本發(fā)明涉及土壤探查技術(shù)，尤其涉及一種土層結(jié)構(gòu)的探查方法和裝置。

背景技術(shù)：

隨著農(nóng)業(yè)水平的快速提高，精準(zhǔn)農(nóng)業(yè)技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生，其中土壤水文學(xué)的相關(guān)研究逐漸受到人們的關(guān)注。為了對(duì)一個(gè)區(qū)域從全局整體的角度開展農(nóng)田土壤水文綜合管理，科學(xué)合理的施肥及灌溉就顯得非常重要了，這需要人們提前獲取區(qū)域一定深度范圍內(nèi)的土壤層次結(jié)構(gòu)特征。

目前，對(duì)于層狀土壤的層次劃分仍廣泛采用基于分層取樣及鉆孔資料的相關(guān)因子研究，該類方法在實(shí)際操作時(shí)需要對(duì)待測(cè)土壤進(jìn)行實(shí)地開挖取樣，并且其僅能測(cè)定“點(diǎn)”上的土層結(jié)構(gòu)，而對(duì)于反映層狀土壤“面”上的結(jié)構(gòu)差異則無能為力，同時(shí)現(xiàn)有的技術(shù)普遍耗時(shí)費(fèi)力且得到的土層結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)結(jié)果誤差較大。

因此，如何快速、精細(xì)的獲取土壤的層次結(jié)構(gòu)已成為目前亟待解決的技術(shù)問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明提供一種土層結(jié)構(gòu)的探查方法和裝置，用以解決現(xiàn)有技術(shù)在探查土壤的土層結(jié)構(gòu)時(shí)需要對(duì)待測(cè)土壤進(jìn)行實(shí)地開挖，耗時(shí)費(fèi)力且得到的土層結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)結(jié)果誤差較大的技術(shù)問題。

第一方面，本發(fā)明提供一種土層結(jié)構(gòu)的探查方法，包括：

采集待測(cè)土壤的電場(chǎng)數(shù)據(jù)；

對(duì)所述電場(chǎng)數(shù)據(jù)執(zhí)行反演操作，得到所述待測(cè)土壤不同位置的電阻率數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述不同位置的電阻率數(shù)據(jù)，確定所述待測(cè)土壤的電阻率的一階差分曲線；其中，所述一階差分曲線用于表征所述待測(cè)土壤相鄰深度的土壤平均電阻率的差值；

根據(jù)所述一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)，確定所述待測(cè)土壤的分層位置。

進(jìn)一步地，所述對(duì)所述電場(chǎng)數(shù)據(jù)執(zhí)行反演操作，得到所述待測(cè)土壤不同位置的電阻率數(shù)據(jù)，具體包括：

對(duì)所述電場(chǎng)數(shù)據(jù)執(zhí)行反演操作，得到所述待測(cè)土壤的電阻率反演剖面圖；其中，所述電阻率反演剖面圖包括多個(gè)用于表征所述待測(cè)土壤不同位置的電阻率的數(shù)據(jù)點(diǎn)。

進(jìn)一步地，所述根據(jù)所述不同位置的電阻率數(shù)據(jù)，確定所述待測(cè)土壤的電阻率的一階差分曲線，具體包括：

對(duì)所述電阻率反演剖面圖中相同深度的數(shù)據(jù)點(diǎn)的值求和并取平均值，獲得所述待測(cè)土壤不同深度的土壤平均電阻率；

對(duì)相鄰兩個(gè)深度的土壤平均電阻率進(jìn)行一階差分，得到所述一階差分曲線。

更進(jìn)一步地，所述對(duì)所述電阻率反演剖面圖中相同深度的數(shù)據(jù)點(diǎn)的值求和并取平均值，獲得所述待測(cè)土壤不同深度的土壤平均電阻率，具體包括：

對(duì)所述電阻率反演剖面圖按照預(yù)設(shè)的測(cè)線長(zhǎng)度分段機(jī)制進(jìn)行分段，得到多個(gè)電阻率反演剖面子圖；

對(duì)每個(gè)電阻率反演剖面子圖中相同深度的數(shù)據(jù)點(diǎn)的值求和并取平均值，得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的待測(cè)土壤在不同深度的土壤平均電阻率；

相應(yīng)的，所述對(duì)相鄰兩個(gè)深度的土壤平均電阻率進(jìn)行一階差分，得到所述一階差分曲線，具體包括：

根據(jù)每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的待測(cè)土壤在不同深度的土壤平均電阻率，得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的電阻率曲線，并對(duì)每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的電阻率曲線上相鄰深度的土壤平均電阻率進(jìn)行一階差分，得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的一階差分曲線。

更進(jìn)一步地，所述根據(jù)所述一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)，確定所述待測(cè)土壤的分層位置，具體包括：

將每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)對(duì)應(yīng)至所述電阻率反演剖面圖，得到多個(gè)所述電阻率反演剖面圖上與所述鋸齒點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一數(shù)據(jù)點(diǎn)；

根據(jù)所述電阻率反演剖面圖上所有第一數(shù)據(jù)點(diǎn)，確定所述待測(cè)土壤的分層位置。

可選的，所述方法還包括：

根據(jù)所述電場(chǎng)數(shù)據(jù)中每個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)的電流值和電壓值，得到所述待測(cè)土壤的視電阻率剖面圖；其中，所述視電阻率剖面圖包括多個(gè)用于表征所述待測(cè)土壤不同位置的視電阻率的數(shù)據(jù)點(diǎn)；

