本實用新型涉及一種電檢治具，尤其涉及一種平面度電檢治具。

背景技術(shù)：

對于手機殼等具有平板狀結(jié)構(gòu)的工件而言，工件的平面度是工件的重要品質(zhì)標準，對最終的產(chǎn)品質(zhì)量有至關(guān)重要的影響。而在生產(chǎn)過程中，對大批量的平板狀工件進行平面度檢測，測量工作較大，且測量的效率不高，不能滿足生產(chǎn)需求。

因此，需要一種能夠準確檢測平板狀工件的平面度的檢測治具，以提高檢測效率，滿足大批量生產(chǎn)的需求。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本實用新型的目的是提供一種可以檢測平板狀結(jié)構(gòu)工件的平面度的治具，以提高檢測效率，滿足大批量生產(chǎn)的需求。

為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型公開了一種平面度電檢治具，用于檢測工件的平面度，所述平面度電檢治具包括下基板和可相對所述下基板上下移動的上基板，所述上基板和所述下基板之間形成用于置放工件的置放卡位；所述上基板和所述下基板朝向所述置放卡位的一側(cè)分別設(shè)置有若干電檢探針，設(shè)置于所述上基板的電檢探針和設(shè)置于所述下基板的電檢探針分別與指示燈串聯(lián)構(gòu)成電流回路。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型提供的平面度電檢治具，通過可相對上下移動的上基板和下基板的對合，實現(xiàn)對放置于置放卡位的工件進行限位；設(shè)置于上基板和下基板的電檢探針分別與指示燈串聯(lián)構(gòu)成電流回路，因而當設(shè)置于上 基板的電檢探針檢測到NG或設(shè)置于下基板的電建探針檢測到NG時，分別通過使得與之串聯(lián)的指示燈的點亮或熄滅，以對檢測結(jié)果進行直觀的指示，且由于上基板和下基板的分別檢測和輸出結(jié)果，因而能夠?qū)ぜ牟涣純A向性加以判斷，以便改進生產(chǎn)加工工藝。

較佳的，若干所述電檢探針分別為導(dǎo)電材質(zhì)；此時，依靠接電的電檢探針與具有導(dǎo)電性能的工件的接觸與否，控制指示燈的點亮或熄滅，以快速判斷結(jié)果。

在一實施例中，所述上基板和所述下基板為非導(dǎo)電材質(zhì)，非導(dǎo)電材質(zhì)的上基板和下基板僅為定位電檢探針和工件的定位裝置，且非導(dǎo)電材質(zhì)的上基板和下基板對電檢探針和具有導(dǎo)電性能的工件的工作不會有任何影響。

在另一實施例中，所述上基板和所述下基板為導(dǎo)電材質(zhì)，且若干所述電檢探針與所述上基板、所述下基板之間分別呈絕緣地設(shè)置；其原理與上述相同，均為使得上基板和下基板在定位電檢探針和工件的同時，不會對電檢探針和具有導(dǎo)電性能的工件有任何影響。

較佳的，若干所述電檢探針朝向所述置放卡位的一端露出所述上基板或所述下基板朝向所述置放卡位的側(cè)面，且設(shè)置于所述上基板或所述下基板的若干所述電檢探針朝向所述置放卡位的一端分別位于同一平面內(nèi)；設(shè)置于上基板或下基板的若干電檢探針朝向置放卡位的一端所在平面為檢測校正平面，根據(jù)系統(tǒng)設(shè)置，該校正平面可以為與工件理論表面呈微微地間隙設(shè)置，并當工件表面向校正平面凸伸至與任一電檢探針電導(dǎo)通，通過點亮或系列與電檢探針串聯(lián)的指示燈，輸出判斷結(jié)果。

具體地，所述電檢探針可上下移動地設(shè)置于所述上基板或所述下基板，且所述平面度電檢治具還包括使得所述電檢探針恒處于一平面內(nèi)的彈性件。

具體地，所述上基板和所述下基板于所述置放卡位的外緣處分別設(shè)置有用于定位所述工件的定位凸緣；設(shè)置于所述上基板的若干所述電檢探針朝向所述置放卡位的一端正對工件的上表面，設(shè)置于所述下基板的若干所述電檢探針朝向所述置放卡位的一端正對工件的下表面。

