本申請屬于電路測試領(lǐng)域，具體涉及一種點(diǎn)對點(diǎn)之間開短路測試系統(tǒng)及測試方法。

背景技術(shù)：

在治具測試行業(yè)經(jīng)常需要進(jìn)行點(diǎn)與點(diǎn)之間的OS測試，OS(Open&Short)測試即開短路測試，該測試能快速檢測出集成電路是否存在電性物理缺陷，如管腳短路、接合線(bond wire)缺失、管腳的靜電損壞以及制造缺陷等。

目前常用的測試方法是在測試物一端的待測點(diǎn)注入額定電流，另外一端的待測點(diǎn)輸出電流，同時(shí)讀取待測點(diǎn)之間電壓，最后通過軟件處理換算成電阻的方式，來判斷待測點(diǎn)之間的阻抗是否在測試要求范圍內(nèi)。該測試方法的原理如圖1所示，R_L為待測物，A、B為待測點(diǎn)，I_C為測試時(shí)注入到待測物的測試電流，V_test為待測點(diǎn)A、B之間的電壓。在導(dǎo)通電阻測試狀態(tài)下，測試電流I_C從A點(diǎn)輸入，通過待測物R_L，經(jīng)B點(diǎn)接地，在測得待測點(diǎn)A、B之間的電壓V_test的情況下，根據(jù)歐姆定律就可以計(jì)算出導(dǎo)通電阻R_L，即R_L＝V_test/I_C，最后通過R_L是否在測試要求范圍內(nèi)來判斷A、B之間的OS狀態(tài)。但是使用該方法就需要AD電壓采樣電路對電壓信號做采集，以及需要CPU進(jìn)行數(shù)據(jù)換算后得出待測電阻，電路設(shè)計(jì)成本高，而且需要做軟件處理，對于簡單的OS測試造成了資源的極大浪費(fèi)。

因此，有必要提供一種設(shè)計(jì)簡單、成本低的測試系統(tǒng)及方法實(shí)現(xiàn)點(diǎn)對點(diǎn)之間開短路的快速測試。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本申請?zhí)峁┮环N點(diǎn)對點(diǎn)之間開短路測試系統(tǒng)，以解決現(xiàn)有測試裝置的電路結(jié)構(gòu)復(fù)雜、成本高、效率低等問題，同時(shí)提供一種使用上述測試系統(tǒng)的測試方法。

根據(jù)第一方面，一種實(shí)施例中提供點(diǎn)對點(diǎn)之間開短路測試系統(tǒng)，包括至少一個(gè)檢測電路，所述檢測電路包括順次連接的信號切入控制電路、電壓比較電路和信號接收判斷電路；所述信號切入控制電路用于控制一個(gè)待測點(diǎn)與接地端之間的通斷，以及控制另一個(gè)待測點(diǎn)與電壓比較電路的輸入端之間的通斷；所述電壓比較電路用于將其輸入端的電壓與一設(shè)定電壓閾值進(jìn)行比較，并輸出比較結(jié)果；所述信號接收判斷電路用于根據(jù)所述比較結(jié)果判斷兩個(gè)所述待測點(diǎn)的開短路情況。

在一較優(yōu)實(shí)施例中，所述信號切入控制電路包括開關(guān)電路和控制該開關(guān)電路通斷的開關(guān)控制單元，兩個(gè)所述待測點(diǎn)通過開關(guān)電路與對應(yīng)的接地端、電壓比較電路的輸入端連接。

在一較優(yōu)實(shí)施例中，所述開關(guān)電路為繼電器。

在一較優(yōu)實(shí)施例中，所述電壓比較電路包括一個(gè)串入電阻，所述串入電阻的一端與所述電壓比較電路的輸入端相連，另一端與一電源相連。

在一較優(yōu)實(shí)施例中，所述電壓比較電路包括電壓比較器，所述電壓比較器的同相端為所述電壓比較電路的輸入端，所述電壓比較器的反相端連接有一個(gè)兩端分別與電源和地相連的分壓電阻電路，所述電壓比較器的輸出端用于輸出所述比較結(jié)果。

在一較優(yōu)實(shí)施例中，所述系統(tǒng)還包括一開關(guān)管電平轉(zhuǎn)換電路，用于將電壓比較電路輸出的比較結(jié)果進(jìn)行電平轉(zhuǎn)換后輸出給所述信號接收判斷電路。

