本實用新型屬于光譜儀檢測儀器領域,尤其涉及一種用于光譜檢測的晶體切換機構。
背景技術:
光譜儀需要測量數(shù)十個元素的特征譜線;而單獨一塊晶體只能檢測有限數(shù)量的特征譜線,只有通過晶體切換裝置將多個晶體逐個切換,才能實現(xiàn)全部譜線的測量。光譜儀是精密測量儀器,工業(yè)現(xiàn)場使用頻率高;這就要求晶體切換裝置切換定位精度高,動作可靠,使用壽命長;實際工作中還要求滿足真空條件下的工作需要,因此迫切需要尋找一種能夠解決此問題的晶體切換結構。
技術實現(xiàn)要素:
有鑒于此,需要克服現(xiàn)有技術中的上述缺陷中的至少一個,本實用新型提供了一種用于光譜檢測的晶體切換機構。
所述一種用于光譜檢測的晶體切換機構包括晶體支撐部件,支撐框架,定位機構; 所述晶體支撐部件通過中軸轉動安裝在所述支撐框架上,所述晶體支撐部件為柱型,包括n個晶體裝配結構,所述晶體裝配結構均勻分布在所述晶體支撐部件的外側面;所述定位機構安裝在所述支撐框架上,所述定位機構包括定位基座,定位模塊以及回彈機構;所述定位基座中心軸安裝在所述支撐框架上且具有基座定位結構,所述定位模塊一端聯(lián)接在所述支撐框架上,另一端具有模塊定位結構,所述基座定位結構與所述模塊定位結構緊密配合,所述回彈機構一端固定聯(lián)接在所述支撐框架上,另一端與所述定位模塊相聯(lián);所述定位基座為圓盤結構,所述基座定位結構為定位孔,所述模塊定位結構為定位柱,所述定位柱沿所述定位基座圓周方向彈性安裝,所述定位柱頂部中空且設有沿所述定位基座圓周方向彈性安裝的旋轉部件,所述旋轉部件后部有彈性結構;所述基座定位結構和所述模塊定位結構精密配合且所述基座定位結構數(shù)量為大于等于1的自然數(shù),所述定位機構中的所述定位基座的中軸和所述晶體支撐部件的中軸固定聯(lián)結且與所述支撐框架轉動聯(lián)結,所述定位基座上的所述基座定位結構與所述晶體支撐部件上的所述晶體裝配結構精確定位裝配且一一對應。
根據(jù)本專利背景技術中對現(xiàn)有技術所述,在光譜儀測量元素的特征譜線時,由于有幾十種元素,而單個晶體只能測量有限數(shù)量的特征譜線,因此只能通過晶體切換裝置將多個晶體逐漸切換,而對于切換前后晶體的位置總是存在較大的誤差;而本實用新型公開的一種用于光譜檢測的晶體切換機構,通過采用晶體支撐部件和定位機構的結合,在完成切換晶體的同時還保證了晶體的定位精度,且動作過程可靠,并使檢測裝置的使用壽命增長了,因此具有明顯的優(yōu)點。
另外,根據(jù)本實用新型公開的用于光譜檢測的晶體切換機構還具有如下附加技術特征:
進一步地,所述晶體裝配結構包括開口背離所述晶體支撐部件中心方向的第一凹槽和第二凹槽,所述第一凹槽位于所述第二凹槽下方,所述第二凹槽頂部具有凸起,所述第二凹槽側面及所述凸起內(nèi)側面為與晶體表面相配合的平面。
進一步地,所述晶體支撐部件中空,且具有中軸。
中空結構減輕了所述晶體支撐部件的整體重量,使得安裝更加方便。
進一步地,所述晶體裝配結構的內(nèi)表面安裝有具有向外彈出部件的彈性裝置,所述向外彈出部件的頂端高于所述第一凹槽的深度。
如此,可以將所述晶體頂起與所述晶體裝配結構精密接觸。
進一步地,所述彈性裝置下端具有橫片,下部形成“L”型結構。
形成的L型結構,是使得所述晶體的下端被托起,避免滑落。
進一步地,所述晶體裝配結構中形成所述第一凹槽和所述第二凹槽的兩側支板上表面為平面且具有第三凹槽。
所形成的凹槽可以使得所述晶體與所述上表面更好的接觸和推入。
進一步地,所述支撐部件為立體四邊結構,包括上支撐邊,下支撐邊,左支撐邊,右支撐邊,所述上支撐邊上具有與通過所述晶體支撐部件中軸線的中軸相聯(lián)的轉動部件,所述定位基座安裝在所述晶體支撐部件的下方且與所述晶體支撐部件精確固定。