相應(yīng)的，所述根據(jù)所述電阻率反演剖面圖上所有第一數(shù)據(jù)點(diǎn)，確定所述待測(cè)土壤的分層位置，具體包括：

根據(jù)所述電阻率反演剖面圖上所有第一數(shù)據(jù)點(diǎn)、所述視電阻率剖面圖，確定所述待測(cè)土壤的分層位置。

第二方面，本發(fā)明提供一種土層結(jié)構(gòu)的探查裝置，包括：

采集模塊，用于采集待測(cè)土壤的電場(chǎng)數(shù)據(jù)；

反演模塊，用于對(duì)所述電場(chǎng)數(shù)據(jù)執(zhí)行反演操作，得到所述待測(cè)土壤不同位置的電阻率數(shù)據(jù)；

一階差分模塊，用于根據(jù)所述不同位置的電阻率數(shù)據(jù)，確定所述待測(cè)土壤的電阻率的一階差分曲線；其中，所述一階差分曲線用于表征所述待測(cè)土壤相鄰深度的土壤平均電阻率的差值；

確定模塊，用于根據(jù)所述一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)，確定所述待測(cè)土壤的分層位置。

進(jìn)一步地，所述反演模塊，具體用于對(duì)所述電場(chǎng)數(shù)據(jù)執(zhí)行反演操作，得到所述待測(cè)土壤的電阻率反演剖面圖；其中，所述電阻率反演剖面圖包括多個(gè)用于表征所述待測(cè)土壤不同位置的電阻率的數(shù)據(jù)點(diǎn)。

進(jìn)一步地，所述一階差分模塊，具體包括：

獲取單元，用于對(duì)所述電阻率反演剖面圖中相同深度的數(shù)據(jù)點(diǎn)的值求和并取平均值，獲得所述待測(cè)土壤不同深度的土壤平均電阻率；

一階差分單元，用于對(duì)相鄰兩個(gè)深度的土壤平均電阻率進(jìn)行一階差分，得到所述一階差分曲線。

更進(jìn)一步地，所述獲取單元，具體用于對(duì)所述電阻率反演剖面圖按照預(yù)設(shè)的測(cè)線長(zhǎng)度分段機(jī)制進(jìn)行分段，得到多個(gè)電阻率反演剖面子圖，并對(duì)每個(gè)電阻率反演剖面子圖中相同深度的數(shù)據(jù)點(diǎn)的值求和并取平均值，得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的待測(cè)土壤在不同深度的土壤平均電阻率；

所述一階差分單元，具體用于根據(jù)每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的待測(cè)土壤在不同深度的土壤平均電阻率，得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的電阻率曲線，并對(duì)每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的電阻率曲線上相鄰深度的土壤平均電阻率進(jìn)行一階差分，得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的一階差分曲線。

更進(jìn)一步地，所述確定模塊，具體用于將每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)對(duì)應(yīng)至所述電阻率反演剖面圖，得到多個(gè)所述電阻率反演剖面圖上與所述鋸齒點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一數(shù)據(jù)點(diǎn)，并根據(jù)所述電阻率反演剖面圖上所有第一數(shù)據(jù)點(diǎn)，確定所述待測(cè)土壤的分層位置。

可選的，所述獲取單元，還用于根據(jù)所述電場(chǎng)數(shù)據(jù)中每個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)的電流值和電壓值，得到所述待測(cè)土壤的視電阻率剖面圖；其中，所述視電阻率剖面圖包括多個(gè)用于表征所述待測(cè)土壤不同位置的視電阻率的數(shù)據(jù)點(diǎn)；

所述確定模塊，具體用于根據(jù)所述電阻率反演剖面圖上所有第一數(shù)據(jù)點(diǎn)、所述視電阻率剖面圖，確定所述待測(cè)土壤的分層位置。

本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查方法和裝置，通過對(duì)采集到的待測(cè)土壤的電場(chǎng)數(shù)據(jù)執(zhí)行反演操作，得到待測(cè)土壤不同位置的電阻率數(shù)據(jù)，從而根據(jù)上述不同位置的電阻率數(shù)據(jù)，確定待測(cè)土壤的電阻率的一階差分曲線，進(jìn)而根據(jù)一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)，確定待測(cè)土壤的分層位置。本發(fā)明提供的方法，可以直接對(duì)土壤進(jìn)行電法探查，通過得到的電阻率的一階差分曲線即可得到待測(cè)土壤的精細(xì)分層結(jié)構(gòu)，無需測(cè)量人員對(duì)待測(cè)土壤進(jìn)行開挖，大大節(jié)省了人力物力，提高了土層結(jié)構(gòu)的探查效率；另外，本發(fā)明采用反演技術(shù)獲得待測(cè)土壤的真實(shí)導(dǎo)電特性，由于土壤電阻率能夠反映出土壤異質(zhì)性以及土壤內(nèi)部的動(dòng)態(tài)變化過程，因此本發(fā)明基于待測(cè)土壤的電阻率獲得的土壤的分層位置，提高了探查土壤分層的精確度。

附圖說明

圖1為本發(fā)明提供的并行電法土層結(jié)構(gòu)探查系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明提供的并行電法土層結(jié)構(gòu)探查系統(tǒng)中電極的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查方法實(shí)施例一的流程示意圖；