在一較優(yōu)實(shí)施例中，所述信號接收判斷電路包括控制器或與門電路或與非門電路。

在一較優(yōu)實(shí)施例中，所述信號接收判斷電路包括聲光報(bào)警電路，所述聲光報(bào)警電路包括發(fā)光二極管或蜂鳴器。

根據(jù)第二方面，一種實(shí)施例中提供點(diǎn)對點(diǎn)之間開短路測試方法，該方法包括如下步驟：

將一個(gè)待測點(diǎn)與接地端連接，將另一個(gè)待測點(diǎn)與一串入電阻的一端相連，所述串入電阻的另一端與一電源相連；

將連接于所述串入電阻一端的那個(gè)待測點(diǎn)的電壓，與一設(shè)定電壓閥值比較，并輸出比較結(jié)果；

根據(jù)比較結(jié)果判斷這兩個(gè)待測點(diǎn)之間的開短路情況。

在一較優(yōu)實(shí)施例中，當(dāng)比較結(jié)果為所述待測點(diǎn)的電壓小于設(shè)定電壓閥值時(shí)，則判斷兩個(gè)待測點(diǎn)之間短路；

當(dāng)比較結(jié)果為所述待測點(diǎn)的電壓大于設(shè)定電壓閥值時(shí)，則判斷兩個(gè)待測點(diǎn)之間開路；

其中所述設(shè)定電壓閥值小于電源電壓。

有益效果：本發(fā)明的點(diǎn)對點(diǎn)之間開短路測試系統(tǒng)將多個(gè)測試電路并聯(lián)，利用信號切入控制電路控制一個(gè)待測點(diǎn)與接地端之間的通斷，以及控制另一個(gè)待測點(diǎn)與電壓比較電路的輸入端之間的通斷；再利用電壓比較電路將其輸入端的電壓與一設(shè)定電壓閾值進(jìn)行比較，并輸出比較結(jié)果；最后利用信號接收判斷電路用于根據(jù)比較結(jié)果判斷兩個(gè)所述待測點(diǎn)的開短路情況。該測試系統(tǒng)一次可以實(shí)現(xiàn)多組待測點(diǎn)的測試，測試過程簡單高效，電路結(jié)構(gòu)簡單且成本低。

根據(jù)串聯(lián)分壓的原理，將待測點(diǎn)接入電阻與串入電阻進(jìn)行串聯(lián)分壓，然后將該電壓與設(shè)定電壓閥值通過電壓比較器進(jìn)行比較以及結(jié)果輸出，快速直接地得出點(diǎn)對點(diǎn)之間開短路的測試結(jié)果。

附圖說明

圖1為目前常規(guī)開短路測試方法的測試原理圖；

圖2為本申請點(diǎn)對點(diǎn)之間開短路測試系統(tǒng)一種實(shí)施例的電路圖；

圖3為本申請信號切入控制電路實(shí)施例的電路圖；

圖4為本申請電壓比較電路實(shí)施例的電路圖；

圖5為本申請點(diǎn)對點(diǎn)之間開短路測試方法實(shí)施例的流程圖。

具體實(shí)施方式

下面通過具體實(shí)施方式結(jié)合附圖對本申請作進(jìn)一步詳細(xì)說明。其中不同實(shí)施方式中類似元件采用了相關(guān)聯(lián)的類似的元件標(biāo)號。在以下的實(shí)施方式中，很多細(xì)節(jié)描述是為了使得本申請能被更好的理解。然而，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以毫不費(fèi)力的認(rèn)識到，其中部分特征在不同情況下是可以省略的，或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情況下，本申請相關(guān)的一些操作并沒有在說明書中顯示或者描述，這是為了避免本申請的核心部分被過多的描述所淹沒，而對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言，詳細(xì)描述這些相關(guān)操作并不是必要的，他們根據(jù)說明書中的描述以及本領(lǐng)域的一般技術(shù)知識即可完整了解相關(guān)操作。

另外，說明書中所描述的特點(diǎn)、操作或者特征可以以任意適當(dāng)?shù)姆绞浇Y(jié)合形成各種實(shí)施方式。同時(shí)，方法描述中的各步驟或者動作也可以按照本領(lǐng)域技術(shù)人員所能顯而易見的方式進(jìn)行順序調(diào)換或調(diào)整。因此，說明書和附圖中的各種順序只是為了清楚描述某一個(gè)實(shí)施例，并不意味著是必須的順序，除非另有說明其中某個(gè)順序是必須遵循的。

