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基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)方法及系統(tǒng)與流程

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基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)方法及系統(tǒng)與流程

本發(fā)明涉及開關(guān)電源測(cè)試領(lǐng)域,具體是一種基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)方法及系統(tǒng)。



背景技術(shù):

隨著服務(wù)器行業(yè)的迅速發(fā)展,對(duì)開關(guān)電源的性能提出了更高的要求。由于電源測(cè)試所用到的測(cè)試儀器較多、測(cè)試內(nèi)容相對(duì)復(fù)雜,在單臺(tái)電源測(cè)試中,通常使用自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)(即開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái))。

自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)由AC/DC電源、直流電子負(fù)載、示波器、信號(hào)發(fā)生器、頻率響應(yīng)分析儀和數(shù)字萬(wàn)用表等可以使用GPIB通信電纜連接的測(cè)試設(shè)備搭建而成,用于對(duì)開關(guān)電源的不同性能進(jìn)行測(cè)試。

開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)用時(shí)短、測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確、一致性好,但現(xiàn)有技術(shù)對(duì)電源測(cè)試異常的監(jiān)控力度不夠,致使在開關(guān)電源測(cè)試過(guò)程中,盡管測(cè)試異常在剛開始發(fā)生很短時(shí)間內(nèi)不會(huì)導(dǎo)致開關(guān)電源故障,但繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試,則很容易毀壞正處于被測(cè)試中的開關(guān)電源,甚至是毀壞當(dāng)前開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)中使用的測(cè)試儀器,進(jìn)而增加測(cè)試和生產(chǎn)成本。此為現(xiàn)有技術(shù)的不足之處。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是,針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)方法及系統(tǒng),在電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的基礎(chǔ)上,實(shí)現(xiàn)與開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)測(cè)試進(jìn)程兼容的并行機(jī)制,實(shí)現(xiàn)開關(guān)電源測(cè)試故障及早發(fā)現(xiàn),以便及時(shí)處理,進(jìn)而防止自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程中的被測(cè)試開關(guān)電源及測(cè)試儀器損壞,從而降低測(cè)試和生產(chǎn)成本。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)方法,所述的開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)包括一組用于測(cè)試開關(guān)電源不同性能的測(cè)試儀器,該基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)方法包括:

步驟A、創(chuàng)建多線程,各線程用于實(shí)時(shí)訪問(wèn)上述開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的測(cè)試儀器,以獲取上述各測(cè)試儀器當(dāng)前測(cè)試所得的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù);

步驟B、將步驟A中當(dāng)前所獲取的各測(cè)試儀器對(duì)應(yīng)的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù),分別與預(yù)先設(shè)定的與上述各測(cè)試儀器相對(duì)應(yīng)的相應(yīng)數(shù)值范圍進(jìn)行比較,若比較結(jié)果為,存在至少一上述獲取的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù)在其對(duì)應(yīng)的預(yù)先設(shè)定的相應(yīng)數(shù)值范圍之外,則執(zhí)行步驟C,否則執(zhí)行步驟D;

步驟C、控制上述開關(guān)電源失電;

步驟D、繼續(xù)執(zhí)行步驟B。

上述步驟C中控制上述開關(guān)電源失電的方法是:通過(guò)控制所述的開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)停止工作而控制開關(guān)電源失電。

其中,所述的一組用于測(cè)試開關(guān)電源不同性能的測(cè)試儀器包括AC/DC電源、直流電子負(fù)載、示波器、負(fù)載儀、萬(wàn)用表和信號(hào)發(fā)生器。

本發(fā)明還提供了一種基于上述基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)方法的基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)系統(tǒng),該基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)系統(tǒng)包括:

開關(guān)電源性能測(cè)試數(shù)據(jù)采集單元,用于實(shí)時(shí)采集各測(cè)試儀器當(dāng)前測(cè)試的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù);

存儲(chǔ)單元,用于本系統(tǒng)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ);

