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一種基于Goertzel變換算法的檢波器測(cè)試儀及測(cè)試方法與流程

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一種基于Goertzel變換算法的檢波器測(cè)試儀及測(cè)試方法與流程

本發(fā)明屬于地球物理勘探技術(shù)領(lǐng)域,其涉及一種基于Goertzel變換算法的檢波器測(cè)試儀及測(cè)試方法,其適用于對(duì)微弱信號(hào)進(jìn)行拾取的檢波器進(jìn)行測(cè)試。



背景技術(shù):

地震檢波器是一種被廣泛應(yīng)用于地球物理勘探和地震研究的檢波器,對(duì)微弱信號(hào)進(jìn)行拾取,檢波器的性能直接關(guān)系到地震數(shù)據(jù)采集的質(zhì)量,其各項(xiàng)性能的測(cè)量結(jié)果對(duì)于保證勘探數(shù)據(jù)品質(zhì)和后續(xù)采集電路的設(shè)計(jì)十分重要。

現(xiàn)有的檢波器測(cè)試儀,測(cè)試檢波器的固有頻率、靈敏度、阻尼比、直流電阻、動(dòng)態(tài)電阻等參數(shù)時(shí),大多使用直流激勵(lì)法以及正弦掃頻電激勵(lì)法。直流激勵(lì)法原理清楚,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,適宜于小阻尼低固有頻率檢波器,但對(duì)于較大阻尼及較高固有頻率檢波器,測(cè)量誤差較大;而且在利用測(cè)得的參數(shù)對(duì)檢波器進(jìn)行幅頻和相頻響應(yīng)特性分析時(shí),誤差更大。由于低頻檢波器制作難度高,價(jià)格昂貴,現(xiàn)在地震檢波器在測(cè)量地震微弱低頻信號(hào)時(shí),大多為了擴(kuò)頻的目的,使用反饋電路對(duì)低頻信號(hào)進(jìn)行檢測(cè),若只是利用測(cè)量的固有頻率和阻尼比等參數(shù)進(jìn)行反饋計(jì)算,對(duì)于低于固有頻率部分的頻率響應(yīng)不真實(shí),對(duì)采集的地震信號(hào)質(zhì)量有嚴(yán)重影響,因此更需要利用掃頻的方式,將檢波器低頻的響應(yīng)的真實(shí)特性測(cè)量出來(lái)。在現(xiàn)有的檢波器測(cè)試儀中使用的正弦掃頻激勵(lì)測(cè)試準(zhǔn)確度更高,且測(cè)試速度也更快,是地震勘探隨時(shí)隨地檢波器測(cè)試標(biāo)定的最佳方法,但是目前使用正弦掃頻測(cè)試所產(chǎn)生的正弦信號(hào)都是通過(guò)振蕩器產(chǎn)生,這種方式產(chǎn)生的信號(hào)的精度受振蕩器的環(huán)境影響較大,易老化,信號(hào)本身易失真;同時(shí)振蕩器產(chǎn)生的低頻信號(hào)精度不高,造成硬件電路復(fù)雜、成本過(guò)高。

在地震檢波器中諧波失真度是一個(gè)非常重要的性能指標(biāo),諧波失真度是輸出信號(hào)諧波分量有效值總和與基波分量有效值之比的百分比,是衡量檢波器性能的綜合指標(biāo),它決定了檢波器的瞬時(shí)動(dòng)態(tài)范圍?,F(xiàn)有檢波器測(cè)試儀的測(cè)量方式大多數(shù)都是在檢波器線圈兩端通入高保真測(cè)量頻率的正弦波信號(hào),檢波器在此信號(hào)激勵(lì)下由電磁感應(yīng)原理產(chǎn)生輸出響應(yīng),對(duì)輸出響應(yīng)進(jìn)行FFT頻率分析,來(lái)確定檢波器輸出的失真度;在利用正弦掃頻測(cè)量檢波器的頻率響應(yīng)時(shí),同樣也需要對(duì)采集的信號(hào)進(jìn)行傅里葉變換。但是現(xiàn)在普遍使用的傅里葉變換計(jì)算方法需要先保存采集的數(shù)據(jù),再進(jìn)行頻譜分析。實(shí)際測(cè)量時(shí),數(shù)據(jù)采集的時(shí)間總是有限的,由于采集時(shí)間越長(zhǎng)精度越高,這就需要大量?jī)?nèi)存來(lái)保證計(jì)算精度。

因此,需要研發(fā)能夠解決上述技術(shù)問(wèn)題的新檢波器的測(cè)試儀。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

