技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明屬于電子設(shè)備故障檢測領(lǐng)域，公開了一種基于相似性度量因數(shù)的紅外溫升元件異常檢測方法包括：獲取標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)圖像、標(biāo)準(zhǔn)紅外圖像，和待測紅外圖像；將標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)圖像進(jìn)行標(biāo)定；確定待檢測元件，以及與待檢測元件對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)元件；得到N組標(biāo)準(zhǔn)電子設(shè)備電路板上標(biāo)準(zhǔn)元件的標(biāo)準(zhǔn)溫升曲線；以及一組待測電子設(shè)備電路板上待檢測元件的實(shí)際溫升曲線；對溫升曲線依次進(jìn)行起點(diǎn)校正、階躍校正，得到標(biāo)準(zhǔn)元件的標(biāo)準(zhǔn)參考溫升曲線；確定熱像異常門限；計(jì)算待檢測元件的相似性度量因數(shù)，若相似性度量因數(shù)大于熱像異常門限，則待檢測元件正常，否則待檢測元件異常；能夠提高電子設(shè)備電路板上元件故障檢測的實(shí)時(shí)性。

技術(shù)研發(fā)人員：曾操;任超瑛;朱圣棋;劉洋;王博陽;梁超;劉清燕;劉凱
受保護(hù)的技術(shù)使用者：西安電子科技大學(xué)
技術(shù)研發(fā)日：2017.03.14
技術(shù)公布日：2017.07.25