本實用新型涉及飛針測試裝置，特別涉及一種微型飛針測試頭。

背景技術(shù)：

飛針測試機是針對元件布置高密度、層數(shù)多、布線密度大、測點距離小的 PCB 板 （印刷電路板）進行測試的一種儀器，主要測試線路板的絕緣和導通值。測試儀一般采用“真 值比較定位法”，能對測試過程和故障點進行實時監(jiān)控，保證測試的準確性。飛針測試機具 有精細節(jié)距，不受網(wǎng)格限制，測試靈活，速度快等特點。現(xiàn)有測試針上連接線容易被勾斷，測試針的彈性不足易損傷。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實用新型的目的是提供一種微型飛針測試頭。

本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：一種微型飛針測試頭，包括主體、設(shè)置在所述主體上的后接板塊、設(shè)置在所述主體上的探頭組件，所述探頭組件包括設(shè)置在所述主體頭部兩側(cè)的擋塊、設(shè)置在所述擋塊上且向上延伸的支架、設(shè)置在所述支架頂部且向前延伸的探針本體，所述支架包括底座、設(shè)置在所述底座前后兩側(cè)且向上延伸的立柱、連接立柱頂端的針座，所述針座與立柱連接處的前后設(shè)有弧形缺口，所述立柱與所述底座連接處前后設(shè)有弧形缺口，所述擋塊上設(shè)有延伸至立柱之間的限位爪，兩個所述支架組成開口向下的“八”字狀，即所述支架頂部之間距離小于所述支架底部之間距離，所述主體俯視圖為T形，所述主體兩側(cè)為斜面，所述擋塊與所述斜面貼合。

上述設(shè)計中僅通過T形的主體有效減小測試頭的體積及重量，結(jié)構(gòu)簡單，支架組成開口向下的“八”字狀防止探針本體相互干涉，提高測試精度。

作為本設(shè)計的進一步改進，所述限位爪位于所述立柱高度的1/2處，有效對立柱限位，保證探針本體測試的準確性。

作為本設(shè)計的進一步改進，所述后接板塊一端與所述主體頂面連接，進一步縮小所述主體的體積。

作為本設(shè)計的進一步改進，所述針座設(shè)有放置所述探針本體的放置槽，所述針座上設(shè)有連通所述放置槽的連接孔，便于安裝探針本體且探針本體電連接的穩(wěn)定性。

作為本設(shè)計的進一步改進，前方所述立柱長度較后方所述立柱長，便于支架以確定路徑變形，防止探針本體劃傷PCB板。

作為本設(shè)計的進一步改進，所述支架之間的夾角為45°，進一步防止探針本體之間干涉。

本實用新型的有益效果是：本實用新型通過T形的主體有效減小測試頭的體積及重量，結(jié)構(gòu)簡單，支架組成開口向下的“八”字狀防止探針本體相互干涉，提高測試精度。

附圖說明

下面結(jié)合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。

圖1是本實用新型的立體結(jié)構(gòu)示意圖。

在圖中1.主體，2.后接板塊，3.擋塊，4.支架，5.底座，6.弧形缺口，7.立柱，8.限位爪，9.探針本體，10.連接孔，11.針座，12.斜面，13.放置槽。

具體實施方式

下面將結(jié)合附圖以及具體實施例來詳細說明本實用新型，其中的示意性實施例以及說明僅用來解釋本實用新型，但并不作為對本實用新型的限定。

實施例：一種微型飛針測試頭，包括主體1、設(shè)置在所述主體1上的后接板塊2、設(shè)置在所述主體1上的探頭組件，所述探頭組件包括設(shè)置在所述主體1頭部兩側(cè)的擋塊3、設(shè)置在所述擋塊3上且向上延伸的支架4、設(shè)置在所述支架4頂部且向前延伸的探針本體9，所述支架4包括底座5、設(shè)置在所述底座5前后兩側(cè)且向上延伸的立柱7、連接立柱7頂端的針座11，所述針座11與立柱7連接處的前后設(shè)有弧形缺口6，所述立柱7與所述底座5連接處前后設(shè)有弧形缺口6，所述擋塊3上設(shè)有延伸至立柱7之間的限位爪8，兩個所述支架4組成開口向下的“八”字狀，即所述支架4頂部之間距離小于所述支架4底部之間距離，所述主體1俯視圖為T形，所述主體1兩側(cè)為斜面12，所述擋塊3與所述斜面12貼合。

上述設(shè)計中僅通過T形的主體1有效減小測試頭的體積及重量，結(jié)構(gòu)簡單，支架4組成開口向下的“八”字狀防止探針本體9相互干涉，提高測試精度。

作為本設(shè)計的進一步改進，所述限位爪8位于所述立柱7高度的1/2處，有效對立柱7限位，保證探針本體9測試的準確性。

作為本設(shè)計的進一步改進，所述后接板塊2一端與所述主體1頂面連接，進一步縮小所述主體1的體積。

作為本設(shè)計的進一步改進，所述針座11設(shè)有放置所述探針本體9的放置槽13，所述針座11上設(shè)有連通所述放置槽13的連接孔10，便于安裝探針本體9且探針本體9電連接的穩(wěn)定性。

作為本設(shè)計的進一步改進，前方所述立柱7長度較后方所述立柱7長，便于支架4以確定路徑變形，防止探針本體9劃傷PCB板。

作為本設(shè)計的進一步改進，所述支架4之間的夾角為45°，進一步防止探針本體9之間干涉。

以上所述僅為本實用新型的實施例，并非因此限制本實用新型的專利范圍，凡是利用本實用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本實用新型的專利保護范圍內(nèi)。