基于現(xiàn)實(shí)和生產(chǎn)實(shí)踐的需要,本申請(qǐng)人投入大量資金及長(zhǎng)期研究,提供了一種基于Goertzel變換算法的檢波器測(cè)試儀及測(cè)試方法,其不僅很好地解決了現(xiàn)有技術(shù)中存在的生產(chǎn)成本高的問(wèn)題,還能解決了檢波器失真度過(guò)高的問(wèn)題,同時(shí)提高了測(cè)試儀的測(cè)試精度。

依據(jù)本發(fā)明的第一方面,提供一種基于Goertzel變換算法的檢波器測(cè)試儀,其利用單片機(jī)的直接內(nèi)存存取技術(shù)(DMA),直接讀取存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)正弦信號(hào)查找表,產(chǎn)生所需頻率正弦信號(hào),并通過(guò)低諧波失真、高頻譜純度的電流源架構(gòu),提高檢波器參數(shù)測(cè)試的測(cè)量范圍和準(zhǔn)確度;使用數(shù)字化正弦掃頻信號(hào)作為輸入,測(cè)得的檢波器參數(shù),可以直接測(cè)量待測(cè)檢波器幅頻響應(yīng)和相頻響應(yīng)特性;使用反饋電路對(duì)檢波器進(jìn)行擴(kuò)頻的方式,測(cè)量檢波器低頻響應(yīng)的真實(shí)特性。

所述檢波器測(cè)試儀包括單片機(jī)和FPGA主電路板、D/A轉(zhuǎn)換電路、電流源、信號(hào)調(diào)理、A/D轉(zhuǎn)換電路和LCD顯示屏;單片機(jī)存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)正弦信號(hào)查找表,利用DMA直接產(chǎn)生不同頻率正弦信號(hào),再連接D/A轉(zhuǎn)換電路,并通過(guò)電流源加到檢波器上,再對(duì)檢波器的輸出電壓放大調(diào)理,進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換,傳輸?shù)紽PGA中,利用Goertzel變換算法和正弦查找表直接計(jì)算出所采不同頻率下的頻率響應(yīng)和諧波失真度;同時(shí)通過(guò)采集的數(shù)據(jù)全面計(jì)算和分析出檢波器固有頻率、靈敏度、阻尼比、直流電阻、動(dòng)態(tài)電阻的各項(xiàng)參數(shù),利用LCD顯示出來(lái),并提供USB接口,存儲(chǔ)測(cè)試的數(shù)據(jù)結(jié)果。其中單片機(jī)存儲(chǔ)一個(gè)正弦信號(hào)查找表,利用DMA直接產(chǎn)生高精度數(shù)字化正弦掃頻信號(hào)作為檢波器輸入,檢測(cè)檢波器幅頻響應(yīng)和相頻響應(yīng)特性。

依據(jù)本發(fā)明的第二方面,提供一種使用上述的檢波器測(cè)試儀的檢測(cè)方法,其基于Goertzel變換算法對(duì)幅頻特性和相頻特性進(jìn)行分析,實(shí)時(shí)計(jì)算出幅度和相位信息,完整還原出檢波器的頻率響應(yīng),并得到待檢測(cè)檢波器的諧波失真度和各項(xiàng)參數(shù),精度可程序調(diào)整,無(wú)需存儲(chǔ)數(shù)據(jù)后再計(jì)算,無(wú)需預(yù)留大量硬件內(nèi)存。

其中,Goertzel算法為一個(gè)二階IIR帶通濾波器,濾波器的傳遞函數(shù)為:

其中,Hk(Z)為濾波器的傳遞函數(shù),k=ft*N/fs,ft為信號(hào)頻率,fs為系統(tǒng)采樣頻率,N為樣本點(diǎn)數(shù)。

進(jìn)一步地,基于Goertzel變換算法的檢波器測(cè)試儀的測(cè)試原理如下:

第一步,在檢波器測(cè)試儀單片機(jī)FLASH里建立和存儲(chǔ)了標(biāo)準(zhǔn)正弦信號(hào)查找表,用于產(chǎn)生不同頻率正弦信號(hào),查找表中為一個(gè)周期內(nèi)正弦信號(hào)的幅值,精度為2的16次方,分辨率為10KSPS;

第二步,利用單片機(jī)的DMA,直接讀取FLASH里正弦信號(hào)查找表;在產(chǎn)生不同頻率信號(hào)時(shí),直接在正弦信號(hào)查找表中抽取數(shù)據(jù),生成所需頻率的數(shù)字信號(hào),利用DMA傳輸?shù)紻/A轉(zhuǎn)換器中即可;

第三步,采用16位高精度D/A轉(zhuǎn)換器,提高了測(cè)試信號(hào)源源頭的準(zhǔn)確度,將單片機(jī)產(chǎn)生的數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換為高精度模擬信號(hào);