圖4為本發(fā)明提供的一階差分曲線示意圖；

圖5為本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查方法實(shí)施例二的流程示意圖；

圖6為本發(fā)明提供的溫納三極電阻率反演剖面圖；

圖7為本發(fā)明提供的溫納四極電阻率反演剖面圖；

圖8為本發(fā)明提供的待測(cè)土壤的電阻率曲線示意圖；

圖9為本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查方法實(shí)施例三的流程示意圖；

圖10為本發(fā)明提供的待測(cè)土壤的分層示意圖；

圖11為本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查裝置實(shí)施例一的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖12為本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查裝置實(shí)施例二的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查方法和裝置，可以適用于圖1所示的并行電法土層結(jié)構(gòu)探查系統(tǒng)。如圖1所示，該并行電法土層結(jié)構(gòu)探查系統(tǒng)包括：64個(gè)電極、電法儀和處理設(shè)備，該處理設(shè)備可以是計(jì)算機(jī)，還可以是服務(wù)器、主機(jī)等能夠處理電法儀傳輸?shù)碾妶?chǎng)數(shù)據(jù)功能的設(shè)備。本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)探查方法，使用的是并行電法儀對(duì)土層電性數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，該電法儀采用擬地震式數(shù)據(jù)采集方式及多次覆蓋疊加系統(tǒng)，其能夠同時(shí)采集多個(gè)電位數(shù)據(jù)，也就是說，上述圖1所示的并行電法土層結(jié)構(gòu)探查系統(tǒng)中的64個(gè)電極中無一是空閑電極，該64個(gè)電極可以在上述電法儀的控制下，交換供電功能和測(cè)量功能。本發(fā)明所提供的方法，可以用于農(nóng)田、塌陷區(qū)復(fù)墾土壤、水庫(kù)壩體、高壓電接地、路基、建筑設(shè)計(jì)等領(lǐng)域的待測(cè)土壤的土層結(jié)構(gòu)探查。

在測(cè)量土層結(jié)構(gòu)之前，首先部署圖1所示的并行電法土層結(jié)構(gòu)探查系統(tǒng)，主要分為以下兩個(gè)步驟：

步驟A：按照一定的電極順序依次間隔的將64個(gè)電極插入土壤中，可選的，本發(fā)明中涉及的電極可以是打磨處理后的紫銅棒和芯線構(gòu)成的，可以參見圖2所示的結(jié)構(gòu)。其中，上述64個(gè)電極的規(guī)格和芯線的長(zhǎng)度可以根據(jù)實(shí)際探查需要選擇合適的類型：例如，當(dāng)電極規(guī)格為長(zhǎng)4cm、直徑2mm，且芯線長(zhǎng)度為6.5m時(shí)，該電極所適用的探測(cè)深度范圍可以為0～2m；當(dāng)電極規(guī)格為長(zhǎng)6cm、直徑3mm，且芯線長(zhǎng)度為16m時(shí)，該電極所適用的探測(cè)深度范圍可以為0～5m；當(dāng)電極規(guī)格為長(zhǎng)8cm、直徑5mm，且芯線長(zhǎng)度為31m時(shí)，該電極所適用的探測(cè)深度范圍可以0～10m。

步驟B：將上述64個(gè)電極和電法儀連接，上述電法儀可以通過有線或者無線的方式與處理設(shè)備連接。本發(fā)明所涉及的電法儀具有發(fā)射和接收信號(hào)的雙重功能，電法儀四個(gè)端口均與電極電纜連接，該電法儀的電源可以采用多塊鋰電池整合而成，可按需進(jìn)行24v、48v、72v、96v電壓的任意調(diào)節(jié)，該電法儀還可以進(jìn)行恒流時(shí)間、采樣時(shí)間間隔、電極數(shù)、供電方式等多工作參數(shù)的設(shè)置以及進(jìn)行接地檢查，并且針對(duì)供電方式的不同可以分為單點(diǎn)供電和偶極子供電，分別對(duì)應(yīng)AM法和ABM法兩種采集模式。其中，通過電法儀對(duì)恒流時(shí)間進(jìn)行設(shè)置，實(shí)際上是對(duì)電極對(duì)地的供電時(shí)長(zhǎng)進(jìn)行設(shè)置；通過電法儀對(duì)采樣時(shí)間間隔進(jìn)行設(shè)置，實(shí)際上是控制電極每隔多長(zhǎng)時(shí)間采集一次電場(chǎng)數(shù)據(jù)。另外，為了提高電極與土壤的耦合效果，還可以適當(dāng)敲實(shí)電極處的土壤并且澆灌適宜濃度的鹽水。

當(dāng)圖1所示的并行電法土層結(jié)構(gòu)探查系統(tǒng)布置完成之后，開始對(duì)土層結(jié)構(gòu)進(jìn)行探查，本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查方法，在不需要對(duì)土壤進(jìn)行開挖的基礎(chǔ)上，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)土層結(jié)構(gòu)的精細(xì)劃分，具體可以參見下述的實(shí)施例。

圖3為本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查方法實(shí)施例一的流程示意圖。本實(shí)施例涉及的是通過對(duì)待測(cè)土壤的電場(chǎng)數(shù)據(jù)執(zhí)行反演操作，得到待測(cè)土壤不同深度的電阻率數(shù)據(jù)，從而根據(jù)該待測(cè)土壤不同深度的電阻率數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的一階差分曲線，確定待測(cè)土壤的分層位置的具體過程。如圖3所示，該方法包括：

S101：采集待測(cè)土壤的電場(chǎng)數(shù)據(jù)。

具體的，當(dāng)上述圖1所示的并行電法土層探查系統(tǒng)部署完成之后，可以利用電法儀和上述電極中的供電電極對(duì)待測(cè)土壤進(jìn)行供電，通過上述電極中的測(cè)量電極按照電法儀中的工作參數(shù)的設(shè)置(例如恒流時(shí)間、采樣時(shí)間時(shí)間等)采集待測(cè)土壤的電場(chǎng)數(shù)據(jù)，可選的，本發(fā)明可以通過AM法采集待測(cè)土壤的電場(chǎng)數(shù)據(jù)，還可以通過ABM法采集待測(cè)土壤的電場(chǎng)數(shù)據(jù)。該電場(chǎng)數(shù)據(jù)包括待測(cè)土壤的不同深度的供電回路的電流和測(cè)量回路的電壓，即該電場(chǎng)數(shù)據(jù)包括了多個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)的值。