本發(fā)明提供了一種點(diǎn)對點(diǎn)之間開短路測試系統(tǒng)，包括至少一個(gè)檢測電路，如圖2所示，本實(shí)施例的檢測電路包括順次連接的信號切入控制電路11、電壓比較電路12和信號接收判斷電路13；信號切入控制電路11的輸入端與兩個(gè)對應(yīng)的待測點(diǎn)A、B連接，其中待測點(diǎn)B的輸出端用于接地，另一個(gè)待測點(diǎn)A的輸出端與電壓比較電路12的輸入端連接，該電路用于控制待測點(diǎn)B與接地端之間的通斷，以及控制另一個(gè)待測點(diǎn)A與電壓比較電路的輸入端之間的通斷；電壓比較電路12用于將其輸入端的電壓與一設(shè)定電壓閾值進(jìn)行比較，并輸出比較結(jié)果；信號接收判斷電路13用于根據(jù)比較結(jié)果判斷兩個(gè)對應(yīng)待測點(diǎn)的開短路情況。

進(jìn)一步地，本實(shí)施例的信號切入控制電路包括開關(guān)電路和控制該開關(guān)電路通斷的開關(guān)控制單元，兩個(gè)對應(yīng)的待測點(diǎn)A、B通過開關(guān)電路與對應(yīng)的接地端、電壓比較電路的輸入端連接。

優(yōu)選地，如圖3所示，本實(shí)施例的開關(guān)電路為繼電器K3，由圖可知，待測點(diǎn)A、B分別通過繼電器K3的常開觸點(diǎn)與電壓比較電路的輸入端SHORT1-IN、接地端(DGND)連接，開關(guān)控制單元通過對應(yīng)的控制管腳short1_conn與繼電器線圈的一端連接以控制該繼電器的通斷，繼電器線圈的另一端與+24V連接，且該線圈的兩端并聯(lián)一個(gè)二極管D4，以保證繼電器線圈的安全。

優(yōu)選地，如圖4所示，本實(shí)施例的電壓比較電路包括一個(gè)串入電阻R20和一個(gè)電壓比較器LM，R20的一端與電壓比較器LM的輸入端相連，另一端與一電源(+3.3V)相連，該電壓比較器采用單電源(+3.3V)供電。電壓比較器的同相端即為電壓比較電路的輸入端SHORT1-IN，待測點(diǎn)A、B之間的電阻與串入電阻R20形成串聯(lián)分壓電路，同相端的電壓由R20和待測點(diǎn)A、B之間的電阻分壓決定，該電壓等于待測點(diǎn)A、B之間的電阻的電壓降V_ce；電壓比較器的反相端連接有一個(gè)兩端分別與電源和地(DGND)相連的分壓電阻電路，該分壓電阻電路由電阻R23、R68串聯(lián)構(gòu)成，用于提供一個(gè)固定的設(shè)定電壓閥值V_ref，該設(shè)定電壓閥值由電阻R23和R68分壓決定，其值為V_ref＝3.3*R68/(R68+R23)，調(diào)節(jié)電阻R23的值可以改變設(shè)定電壓閥值的大小。

該電壓比較器對同相的輸入電壓與反相的設(shè)定電壓閥值進(jìn)行比較，當(dāng)輸入電壓V_ce＞設(shè)定電壓閥值V_ref時(shí)，電壓比較器輸出高電平信號；當(dāng)輸入電壓V_ce<設(shè)定電壓閥值V_ref時(shí)，電壓比較器輸出低電平信號。

優(yōu)選地，本實(shí)施例的測試系統(tǒng)還包括一開關(guān)管電平轉(zhuǎn)換電路，用于將電壓比較電路輸出的比較結(jié)果進(jìn)行電平轉(zhuǎn)換后輸出給信號接收判斷電路。如圖4所示，該開關(guān)管電平轉(zhuǎn)換電路優(yōu)選NPN三極管Q83，電壓比較器LM的輸出端通過電阻R24與三極管Q83的基極連接，Q83的發(fā)射極接地，其集電極用于輸出轉(zhuǎn)換后的電平信號RES-IN1。

根據(jù)電壓比較器的原理，本實(shí)施例利用待測點(diǎn)A、B之間的電阻與串入電阻R20形成串聯(lián)分壓電路，待測點(diǎn)A、B之間的開路阻抗為∞(無窮大)，此時(shí)V_ce等于電源電壓，高于反相設(shè)定電壓閥值V_ref；待測點(diǎn)A、B之間的短路阻抗≈0，此時(shí)串入電阻分壓點(diǎn)電壓接近于地電壓，低于反相設(shè)定電壓閥值V_ref。