第四步,高精度模擬信號(hào)經(jīng)過(guò)電流源后,加載到待測(cè)檢波器上。通過(guò)信號(hào)調(diào)理后,將采集到的檢波器信號(hào)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換后,傳輸?shù)紽PGA中;

第五步,F(xiàn)PGA對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行Goertzel變換,Goertzel變換算法的計(jì)算同樣通過(guò)查找正弦信號(hào)表,直接查找正弦值,提高了計(jì)算速度;

第六步,F(xiàn)PGA將計(jì)算的Goertzel變換實(shí)時(shí)結(jié)果傳給單片機(jī),單片機(jī)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行整合和保存,顯示到LCD上,并提供USB接口,測(cè)試完成后可以將測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到外設(shè)中。

優(yōu)選地,基于Goertzel變換算法的檢波器測(cè)試儀的檢測(cè)方法如下:

第一步,打開(kāi)檢波器測(cè)試儀上的測(cè)試儀電源,將輸入信號(hào)線、輸出信號(hào)線加載到待測(cè)檢波器上;檢波器測(cè)試儀上使用的4.3英寸的LCD,開(kāi)機(jī)后會(huì)顯示檢波器測(cè)試儀初始化正常和檢波器測(cè)試儀的電池電源電量;電量不足時(shí),提供外接5V直流插口可供充電使用;

第二步,開(kāi)始測(cè)試時(shí),首先判斷是否插入U(xiǎn)SB外接設(shè)備,若有外接設(shè)備,設(shè)置保存數(shù)據(jù)的路徑;沒(méi)有外接設(shè)備時(shí),跳過(guò)保存數(shù)據(jù)選擇;

第三步,通過(guò)檢波器測(cè)試儀上的4*4鍵盤,先選擇需要產(chǎn)生的掃頻頻段、各頻段掃頻時(shí)間;再通過(guò)鍵盤輸入電流值,來(lái)改變對(duì)應(yīng)的測(cè)試儀輸入信號(hào)幅度;最后選擇ENT按鍵,開(kāi)始測(cè)試和分析;

第四步,測(cè)試過(guò)程中,若出現(xiàn)異常電流情況,本發(fā)明包含安全保護(hù)器,如果測(cè)試儀輸出電流過(guò)大造成過(guò)載時(shí),發(fā)出蜂鳴并中斷測(cè)試保護(hù)檢波器,并在LCD上顯示錯(cuò)誤原因;正常測(cè)試時(shí),LCD上實(shí)時(shí)顯示的不同頻率和幅度下,待測(cè)檢波器的頻率響應(yīng)、諧波失真度、靈敏度、直流電阻、動(dòng)態(tài)電阻參數(shù),并得到和顯示出待測(cè)檢波器的直流電阻、固有頻率;

第五步,檢波器測(cè)試儀提供的USB存儲(chǔ)接口,在測(cè)試完成后,可以將測(cè)試時(shí)間內(nèi)的測(cè)試結(jié)果的數(shù)據(jù)保存成EXCEL表格,保存到外接USB存儲(chǔ)設(shè)備中。

本發(fā)明中提出的檢波器檢測(cè)儀及測(cè)試方法,單片機(jī)產(chǎn)生數(shù)字化正弦掃頻信號(hào),經(jīng)過(guò)低諧波失真、高頻譜純度的電流源架構(gòu),以此測(cè)量出檢波器的幅頻響應(yīng)和相頻響應(yīng)特性,提高了檢波器測(cè)試精度?;贕oertzel變換的計(jì)算方法,能快速簡(jiǎn)單的計(jì)算出幅度和相位信息,無(wú)需存儲(chǔ),實(shí)時(shí)得到檢波器頻率響應(yīng)、諧波失真度和各項(xiàng)參數(shù),計(jì)算速度快,測(cè)試儀操作簡(jiǎn)便,測(cè)試儀硬件構(gòu)成簡(jiǎn)單,體積小,質(zhì)量輕,價(jià)格低,準(zhǔn)確率高等優(yōu)點(diǎn)。

附圖說(shuō)明

附圖1是Goertzel算法的實(shí)現(xiàn)原理結(jié)構(gòu)框圖。

附圖2是本發(fā)明檢波器測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)示意圖。

附圖3是本發(fā)明檢波器測(cè)試儀的整體電路圖。

附圖4-1、4-2、4-3分別是是本發(fā)明檢波器測(cè)試儀的D/A轉(zhuǎn)換模塊電路圖。

附圖5是本發(fā)明檢波器測(cè)試儀的電流源模塊電路圖。

附圖6是本發(fā)明檢波器測(cè)試儀的信號(hào)調(diào)理模塊和A/D轉(zhuǎn)換模塊電路圖。

附圖7是本發(fā)明檢波器測(cè)試儀的外觀示意圖。

附圖8是本發(fā)明測(cè)試方法的主流程圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明的一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