附圖說明

圖1為本實用新型平面度電檢治具的分解示意圖。

圖2為本實用新型平面度電檢治具第一使用狀態(tài)下的狀態(tài)示意圖。

圖3為本實用新型平面度電檢治具第二使用狀態(tài)下的狀態(tài)示意圖。

圖4為圖3中A部的放大圖。

具體實施方式

為詳細說明本實用新型的技術(shù)內(nèi)容、構(gòu)造特征、所實現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實施方式并配合附圖詳予說明。

如圖1所示，本實用新型提供的一種平面度電檢治具，用于檢測工件800的平面度，平面度電檢治具包括下基板200和可相對下基板200上下移動的上基板100，上基板100和下基板200之間形成用于置放工件800的置放卡位300；上基板100和下基板200朝向置放卡位300的一側(cè)分別設(shè)置有若干電檢探針400，設(shè)置于上基板100的電檢探針400和設(shè)置于下基板200的電檢探針400分別與指示燈500串聯(lián)構(gòu)成電流回路。結(jié)合圖2-圖4所示，更具體地：

如圖1所示，本實用新型提供的平面度電檢治具，包括上基板100和下基板200，且上基板100和下基板200可相對上下移動，并當上基板100和下基板200相背移動時以便取放工件800，當上基板100和下基板200相向移動時以便定位工件800?？梢岳斫獾?，上基板100和下基板200之間可以設(shè)置有若干個導(dǎo)向桿600，可以將導(dǎo)向桿600一端固定連接于上基板100和下基板200的其中一者，導(dǎo)向桿600的另一端插接于上基板100和下基板200的另一者，以對兩者的相對移動進行導(dǎo)向；當然，亦可以將導(dǎo)向桿600對應(yīng)穿接于上基板100和下基板200，同樣可以實現(xiàn)對上基板100和下基板200的相對移動進行導(dǎo)向。

結(jié)合圖1-圖3所示，上基板100和下基板200之間形成用于置放工件800的置放卡位300。具體地，上基板100和下基板200對應(yīng)工件800的形狀分別開設(shè)有定位凹槽310，并當上基板100和下基板200相向移動至檢測位時，相對的 定位凹槽310形成供工件800置放的置放卡位300。進一步的，如圖4所示，上基板100和下基板200于置放卡位300的外緣處分別設(shè)置有用于定位工件800的定位凸緣320，該定位凸緣320的設(shè)置，用于夾持定位工件800，以使得被定位的工件800的上側(cè)面和下側(cè)面與定位凹槽310的底面呈間隙地設(shè)置。

再請結(jié)合圖1-圖3所示，上基板100和下基板200朝向置放卡位300的一側(cè)分別設(shè)置有若干電檢探針400，設(shè)置于上基板100的電檢探針400和設(shè)置于下基板200的電檢探針400分別與指示燈500串聯(lián)構(gòu)成電流回路。具體地，若干電檢探針400朝向置放卡位300的一端露出上基板100或下基板200朝向置放卡位300的側(cè)面，且設(shè)置于上基板100或下基板200的若干電檢探針400朝向置放卡位300的一端分別位于同一平面內(nèi)；設(shè)置于上基板100或下基板200的若干電檢探針400朝向置放卡位300的一端所在平面為檢測校正平面，根據(jù)系統(tǒng)設(shè)置，該校正平面可以為與工件800理論表面呈微微地間隙設(shè)置，并當工件800表面向校正平面凸伸至與任一電檢探針400電導(dǎo)通，通過點亮或系列與電檢探針400串聯(lián)的指示燈500，輸出判斷結(jié)果。