如此,可以使得所述定位基座和所述晶體支撐部件同步轉動。
進一步地,所述支撐框架為包括上邊、下邊、左邊和右邊構成的四邊結構,所述定位基座中心軸轉動安裝在通過所述支撐框架的所述上邊和所述下邊的中心軸上,所述支撐框架一體成型。
進一步地,所述基座定位結構數(shù)量為2、4、6、8個。
進一步地,所述支撐框架還包括齒輪,所述齒輪轉動安裝在所述支撐架上且與所述定位基座同軸并固定聯(lián)結。
外部傳動部件將轉動通過齒輪傳遞所述裝置,所述裝置進行轉動,從而定位機構能夠使得晶體支撐部件上的晶體裝配結構精確定位。
進一步地,所述定位柱端部包括有圓頭,所述定位孔邊緣為圓角。
更進一步地,所述定位柱的所述圓頭后有彈性裝置,所述圓頭與所述定位柱頂端為可前后移動及360度轉動安裝的結構。
更進一步地,當所述圓頭插入所述定位孔內(nèi)部時,所述圓頭與所述定位柱的邊緣線與所述定位孔的內(nèi)邊緣線距離大于等于0且小于等于3mm。
當此距離過大時,則兩者脫開會出現(xiàn)一定的問題。
優(yōu)選地,所述旋轉部件為圓球。
進一步地,所述晶體支撐部件還包括T型部件,所述T型部件裝入所述第三凹槽中,起到保護所述晶體支撐部件的作用,減少檢測光對所述晶體支撐部件的所述支板表面的影響。
本實用新型附加的方面和優(yōu)點將在下面的描述中部分給出,部分將從下面的描述中變得明顯,或通過本實用新型的實踐了解到。
附圖說明
本實用新型的上述和/或附加的方面和優(yōu)點從下面結合附圖對實施例的描述中將變得明顯和容易理解,其中:
圖1用于光譜檢測的晶體切換機構示意圖;
圖2是已裝載了晶體的晶體支撐部件示意圖;
圖3是晶體支撐部件的T型部件;
圖4晶體支撐部件的某方向的示意圖;
圖5是定位機構的示意圖;
圖6是圖5具有內(nèi)部虛線示意圖;
圖7為定位柱示意圖。
圖中,100支撐框架,20定位機構,201定位基座,202定位模塊,2011基座定位結構,2021模塊定位結構,2022旋轉部件,2023定位柱,2024彈性結構,203回彈機構,301齒輪,400晶體,401晶體支撐部件,4011晶體裝配結構,4012晶體支撐部件中軸,4013第二凹槽,4014第一凹槽,4015支板,4016第三凹槽,4017凸起,4018彈性裝置,4019T型部件。
具體實施方式
下面詳細描述本實用新型的實施例,所述實施例的示例在附圖中示出,其中自始至終相同或類似的標號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的,僅用于解釋本實用新型,而不能解釋為對本實用新型的限制。
在本實用新型的描述中,需要理解的是,術語 “上”、“下”、“底”、“頂”、“前”、“后”、“內(nèi)”、“外”、“橫”、“豎”等指示的方位或位置關系為基于附圖所示的方位或位置關系,僅是為了便于描述本實用新型和簡化描述,而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作,因此不能理解為對本實用新型的限制。
在本實用新型的描述中,需要說明的是,除非另有明確的規(guī)定和限定,術語“連接”、“連通”、“相連”、“連接”、“配合”應做廣義理解,例如,可以是固定連接,一體地連接,也可以是可拆卸連接;可以是兩個元件內(nèi)部的連通;可以是直接相連,也可以通過中間媒介間接相連;“配合”可以是面與面的配合,也可以是點與面或線與面的配合,也包括孔軸的配合,對于本領域的普通技術人員而言,可以具體情況理解上述術語在本實用新型中的具體含義。
本實用新型的實用新型構思如下,通過采用晶體支撐部件和定位機構的結合,在完成切換晶體的同時還保證了晶體的定位精度,且動作過程可靠,并使檢測裝置的使用壽命增長了,因此具有明顯的優(yōu)點。