本發(fā)明提供的基于Goertzel變換算法的檢波器測(cè)試儀利用單片機(jī)的DMA(直接內(nèi)存存取技術(shù)),直接讀取存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)正弦信號(hào)查找表,產(chǎn)生所需頻率正弦信號(hào),對(duì)于低頻信號(hào)的產(chǎn)生優(yōu)勢(shì)尤為明顯,并通過(guò)低諧波失真、高頻譜純度的電流源架構(gòu),提高了檢波器參數(shù)測(cè)試的測(cè)量范圍和準(zhǔn)確度,解決測(cè)試信號(hào)源源頭易失真問(wèn)題。使用數(shù)字化正弦掃頻信號(hào)作為輸入,測(cè)得的檢波器參數(shù)精度高,可以直接測(cè)量待測(cè)檢波器幅頻響應(yīng)和相頻響應(yīng)特性。對(duì)于使用反饋電路對(duì)檢波器進(jìn)行擴(kuò)頻的方式,由于低于固有頻率部分的幅頻響應(yīng)能通過(guò)掃頻的方式,將檢波器低頻響應(yīng)的真實(shí)特性測(cè)量出來(lái),因而提供了可靠的特性參數(shù)數(shù)據(jù),提高了反饋電路對(duì)于低頻信號(hào)的測(cè)量精度。

本發(fā)明檢波器測(cè)試儀由單片機(jī)和FPGA主電路板、D/A轉(zhuǎn)換電路、電流源、信號(hào)調(diào)理、A/D轉(zhuǎn)換電路和LCD顯示屏組成。單片機(jī)存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)正弦信號(hào)查找表,利用DMA直接產(chǎn)生不同頻率正弦信號(hào),再連接D/A轉(zhuǎn)換電路,并通過(guò)電流源加到檢波器上,再對(duì)檢波器的輸出電壓放大調(diào)理,進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換,傳輸?shù)紽PGA中,利用Goertzel變換算法和正弦查找表直接計(jì)算出所采不同頻率下的頻率響應(yīng)和諧波失真度。同時(shí),通過(guò)采集的數(shù)據(jù)全面計(jì)算和分析出檢波器固有頻率、靈敏度、阻尼比、直流電阻、動(dòng)態(tài)電阻等其他各項(xiàng)參數(shù),利用LCD顯示出來(lái),并提供USB接口,存儲(chǔ)測(cè)試的數(shù)據(jù)結(jié)果。

此外,本發(fā)明提供的基于Goertzel變換算法的檢波器測(cè)試方法對(duì)幅頻特性和相頻特性進(jìn)行分析時(shí),基于Goertzel變換算法的測(cè)試方法,能實(shí)時(shí)計(jì)算出幅度和相位信息,完整還原出檢波器的頻率響應(yīng),并得到待檢測(cè)檢波器的諧波失真度和各項(xiàng)參數(shù),精度可程序調(diào)整,無(wú)需預(yù)留大量硬件內(nèi)存,計(jì)算速度快。通過(guò)使用嵌入式技術(shù)以及現(xiàn)代數(shù)字信號(hào)處理技術(shù),系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)以前臺(tái)式檢波器測(cè)試儀全部的功能。體積、重量、功耗等大大縮小。本檢波器測(cè)試儀提供USB接口,可以將測(cè)試結(jié)果保存至外接USB存儲(chǔ)設(shè)備,方便記錄和查看,也解決了數(shù)據(jù)存儲(chǔ)量的問(wèn)題,減小了檢波器測(cè)試儀的體積。

本發(fā)明的檢測(cè)技術(shù)對(duì)檢波器采集到的數(shù)字信號(hào)直接Goertzel變換,進(jìn)行幅頻特性分析,無(wú)需對(duì)采集的信號(hào)進(jìn)行存儲(chǔ)后再進(jìn)行頻率轉(zhuǎn)換,可以實(shí)時(shí)計(jì)算出當(dāng)下時(shí)刻的待測(cè)頻率的幅度和相位信息。采用Goertzel算法,是DFT的一種快速算法。

Goertzel算法可以看作是一個(gè)二階IIR帶通濾波器,濾波器的傳遞函數(shù)為:

其中,Hk(Z)為濾波器的傳遞函數(shù),k=ft*N/fs,ft為信號(hào)頻率,fs為系統(tǒng)采樣頻率,N為樣本點(diǎn)數(shù)。

計(jì)算方法如附圖1:

