技術(shù)總結(jié)
一種大口徑深矢高的自由曲面檢測方法及裝置，屬于光學(xué)測量技術(shù)領(lǐng)域，為了解決現(xiàn)有技術(shù)對非對稱大尺寸光學(xué)自由曲面的非接觸無損檢測方法存在的問題，該方法是通過設(shè)計時被測自由曲面的公式與STL模型結(jié)合，將被測自由曲面用一系列三角面片離散地近似構(gòu)成三維區(qū)域曲面；然后根據(jù)曲率劃分區(qū)域，再通過已知的被測自由曲面公式對各個區(qū)域進(jìn)行計算，繪圖得到八位灰度圖，再對ZYGO干涉儀的光束進(jìn)行編碼，編碼方式與繪制八位灰度方式相對應(yīng)；通過對ZYGO干涉儀的光束編碼后可使液晶空間光調(diào)制器對其相應(yīng)的區(qū)域進(jìn)行測量；本發(fā)明檢測效率高、成本低、并且具有體積小、精度高、便于控制等優(yōu)點；該方法將在大型的光學(xué)系統(tǒng)檢測中具有廣泛的應(yīng)用前景。

技術(shù)研發(fā)人員：付躍剛;劉智穎;徐寧;溫春超
受保護(hù)的技術(shù)使用者：長春理工大學(xué)
文檔號碼：201710211579
技術(shù)研發(fā)日：2017.04.01
技術(shù)公布日：2017.05.31