本實(shí)用新型涉及PCB微鉆檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種PCB微鉆檢查用輔助

裝置。

背景技術(shù)：

PCB，中文名稱為印制電路板，是重要的電子部件，是電子元器件的支撐體，是電子元器件電氣連接的提供者。在PCB的制作過(guò)程中需要用到一種微鉆，鉆針直徑在3.175mm以下，目前業(yè)界主要采用的PCB微鉆生產(chǎn)過(guò)程中的斷針檢查主要采用通過(guò)目視微鉆有無(wú)斷針或用手動(dòng)卡紙投影的方式進(jìn)行檢查有無(wú)斷針，由于無(wú)輔助夾治具，易導(dǎo)致人員在操作過(guò)程中產(chǎn)生過(guò)度的視力疲勞而漏檢和檢查用時(shí)的浪費(fèi)，同時(shí)因檢查方法不對(duì)導(dǎo)致的斷針。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為解決上述缺陷，本實(shí)用新型的目的在于提供一種PCB微鉆檢查用輔助

裝置，不僅有效提高了檢查效率，而且避免檢查過(guò)程中出現(xiàn)的漏檢、誤斷針及混料現(xiàn)象發(fā)生，實(shí)現(xiàn)對(duì)PCB微鉆的合理檢查。

為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是：一種PCB微鉆檢查用輔助裝置，包括基座和鉸接于所述基座頂部的檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述基座底部分別設(shè)有定位螺釘、沉孔及用于擺放鉆針的料盤，所述定位螺釘僅設(shè)于所述基座一側(cè)，所述料盤一側(cè)邊與所述定位螺釘相接觸，且所述料盤四周鉆孔與所述沉孔相匹配，所述檢測(cè)結(jié)構(gòu)為框狀，且所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)表面設(shè)有多個(gè)卡槽，所述卡槽上放置有薄鋁/銅片；工作時(shí)，所述薄鋁/銅片對(duì)鉆針刃部形成光線反差，所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)通過(guò)光線反差的不同來(lái)判斷鉆針的優(yōu)劣。

優(yōu)選的是，所述基座和所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)均采用鋁合金制作。

所述料盤與所述沉孔間加設(shè)緊固件固定在所述基座上。

所述基座頂部設(shè)有轉(zhuǎn)軸，所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)通過(guò)所述轉(zhuǎn)軸和所述基座鉸接在一起。

本實(shí)用新型在使用時(shí)，將檢測(cè)機(jī)構(gòu)通過(guò)旋轉(zhuǎn)軸打開，放入料盤合上檢測(cè)機(jī)構(gòu)，料盤一側(cè)邊頂著定位螺釘之后挪動(dòng)料盤至與沉孔相匹配，加上緊固件固定好料盤，在檢測(cè)機(jī)構(gòu)的卡槽上放上薄鋁/銅片，工作時(shí)，所述薄鋁/銅片對(duì)鉆針刃部形成光線反差，所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)通過(guò)光線反差的不同來(lái)判斷鉆針的優(yōu)劣；本實(shí)用新型中所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)上設(shè)有的卡槽，方便在薄鋁/銅片變形后進(jìn)行更換。

本實(shí)用新型的有益效果：本實(shí)用新型通過(guò)基座和方便目視檢查斷針的檢測(cè)機(jī)構(gòu)的組合，實(shí)現(xiàn)人工在檢測(cè)斷針時(shí)，通過(guò)色差對(duì)比，方便目視檢測(cè)，同時(shí)解決檢測(cè)的誤判問(wèn)題，避免由于手動(dòng)檢測(cè)導(dǎo)致的報(bào)廢。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型不僅能有效解決誤判斷針的問(wèn)題，而且工作效率大大提高，滿足對(duì)于檢查斷針的工作要求。

附圖說(shuō)明

下面根據(jù)附圖及實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)和特征作進(jìn)一步描述。

圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2是本實(shí)用新型檢測(cè)鉆針時(shí)的示意圖。

附圖1及圖2中，1.基座，2.檢測(cè)機(jī)構(gòu)，3.薄鋁/銅片，4.定位螺釘，5.沉孔，6.轉(zhuǎn)軸，7.取出端，8.料盤，9.卡槽，10.鉆針。

具體實(shí)施方式

參看附圖1及圖2，一種PCB微鉆檢查用輔助裝置，包括基座1和鉸接于所述基座1頂部的檢測(cè)機(jī)構(gòu)2，所述基座1底部分別設(shè)有定位螺釘4、沉孔5及用于擺放鉆針10的料盤8，所述定位螺釘4僅設(shè)于所述基座1一側(cè)，所述料盤8一側(cè)邊與所述定位螺釘4相接觸，且所述料盤8四周鉆孔與所述沉孔5相匹配，所述檢測(cè)結(jié)構(gòu)2為框狀，且所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)2表面設(shè)有多個(gè)卡槽9，所述卡槽9上放置有薄鋁/銅片3；工作時(shí)，所述薄鋁/銅片3對(duì)鉆針10刃部形成光線反差，所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)2通過(guò)光線反差的不同來(lái)判斷鉆針10的優(yōu)劣。

優(yōu)選的是，所述基座1和所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)2均采用鋁合金制作。

所述料盤8與所述沉孔5間加設(shè)緊固件固定在所述基座1上。

所述基座1頂部設(shè)有轉(zhuǎn)軸6，所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)2通過(guò)所述轉(zhuǎn)軸6和所述基座1鉸接在一起。

本實(shí)用新型在使用時(shí)，將檢測(cè)機(jī)構(gòu)通過(guò)旋轉(zhuǎn)軸打開，放入料盤合上檢測(cè)機(jī)構(gòu)，料盤一側(cè)邊頂著定位螺釘之后挪動(dòng)料盤至與沉孔相匹配，加上緊固件固定好料盤，在檢測(cè)機(jī)構(gòu)的卡槽上放上薄鋁/銅片，工作時(shí)，薄鋁片/銅片正好處于鉆針的空隙位置，所述薄鋁/銅片對(duì)鉆針刃部形成光線反差，所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)通過(guò)光線反差的不同來(lái)判斷鉆針的優(yōu)劣和是否混料，檢測(cè)完畢后，從取出端取出；本實(shí)用新型中所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)上設(shè)有的卡槽，方便在薄鋁/銅片變形后進(jìn)行更換。本實(shí)用新型通過(guò)基座和方便目視檢查斷針的檢測(cè)機(jī)構(gòu)的組合，實(shí)現(xiàn)人工在檢測(cè)斷針時(shí)，通過(guò)色差對(duì)比，方便目視檢測(cè)，同時(shí)解決檢測(cè)的誤判問(wèn)題，避免由于手動(dòng)檢測(cè)導(dǎo)致的報(bào)廢。本實(shí)用新型不僅能有效解決誤判斷針的問(wèn)題，而且工作效率大大提高，滿足對(duì)于檢查斷針的工作要求。

以上所描述的僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，上述具體實(shí)施例不是對(duì)本實(shí)用新型的限制，凡本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員根據(jù)以上描述所做的潤(rùn)飾、修改或等同替換，均屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。