確定采樣率fs、塊大小N和需要計(jì)算的頻率ft,計(jì)算需要的常數(shù):

k=ft*N/fs

則該濾波器的實(shí)現(xiàn)形式為

式中,Sk(n)為遞推計(jì)算的中間值,其中Sk(0)=Sk(-1)=0。對(duì)每一個(gè)采樣值X(n),其中1≤n≤N,在進(jìn)行N次預(yù)采樣計(jì)算之后,可以得到塊N時(shí)間段內(nèi)待測(cè)頻率ft的FFT值Y(N)為:

Y(N)=Sk(N)-e-j2πk/NSk(N-1)

對(duì)頻率為ft的穩(wěn)態(tài)響應(yīng)信號(hào)進(jìn)行采樣,采樣頻率為fs,其值大于信號(hào)中ft的2倍時(shí)滿足采樣定理,采樣之后的數(shù)字信號(hào)完整地保留了原始信號(hào)中的信息。所以基于Goertzel變換算法能快速計(jì)算和完整還原出待測(cè)檢波器幅頻響應(yīng)和相頻響應(yīng)特性。計(jì)算諧波失真度時(shí),先確定常數(shù)k,通過(guò)更改A/D轉(zhuǎn)換采樣率,計(jì)算處不同諧波的幅頻特性即可,計(jì)算速度快

下面將結(jié)合本發(fā)明中的附圖,對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行進(jìn)一步的詳細(xì)描述。

如附圖2所示,圖2為本發(fā)明的一種基于Goertzel變換算法的檢波器測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)圖,由單片機(jī)和FPGA主電路板①,D/A轉(zhuǎn)換電路②,電流源③,檢波器④,信號(hào)調(diào)理⑤,A/D轉(zhuǎn)換電路⑥,LCD⑦組成。

單片機(jī)和FPGA主電路板①模塊為檢波器測(cè)試儀的數(shù)據(jù)處理器,主要功能是產(chǎn)生正弦掃頻信號(hào),并對(duì)采集的待測(cè)檢波器信號(hào)進(jìn)行計(jì)算,測(cè)試檢波器的各項(xiàng)參數(shù)。單片機(jī)的DMA(直接內(nèi)存存取技術(shù))可以直接讀取存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)正弦信號(hào)查找表,產(chǎn)生所需頻率正弦信號(hào),提供信號(hào)輸出。FPGA對(duì)采集到的待測(cè)檢波器信號(hào)進(jìn)行Goertzel變換算法的計(jì)算,精度可程序調(diào)整,無(wú)需預(yù)留大量硬件內(nèi)存,計(jì)算速度快。

D/A轉(zhuǎn)換電路②模塊是將單片機(jī)產(chǎn)生的正弦掃頻數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬電壓信號(hào),取代原有的振蕩器,大大降低了低頻信號(hào)的失真度,提高了檢波器參數(shù)測(cè)試的測(cè)量范圍和準(zhǔn)確度,解決測(cè)試信號(hào)源源頭易失真問(wèn)題。

電流源③模塊是將D/A電路輸出的模擬電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬電流信號(hào),加載到待測(cè)檢波器④上,通過(guò)低諧波失真、高頻譜純度的電流源架構(gòu),實(shí)現(xiàn)正弦掃頻信號(hào)作為輸入。

信號(hào)調(diào)理⑤模塊是采集待測(cè)檢波器④輸出的電壓信號(hào),進(jìn)行整流濾波等信號(hào)調(diào)理后,輸入AD芯片。

A/D轉(zhuǎn)換電路⑥模塊是將信號(hào)調(diào)理后的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為高精度數(shù)字信號(hào),輸入到FPGA中,進(jìn)行Goertzel變換算法的計(jì)算。

LCD⑦模塊連接單片機(jī),顯示檢波器測(cè)試儀的各項(xiàng)工作狀態(tài)和FPGA傳輸?shù)絾纹瑱C(jī)中計(jì)算的結(jié)果等。

