本發(fā)明屬于電元件檢測技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說，是涉及一種大電流導電裝置。

背景技術(shù)：

隨著社會的發(fā)展，電子產(chǎn)品被越來越多的使用，其中的電元件(例如電池)需要檢測合格后才能夠出廠組裝。目前，對電元件進行檢測的主要內(nèi)容包括測試、分容、化成等，進行這些檢測時，都需要使用導電裝置與電元件進行電連接，進行電流、電壓等電信號的傳輸。對于較大型的電元件，目前所使用的導電裝置結(jié)構(gòu)復雜，裝配過程復雜，并且由于連接結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定還會導致導電性能不穩(wěn)定，影響檢測的效率及檢測結(jié)果的準確性。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種大電流導電裝置，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的較大型的電元件在測試時，其對應的導電裝置結(jié)構(gòu)復雜，裝配困難及連接結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定的問題。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是：提供一種大電流導電裝置，包括：探針插座、探針及用于與電元件的電極連接的電元件插頭,所述探針插座能與所述電元件插頭插接，所述探針插座套裝于所述探針的外部并與所述探針沿所述探針的中軸方向滑動連接，所述探針能與所述電極電連接，所述探針插座與所述電元件插頭之間還設有彈性導電連接結(jié)構(gòu)。

具體地，所述電元件插頭為內(nèi)螺紋套筒，所述內(nèi)螺紋套筒的前端設有探測開口，所述探測開口與所述內(nèi)螺紋套筒同軸設置且所述探測開口的內(nèi)徑小于所述內(nèi)螺紋套筒的內(nèi)徑，所述內(nèi)螺紋套筒的后端設有第一限位凸臺。

進一步地，所述探測開口的外側(cè)設有導向錐面。

具體地，所述電元件插頭為插接柱，所述插接柱的后端設有與所述電極匹配的外螺紋，所述插接柱的中部設有第二限位凸臺。

具體地，所述探針插座包括插座本體及能使所述探針沿自身中軸方向在預設行程范圍內(nèi)運動的限位導向機構(gòu)，所述插座本體后部設有插接孔，所述插接孔能與所述電元件插頭插接，所述探針貫穿所述插座本體的前部且所述探針的探測端伸入所述插接孔內(nèi)，所述探針與所述插座本體之間設有所述限位導向機構(gòu)。

進一步地，所述插座本體前部設有與所述插接孔連通且同軸設置的導向通孔，所述探針貫穿所述導向通孔，所述限位導向機構(gòu)包括第一限位環(huán)、第二限位環(huán)、壓簧及固定夾，所述第一限位環(huán)套裝于所述探針的外部并與所述導向通孔的前端連接，所述第二限位環(huán)套裝于所述探針的外部并與所述導向通孔的后端連接，所述壓簧套裝于所述探針的外部，所述壓簧的前端與所述第二限位環(huán)抵接，所述壓簧的后端與所述探針的探測端抵接，所述探針的接線端伸出所述插座本體外，所述固定夾位于所述第一限位環(huán)前部且與所述探針的接線端連接，所述固定夾的后端面能與所述第一限位環(huán)的前端面抵接。

進一步地，所述第二限位環(huán)內(nèi)設有向所述第二限位環(huán)后端開口的容置腔，所述容置腔的深度小于所述壓簧的長度，所述壓簧的前端與所述容置腔的前端面抵接。

進一步地，所述插座本體的前部設有外螺紋導線連接柱。

進一步地，所述彈性導電連接結(jié)構(gòu)為卡圈式彈性導電環(huán)。

具體地，所述彈性導電連接結(jié)構(gòu)包括至少一圈與所述插接孔同軸設置的卡槽及與所述卡槽卡接的金屬彈性卡圈。

本發(fā)明提供的大電流導電裝置的有益效果在于：與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明大電流導電裝置通過設置探針插座與電元件插頭的插接結(jié)構(gòu)，使得探針與電元件之間的連接結(jié)構(gòu)穩(wěn)定，且插拔方便，彈性導電連接結(jié)構(gòu)不僅能對探針插座及電元件插頭之間的連接起到緊固作用，還能進行良好的導電，起到對大電流進行導電的作用，與探針結(jié)合能夠起到同時測量大電流信號及小電流信號的目的，能夠有效簡化導電裝置的結(jié)構(gòu)、提高裝配效率及提高測試的準確度，并且導電性能良好，能夠獲得準確的電信號，有利于保證測試的準確度。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實施例提供的大電流導電裝置的主視結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明實施例提供的大電流導電裝置的立體結(jié)構(gòu)示意圖一；

