本實(shí)用新型涉及一種改進(jìn)的檢測治具的針座結(jié)構(gòu)，尤指針座的基座上方迭放有基材，且基座表面的多個第一穿孔錯位于基材表面的多個第二穿孔，以使第一穿孔與第二穿孔間插設(shè)的測試探針形成傾斜部，即可使多個測試探針限位于基座與基材間，從而不會發(fā)生掉落的情形。

背景技術(shù)：

目前電路板上由多個配線來構(gòu)成的配線圖案(pattern)，其必須向電路板所搭載的IC、半導(dǎo)體或電阻器等電子部件傳遞正確的電子信號，以往針對未安裝半導(dǎo)體或電子部件等印刷電路板、柔性(flexiBle)基板、多層配線基板、液晶屏(LCD panel)或等離子顯示屏(plasma display panel)等所使用的形成配線圖案的電路配線基板，或半導(dǎo)體芯片等基板上所形成的配線圖案來作為檢測對象，以檢測配線圖案上所設(shè)置的多個檢測點(diǎn)間的電阻值，用以判斷出其電氣特性是否良好。

如圖9、圖10所示為現(xiàn)有的立體外觀圖及探針的側(cè)視剖面圖，由圖中可清楚看出，目前為了檢測電路板上的配線圖案是否按設(shè)計(jì)完成，便提出了實(shí)際應(yīng)用于各種電路板的檢測治具，該檢測治具包括檢測裝置A、纜線部B及檢測平臺C，其中該檢測裝置A可用于處理電氣信號的導(dǎo)通狀態(tài)，并通過纜線部B電性連接于檢測平臺C，檢測平臺C上方設(shè)置有檢測用針座C1，且針座C1包括上支撐板C11、下支撐板C12、多個支撐桿C13及多個探針C14，其中該上支撐板C11、下支撐板C12為呈上、下間隔設(shè)置，且上支撐板C11、下支撐板C12為分別由多個第一板材C111、多個第二板材C121所組成，再于上支撐板C11貫設(shè)有多個第一穿孔C112，下支撐板C12貫設(shè)有與多個第一穿孔C112形成錯位狀態(tài)的多個第二穿孔C122，且該多個支撐桿C13為設(shè)置于上支撐板C11、下支撐板C12之間，以供支撐、固定上支撐板C11、下支撐板C12，該多個探針C14則分別穿設(shè)于上支撐板C11、下支撐板C12之間，且一端為穿入至多個第一穿孔C112內(nèi)，以供電性接觸于電路板上配線圖案的多個檢測點(diǎn)，另一端則穿入至多個第二穿孔C122內(nèi)并電性連接于纜線部B的多個導(dǎo)線B1，即可通過此檢測裝置A來檢測電路板的配線圖案上的多個檢測點(diǎn)之間是否電路斷開或電路導(dǎo)通。

另外，由于針座C1的上支撐板C11所穿設(shè)的多個第一穿孔C112為依照配線圖案上的多個檢測點(diǎn)做孔位設(shè)計(jì)，且多個第一穿孔C112與多個第二穿孔C122為呈錯位狀態(tài)，即可通過錯位的方式來避免多個探針C14從上支撐板C11與下支撐板C12之間發(fā)生脫離的情況，所以當(dāng)多個探針C14兩端插入至第一穿孔C112及多個第二穿孔C122內(nèi)時，會使多個探針C14呈傾斜狀，且因多個探針C14傾斜角度、插設(shè)方向是依配線圖案上的多個檢測點(diǎn)做設(shè)計(jì)，導(dǎo)致并無統(tǒng)一性，且必須通過人工的方式，才可將多個探針C14一一插設(shè)至上支撐板C11與下支撐板C12之間，其不僅需要大量的人力，亦需要耗費(fèi)大量的時間來進(jìn)行插設(shè)作業(yè)，以致于制造的成本高居不下。

另外，該針座C1的多個探針C14具有可導(dǎo)電的線材C141，且線材C141外表面通常涂布有絕緣層C142，用以防止相鄰多個探針C14間形成電性接觸，進(jìn)而發(fā)生短路的情況，然而，由于多個探針C14需分別于外表面上涂布有絕緣層C142，以致于使加工作業(yè)復(fù)雜，進(jìn)而提高整體加工上的成本，且若絕緣層C142涂布不確實(shí)、均勻，將會產(chǎn)生探針C14未電性導(dǎo)通于檢測點(diǎn)或纜線部B的導(dǎo)線B1的情形，亦或相鄰多個探針C14間發(fā)生短路的現(xiàn)象，導(dǎo)致降低使用上的可靠度。