如圖3所示的基于Goertzel變換算法的檢波器測(cè)試儀整體電路,單片機(jī)和FPGA主電路板①模塊中單片機(jī)選用通過(guò)USB認(rèn)證的LPC11Uxx系列微控制器,具有更多內(nèi)存、串行通信、高速ADC等特性。單片機(jī)提供外接USB存儲(chǔ)接口和5V直流插口。5V直流轉(zhuǎn)換為±5V和+3.3V電源,為其他模塊供電。+3.3V電源為單片機(jī)和FPGA供電。單片機(jī)通過(guò)SPI接口(SDO、/SYNC、SCLK、SDIN)和IO口(/CLR、/LDAC、/RESET)與D/A轉(zhuǎn)換電路②模塊連接,同時(shí)±5V和+3.3V電源供電,D/A轉(zhuǎn)換電路②的輸出OUTV通過(guò)連接電流源③,5V直流供電,轉(zhuǎn)換為電流信號(hào)OUTI,加載到待測(cè)檢波器上,待測(cè)檢波器產(chǎn)生的信號(hào)IN+和IN-經(jīng)過(guò)信號(hào)調(diào)理⑤和AD模塊⑥,5V直流供電,轉(zhuǎn)換為高精度數(shù)字信號(hào),利用SPI接口(AD_SCLK、AD_DOUT、AD_CLK)傳輸?shù)絾纹瑱C(jī)和FPGA主電路板①模塊中。FPGA選用Actel公司IGLOO系列,其優(yōu)勢(shì)在于相同規(guī)模下功耗低,基于Flash工藝的非易失性FPGA,可靠性高,計(jì)算速度快。FPGA計(jì)算輸入信號(hào)的Goertzel變換后的幅頻特性,傳輸?shù)絾纹瑱C(jī),單片機(jī)通過(guò)IO口(LCD_RS、LCD_E、LCD_D4、LCD_D5、LCD_D6、LCD_D7)與LCD連接,5V直流供電,將結(jié)果顯示到LCD上。

其中D/A轉(zhuǎn)換電路②模塊詳細(xì)電路圖如附圖4-1、4-2、4-3所示,AD5791是一款單通道,提供20位可編程電壓,其輸出范圍為-10V至+10V,單芯片1ppm精度的數(shù)模轉(zhuǎn)換器,且具有低噪聲特性。單片機(jī)通過(guò)SPI接口(SDO、/SYNC、SCLK、SDIN)和IO口(/CLR、/LDAC、/RESET)與連接AD5791,傳輸單片機(jī)數(shù)字掃頻信號(hào)。AD5791由±5V和+3V供電,電源分別并接0.1μF和10μF旁路電容到地。AD5791的輸出VOUT連接AD8657正向輸入端,AD8657反向輸入端連接1K電阻到地,以及連接1K電阻到輸出端,提供電壓反饋,產(chǎn)生低諧波失真、高頻譜純度正弦信號(hào)。

圖4-2和圖4-3使用雙通道運(yùn)算放大器AD8676對(duì)AD5791基準(zhǔn)電壓(VREFNF、VREFNS、VREFPF、VREFPS)輸入進(jìn)行緩沖。圖4-2所示,±5V給運(yùn)算放大器AD8676供電,+5V串聯(lián)1.5K電阻到AD8676的一個(gè)運(yùn)算放大器反向輸入端,串聯(lián)1K電阻到輸出端,正向輸入端接地。運(yùn)算放大器輸出端連接AD8676的另一個(gè)運(yùn)算放大器的正向輸入端,反向輸入端和輸出端就是基準(zhǔn)電壓VREFNF和VREFNS。圖4-3所示,±5V給運(yùn)算放大器AD8676供電,+5V串聯(lián)1.5K電阻到AD8676的一個(gè)運(yùn)算放大器正向輸入端,并聯(lián)10μF電容到地。運(yùn)算放大器的反向輸入端并聯(lián)1K電阻到地,串聯(lián)51Ω電阻到輸出端,輸出端連接AD8676的另一個(gè)運(yùn)算放大器的正向輸入端,反向輸入端和輸出端就是基準(zhǔn)電壓VREFPF和VREFPS。

電流源③模塊詳細(xì)電路圖如附圖5所示,AD8276內(nèi)置四個(gè)40kΩ激光調(diào)整電阻,分別與輸入引腳、REF引腳和SENSE引腳相連,基準(zhǔn)電壓VREF加在同相輸入端,該電壓控制輸出電流量IO。由于運(yùn)算放大器AD8603具有低偏置電流和低失調(diào)電壓特性,所以在電路的反饋環(huán)路中選用該器件。AD8276的REF引腳連接AD8603的反相輸入端和輸出引腳,AD8603同相輸入端通過(guò)電阻連接晶體管的發(fā)射極,作為電流源的輸出。AD8276的的反相輸入端-IN直接接地,輸出OUT可用來(lái)驅(qū)動(dòng)一個(gè)晶體管,提供高電流輸出。晶體管基極與AD8276的OUT引腳相連,集電極連接+5V,發(fā)射極連接50Ω電阻到待測(cè)檢波器正向輸入端,提供輸出電流。