圖3為本發(fā)明實施例提供的大電流導電裝置的立體結(jié)構(gòu)示意圖二；

圖4為圖1所示的大電流導電裝置的A-A剖視圖；

圖5為圖1中電元件插頭的實施例一的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖6為圖5的B-B剖視圖；

圖7為圖1中電元件插頭的實施例二的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖8為圖5的C-C剖視圖；

圖9為圖1中探針插座及探針的裝配結(jié)構(gòu)示意圖；

圖10為圖9的D-D剖視圖。

圖中：1、探針插座；2、探針；3、內(nèi)螺紋套筒；4、探測開口；5、第一限位凸臺；6、導向錐面；7、插接柱；8、外螺紋；9、第二限位凸臺；10、插座本體；11、限位導向機構(gòu)；12、插接孔；13、導向通孔；14、第一限位環(huán)；15、第二限位環(huán)；16、壓簧；17、固定夾；18、容置腔；19、外螺紋導線連接柱；20、卡槽；21、彈簧圈；22、定位圈。

具體實施方式

為了使本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

請一并參閱圖1至圖4，現(xiàn)對本發(fā)明提供的大電流導電裝置進行說明。所述大電流導電裝置，包括探針插座1、探針2及用于與電元件的電極連接的電元件插頭，探針插座1能與電元件插頭插接，探針插座1套裝于探針2的外部并與探針2沿探針2的中軸方向滑動連接，探針2能與電極電連接，探針插座1與電元件插頭之間還設有彈性導電連接結(jié)構(gòu)。使用時，先將電元件插頭與電元件的電極連接，同時將探針插座1與探針2同時與測試平臺的導線連接，隨后將探針插座1對準電元件插頭推入插接，實現(xiàn)測試的連接，測試完成后，只需將探針插座1拔出即可。同時，探針2可與探針插座1滑動連接，在裝配過程中，探針2能沿自身中軸方向進行移動，以適應測試位置的深度，防止裝配時與探針2的探測端接觸的位置與探針2硬性接觸損壞探針2。彈性導電連接結(jié)構(gòu)能夠?qū)μ结槻遄?及電元件插頭之間進行過盈配合，并且能夠起到直接對電元件插頭及探針插座1之間進行電連接的作用。應當注意的是，探針2主要用于進行小電流信號傳導，電元件插頭及探針插座1之間的電連接主要用于進行大電流信號傳導。

本發(fā)明提供的大電流導電裝置，與現(xiàn)有技術(shù)相比，通過設置探針插座與電元件插頭的插接結(jié)構(gòu)，使得探針與電元件之間的連接結(jié)構(gòu)穩(wěn)定，且插拔方便，彈性導電連接結(jié)構(gòu)不僅能對探針插座1及電元件插頭之間的連接起到緊固作用，還能進行良好的導電，起到對大電流進行傳導的作用，與探針結(jié)合能夠起到同時測量大電流信號及小電流信號的目的，能夠有效簡化導電裝置的結(jié)構(gòu)、提高裝配效率及提高測試的準確度，并且導電裝置的導電性能良好，能夠獲得準確的電信號，有利于保證測試的準確度。

進一步地，請一并參閱圖1至圖6，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，為了方便連接，電元件插頭為內(nèi)螺紋套筒3，內(nèi)螺紋套筒3的前端設有探測開口4，探測開口4與內(nèi)螺紋套筒3同軸設置且探測開口4的內(nèi)徑小于內(nèi)螺紋套筒3的內(nèi)徑，內(nèi)螺紋套筒3的后端設有第一限位凸臺5。電元件的電極上具有外螺紋，內(nèi)螺紋套筒3的內(nèi)螺紋與電極上的外螺紋相匹配，裝配時只需將內(nèi)螺紋套筒3擰到電極上，探測開口4將電極的端部暴露出來，方便探針2與電極的接觸，并能圍護住探針2探測端的四周，其與電極的連接結(jié)構(gòu)簡單，轉(zhuǎn)配效率高，同時能為探針2在測試時提供一定的保護環(huán)境，進一步提高測試的準確度。第一限位凸臺5在插接后能對探針插座1起到限位作用，防止其過渡插入影響測試的準確性甚至損壞探針2。

優(yōu)選的，請一并參閱圖6，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，內(nèi)螺紋套筒3內(nèi)的內(nèi)螺紋的長度與極限擰緊位置相一致，能夠有效防止內(nèi)螺紋套筒3過渡擰緊影響探針2與電極的接觸，進一步提高測試的準確性。