控制單元,連接所述的開關(guān)電源性能測(cè)試數(shù)據(jù)采集單元和存儲(chǔ)單元,用于創(chuàng)建用于實(shí)時(shí)并行訪問(wèn)上述各測(cè)試儀器的多線程,以獲取上述各測(cè)試儀器當(dāng)前測(cè)試的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù);并將該當(dāng)前獲取到的各測(cè)試儀器對(duì)應(yīng)的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù),分別與存儲(chǔ)單元中預(yù)先存儲(chǔ)的與上述各測(cè)試儀器相對(duì)應(yīng)的相應(yīng)數(shù)值范圍進(jìn)行比較,若比較結(jié)果為,存在至少一上述獲取的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù)在其對(duì)應(yīng)的預(yù)先設(shè)定的相應(yīng)數(shù)值范圍之外,則控制上述開關(guān)電源失電。

在上述基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)系統(tǒng)中,所述的控制單元通過(guò)GPIB線纜連接所述的開關(guān)電源性能測(cè)試數(shù)據(jù)采集單元。

在上述基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)系統(tǒng)中,所述的開關(guān)電源性能測(cè)試數(shù)據(jù)采集單元包括一組GPIB接口,所述的GPIB接口與所述的測(cè)試儀器的一一對(duì)應(yīng)。

其中,所述的基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)系統(tǒng)還包括:

測(cè)試異常報(bào)告生成單元,與所述的控制單元相連,在比較結(jié)果為當(dāng)前所獲取的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù)中,存在至少一上述獲取的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù)在其對(duì)應(yīng)的預(yù)先設(shè)定的相應(yīng)數(shù)值范圍之外時(shí),控制生成一測(cè)試報(bào)告。

其中,所述的測(cè)試報(bào)告包括其當(dāng)前實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù)在其對(duì)應(yīng)的預(yù)先設(shè)定的相應(yīng)數(shù)值范圍之外的各測(cè)試儀器的異常信息,所述的異常信息包括測(cè)試異常原因。

與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:

(1)本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)在一個(gè)開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)在測(cè)試過(guò)程中,不需要人工方式對(duì)測(cè)試過(guò)程監(jiān)督,且本發(fā)明的使用,使得在產(chǎn)生測(cè)試故障時(shí),能及時(shí)自動(dòng)對(duì)測(cè)試電源下電,從而可防止因人工監(jiān)督或操作不及時(shí),致使損壞被測(cè)試的開關(guān)電源及用于測(cè)試開關(guān)電源性能的測(cè)試儀器,進(jìn)而能夠提高對(duì)開關(guān)電源進(jìn)行性能測(cè)試的可靠性與穩(wěn)定性,從而降低對(duì)開關(guān)電源的測(cè)試與生產(chǎn)成本;

(2)本發(fā)明使用時(shí),一旦檢測(cè)到當(dāng)前獲取的任意一測(cè)試儀器的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù)出現(xiàn)異常,則能瞬時(shí)對(duì)開關(guān)電源和所有的測(cè)試儀器進(jìn)行下電處理,從而不再進(jìn)行測(cè)試儀器訪問(wèn),這可避免因電源異常導(dǎo)致測(cè)試儀器和開關(guān)電源的損壞,較為實(shí)用。

由此可見,本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有突出的實(shí)質(zhì)性特點(diǎn)和顯著的進(jìn)步,其實(shí)施的有益效果也是顯而易見的。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明所述基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)方法流程圖示意圖;

圖2為本發(fā)明所述基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)系統(tǒng)功能框圖示意圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明的技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合附圖,對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。

具體實(shí)施方式1:

如圖1所示,本發(fā)明的一種基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)方法,所述的開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)包括一組用于測(cè)試開關(guān)電源不同性能的測(cè)試儀器。該基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)方法包括:

步驟A、創(chuàng)建多線程,各線程用于實(shí)時(shí)訪問(wèn)上述開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的測(cè)試儀器,以獲取上述各測(cè)試儀器當(dāng)前測(cè)試所得的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù);