S102：對(duì)所述電場(chǎng)數(shù)據(jù)執(zhí)行反演操作，得到所述待測(cè)土壤不同位置的電阻率數(shù)據(jù)。

具體的，當(dāng)電法儀通過電極采集到待測(cè)土壤的電場(chǎng)數(shù)據(jù)之后，可以將該電場(chǎng)數(shù)據(jù)傳輸給上述并行電法土層探查系統(tǒng)中的處理設(shè)備，由處理設(shè)備對(duì)該電場(chǎng)數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取、導(dǎo)入坐標(biāo)、解編、畸變點(diǎn)剔除等操作，并且根據(jù)需要提取相應(yīng)的裝置類型數(shù)據(jù)體，例如，如果采用是的AM法采集電場(chǎng)數(shù)據(jù)，則這里提取的可以是二電極裝置的數(shù)據(jù)，或者是三電極裝置的數(shù)據(jù)，如果采用的是ABM法采集電場(chǎng)數(shù)據(jù)，則這里提取的是四電極裝置的數(shù)據(jù)。當(dāng)處理設(shè)備對(duì)該電場(chǎng)數(shù)據(jù)進(jìn)行相應(yīng)的處理后，可以對(duì)處理后的電場(chǎng)數(shù)據(jù)執(zhí)行反演操作，例如可以將處理后的電場(chǎng)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為AGI格式的文件，并采用AGI反演軟件，設(shè)置初始化參數(shù)、正演參數(shù)以及反演參數(shù)等，反演采用收斂程度較好的阻尼最小二乘法，得到上述待測(cè)土壤不同位置的電阻率數(shù)據(jù)，一個(gè)位置的電阻率數(shù)據(jù)代表待測(cè)土壤在相應(yīng)的縱向深度和橫向測(cè)點(diǎn)的電阻率，即一個(gè)位置分別具有縱向坐標(biāo)和橫向坐標(biāo)，縱向坐標(biāo)代表該數(shù)據(jù)點(diǎn)所在的深度，橫向坐標(biāo)代表該數(shù)據(jù)點(diǎn)所在的水平位置。

S103：根據(jù)所述不同位置的電阻率數(shù)據(jù)，確定所述待測(cè)土壤的電阻率的一階差分曲線；其中，所述一階差分曲線用于表征所述待測(cè)土壤相鄰深度的土壤平均電阻率的差值。

具體的，當(dāng)處理設(shè)備得到待測(cè)土壤不同位置的電阻率數(shù)據(jù)之后，可以根據(jù)該不同位置的電阻率數(shù)據(jù)得到待測(cè)土壤的一階差分曲線，該一階差分曲線上的每個(gè)點(diǎn)代表待測(cè)土壤相鄰兩個(gè)深度的土壤平均電阻率的差值?？蛇x的，可以將上述經(jīng)過反演得到的待測(cè)土壤的電阻率數(shù)據(jù)中相同深度的電阻率求和，然后通過相應(yīng)的平均算法得到該深度的平均電阻率，基于該方法可以得到待測(cè)土壤在不同深度處的土壤平均電阻率，進(jìn)而對(duì)相鄰深度的土壤平均電阻率取差值，得到多個(gè)差值點(diǎn)，進(jìn)而可以繪制出一階差分曲線。該一階差分曲線的縱坐標(biāo)為待測(cè)土壤的深度，橫坐標(biāo)為相鄰深度上土壤平均電阻率的差值。

S104：根據(jù)所述一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)，確定所述待測(cè)土壤的分層位置。

具體的，當(dāng)處理設(shè)備得到一階差分曲線之后，可以識(shí)別出該一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)，并根據(jù)該鋸齒點(diǎn)的坐標(biāo)確定待測(cè)土壤的分層位置，即確定上述待測(cè)土壤的分層點(diǎn)，從而準(zhǔn)確獲知待測(cè)土壤的土層分界點(diǎn)。上述一階差分曲線可以參見圖4所示，該圖4中的NO.3為采用AM法得到的溫納三極電阻率的一階差分曲線，NO.4為采用ABM法得到的溫納四極電阻率的一階差分曲線(圖4中的縱坐標(biāo)為待測(cè)土壤的深度，橫坐標(biāo)為相鄰深度上土壤平均電阻率的差值Δρ)，由圖4可以看出，無論通過AM法還是ABM法，所得到的待測(cè)土壤的電阻率的一階差分曲線均具有鋸齒點(diǎn)，該鋸齒點(diǎn)即就是待測(cè)土壤的土層分界點(diǎn)?；诖耍幚碓O(shè)備就可以根據(jù)土壤實(shí)際的導(dǎo)電特性得到準(zhǔn)確的待測(cè)土壤的分層位置(即得到待測(cè)土壤的土層結(jié)構(gòu))，其無需測(cè)量人員對(duì)待測(cè)土壤進(jìn)行實(shí)際開挖就可以得到準(zhǔn)確的土層結(jié)構(gòu)，大大節(jié)省了人力物力，提高了土層結(jié)構(gòu)的探查效率。

另外，本發(fā)明所采用的并行電法土層結(jié)構(gòu)探查系統(tǒng)具有多種規(guī)格的電極，能夠?qū)崿F(xiàn)田間多尺度下的電極間距任意調(diào)整，操作便捷且適用性強(qiáng)。并且，本發(fā)明采用反演技術(shù)獲得待測(cè)土壤的真實(shí)導(dǎo)電特性，由于土壤電阻率能夠反映出土壤異質(zhì)性以及土壤內(nèi)部的動(dòng)態(tài)變化過程，因此基于待測(cè)土壤的電阻率獲得的土壤的分層位置的精確度較高。另一方面，本發(fā)明不僅僅適用于田間尺度上的層狀土壤結(jié)構(gòu)探查，同樣適用于多種領(lǐng)域的層狀巖土體的精細(xì)分層探查，具有無損高效的特點(diǎn)，適用范圍廣。