進一步地，請參閱圖6，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，為了方便探針2伸入探測開口中，降低探針開口4的周邊對探針的損壞概率，探測開口4的外側(cè)設有導向錐面6。

優(yōu)選的，導向錐面6與探針開口4的中軸之間的夾角為50°-30°。

進一步地，請參閱圖4至圖6，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，為了方便探針插座1與內(nèi)螺紋套筒3的插接，進一步提高裝配效率，內(nèi)螺紋套筒3的前端倒圓角。

進一步地，參閱圖7及圖8，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，為了簡化裝配結(jié)構(gòu)，提高裝配效率，電元件插頭為插接柱7，插接柱7的后端設有與電極匹配的外螺紋8，插接柱7的中部設有第二限位凸臺9。電元件的電極上具有內(nèi)螺紋孔，其與插接柱7后端的外螺紋8相匹配，裝配時只需將插接柱7擰到電極上，本實施例中，當擰到與第二限位凸臺9的后端面接觸的位置即可，探針插座1插入后，探針2的探測端直接與插接柱7的前端面接觸，插接柱7本身選用導電材質(zhì)，能夠?qū)㈦娦盘枩蚀_的傳遞給探針2。第二限位凸臺9在插接后能對探針插座1起到限位作用，防止其過渡插入影響測試的準確性甚至損壞探針2，同時能夠?qū)﹄姌O與插接柱7之間的相對位置起到限位作用，提高裝配結(jié)構(gòu)的準確性，進而提高探針2探測電信號的準確性。

進一步地，參閱圖8，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，為了提高電信號在插接柱7上傳遞的均勻性及穩(wěn)定性，插接柱7整體為實心結(jié)構(gòu)，類似于電極極柱的延伸。

進一步地，請參閱圖7至圖8，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，為了方便探針插座1與插接柱7的插接，進一步提高裝配效率，插接柱7的前端倒圓角。

進一步地，請參閱圖1至圖4及圖9至圖10，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，探針插座1包括插座本體10及能使探針2沿自身中軸在預設行程的限位導向機構(gòu)11，插座本體10后部設有插接孔12，插接孔12能與電元件插頭插接，探針2貫穿插座本體10的前部且探針2的探測端伸入插接孔12內(nèi)，探針2與插座本體10之間設有限位導向機構(gòu)11。上述內(nèi)螺紋套筒3或插接柱7可直接插入插接孔12內(nèi)，其與插接孔12之間能夠達到過盈配合的效果，能實現(xiàn)探針插座1與電元件插頭的快速插拔，并且插接結(jié)構(gòu)穩(wěn)定。通過限位導向機構(gòu)11的限制，探針2只能在預設范圍內(nèi)移動，在插接過程中，能夠有效防止探針2過度移動損壞其他零部件，或者脫出插座本體10，提高使用穩(wěn)定性。

進一步地，請參閱圖4及圖10，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，插座本體10前部設有與插接孔12連通且同軸設置的導向通孔13，探針2貫穿導向通孔13，限位導向機構(gòu)11包括第一限位環(huán)14、第二限位環(huán)15、壓簧16及固定夾17，第一限位環(huán)14套裝于探針2的外部并與導向通孔13的前端連接，第二限位環(huán)15套裝于探針2的外部并與導向通孔13的后端連接，壓簧16套裝于探針2的外部，壓簧16的前端與第二限位環(huán)抵接，壓簧16的后端與探針2的探測端抵接，探針2的接線端伸出插座本體10外，固定夾17位于第一限位環(huán)14前部且與探針2的接線端連接，固定夾17的后端面能與第一限位環(huán)15的前端面抵接。第一限位環(huán)14用于對探針2的接線端進行導向，并能對探針2的徑向運動進行有效的限制，第二限位環(huán)15用于對探針2的探測端進行導向，并能對探針2的徑向運動進行有效的限制，通過第一限位環(huán)14與第二限位環(huán)15的配合，使得探針2只能沿自身中軸的方向滑動，使得探針2與電極的接觸位置穩(wěn)定，保證測試結(jié)果的準確定。另一方面，通過固定夾17的限定，探針2能夠伸入插接孔12內(nèi)的最大長度被限定，同時壓簧16始終對探針2施加朝向插接孔12的作用力，在自由狀態(tài)下，壓簧16能夠保持探針2伸入插接孔12內(nèi)的距離最大，即壓簧16使得探針2具有自復位的功能。在插接后，探針2與電極或插接柱7抵接后可能會向插座本體10的前端方向移動，在壓簧16的作用下保持探針2與接觸區(qū)域的充分且緊密的接觸，進而保證測試結(jié)果的準確性，拔出后，探針能自動復位到初始位置。