因此，如何設(shè)法解決上述問題，即為本領(lǐng)域技術(shù)人員亟欲研究改善的方向。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的主要目的在于該基座表面上貫設(shè)有多個第一穿孔及多個第一定位孔，基座上方迭放有基材，且基材表面上貫設(shè)有與多個第一穿孔形成錯位狀態(tài)的多個第二穿孔，以及與多個第一定位孔形成對正狀態(tài)的多個第二定位孔，其欲將多個測試探針設(shè)置于基座及基材之間時，先將多個第一穿孔對正于多個第二穿孔處，再將多個測試探針分別插入至多個第一穿孔與多個第二穿孔間，且待插設(shè)完成后，再使多個第一定位孔與多個第二定位孔形成對正狀態(tài)，并于內(nèi)部插設(shè)固定組件，以使基座與基材呈一穩(wěn)固定位，同時，其測試探針會受到第一穿孔與第二穿孔內(nèi)壁面的擠壓，從而形成出傾斜部，便可通過傾斜部來將測試探針限位于基座與基材間，以防止從基座與基材間發(fā)生脫離、掉落的情形，且由于基材迭放于基座上方，便可省略現(xiàn)有技術(shù)中采用的多個支撐桿，以減少制造、降低成本，達(dá)到提升整體競爭力的目的。

本實(shí)用新型的次要目的在于該針座的基座與基材間欲裝設(shè)多個測試探針時，其多個第一穿孔與多個第二穿孔呈對正狀態(tài)，所以多個測試探針便可通過自動化的機(jī)械設(shè)備來執(zhí)行插設(shè)作業(yè)，其不僅可減少人力成本，亦可使插設(shè)作業(yè)更加地快速、精確，進(jìn)而達(dá)到提高制造效率的同時，亦具有更高的產(chǎn)品合格率的目的。

本實(shí)用新型的另一目的于該針座的基材迭放于基座上方，所以當(dāng)基座與基材之間插設(shè)有多個測試探針時，即可通過基座與基材來防止相鄰多個測試探針間產(chǎn)生電性接觸的情況，以避免發(fā)生短路的情形，且該多個測試探針外表面亦不需涂布有絕緣層，便可減少加工作業(yè)的難度，進(jìn)而達(dá)到降低制造成本的目的。

為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型提供了一種改進(jìn)的檢測治具的針座結(jié)構(gòu)，該針座包括基座、基材及多個測試探針，其中：

該基座表面上貫設(shè)有多個第一穿孔，且基座表面上于多個第一穿孔周圍處貫設(shè)有多個第一定位孔；

該基材迭放于基座上方，并于基材表面上貫設(shè)有組裝后與多個第一穿孔形成錯位狀態(tài)且對應(yīng)于預(yù)設(shè)電路板的多個測試點(diǎn)位置處的多個第二穿孔，再于基材表面上且于多個第二穿孔周圍處貫設(shè)有對正于多個第一定位孔處以供預(yù)設(shè)固定組件穿過并使基座與基材固定的多個第二定位孔；及

該多個測試探針為導(dǎo)電材質(zhì)所制成且設(shè)置于基座及基材之間，并于測試探針一側(cè)設(shè)有插入至第一穿孔內(nèi)的第一端部，另一側(cè)設(shè)有插入至第二穿孔內(nèi)并與預(yù)設(shè)電路板的測試點(diǎn)形成電性接觸的第二端部，且第一端部與第二端部之間形成有傾斜部。

在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，該基座與基材呈長矩形。

在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，該基座的多個第一定位孔內(nèi)側(cè)壁面設(shè)有螺紋。

為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型還提供了另一種改進(jìn)的檢測治具的針座結(jié)構(gòu)，包括檢測治具及針座，其中：