本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查方法，通過對(duì)采集到的待測(cè)土壤的電場(chǎng)數(shù)據(jù)執(zhí)行反演操作，得到待測(cè)土壤不同位置的電阻率數(shù)據(jù)，從而根據(jù)上述不同位置的電阻率數(shù)據(jù)，確定待測(cè)土壤的電阻率的一階差分曲線，進(jìn)而根據(jù)一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)，確定待測(cè)土壤的分層位置。本發(fā)明提供的方法，可以直接對(duì)土壤進(jìn)行電法探查，通過得到的電阻率的一階差分曲線即可得到待測(cè)土壤的精細(xì)分層結(jié)構(gòu)，無需測(cè)量人員對(duì)待測(cè)土壤進(jìn)行開挖，大大節(jié)省了人力物力，提高了土層結(jié)構(gòu)的探查效率；另外，本發(fā)明采用反演技術(shù)獲得待測(cè)土壤的真實(shí)導(dǎo)電特性，由于土壤電阻率能夠反映出不同土壤層次間的物性參數(shù)及水力學(xué)參數(shù)的差異，因此本發(fā)明基于待測(cè)土壤的電阻率獲得的土壤的分層位置，提高了探查土壤分層的精確度。

圖5為本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查方法實(shí)施例二的流程示意圖。本實(shí)施例涉及的是上述處理設(shè)備對(duì)電場(chǎng)數(shù)據(jù)執(zhí)行反演操作，得到待測(cè)土壤的電阻率反演剖面圖，從而根據(jù)該電阻率反演剖面圖得到待測(cè)土壤的電阻率的一階差分曲線的具體過程。如圖5所示，該方法包括如下步驟：

S201：采集待測(cè)土壤的電場(chǎng)數(shù)據(jù)。

上述S201的具體過程可以參見上述S101的具體描述，在此不再贅述。

S202：對(duì)所述電場(chǎng)數(shù)據(jù)執(zhí)行反演操作，得到所述待測(cè)土壤的電阻率反演剖面圖；其中，所述電阻率反演剖面圖包括多個(gè)用于表征所述待測(cè)土壤不同位置的電阻率的數(shù)據(jù)點(diǎn)。

具體的，當(dāng)上述處理設(shè)備得到電法儀傳輸?shù)碾妶?chǎng)數(shù)據(jù)，并對(duì)該電場(chǎng)數(shù)據(jù)進(jìn)行解編、畸變點(diǎn)剔除等操作后，可以將該電場(chǎng)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為AGI格式的文件，進(jìn)而可以通過AGI反演軟件等電阻率成像技術(shù)，得到擬合度較好的電阻率反演剖面圖，該電阻率反演剖面圖包括多個(gè)用于表征待測(cè)土壤不同位置的電阻率的數(shù)據(jù)點(diǎn)，通過該電阻率反演剖面圖可以直觀的得到待測(cè)土壤不同位置的電阻率。該電阻率反演剖面圖可以參見圖6和圖7所示，圖6所示的電阻率反演剖面圖為采用AM法得到的溫納三極電阻率反演剖面圖，圖7所示的電阻率反演剖面圖為采用ABM法得到的溫納四極電阻率反演剖面圖，圖6和圖7的橫坐標(biāo)為水平方向測(cè)線的長(zhǎng)度，縱坐標(biāo)為待測(cè)土壤的深度。上述圖6和圖7采集一次數(shù)據(jù)即可獲得探查區(qū)域一定深度范圍內(nèi)的土壤剖面電阻率，而非現(xiàn)有技術(shù)中僅可獲得個(gè)別點(diǎn)位的電阻率值，電阻率反演剖面圖以真電阻率色譜圖進(jìn)行了可視化表達(dá)，能夠初步觀測(cè)到待測(cè)土壤的層次結(jié)構(gòu)。

S203：對(duì)所述電阻率反演剖面圖中相同深度的數(shù)據(jù)點(diǎn)的值求和并取平均值，獲得所述待測(cè)土壤不同深度的土壤平均電阻率。

具體的，在電阻率反演剖面圖的基礎(chǔ)上，為了能夠?qū)Υ郎y(cè)土壤的層次進(jìn)行精細(xì)劃分，處理設(shè)備在獲得待測(cè)土壤的電阻率反演剖面圖之后，從該電阻率反演剖面圖中確定深度相同的數(shù)據(jù)點(diǎn)，假設(shè)確定了A、B、C三個(gè)集合，每個(gè)集合中均包括的是深度相同的數(shù)據(jù)點(diǎn)，且A、B、C三個(gè)集合各自對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)點(diǎn)的深度不同(例如，A集合中包括的是深度均為0.5m的數(shù)據(jù)點(diǎn)，B集合總包括的是深度為1m的數(shù)據(jù)點(diǎn)，C集合中包括的是深度為1.5m的數(shù)據(jù)點(diǎn))。以A集合為例，處理設(shè)備將A集合中的數(shù)據(jù)點(diǎn)的值相加，然后利用相加得到的和除以A集合中數(shù)據(jù)點(diǎn)的個(gè)數(shù)，從而得到A集合所對(duì)應(yīng)的深度的土壤平均電阻率?；谠摲椒?，處理設(shè)備就可以得到待測(cè)土壤在不同深度的土壤平均電阻率，這樣將比某個(gè)單點(diǎn)電阻率值更加準(zhǔn)確的反映不同深度下待測(cè)土壤的電阻率，有效地降低了偶然因素給分層結(jié)果帶來的誤差。

