技術(shù)特征：

1.一種電極燒蝕顆粒分布測量方法，其特征在于：所述的測量方法包括以下步驟：

a.獲得電極燒蝕顆粒圖像，并命名為待測表面圖像；

b.從待測表面圖像中提取高度數(shù)據(jù)，對(duì)超出表面高度范圍的點(diǎn)進(jìn)行標(biāo)記，確定待測表面邊界；

c.根據(jù)待測表面邊界的幾何形狀，生成顆粒統(tǒng)計(jì)網(wǎng)格，網(wǎng)格單元數(shù)為N；

d.計(jì)算顆粒統(tǒng)計(jì)網(wǎng)格單元的表面平均高度hm₁、hm₂……h(huán)m_N和表面最高高度hmax₁、hmax₂……h(huán)max_N；

e.計(jì)算顆粒統(tǒng)計(jì)網(wǎng)格單元的高度差Δh₁=hmax₁-hm₁、Δh₂=hmax₂-hm₂……Δh_N=hmax_N-hm_N，分別計(jì)算Δh₁、Δh₂……Δh_N與待測表面標(biāo)準(zhǔn)高度差h_ref的差值，若差值大于0，則存在顆粒；

f.對(duì)存在顆粒的顆粒統(tǒng)計(jì)網(wǎng)格單元進(jìn)行分析，獲得電極燒蝕顆粒的空間位置分布和高度尺寸分布結(jié)果。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電極燒蝕顆粒分布測量方法，其特征在于：所述的步驟c中的顆粒統(tǒng)計(jì)網(wǎng)格為極坐標(biāo)網(wǎng)格。