信號(hào)調(diào)理⑤模塊和A/D轉(zhuǎn)換電路⑥模塊詳細(xì)電路圖如附圖6。+5V電源分別給MAX4252、LT1790和ADS1251供電,分別并聯(lián)0.1μF電容到地。待測(cè)檢波器兩段分別連接MAX4252兩組放大器的正向輸入端,MAX4252反向輸入端串聯(lián)一個(gè)10K電阻連接輸出端。檢波器負(fù)極串聯(lián)10K電阻連接LT1790輸出的2.5V參考電壓,并聯(lián)1μF電容到地,抬高直流分量。MAX4252兩組放大器進(jìn)行信號(hào)調(diào)理后,輸出端連接ADS1251輸入端,并聯(lián)10K電阻到地。ADS1251是TI公司生產(chǎn)的一種高精度、寬動(dòng)態(tài)范圍的24位△-Σ結(jié)構(gòu)的模數(shù)轉(zhuǎn)換器,5V電源供電。ADS1251的SPI接口(AD_SCLK、AD_DOUT、AD_CLK)連接到FPGA,傳輸模數(shù)轉(zhuǎn)換后的信號(hào),進(jìn)行Goertzel變換算法的計(jì)算。

本發(fā)明利用單片機(jī)的DMA讀取正弦查找表直接產(chǎn)生數(shù)字掃頻信號(hào),再連接D/A轉(zhuǎn)換電路將數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào),通過(guò)電流源加載到檢波器上,再對(duì)檢波器上采集到信號(hào)進(jìn)行放大調(diào)理,調(diào)理后的信號(hào)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換,傳輸?shù)紽PGA中,利用Goertzel變換算法和正弦查找表直接計(jì)算出所采信號(hào)的頻率響應(yīng)和諧波失真度,并通過(guò)采集的數(shù)據(jù)全面計(jì)算和分析出檢波器固有頻率、靈敏度、阻尼比、直流電阻、動(dòng)態(tài)電阻等其他各項(xiàng)參數(shù),利用LCD顯示出來(lái),并提供USB接口,存儲(chǔ)測(cè)試的數(shù)據(jù)結(jié)果。外觀圖如附圖7所示。

基于Goertzel變換算法的檢波器測(cè)試儀是測(cè)試原理和方式是:

第一步,在單片機(jī)FLASH里建立和存儲(chǔ)了標(biāo)準(zhǔn)正弦信號(hào)查找表,可以用于產(chǎn)生不同頻率正弦信號(hào),表中為一個(gè)周期內(nèi)正弦信號(hào)的幅值,精度為2的16次方,分辨率為10KSPS。

第二步,利用單片機(jī)的DMA,直接讀取FLASH里正弦信號(hào)查找表。在產(chǎn)生不同頻率信號(hào)時(shí),直接在正弦信號(hào)查找表中抽取數(shù)據(jù),生成所需頻率的數(shù)字信號(hào),利用DMA傳輸?shù)紻/A轉(zhuǎn)換器中即可。

第三步,本發(fā)明采用16位高精度D/A轉(zhuǎn)換器,提高了測(cè)試信號(hào)源源頭的準(zhǔn)確度,將單片機(jī)產(chǎn)生的數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換為高精度模擬信號(hào)。

第四步,高精度模擬信號(hào)經(jīng)過(guò)電流源后,加載到待測(cè)檢波器上。通過(guò)信號(hào)調(diào)理后,將采集到的檢波器信號(hào)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換后,傳輸?shù)紽PGA中。

第五步,F(xiàn)PGA對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行Goertzel變換,Goertzel變換算法的計(jì)算同樣通過(guò)查找正弦信號(hào)表,直接查找正弦值,提高了計(jì)算速度。

第六步,F(xiàn)PGA將計(jì)算的Goertzel變換實(shí)時(shí)結(jié)果傳給單片機(jī),單片機(jī)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行整合和保存,顯示到LCD上,并提供USB接口,測(cè)試完成后可以將測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到外設(shè)中。

對(duì)檢波器采集到的數(shù)字信號(hào)直接Goertzel變換,進(jìn)行頻率特性分析,無(wú)需對(duì)采集的信號(hào)進(jìn)行存儲(chǔ)后再進(jìn)行頻率轉(zhuǎn)換,可以實(shí)時(shí)計(jì)算出當(dāng)下時(shí)刻的幅頻特性和相頻特性。

本發(fā)明的使用方法為:

第一步,打開(kāi)檢波器測(cè)試儀上的測(cè)試儀電源,將輸入信號(hào)線、輸出信號(hào)線加載到待測(cè)檢波器上。檢波器測(cè)試儀上使用的4.3英寸的LCD,開(kāi)機(jī)后會(huì)顯示檢波器測(cè)試儀初始化正常和檢波器測(cè)試儀的電池電源電量。電量不足時(shí),提供外接5V直流插口可供充電使用。