該檢測治具具有用以處理預(yù)設(shè)電路板的多個測試點(diǎn)間電氣信號的導(dǎo)通狀態(tài)的檢測裝置，并于檢測裝置一側(cè)電性連接有具有多個導(dǎo)線的纜線部，且纜線部另一側(cè)連接有檢測平臺，再于檢測平臺上貫設(shè)有供多個導(dǎo)線分別穿入的多個透孔；及

該針座包括基座、基材及多個測試探針，其中該基座定位于檢測平臺上方，并于基座表面上對位于檢測平臺的多個透孔處貫設(shè)有多個第一穿孔，再于基座表面上位于多個第一穿孔周圍處貫設(shè)有多個第一定位孔，且該基座上方迭放有基材，并于基材表面上貫設(shè)有組裝后與多個第一穿孔形成錯位狀態(tài)且對應(yīng)于預(yù)設(shè)電路板的多個測試點(diǎn)位置處的多個第二穿孔，再于基材表面上且位于多個第二穿孔周圍處貫設(shè)有對正于多個第一定位孔處以供預(yù)設(shè)固定組件穿過并使基座與基材固定的多個第二定位孔，該多個測試探針為導(dǎo)電材質(zhì)所制成且設(shè)置于基座及基材之間，并于測試探針一側(cè)設(shè)有插入至第一穿孔內(nèi)且與纜線部的多個導(dǎo)線形成電性接觸的第一端部，另一側(cè)設(shè)有插入至第二穿孔內(nèi)并與預(yù)設(shè)電路板的測試點(diǎn)形成電性接觸的第二端部，再于第一端部與第二端部之間形成有傾斜部。

在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，該針座的基座底面設(shè)有多個限位孔，該檢測治具的檢測平臺表面上對應(yīng)于多個限位孔處設(shè)有供定位于多個限位孔內(nèi)的多個定位凸點(diǎn)。

在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，該針座的基座與基材呈長矩形。

在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，該基座的多個第一定位孔內(nèi)側(cè)壁面設(shè)有螺紋。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型的立體外觀圖；

圖2為本實(shí)用新型的立體分解圖；

圖3為本實(shí)用新型另一視角的立體分解圖；

圖4為本實(shí)用新型組裝時的側(cè)視剖面圖(一)；

圖5為本實(shí)用新型組裝時的側(cè)視剖面圖(二)；

圖6為本實(shí)用新型組裝時的側(cè)視剖面圖(三)；

圖7為本實(shí)用新型中的針座裝設(shè)于檢測治具的檢測平臺前的立體外觀圖；

圖8為本實(shí)用新型中的針座裝設(shè)于檢測治具的檢測平臺后的立體外觀圖；

圖9為現(xiàn)有的探針的立體外觀圖；

圖10為現(xiàn)有的探針的側(cè)視剖面圖。

附圖標(biāo)記說明：1-針座；11-基座；111-第一穿孔；112-第一定位孔；1121-螺紋；113-限位孔；12-基材；121-第二穿孔；122-第二定位孔；13-測試探針；131-第一端部；132-第二端部；133-傾斜部；14-固定組件；141-固定插梢；142-螺絲；2-檢測治具；21-檢測平臺；211-定位凸點(diǎn)；212-透孔；22-纜線部；221-導(dǎo)線；23-檢測裝置；A-檢測裝置；B-纜線部；B1-導(dǎo)線；C-檢測平臺；C1-針座；C11-上支撐板；C111-第一板材；C112-第一穿孔；C12-下支撐板；C121-第二板材；C122-第二穿孔；C13-支撐桿；C14-探針；C141-線材；C142-絕緣層。

具體實(shí)施方式

為達(dá)成上述目的及功效，本實(shí)用新型所采用的技術(shù)手段及其構(gòu)造，茲繪圖就本創(chuàng)作的較佳實(shí)施例詳加說明其特征與功能如下。

如圖1、圖2、圖3所示分別為本實(shí)用新型的立體外觀圖、立體分解圖及另一視角的立體分解圖，由圖中所示可以清楚看出，本實(shí)用新型中的針座1包括基座11、基材12及多個測試探針13，其中：