下面將參照附圖來描述本實用新型,其中圖1用于光譜檢測的晶體切換機構示意圖;圖2是已裝載了晶體的晶體支撐部件示意圖;圖3是晶體支撐部件的T型部件;圖4晶體支撐部件的某方向的示意圖;圖5是定位機構的示意圖;圖6是圖5具有內(nèi)部虛線示意圖;圖7為定位柱示意圖。
如圖1-7所示,根據(jù)本實用新型的實施例,所述用于光譜檢測的晶體切換機構包括晶體支撐部件401,支撐框架100,定位機構20;所述晶體支撐部件401通過中軸轉動安裝在所述支撐框架100上,所述晶體支撐部件401為柱型,包括n個晶體裝配結構4011,所述晶體裝配結構4011均勻分布在所述晶體支撐部件401的外側面;所述定位機構20安裝在所述支撐框架100上,所述定位機構20包括定位基座201,定位模塊202以及回彈機構203;所述定位基座201中心軸安裝在所述支撐框架100上且具有基座定位結構2011,所述定位模塊202一端聯(lián)接在所述支撐框架100上,另一端具有模塊定位結構2021,所述基座定位結構2011與所述模塊定位結構2021緊密配合,所述回彈機構203一端固定聯(lián)接在所述支撐框架100上,另一端與所述定位模塊202相聯(lián);所述定位基座201為圓盤結構,所述基座定位結構2011位于所述圓盤結構邊緣,所述基座定位結構2011為定位孔,所述模塊定位結構2021為定位柱2023,所述定位柱2023沿所述定位基座201圓周方向彈性安裝,所述定位柱2023頂部中空且設有沿所述定位基座201圓周方向彈性安裝的旋轉部件2022,所述旋轉部件2022后部有彈性結構2024;所述基座定位結構2011和所述模塊定位結構2021精密配合且所述基座定位結構2011數(shù)量為大于等于1的自然數(shù);所述定位機構20中的所述定位基座201的中軸和所述晶體支撐部件401的中軸固定聯(lián)結且與所述支撐框架100轉動聯(lián)結,所述定位基座201上的所述基座定位結構2011與所述晶體支撐部件401上的所述晶體裝配結構4011精確定位裝配且一一對應。
根據(jù)本專利背景技術中對現(xiàn)有技術所述,在光譜儀測量元素的特征譜線時,由于有幾十種元素,而單個晶體只能測量有限數(shù)量的特征譜線,因此只能通過晶體切換裝置將多個晶體逐漸切換,而對于切換前后晶體的位置總是存在較大的誤差;而本實用新型公開的一種用于光譜檢測的晶體切換機構,通過采用晶體支撐部件和定位機構的結合,在完成切換晶體的同時還保證了晶體的定位精度,且動作過程可靠,并使檢測裝置的使用壽命增長了,因此具有明顯的優(yōu)點。
另外,根據(jù)本實用新型公開的用于光譜檢測的晶體切換機構還具有如下附加技術特征:
根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述晶體裝配結構4011包括開口背離所述晶體支撐部件401中心方向的第一凹槽4014和第二凹槽4013,所述第一凹槽4014位于所述第二凹槽4013下方,所述第二凹槽4013頂部具有凸起4017,所述第二凹槽4013側面及所述凸起4017內(nèi)側面為與晶體400表面相配合的平面。
根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述晶體支撐部件401中空,且具有中軸4012。
中空結構減輕了所述晶體支撐部件401的整體重量,使得安裝更加方便。
根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述晶體裝配結構4011的內(nèi)表面安裝有具有向外彈出部件的彈性裝置4018,所述向外彈出部件的頂端高于所述第一凹槽4014的深度。
