對(duì)光路中的元件位置進(jìn)行調(diào)整，而后返回步驟s402。

步驟s406，將樣品臺(tái)107移動(dòng)回到光路，并在所述樣品臺(tái)107上放置樣品。

步驟s407，x光源104發(fā)出x光在探測(cè)器109上形成陰影圖像，探測(cè)器109通過圖像傳輸模塊110將所述陰影圖像傳輸?shù)接?jì)算機(jī)101。具體而言：

x光源104發(fā)射的x光依次通過位于同一光路中心的源光柵105、分束光柵106、樣品臺(tái)107、分析光柵108，在探測(cè)器109上形成陰影圖像，探測(cè)器109通過圖像傳輸模塊110將所述陰影圖像傳輸?shù)接?jì)算機(jī)101。

步驟s408，分析得到所述陰影圖像的參數(shù)。具體而言：

計(jì)算機(jī)101分析所述陰影圖像，并得到所述陰影圖像的參數(shù)，所述參數(shù)包括：尺寸、黑白條紋間距、條紋彎曲度、條紋偏轉(zhuǎn)度。

步驟s409，將分析得到的所述陰影圖像的參數(shù)與第二標(biāo)準(zhǔn)圖像的參數(shù)比對(duì)，并判斷是否匹配。所述第二標(biāo)準(zhǔn)圖像是指：放置樣品后，樣品臺(tái)107處于合適位置，在探測(cè)儀109上留下的陰影圖像。具體而言：

將所述陰影圖像的尺寸、黑白條紋間距、條紋彎曲度、條紋偏轉(zhuǎn)度，分別與所述標(biāo)準(zhǔn)圖像的尺寸、黑白條紋間距、條紋彎曲度、條紋偏轉(zhuǎn)度進(jìn)行比對(duì)：如果上述陰影圖像每個(gè)參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)圖像對(duì)應(yīng)參數(shù)的誤差在10％以內(nèi)并位于視野的中央，且所述陰影圖像的大小在視野面積的40％-80％范圍內(nèi)，則匹配成功，校準(zhǔn)結(jié)束；否則，計(jì)算分束光柵106、分析光柵108的運(yùn)動(dòng)量，進(jìn)入步驟s410。

上述計(jì)算分束光柵106、分析光柵108的運(yùn)動(dòng)量具體方法為：若所述條紋圖像與所述第二標(biāo)準(zhǔn)圖像在大小上有大于10％的差異，則分別調(diào)整分析光柵106、分束光柵108下面xyz軸平臺(tái)的z軸；若所述條紋圖像與所述第一標(biāo)準(zhǔn)圖像在水平方向上有大于10％的差異，則分別調(diào)整分析光柵106、分束光柵108下面xyz軸平臺(tái)的x軸；若所述條紋圖像與所述第二標(biāo)準(zhǔn)圖像在豎直方向上有大于10％的差異，則分別調(diào)整分析光柵106、分束光柵108下面xyz軸平臺(tái)的y軸；若所述條紋圖像與所述第二標(biāo)準(zhǔn)圖像的條紋夾角大于5°，則分別調(diào)整分析光柵106、分束光柵108下面的旋轉(zhuǎn)電機(jī)。

步驟s410，根據(jù)計(jì)算的運(yùn)動(dòng)量，對(duì)光路中的元件位置進(jìn)行調(diào)整，而后返回步驟s407。

雖然本發(fā)明參照當(dāng)前的較佳實(shí)施方式進(jìn)行了描述，但本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)能理解，上述較佳實(shí)施方式僅用來說明本發(fā)明，并非用來限定本發(fā)明的保護(hù)范圍，任何在本發(fā)明的精神和原則范圍之內(nèi)，所做的任何修飾、等效替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的權(quán)利保護(hù)范圍之內(nèi)。