1.一種利用磁光隔離器探測磁場強度的測量系統(tǒng)，其特征在于：包括激光驅(qū)動及發(fā)射單元、磁場探測及傳輸單元、信號解調(diào)單元、AD采樣及轉(zhuǎn)換單元和處理器，其中：
所述激光驅(qū)動及發(fā)射單元發(fā)射功率恒定的光信號，通過磁場探測及傳輸單元感應(yīng)空間磁場，并將測量的空間磁場信號輸入到信號解調(diào)單元，所述信號解調(diào)單元對輸入的磁場信號進行偏置、放大，然后根據(jù)所需要測量的空間磁場的頻率范圍計算通帶頻率和帶寬，之后對放大后的信號進行帶通濾波，最后經(jīng)過AD采樣及轉(zhuǎn)換單元進行優(yōu)化并轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，傳輸給處理器，所述處理器利用測量到的溫度對費爾德系數(shù)進行校正，再利用校正后的菲爾德系數(shù)進行計算，得到測量點處磁場強度。
2.如權(quán)利要求1所述的一種利用磁光隔離器探測磁場強度的測量系統(tǒng)，其特征在于：所述處理器通過以太網(wǎng)連接客戶端，進行數(shù)據(jù)的顯示及互聯(lián)。
3.如權(quán)利要求1所述的一種利用磁光隔離器探測磁場強度的測量系統(tǒng)，其特征在于：所述磁場探測及傳輸單元，包括磁光隔離器和連接在磁光隔離器兩端的光纖，所述磁光隔離器包括依次相連的起偏器、法拉第旋轉(zhuǎn)器和檢偏器，且起偏器與檢偏器分別位于法拉第旋轉(zhuǎn)器兩側(cè)，彼此透光方向呈45度角，對磁光隔離器施加大小可變的不飽和磁場。
4.如權(quán)利要求1所述的一種利用磁光隔離器探測磁場強度的測量系統(tǒng)，其特征在于：所述磁場方向與法拉第旋轉(zhuǎn)器軸向方向一致。
5.如權(quán)利要求1所述的一種利用磁光隔離器探測磁場強度的測量系統(tǒng)，其特征在于：所述磁光隔離器與光纖熔接，構(gòu)成閉合式的光學(xué)回路。
6.如權(quán)利要求1所述的一種利用磁光隔離器探測磁場強度的測量系統(tǒng)，其特征在于：所述磁光隔離器設(shè)置于需要測量的磁場或需要測量的空間點上。
7.一種基于如權(quán)利要求1-6中任一項所述的測量系統(tǒng)的測量方法，其特征在于：具體包括：
(1)連接測量系統(tǒng)，采集光強信號，并進行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換；
(2)對空間點的溫度進行測量，然后再利用測量到的溫度對費爾德系數(shù)進行校正；
(3)根據(jù)輸入光強、輸出光強、外加磁場與轉(zhuǎn)換電壓之間的理論關(guān)系，得到測量點處磁場強度的大小。
8.如權(quán)利要求7所述的測量方法，其特征在于：所述步驟(3)中，利用輸入光強、輸出光強、外加磁場與轉(zhuǎn)換電壓之間的理論關(guān)系，得到測量點處磁場強度的大?。?/p>
Im＝I0e-αlcos2(β+θ) (1-1)
其中，Im是輸入光強，I0是輸出光強，α是磁光介質(zhì)的光吸收系數(shù)，l是光透過磁光介質(zhì)的長度，β是起偏器與檢偏器的透光軸之間的夾角，θ是光通過介質(zhì)的法拉第旋轉(zhuǎn)角度。