S204：對(duì)相鄰兩個(gè)深度的土壤平均電阻率進(jìn)行一階差分，得到所述一階差分曲線。

S205：根據(jù)所述一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)，確定所述待測(cè)土壤的分層位置。

具體的，當(dāng)處理設(shè)備得到待測(cè)土壤不同深度的土壤平均電阻率之后，可以直接對(duì)相鄰兩個(gè)深度的土壤平均電阻率進(jìn)行一階差分，這里的“相鄰”可以是將得到的所有土壤平均電阻率按照深度的大小依次排列后，相鄰的兩個(gè)深度的土壤平均電阻率?？蛇x的，處理設(shè)備還可以根據(jù)深度和平均電阻率的對(duì)應(yīng)關(guān)系，繪制待測(cè)土壤的電阻率曲線，參見圖8所示的電阻率曲線，其中，圖8中的No.3為采用AM法得到的溫納三極電阻率曲線，No.4為采用ABM法得到的溫納四極電阻率曲線，電阻率曲線上相鄰的兩個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)，即就是相鄰的兩個(gè)深度的土壤平均電阻率。

當(dāng)處理設(shè)備得到電阻率曲線之后，可以對(duì)該電阻率曲線上進(jìn)行一階差分，具體為：設(shè)ρ₁、ρ₂、ρ₃、…、ρ_i為待測(cè)土壤從上往下不同深度的土壤平均電阻率，則一階差分為：Δρ_i＝ρ_(i+1)-ρ_i，式中：Δρ_i指垂直方向上相鄰深度的土壤平均電阻率的差值，ρ_i指垂向深度上從上往下第i個(gè)深度的土壤平均電阻率值。當(dāng)處理設(shè)備得到Δρ_i后，可以根據(jù)Δρ_i和待測(cè)土壤的深度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，得到待測(cè)土壤的電阻率的一階差分曲線，例如可以參見上述圖4所示的一階差分曲線，圖4中的No.3為圖8中的No.3對(duì)應(yīng)的一階差分曲線，圖4中的No.4為圖8中的No.4對(duì)應(yīng)的一階差分曲線。從圖4中可以看出，一階差分曲線具有明顯的鋸齒點(diǎn)，這是因?yàn)橄嗤耐寥缹哟蝺?nèi)電阻率曲線有著相同的變化趨勢(shì)，即電阻率曲線的斜率相近，而不同的土壤層次間電阻率曲線的斜率會(huì)有明顯的變化，經(jīng)過對(duì)電阻率曲線進(jìn)行一階差分處理后的差分曲線，由于土壤分層處上下數(shù)據(jù)間差異較大，呈現(xiàn)出變化幅度不同的鋸齒狀，故而，一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)即對(duì)應(yīng)著層狀土壤的分層位置?；诖?，就可以得到待測(cè)土壤的土層結(jié)構(gòu)。

本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查方法，通過對(duì)采集到的待測(cè)土壤的電場(chǎng)數(shù)據(jù)執(zhí)行反演操作，得到待測(cè)土壤的電阻率反演剖面圖，然后對(duì)該電阻率反演剖面圖上相同深度的數(shù)據(jù)點(diǎn)的值求和并取平均值，獲得所述待測(cè)土壤不同深度的土壤平均電阻率，進(jìn)而對(duì)待測(cè)土壤相鄰深度的土壤平均電阻率進(jìn)行一階差分，得到待測(cè)土壤的電阻率的一階差分曲線，從而根據(jù)一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)，確定待測(cè)土壤的分層位置。本發(fā)明提供的方法，可以直接對(duì)土壤進(jìn)行電法探查，通過得到的電阻率的一階差分曲線即可得到待測(cè)土壤的精細(xì)分層結(jié)構(gòu)，無需測(cè)量人員對(duì)待測(cè)土壤進(jìn)行開挖，大大節(jié)省了人力物力，提高了土層結(jié)構(gòu)的探查效率；另外，本發(fā)明可以通過電阻率反演剖面圖得到一個(gè)大致的土壤分層，使得研發(fā)人員可以通過該電阻率反演剖面圖能夠直觀的得到土壤剖面的初步分層，然后本發(fā)明進(jìn)一步采用電阻率的一階差分曲線得到待測(cè)土壤的精細(xì)分層，提高了探查土壤分層的精確度。

圖9為本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查方法實(shí)施例三的流程示意圖。本實(shí)施例涉及的是并行電法土層結(jié)構(gòu)探查系統(tǒng)按照預(yù)設(shè)的測(cè)線長(zhǎng)度分段機(jī)制將電阻率反演剖面圖劃分為多個(gè)電阻率反演剖面子圖，從而得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的一階差分曲線，進(jìn)而將每個(gè)一階差分曲線上的鋸齒點(diǎn)對(duì)應(yīng)至電阻率反演剖面圖上的第一數(shù)據(jù)點(diǎn)，從而根據(jù)第一數(shù)據(jù)點(diǎn)確定待測(cè)土壤的分層位置的具體過程。本實(shí)施例的方法，可以直觀的得到待測(cè)土壤精細(xì)的分層線，使得研發(fā)人員能夠更清楚的獲知待測(cè)土壤的分層結(jié)構(gòu)。如圖9所示，該方法包括如下步驟：

S301：采集待測(cè)土壤的電場(chǎng)數(shù)據(jù)。

S302：對(duì)所述電場(chǎng)數(shù)據(jù)執(zhí)行反演操作，得到所述待測(cè)土壤的電阻率反演剖面圖；其中，所述電阻率反演剖面圖包括多個(gè)用于表征所述待測(cè)土壤不同位置的電阻率的數(shù)據(jù)點(diǎn)。

具體的，S301和S302的具體過程可以參見上述實(shí)施例所示，在此不再贅述。

S303：對(duì)所述電阻率反演剖面圖按照預(yù)設(shè)的測(cè)線長(zhǎng)度分段機(jī)制進(jìn)行分段，得到多個(gè)電阻率反演剖面子圖。