該基座11表面上貫設(shè)有多個第一穿孔111，且第一穿孔111周圍處貫設(shè)有多個第一定位孔112，再于基座11底面設(shè)有多個限位孔113。

該基材12表面上貫設(shè)有與多個第一穿孔111形成錯位狀態(tài)且對應(yīng)于外部電路板(圖中未示出)的多個測試點(diǎn)位置處的多個第二穿孔121，再于基材12表面上且于多個第二穿孔121周圍處貫設(shè)有對正于多個第一定位孔112處的多個第二定位孔122。

該測試探針13為導(dǎo)電材質(zhì)所制成，并于兩側(cè)分別設(shè)有第一端部131及第二端部132。

上述基座11與基材12于較佳實(shí)施例中為各由一片板材所組成，但于實(shí)際應(yīng)用時，亦可分別由兩片、三片或三片以上的多個板材所組成，故舉凡可達(dá)成前述效果的結(jié)構(gòu)皆應(yīng)受本實(shí)用新型所涵蓋，此種簡易修飾及等效結(jié)構(gòu)變化，均應(yīng)同理包括于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)，合予陳明。

另外，上述針座1的基座11與基材12較佳實(shí)施為呈矩形，但于實(shí)際應(yīng)用時，亦可為三角形、圓形或各種型式的多邊形板材，此部分有關(guān)基座11與基材12的形狀很多，并可依實(shí)際的應(yīng)用或需求來變更其外觀，且該形狀的構(gòu)成并非本案的創(chuàng)作要點(diǎn)，在此僅作一簡單敘述，以供了解。

如圖4、圖5、圖6所示分別為本實(shí)用新型組裝時的側(cè)視剖面圖(一)、(二)及(三)，由圖中可清楚看出，本實(shí)用新型于組裝時，先將基材12迭放于基座11上方，并將基材12的多個第二穿孔121分別對正于基座11的多個第一穿孔111，此時，該基座11的多個第一定位孔112與基材12的多個第二定位孔122呈錯位狀態(tài)，即可將多個測試探針13設(shè)置于基座11與基材12之間(如圖4)，以使測試探針13的第一端部131及第二端部132分別插入至多個第一穿孔111與多個第二穿孔121內(nèi)，之后便可將基座11與基材12分別相對向內(nèi)推移，以使多個第一穿孔111錯位于多個第二穿孔121，且內(nèi)部穿設(shè)的多個測試探針13便受到多個第一穿孔111及多個第二穿孔121內(nèi)壁面推擠，則會使第一端部131及第二端部132之間產(chǎn)生彎曲變形，從而形成出傾斜部133(如圖5)，同時，其多個第一定位孔112與多個第二定位孔122形成對正狀態(tài)，便可再于呈對正狀態(tài)的第一定位孔112與第二定位孔122內(nèi)側(cè)裝設(shè)有固定組件14，以使基座11與基材12呈一穩(wěn)固結(jié)合狀態(tài)(如圖6)，即可完成本實(shí)用新型的組裝。

上述基座11的第一定位孔112與基材12的第二定位孔122為可供固定組件14插入，該固定組件14較佳實(shí)施為固定插梢141，以供定位于第一定位孔112與第二定位孔122內(nèi)并使基座11及基材12結(jié)合固定，但于實(shí)際應(yīng)用時，其第一定位孔112內(nèi)側(cè)壁面可增設(shè)有螺紋1121，該固定組件14可為螺絲142，即可將固定組件14穿過第二定位孔122以鎖固于具螺紋1121的第一定位孔112內(nèi)呈一定位，此部分有關(guān)基座11與基材12的組裝、結(jié)合方式很多，且可依實(shí)際的應(yīng)用或需求來變更實(shí)施，且該細(xì)部的構(gòu)成并非本案的創(chuàng)作要點(diǎn)，在此僅作一簡單敘述，以供了解。