步驟B、將步驟A中當(dāng)前所獲取的各測(cè)試儀器對(duì)應(yīng)的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù),分別與預(yù)先設(shè)定的與上述各測(cè)試儀器相對(duì)應(yīng)的相應(yīng)數(shù)值范圍進(jìn)行比較,若比較結(jié)果為,存在至少一上述獲取的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù)在其對(duì)應(yīng)的預(yù)先設(shè)定的相應(yīng)數(shù)值范圍之外,則執(zhí)行步驟C,否則執(zhí)行步驟D;

步驟C、控制上述開關(guān)電源失電;

步驟D、繼續(xù)執(zhí)行步驟B。

在本實(shí)施方式中,所述的一組用于測(cè)試開關(guān)電源不同性能的測(cè)試儀器包括AC/DC電源、直流電子負(fù)載、示波器、負(fù)載儀、萬(wàn)用表和信號(hào)發(fā)生器。

在本實(shí)施方式中,上述步驟C中控制上述開關(guān)電源失電的方法是:通過(guò)控制所述的開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)停止工作而控制開關(guān)電源失電。具體地,通過(guò)控制自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)向AC/DC電源發(fā)送POWER OFF指令、向直流電子負(fù)載發(fā)送LOAD OFF指令、向其它測(cè)試儀器發(fā)送停止測(cè)試指令,從而達(dá)到使開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)停止工作的目的,進(jìn)而控制所述的開關(guān)電源失電。

本發(fā)明還提供了一種基于上述基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)方法的基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)系統(tǒng),如圖2所示,其包括:

開關(guān)電源性能測(cè)試數(shù)據(jù)采集單元,用于實(shí)時(shí)采集各測(cè)試儀器當(dāng)前測(cè)試的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù);

存儲(chǔ)單元,用于本系統(tǒng)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ);

控制單元,連接所述的開關(guān)電源性能測(cè)試數(shù)據(jù)采集單元和存儲(chǔ)單元,用于創(chuàng)建用于實(shí)時(shí)并行訪問(wèn)上述各測(cè)試儀器多線程,以獲取上述各測(cè)試儀器當(dāng)前測(cè)試的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù);并將該當(dāng)前獲取到的各測(cè)試儀器對(duì)應(yīng)的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù),分別與存儲(chǔ)單元中預(yù)先存儲(chǔ)的與上述各測(cè)試儀器相對(duì)應(yīng)的相應(yīng)數(shù)值范圍進(jìn)行比較,若比較結(jié)果為,存在至少一上述獲取的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù)在其對(duì)應(yīng)的預(yù)先設(shè)定的相應(yīng)數(shù)值范圍之外,則控制上述開關(guān)電源失電。

使用時(shí),在控制單元的控制下,通過(guò)開關(guān)電源性能測(cè)試數(shù)據(jù)采集單元實(shí)時(shí)采集各測(cè)試儀器當(dāng)前測(cè)試的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù);通過(guò)存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)本系統(tǒng)所涉及到的各種數(shù)據(jù)存儲(chǔ),比如用于預(yù)先存儲(chǔ)與上述各測(cè)試儀器相對(duì)應(yīng)的相應(yīng)數(shù)值范圍;控制單元通過(guò)多線程并行獲取上述各測(cè)試儀器當(dāng)前測(cè)試的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù),并將該當(dāng)前獲取到的各測(cè)試儀器對(duì)應(yīng)的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù),分別與存儲(chǔ)單元中預(yù)先存儲(chǔ)的各相應(yīng)數(shù)值范圍進(jìn)行比較,若比較結(jié)果為,存在至少一上述獲取的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù)在其對(duì)應(yīng)的預(yù)先設(shè)定的相應(yīng)數(shù)值范圍之外,則控制上述開關(guān)電源失電。

在該基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)系統(tǒng)中,所述的控制單元通過(guò)GPIB線纜連接所述的開關(guān)電源性能測(cè)試數(shù)據(jù)采集單元。