具體的，以并行電法土層結(jié)構(gòu)探查系統(tǒng)采用ABM法采集數(shù)據(jù)為例，其得到的電阻率反演剖面圖參見上述圖7所示。由圖7可以看出，橫坐標(biāo)為測(cè)線的水平長(zhǎng)度，縱坐標(biāo)為待測(cè)土壤的深度。本實(shí)施例中，可以按照預(yù)設(shè)的測(cè)線長(zhǎng)度分段機(jī)制將圖7所示的電阻率反演剖面圖劃分為多個(gè)電阻率反演剖面子圖，例如，從圖7所示的電阻率反演剖面圖中截取測(cè)線長(zhǎng)度0-1m這一段，作為一個(gè)電阻率反演剖面子圖，以此類推，從圖7中分別截取1m-2m、2m-3m各自對(duì)應(yīng)的電阻率反演剖面子圖。

S304：對(duì)每個(gè)電阻率反演剖面子圖中相同深度的數(shù)據(jù)點(diǎn)的值求和并取平均值，得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的待測(cè)土壤在不同深度的土壤平均電阻率。

S305：根據(jù)每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的待測(cè)土壤在不同深度的土壤平均電阻率，得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的電阻率曲線，并對(duì)每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的電阻率曲線上相鄰深度的土壤平均電阻率進(jìn)行一階差分，得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的一階差分曲線。

具體的，當(dāng)并行電法土層結(jié)構(gòu)探查系統(tǒng)中的處理設(shè)備獲得多個(gè)電阻率反演剖面子圖之后，針對(duì)每一個(gè)電阻率反演剖面子圖，對(duì)每個(gè)電阻率反演剖面子圖中相同深度的數(shù)據(jù)點(diǎn)的值求和并取平均值，得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的待測(cè)土壤在不同深度的土壤平均電阻率，然后根據(jù)每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的待測(cè)土壤在不同深度的土壤平均電阻率，繪制每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的電阻率曲線，進(jìn)而對(duì)每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的電阻率曲線進(jìn)行一階差分(具體的一階差分過程可以參見上述實(shí)施例二，在此不再贅述)，得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的一階差分曲線。

S306：將每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)對(duì)應(yīng)至所述電阻率反演剖面圖，得到多個(gè)所述電阻率反演剖面圖上與所述鋸齒點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一數(shù)據(jù)點(diǎn)。

S307：根據(jù)所述電阻率反演剖面圖上所有第一數(shù)據(jù)點(diǎn)，確定所述待測(cè)土壤的分層位置。

具體的，當(dāng)處理設(shè)備得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的一階差分曲線之后，分別將每個(gè)一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)按照鋸齒點(diǎn)所在的深度坐標(biāo)對(duì)應(yīng)至上述圖7所示的電阻率反演剖面圖上，得到多個(gè)與一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一數(shù)據(jù)點(diǎn)。然后處理設(shè)備可以根據(jù)這些第一數(shù)據(jù)點(diǎn)的值，將值相同或者接近的第一數(shù)據(jù)點(diǎn)進(jìn)行連線，從而得到待測(cè)土壤的分層位置，可以參見圖10所示的第一數(shù)據(jù)點(diǎn)標(biāo)定的待測(cè)土壤的分層線，該分層線指示了待測(cè)土壤的分層位置，從而使得研發(fā)人員可以通過電阻率反演剖面圖上的分層線直觀的獲知當(dāng)前待測(cè)土壤的土層結(jié)構(gòu)，大大提高了用戶探查土層結(jié)構(gòu)的體驗(yàn)，同時(shí)也提高了探查土壤分層的精確度。

可選的，上述處理設(shè)備在采集到電場(chǎng)數(shù)據(jù)之后，還可以根據(jù)電場(chǎng)數(shù)據(jù)中每個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)的電流值和電壓值，得到待測(cè)土壤的視電阻率剖面圖，該視電阻率剖面圖包括多個(gè)用于表征待測(cè)土壤不同位置的視電阻率的數(shù)據(jù)點(diǎn)，然后處理設(shè)備可以結(jié)合該視電阻率剖面圖和上述所得到的電阻率反演剖面圖上的第一數(shù)據(jù)點(diǎn)進(jìn)行綜合考慮，確定待測(cè)土壤的分層位置，以降低因盲目的依賴曲線圖對(duì)層狀土壤進(jìn)行層次劃分所造成的誤差。

本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查方法，通過對(duì)采集到的待測(cè)土壤的電場(chǎng)數(shù)據(jù)執(zhí)行反演操作，得到待測(cè)土壤的電阻率反演剖面圖，然后根據(jù)預(yù)設(shè)的測(cè)線長(zhǎng)度分段機(jī)制將該電阻率反演剖面圖劃分為多個(gè)電阻率反演剖面子圖，并對(duì)每個(gè)電阻率反演剖面子圖中相同深度的數(shù)據(jù)點(diǎn)的值求和并取平均值，得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的待測(cè)土壤在不同深度的土壤平均電阻率，進(jìn)而根據(jù)每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的待測(cè)土壤在不同深度的土壤平均電阻率，得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的電阻率曲線，之后對(duì)每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的電阻率曲線上相鄰深度的土壤平均電阻率進(jìn)行一階差分，得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的一階差分曲線，從而根據(jù)一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)，確定待測(cè)土壤的分層位置。本發(fā)明提供的方法，可以直接對(duì)土壤進(jìn)行電法探查，無需測(cè)量人員對(duì)待測(cè)土壤進(jìn)行開挖，大大節(jié)省了人力物力，提高了土層結(jié)構(gòu)的探查效率；另外，本發(fā)明通過將多個(gè)一階差分曲線上的鋸齒點(diǎn)對(duì)應(yīng)至電阻率反演剖面圖上，得到待測(cè)土壤的分層線，從而使得研發(fā)人員可以通過電阻率反演剖面圖上的分層線直觀的獲知當(dāng)前待測(cè)土壤的土層結(jié)構(gòu)，大大提高了用戶探查土層結(jié)構(gòu)的體驗(yàn)，同時(shí)也提高了探查土壤分層的精確度。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解：實(shí)現(xiàn)上述各方法實(shí)施例的全部或部分步驟可以通過程序指令相關(guān)的硬件來完成。前述的程序可以存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中。該程序在執(zhí)行時(shí)，執(zhí)行包括上述各方法實(shí)施例的步驟；而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括：ROM、RAM、磁碟或者光盤等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。

