技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種激光測距方法，針對待測物體的擺放位置發(fā)生偏移的問題，首先進(jìn)行調(diào)整校正操作，即通過獲取位于標(biāo)準(zhǔn)位置的參考待測物體上測量點的位置信息，并將對應(yīng)的拍攝圖像作為模板圖像進(jìn)行保存，在正式測量時，通過圖像處理單元獲得待測物體與參考待測物體之間的偏移信息，并根據(jù)該偏移信息和參考待測物體上測量點的位置信息計算出待測物體上實際測量點的位置信息，使激光器根據(jù)實際測量點的位置信息進(jìn)行打點測距，避免受待測物體擺放位置的影響，提高了測量精度。

技術(shù)研發(fā)人員：靳登科;鹿呈志;姚光
受保護(hù)的技術(shù)使用者：蘇州逸美德科技有限公司
文檔號碼：201611243144
技術(shù)研發(fā)日：2016.12.29
技術(shù)公布日：2017.05.24