1.一種半導體激光器幅值測試裝置，其特征在于：包括箱體(1)與電機(2)，所述電機(2)固設于箱體(1)上，在所述箱體(1)內(nèi)固設有左支撐板(3)與右支撐板(4)，在所述左支撐板(3)與右支撐板(4)之間設置有測試板(5)，該測試板(5)上固定有多個產(chǎn)品固定座(6)，在所述測試板(5)后側(cè)的箱體(1)上安裝有波形輸出板裝配體(7)，所述測試板(5)的上方設置有激光頭架(8)，該激光頭架(8)與伸入箱體(1)內(nèi)的所述電機(2)的轉(zhuǎn)軸(9)固定連接，在所述激光頭架(8)上開設有與所述產(chǎn)品固定座(6)一一對應的對光孔(10)，且該對光孔(10)與所述產(chǎn)品固定座(6)同心設置。
2.根據(jù)權利要求1所述的半導體激光器幅值測試裝置，其特征在于：在所述箱體(1)內(nèi)還設置有四個光軸固定座(11)，在每個光軸固定座(11)內(nèi)固定有光軸(12)，四根所述光軸(12)分別穿設在所述激光頭架(8)的四個邊角，且該光軸(12)的兩端分別與所述箱體(1)固定連接。
3.根據(jù)權利要求2所述的半導體激光器幅值測試裝置，其特征在于：在所述光軸(12)上還滑動套設有法蘭(13)，該法蘭(13)與激光頭架(8)之間固定連接。
4.根據(jù)權利要求1或2或3所述的半導體激光器幅值測試裝置，其特征在于：在所述激光頭架(8)上還設置有與所述產(chǎn)品固定座(6)一一對應的觀察孔(14)。
5.根據(jù)權利要求4所述的半導體激光器幅值測試裝置，其特征在于：所述多個產(chǎn)品固定座(6)在所述測試板(5)上呈陣列式分布，相適應的，所述對光孔(10)與觀察孔(14)在所述激光頭架(8)上呈陣列式分布。
6.根據(jù)權利要求1所述的半導體激光器幅值測試裝置，其特征在于：在所述左支撐板(3)與右支撐板(4)上開設有相對設置的滑槽，所述測試板(5)插接在兩個滑槽之間。
7.根據(jù)權利要求6所述的半導體激光器幅值測試裝置，其特征在于：在所述測試板(5)前側(cè)的中部還包覆有絕緣層(15)。
8.根據(jù)權利要求1所述的半導體激光器幅值測試裝置，其特征在于：所述箱體(1)包括底板以及分設于該底板左右兩側(cè)的左、右側(cè)板，在所述底板的后側(cè)固定有后側(cè)板，在所述左、右側(cè)板與后側(cè)板上蓋設有頂板。
9.根據(jù)權利要求1所述的半導體激光器幅值測試裝置，其特征在于：在所述箱體(1)的左右兩側(cè)還分別設置有一個可折疊的拉手(16)。