進一步地，參閱圖4及圖10，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，第二限位環(huán)15內(nèi)設有向第二限位環(huán)15后端開口的容置腔18，容置腔18的深度小于壓簧16的長度，壓簧16的前端與容置腔18的前端面抵接。壓簧16伸縮的運動可能會使壓簧16本身的位置偏離初始位置，不利于探針2均勻的受到彈性作用力，將壓簧16的前端部分放置于能夠?qū)夯?6的徑向運動起到限位作用的容置腔18內(nèi)，能夠很好的解決這一問題，并且不妨礙探針2的正常運動范圍。

進一步地，參閱圖4及圖10，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，探針2的探測端面具有至少兩個探測凸起，增加接觸面積，使得探針2能夠充分接觸到電極，有利于提高探測結(jié)果的準確性。

進一步地，圖中未示出，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，電元件插頭及插座本體10均選用導電性能良好的材質(zhì)，插座本體10能與電元件插頭通過彈性導電連接結(jié)構(gòu)進行電連接并進行大電流的傳導，將大電流信號傳遞給測試臺，探針2則將小電流信號傳遞給測試臺，使得一個導電裝置能夠同時實現(xiàn)大電流信號與小電流信號的同時讀取，提高測試效率。

進一步地，圖中未示出，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，為了防止大電流信號與小電流信號傳遞時互相干擾，第一限位環(huán)14、第二限位環(huán)15、壓簧16及固定夾17均應選用絕緣材質(zhì)。

進一步地，請參閱圖1至圖4及圖9至圖10，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，為了方便插座本體10及探針2與測試平臺的連接，插座本體10的前部設有外螺紋導線連接柱19，能實現(xiàn)探針插座1及探針2與測試臺的快速連接，進一步提高了導電裝置的裝配效率。

進一步地，請參閱圖4及圖10，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，彈性導電連接結(jié)構(gòu)為卡圈式彈性導電環(huán)。為加強插接孔12與電元件插頭之間的導電連接，插接孔12內(nèi)還設有彈性導電連接結(jié)構(gòu)，彈性導電連接結(jié)構(gòu)是直接與電元件插頭實現(xiàn)過盈配合的結(jié)構(gòu)，能增加插接孔12與電元件插頭之間的接觸面積，從而減小接觸阻抗，由于其為卡圈式彈性導電環(huán)，插接本身的磨損也很小。插座本體10能通過彈性導電連接結(jié)構(gòu)與電元件插頭進行直接的電連接并進行大電流的傳導，將大電流信號傳遞給測試臺，探針2則將小電流信號傳遞給測試臺，使得一個導電裝置能夠同時實現(xiàn)大電流信號與小電流信號的同時讀取，提高測試準確性。

進一步地，請參閱圖4及圖10，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，彈性導電連接結(jié)構(gòu)包括至少一圈與插接孔12同軸設置的卡槽20及與卡槽20卡接的金屬彈性卡圈。金屬彈性卡圈在電元件插頭插入后能夠提供彈性的擠壓力，既能夠增加導電接觸面積又能夠?qū)﹄娫孱^的磨損降低到最小。同時金屬彈性卡圈起到前述的直接導電的作用。

優(yōu)選的，請參閱圖4及圖10，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，為了保證插接后結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性，同時使得結(jié)構(gòu)最簡化，彈性導電連接結(jié)構(gòu)包括兩圈與插接孔12同軸設置的卡槽20及與卡槽20卡接的金屬彈性卡圈。

進一步地，請參閱圖4及圖10，作為本發(fā)明提供的大電流導電裝置的一種具體實施方式，金屬彈性卡圈為彈簧圈21，彈簧圈21的中軸線與插接孔12的中軸線垂直，彈簧圈21的內(nèi)部設有用于定位彈簧圈21的定位圈22，定位圈22的外徑大于彈簧圈21的內(nèi)徑。定位圈22能夠給彈簧圈21的彈簧結(jié)構(gòu)提供外張力，使其固定于卡槽20中，并且柔軟的彈簧可以通過形變接觸子連接件電元件插頭表面，從而使有效接觸面積最大化，增加大電流的過流能力。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。