第二步,開(kāi)始測(cè)試時(shí),首先判斷是否插入U(xiǎn)SB外接設(shè)備,若有外接設(shè)備,設(shè)置保存數(shù)據(jù)的路徑。沒(méi)有外接設(shè)備時(shí),跳過(guò)保存數(shù)據(jù)選擇。

第三步,通過(guò)檢波器測(cè)試儀上的4*4鍵盤,先選擇需要產(chǎn)生的掃頻頻段、各頻段掃頻時(shí)間。再通過(guò)鍵盤輸入電流值,來(lái)改變對(duì)應(yīng)的測(cè)試儀輸入信號(hào)幅度。最后選擇ENT按鍵,開(kāi)始測(cè)試和分析。

第四步,測(cè)試過(guò)程中,若出現(xiàn)異常電流等情況,本發(fā)明包含安全保護(hù)器,如果測(cè)試儀輸出電流過(guò)大造成過(guò)載時(shí),發(fā)出蜂鳴并中斷測(cè)試保護(hù)檢波器,并在LCD上顯示錯(cuò)誤原因。正常測(cè)試時(shí),LCD上實(shí)時(shí)顯示的不同頻率和幅度下,待測(cè)檢波器的頻率響應(yīng)、諧波失真度、靈敏度、直流電阻、動(dòng)態(tài)電阻等參數(shù),并得到和顯示出待測(cè)檢波器的直流電阻、固有頻率等。

第五步,檢波器測(cè)試儀提供的USB存儲(chǔ)接口,在測(cè)試完成后,可以將測(cè)試時(shí)間內(nèi)的測(cè)試結(jié)果的數(shù)據(jù)保存成EXCEL表格,保存到外接USB存儲(chǔ)設(shè)備中。

系統(tǒng)的主流程圖見(jiàn)附圖8。主流程描述如下:

第一步,程序開(kāi)始運(yùn)行后,首先進(jìn)行軟件和硬件的初始化工作,比如參數(shù)的初值設(shè)置、寄存器清零等;

第二步,先判讀是否插入U(xiǎn)SB,如果有USB外接設(shè)備,則設(shè)置數(shù)據(jù)保存路徑。同時(shí)選擇檢波器掃頻頻率與掃頻時(shí)間、以及測(cè)試幅值等參數(shù)。

第三步,開(kāi)始測(cè)試時(shí),用單片機(jī)的DMA,直接讀取存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)正弦信號(hào)查找表,產(chǎn)生所需頻率信號(hào),并通過(guò)低諧波失真、高頻譜純度的電流源加載到檢波器上。

第四步,根據(jù)設(shè)置的測(cè)試頻率,確定采樣率,同時(shí)啟動(dòng)A/D數(shù)據(jù)采集,采集到的數(shù)據(jù)傳輸?shù)紽PGA進(jìn)行Goertzel變換算法的計(jì)算,F(xiàn)PGA將計(jì)算的實(shí)時(shí)結(jié)果傳給單片機(jī),單片機(jī)將得到的頻率響應(yīng)結(jié)果,根據(jù)公式換算成頻率響應(yīng)、諧波失真度、靈敏度、阻尼比、動(dòng)態(tài)電阻、直流電阻、固有頻率等各項(xiàng)參數(shù),實(shí)時(shí)顯示到LCD上。測(cè)試中若電流過(guò)大造成過(guò)載時(shí),安全保護(hù)器發(fā)出蜂鳴并中斷測(cè)試,保護(hù)檢波器,LCD顯示錯(cuò)誤原因。

第五步,測(cè)試完成后,若有外接設(shè)備,將測(cè)試時(shí)間內(nèi)的檢測(cè)的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)結(jié)果將全部保存到EXCEL表格,存儲(chǔ)在外接USB設(shè)備里。

本發(fā)明經(jīng)過(guò)試驗(yàn),性能穩(wěn)定,能夠準(zhǔn)確檢測(cè)出檢波器頻率響應(yīng)和各項(xiàng)參數(shù),測(cè)試精度滿足要求,測(cè)試速度快,使用方便,一般人員即可使用,實(shí)現(xiàn)了可靠、實(shí)用、便捷的檢波器性能和各項(xiàng)參數(shù)的測(cè)量,為后續(xù)檢波器的使用提供了高精度特性參數(shù),為地震信號(hào)采集電路設(shè)計(jì)提供了數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。

以上所述,僅為本發(fā)明較佳的具體實(shí)施方式,但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此,任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明實(shí)施例揭露的技術(shù)范圍內(nèi),可輕易想到的變化或替換,都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此,本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。

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