如此,可以將所述晶體400頂起與所述晶體裝配結構4011精密接觸。
根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述彈性裝置4018下端具有橫片,下部形成“L”型結構。
形成的L型結構,是使得所述晶體400的下端被托起,避免滑落。
根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述晶體裝配結構4011中形成所述第一凹槽4014和所述第二凹槽4013的兩側支板上表面為平面且具有第三凹槽4016。
所形成的凹槽可以使得所述晶體400與所述上表面更好的接觸和推入。
根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述支撐部件100為立體四邊結構,包括上支撐邊,下支撐邊,左支撐邊,右支撐邊,所述上支撐邊上具有與通過所述晶體支撐部件401中軸線的中軸相聯(lián)的轉動部件,所述定位基座202安裝在所述晶體支撐部件401的下方且與所述晶體支撐部件401精確固定。
如此,可以使得所述定位基座201和所述晶體支撐部件401同步轉動。
根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述支撐框架100為包括上邊、下邊、左邊和右邊構成的四邊結構,所述定位基座201中心軸轉動安裝在通過所述支撐框架100的所述上邊和所述下邊的中心軸上,所述支撐框架100一體成型。
根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述基座定位結構2011數(shù)量為2、4、6、8個。
根據(jù)本實用新型的一個實施例,所述支撐框架100還包括齒輪301,所述齒輪301轉動安裝在所述支撐架100上且與所述定位基座201同軸并固定聯(lián)結。
根據(jù)本實用新型的一個實施例,所述定位柱2023端部包括有圓頭,所述定位孔邊緣為圓角。
根據(jù)本實用新型的一個實施例,所述定位柱2023的所述圓頭后有彈性裝置2024,所述圓頭與所述定位柱2023頂端為可前后移動及360度轉動安裝的結構。
根據(jù)本實用新型的一些實施例,當所述圓頭插入所述定位孔內(nèi)部時,所述圓頭與所述定位柱2023的邊緣線與所述定位孔的內(nèi)邊緣線距離大于等于0且小于等于3mm。
此處的圓頭可以是扁平的圓盤或是半圓盤或是具有上述結構的任意組合。
根據(jù)本實用新型的一個實施例,所述旋轉部件2022為圓球。
根據(jù)本實用新型的一些實施例,所述晶體支撐部件401還包括T型部件4019,所述T型部件4019裝入所述第三凹槽4016中,起到保護所述晶體支撐部件401的作用,減少檢測光對所述晶體支撐部件401的所述支板4015表面的影響。
任何提及“一個實施例”、“實施例”、“示意性實施例”等意指結合該實施例描述的具體構件、結構或者特點包含于本實用新型的至少一個實施例中;在本說明書各處的該示意性表述不一定指的是相同的實施例;而且,當結合任何實施例描述具體構件、結構或者特點時,所主張的是,結合其他的實施例實現(xiàn)這樣的構件、結構或者特點均落在本領域技術人員的范圍之內(nèi)。
盡管參照本實用新型的多個示意性實施例對本實用新型的具體實施方式進行了詳細的描述,但是必須理解,本領域技術人員可以設計出多種其他的改進和實施例,這些改進和實施例將落在本實用新型原理的精神和范圍之內(nèi);具體而言,在前述公開、附圖以及權利要求的范圍之內(nèi),可以在零部件和/或者從屬組合布局的布置方面作出合理的變型和改進,而不會脫離本實用新型的精神;除了零部件和/或布局方面的變型和改進,其范圍由所附權利要求及其等同物限定。