優(yōu)選地，信號接收判斷電路采用用于讀取電壓比較電路輸出的電平信號的控制器，控制器優(yōu)選CPU，CPU用于讀取開關(guān)管電平轉(zhuǎn)換電路輸出的電平信號，并根據(jù)接收的信號判斷待測點(diǎn)A、B的開短路情況。如果CPU讀取到電壓比較器輸出高電平信號，則可以判斷A、B之間開路，如果CPU讀取到電壓比較器輸出低電平信號，則可以判斷A、B之間短路。

另外，信號接收判斷電路也可以采用與門電路或與非門電路等數(shù)字電路IC，例如可以將多組電壓比較電路輸出同時(shí)接入多路與門或與非門等數(shù)字電路IC,進(jìn)行相關(guān)的算法后，通過數(shù)字電路直接得出開短路結(jié)果。這里數(shù)字電路的具體結(jié)構(gòu)不再贅述，可以根據(jù)實(shí)際需要而定。

進(jìn)一步地，信號接收判斷電路也可以采用發(fā)光二極管或蜂鳴器的聲光報(bào)警電路，利用電壓比較器輸出的高低電平兩狀態(tài)的變化，以驅(qū)動發(fā)光二極管和蜂鳴器報(bào)警電路。這里有兩種驅(qū)動方式，當(dāng)采用低電平驅(qū)動時(shí)，可以將發(fā)光二極管/蜂鳴器的正極與電源連接，負(fù)極接到電壓比較器的輸出端，這樣，當(dāng)電壓比較器的輸出端為低電平時(shí)，發(fā)光二極管/蜂鳴器可以工作；如果采用高電平驅(qū)動，可以將發(fā)光二極管/蜂鳴器的正極與電壓比較器的輸出端連接，負(fù)極接地，這樣，當(dāng)電壓比較器的輸出端為高電平時(shí)，發(fā)光二極管/蜂鳴器可以工作。

根據(jù)本發(fā)明的另一方面，本發(fā)明還提供了一種點(diǎn)對點(diǎn)之間開短路測試方法，如圖5所示，該方法的步驟如下：

S1：將一個(gè)待測點(diǎn)與接地端連接，將另一個(gè)待測點(diǎn)與一串入電阻的一端相連，該串入電阻的另一端與一電源相連；

S2：將連接于串入電阻一端的那個(gè)待測點(diǎn)的電壓，與一設(shè)定電壓閥值比較，并輸出比較結(jié)果；

S3：根據(jù)比較結(jié)果判斷這兩個(gè)待測點(diǎn)之間的開短路情況。

進(jìn)一步地，本發(fā)明采用電壓比較器進(jìn)行電壓比較，串入電阻與待測點(diǎn)相連后連接到電壓比較器的同相端，電壓比較器的反相端輸入一個(gè)設(shè)定電壓閥值，將連接于串入電阻一端的那個(gè)待測點(diǎn)的電壓與設(shè)定電壓閥值相比較，輸出比較結(jié)果，若比較結(jié)果為待測點(diǎn)的電壓小于設(shè)定電壓閥值時(shí)，電壓比較器輸出的電平信號為0，則判斷兩個(gè)待測點(diǎn)之間短路；若比較結(jié)果為所述待測點(diǎn)的電壓大于設(shè)定電壓閥值時(shí)，電壓比較器輸出的電平信號為1時(shí)，則判斷兩個(gè)待測點(diǎn)之間開路。

另外，對比較結(jié)果進(jìn)行接收判斷的電路的具體實(shí)現(xiàn)方式及判斷過程如上的測試系統(tǒng)所述，此處不再贅述。

本申請中所涉及的功能既可通過上述實(shí)施例中描述的程序的方式實(shí)現(xiàn)，也可通過硬件的方式實(shí)現(xiàn)，例如通過門電路搭建成專用集成電路。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解，上述實(shí)施方式中各種程序可以存儲于一計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)中，存儲介質(zhì)可以包括：只讀存儲器、隨機(jī)存儲器、磁盤或光盤等，數(shù)據(jù)處理模塊可通過執(zhí)行程序?qū)崿F(xiàn)上述功能。

以上應(yīng)用了具體個(gè)例對本申請進(jìn)行闡述，只是用于幫助理解本申請，并不用以限制本申請。對于本申請所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員，依據(jù)本申請的思想，還可以做出若干簡單推演、變形或替換。