如圖7、圖8所示為本實(shí)用新型中的針座裝設(shè)于檢測治具的檢測平臺前的立體外觀圖及針座裝設(shè)于檢測治具的檢測平臺后的立體外觀圖，由圖中可清楚看出，針座1于實(shí)際使用時，先裝設(shè)于檢測治具2的檢測平臺21上，其檢測平臺21表面的多個定位凸點(diǎn)211分別扣入于針座1的基座11底面的多個限位孔113內(nèi)，且檢測平臺21上對應(yīng)于基座11的多個第一穿孔111處貫設(shè)有多個透孔212，再于多個透孔212內(nèi)分別插設(shè)有與多個測試探針13的第一端部131形成電性接觸纜線部22的多個導(dǎo)線221，多個導(dǎo)線221另一端為電性連接于可用以處理電氣信號的導(dǎo)通狀態(tài)的檢測裝置23，當(dāng)針座1完成定位于檢測治具2的檢測平臺21上后，即可于基材12上方放置待檢測的外部電路板，其多個測試探針13的第二端部132便會電性接觸于外部電路板上的配線圖形的多個測定點(diǎn)，當(dāng)欲檢測時，該檢測治具2的檢測裝置23便會將檢測用的信號傳輸至纜線部22的多個導(dǎo)線221，再經(jīng)由多個測試探針13發(fā)送至外部電路板上的多個測定點(diǎn)，并從多個測定點(diǎn)處接收檢測用信號，便可依據(jù)接收的信號，來計(jì)算出多個測定點(diǎn)間的電阻值，藉此用來判斷多個測定點(diǎn)間是否導(dǎo)通。

上述檢測治具2的檢測裝置23可用于處理外部電路板上的多個測定點(diǎn)間的電氣信號的導(dǎo)通狀態(tài)，此部分有關(guān)如何處理電氣信號的導(dǎo)通狀態(tài)為現(xiàn)有技術(shù)，且該細(xì)部的構(gòu)成并非本案的創(chuàng)設(shè)重點(diǎn)，故不再作一贅述，以供了解。

針座1的基座11上方迭放有基材12，并于基座11的多個第一穿孔111與基材12的多個第二穿孔121間插設(shè)有多個測試探針13，當(dāng)基座11與基材12形成錯位狀態(tài)后，其多個測試探針13便會形成出傾斜部133，從而穩(wěn)固限位于基座11與基材12之間，以供使用時不會脫離、掉落出基座11與基材12外部，進(jìn)而達(dá)到良好的定位效果，該針座1相較于現(xiàn)有技術(shù)可省略多個支撐桿，且基座11及基材12的板材層數(shù)于較佳實(shí)施例中亦可各由一片板材所制成，即可減少基座11及基材12整體的厚度，進(jìn)而達(dá)到降低材料、制造成本的目的，以提升整體競爭力。

另外，針座1的基座11與基材12間欲裝設(shè)多個測試探針13時，先將基材12的多個第二穿孔121分別對正于基座11的多個第一穿孔111，再將多個測試探針13插入，由于多個測試探針13插入時，其多個第一穿孔111與多個第二穿孔121呈對正狀態(tài)，所以于實(shí)際應(yīng)用時，便可通過自動化的機(jī)械設(shè)備來執(zhí)行插入多個測試探針13的作業(yè)，即可減少人力上的成本，且利用自動化的機(jī)械設(shè)備亦可使插設(shè)作業(yè)更加地快速、精確，以達(dá)到加快制造效率的同時，亦具有更高產(chǎn)品合格率的目的。

然而，由于針座1的基材12迭放于基座11上方，所以基座11與基材12之間便不會產(chǎn)生空隙，當(dāng)多個測試探針13裝設(shè)于基座11與基材12之間時，便可通過基座11與基材12來防止相鄰的多個測試探針13間產(chǎn)生電性接觸的情況，以避免發(fā)生短路，且該多個測試探針13外表面相較于現(xiàn)有技術(shù)亦不需涂怖有絕緣層，即可降低加工作業(yè)的難度，進(jìn)而達(dá)到降低制造、材料成本的效果。

綜上，本實(shí)用新型主要針對利用針座1的基座11上方迭放有基材12，且基座11表面的多個第一穿孔111為與基材12表面的多個第二穿孔121形成錯位狀態(tài)，以使第一穿孔111與第二穿孔121間插設(shè)的測試探針13形成傾斜部133，即可使多個測試探針13限位于基座11與基材12間，從而不會發(fā)生脫離、掉落的情形，且亦可簡化加工、組裝作業(yè)，進(jìn)而達(dá)到降低整體制造、材料成本，故舉凡可達(dá)成前述效果的結(jié)構(gòu)、裝置皆應(yīng)受本實(shí)用新型所涵蓋，此種簡易修飾及等效結(jié)構(gòu)變化，均應(yīng)同理包含于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)，合予陳明。