進一步的，為避免工件800局部變形、朝一側(cè)電檢探針400方向過分地凸出而導(dǎo)致電檢探針400的端部受損影響電檢效果，可采用的方式為：如圖2和圖3所示，電檢探針400可上下移動地設(shè)置于上基板100或下基板200，且平面度電檢治具還包括使得電檢探針400恒處于一平面內(nèi)的彈性件(圖中未示)。當然，可以理解的，電檢探針400亦可以采用彈性電檢探針400，同樣能夠避免電檢探針400端部受損的情況發(fā)生。

當然，應(yīng)當理解的，若干電檢探針400分別為導(dǎo)電材質(zhì)，依靠接電的電檢探針400與具有導(dǎo)電性能的工件800的接觸與否，控制指示燈500的點亮或熄滅，以快速判斷結(jié)果。

較佳的，若干電檢探針400分別為導(dǎo)電材質(zhì)；此時，依靠接電的電檢探針400與具有導(dǎo)電性能的工件800的接觸與否，控制指示燈500的點亮或熄滅，以快速判斷結(jié)果。在一實施例中，上基板100和下基板200為非導(dǎo)電材質(zhì)，非導(dǎo)電材質(zhì)的上基板100和下基板200僅為定位電檢探針400和工件800的定位裝 置，且非導(dǎo)電材質(zhì)的上基板100和下基板200對電檢探針400和具有導(dǎo)電性能的工件800的工作不會有任何影響。在另一實施例中，上基板100和下基板200為導(dǎo)電材質(zhì)，且若干電檢探針400與上基板100、下基板200之間分別呈絕緣地設(shè)置；其原理與上述相同，均為使得上基板100和下基板200在定位電檢探針400和工件800的同時，不會對電檢探針400和具有導(dǎo)電性能的工件800有任何影響。

結(jié)合圖1-圖4所示，對本實用新型提供的平面度電檢治具的工作過程做一詳細說明：

上基板100和下基板200相背移動、將定位凹槽310暴露；將工件800放入定位凹槽310內(nèi)，且工件800的邊緣側(cè)被定位凸緣320所定位；上基板100和下基板200相向移動至檢測位，此時位于置放卡位300內(nèi)的工件800的邊緣側(cè)分別為兩側(cè)上側(cè)的定位凸緣320所定位，并使得被定位的工件800的上側(cè)面和下側(cè)面與定位凹槽310的底面呈間隙地設(shè)置；

分別伸入置放卡位300內(nèi)的電檢探針400分別與工件800的上下兩側(cè)面呈微量的間隙設(shè)置，并當工件800平面度不夠、工件800向上凸伸時，位于上基板100的電檢探針400被導(dǎo)通或被阻斷，使得與該上基板100的電檢探針400串聯(lián)的指示燈500對應(yīng)的點亮或熄滅以指示工件800上側(cè)凸伸的異常檢測結(jié)果；當工件800平面度不夠、工件800向下凸伸時，位于下基板200的電檢探針400被導(dǎo)通或被阻斷，使得與該下基板200的電檢探針400串聯(lián)的指示燈500對應(yīng)的點亮或熄滅以指示下側(cè)凸伸的異常檢測結(jié)果。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型提供的平面度電檢治具，通過可相對上下移動的上基板100和下基板200的對合，實現(xiàn)對放置于置放卡位300的工件800進行限位；設(shè)置于上基板100和下基板200的電檢探針400分別與指示燈500串聯(lián)構(gòu)成電流回路，因而當設(shè)置于上基板100的電檢探針400檢測到NG或設(shè)置于下基板200的電建探針檢測到NG時，分別通過使得與之串聯(lián)的指示燈500的點亮或熄滅，以對檢測結(jié)果進行直觀的指示，且由于上基板100和下基板200的分別檢測和輸出結(jié)果，因而能夠?qū)ぜ?00的不良傾向性加以判斷，以便改 進生產(chǎn)加工工藝。

以上所揭露的僅為本實用新型的優(yōu)選實施例而已，當然不能以此來限定本實用新型之權(quán)利范圍，因此依本實用新型申請專利范圍所作的等同變化，仍屬本實用新型所涵蓋的范圍。