圖11為本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查裝置實(shí)施例一的結(jié)構(gòu)示意圖。該裝置可以通過軟硬結(jié)合的方式實(shí)現(xiàn)，可選的，該裝置可以為上述圖1所示的并行電法土層結(jié)構(gòu)探查系統(tǒng)，還可以為集成了上述并行電法土層結(jié)構(gòu)探查系統(tǒng)的設(shè)備。如圖11所示，該裝置包括：采集模塊11、反演模塊12、一階差分模塊13和確定模塊14。

具體的，采集模塊11，用于采集待測(cè)土壤的電場(chǎng)數(shù)據(jù)；

反演模塊12，用于對(duì)所述電場(chǎng)數(shù)據(jù)執(zhí)行反演操作，得到所述待測(cè)土壤不同位置的電阻率數(shù)據(jù)；

一階差分模塊13，用于根據(jù)所述不同位置的電阻率數(shù)據(jù)，確定所述待測(cè)土壤的電阻率的一階差分曲線；其中，所述一階差分曲線用于表征所述待測(cè)土壤相鄰深度的土壤平均電阻率的差值；

確定模塊14，用于根據(jù)所述一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)，確定所述待測(cè)土壤的分層位置。

可選的，上述采集模塊11可以為上述圖1中的電極和電法儀，上述反演模塊12、一階差分模塊13和確定模塊14可以是集成在處理設(shè)備中的軟件或者硬件設(shè)備。

本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查裝置，可以執(zhí)行上述方法實(shí)施例，其實(shí)現(xiàn)原理和技術(shù)效果類似，在此不再贅述。

圖12為本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查裝置實(shí)施例二的結(jié)構(gòu)示意圖。在上述圖11所示實(shí)施例的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步地，所述反演模塊12，具體用于對(duì)所述電場(chǎng)數(shù)據(jù)執(zhí)行反演操作，得到所述待測(cè)土壤的電阻率反演剖面圖；其中，所述電阻率反演剖面圖包括多個(gè)用于表征所述待測(cè)土壤不同位置的電阻率的數(shù)據(jù)點(diǎn)。上述一階差分模塊13，具體包括：獲取單元131和一階差分單元132。

其中，獲取單元131，用于對(duì)所述電阻率反演剖面圖中相同深度的數(shù)據(jù)點(diǎn)的值求和并取平均值，獲得所述待測(cè)土壤不同深度的土壤平均電阻率；

一階差分單元132，用于對(duì)相鄰兩個(gè)深度的土壤平均電阻率進(jìn)行一階差分，得到所述一階差分曲線。

在一種可能的實(shí)施方式中，所述獲取單元131，具體用于對(duì)所述電阻率反演剖面圖按照預(yù)設(shè)的測(cè)線長(zhǎng)度分段機(jī)制進(jìn)行分段，得到多個(gè)電阻率反演剖面子圖，并對(duì)每個(gè)電阻率反演剖面子圖中相同深度的數(shù)據(jù)點(diǎn)的值求和并取平均值，得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的待測(cè)土壤在不同深度的土壤平均電阻率；所述一階差分單元132，具體用于根據(jù)每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的待測(cè)土壤在不同深度的土壤平均電阻率，得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的電阻率曲線，并對(duì)每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的電阻率曲線上相鄰深度的土壤平均電阻率進(jìn)行一階差分，得到每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的一階差分曲線，則上述確定模塊14，具體用于將每個(gè)電阻率反演剖面子圖對(duì)應(yīng)的一階差分曲線的鋸齒點(diǎn)對(duì)應(yīng)至所述電阻率反演剖面圖，得到多個(gè)所述電阻率反演剖面圖上與所述鋸齒點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第一數(shù)據(jù)點(diǎn)，并根據(jù)所述電阻率反演剖面圖上所有第一數(shù)據(jù)點(diǎn)，確定所述待測(cè)土壤的分層位置。

可選的，所述獲取單元131，還用于根據(jù)所述電場(chǎng)數(shù)據(jù)中每個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)的電流值和電壓值，得到所述待測(cè)土壤的視電阻率剖面圖；其中，所述視電阻率剖面圖包括多個(gè)用于表征所述待測(cè)土壤不同位置的視電阻率的數(shù)據(jù)點(diǎn)；

所述確定模塊14，具體用于根據(jù)所述電阻率反演剖面圖上所有第一數(shù)據(jù)點(diǎn)、所述視電阻率剖面圖，確定所述待測(cè)土壤的分層位置。

本發(fā)明提供的土層結(jié)構(gòu)的探查裝置，可以執(zhí)行上述方法實(shí)施例，其實(shí)現(xiàn)原理和技術(shù)效果類似，在此不再贅述。

最后應(yīng)說明的是：以上各實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對(duì)其限制；盡管參照前述各實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解：其依然可以對(duì)前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對(duì)其中部分或者全部技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實(shí)施例技術(shù)方案的范圍。