在該基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)系統(tǒng)中,所述的開關(guān)電源性能測(cè)試數(shù)據(jù)采集單元包括一組GPIB接口,所述的GPIB接口與所述的測(cè)試儀器的一一對(duì)應(yīng)。

開關(guān)自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的每個(gè)測(cè)試儀器都有一唯一的GPIB地址,本發(fā)明通過(guò)訪問(wèn)GPIB地址實(shí)現(xiàn)與各所述測(cè)試儀器的連接;具體地,本發(fā)明通過(guò)開關(guān)電源性能測(cè)試數(shù)據(jù)采集單元中相應(yīng)的GPIB接口接通相應(yīng)的測(cè)試儀器,通過(guò)上述建立的多線程并行讀取上述各測(cè)試儀器緩沖區(qū)(VISA緩沖區(qū))內(nèi)的數(shù)據(jù),從而獲取當(dāng)前用于測(cè)試的各測(cè)試儀器的測(cè)試數(shù)據(jù),即獲取當(dāng)前用于測(cè)試的各測(cè)試儀器的實(shí)時(shí)測(cè)試數(shù)據(jù)。

此外,所述的基于開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)的開關(guān)電源保護(hù)系統(tǒng)還包括測(cè)試異常報(bào)告生成單元,與所述的控制單元相連,在比較結(jié)果為當(dāng)前所獲取的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù)中,存在至少一上述獲取的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù)在其對(duì)應(yīng)的預(yù)先設(shè)定的相應(yīng)數(shù)值范圍之外時(shí),控制生成一測(cè)試報(bào)告。其中,所述的測(cè)試報(bào)告包括其當(dāng)前實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù)在其對(duì)應(yīng)的預(yù)先設(shè)定的相應(yīng)數(shù)值范圍之外的各測(cè)試儀器的異常信息,所述的異常信息包括測(cè)試異常原因。其中,上述生成的測(cè)試報(bào)告,便于測(cè)試人員后期進(jìn)行開關(guān)電源測(cè)試異常原因的查詢。

其中,上述測(cè)試異常原因包括開關(guān)電源輸出電壓過(guò)高或過(guò)低、開關(guān)電源輸出電流過(guò)大、開關(guān)電源輸出VDS超出測(cè)試范圍、測(cè)試過(guò)程中突然掉電等。

綜上,本發(fā)明的使用,使得在一個(gè)開關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)測(cè)試過(guò)程中,不需要人工方式對(duì)測(cè)試過(guò)程監(jiān)督;且本發(fā)明的使用,使得在產(chǎn)生測(cè)試故障時(shí),能及時(shí)自動(dòng)對(duì)測(cè)試電源下電,從而可防止因人工監(jiān)督或操作不及時(shí)致使待測(cè)開關(guān)電源或用于測(cè)試開關(guān)電源性能的測(cè)試儀器損壞,進(jìn)而能夠提高對(duì)開關(guān)電源進(jìn)行性能測(cè)試的可靠性與穩(wěn)定性,從而降低了對(duì)開關(guān)電源的測(cè)試與生產(chǎn)成本。

此外,本發(fā)明使用時(shí),一旦檢測(cè)到當(dāng)前獲取的任意一測(cè)試儀器的實(shí)際測(cè)試數(shù)據(jù)出現(xiàn)異常,則能瞬時(shí)對(duì)開關(guān)電源和所有的測(cè)試儀器進(jìn)行下電處理,從而不再進(jìn)行測(cè)試儀器訪問(wèn),避免了因電源異常導(dǎo)致測(cè)試儀器和開關(guān)電源的損壞,較為實(shí)用。

另外,本發(fā)明易于實(shí)現(xiàn),便于推廣使用。

以上實(shí)施方式僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案,而非對(duì)其限制;盡管參照前述實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解:其依然可以對(duì)前述各實(shí)施方式所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改,或者對(duì)其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換;而這些修改或者替換,并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實(shí)施方式技術(shù)方案的范圍。

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