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一種反向脈沖HADAMARD離子遷移譜的制作方法

文檔序號(hào):12466464閱讀:417來(lái)源:國(guó)知局
一種反向脈沖HADAMARD離子遷移譜的制作方法與工藝

本發(fā)明涉及一種反向脈沖HADAMARD離子遷移譜。



背景技術(shù):

近年來(lái),無(wú)論是國(guó)外還是國(guó)內(nèi),各種恐怖活動(dòng)在不斷加劇,為了有效地保障公民的生命財(cái)產(chǎn)安全,維護(hù)地區(qū)的穩(wěn)定和平,人們加大了對(duì)爆炸物、化學(xué)戰(zhàn)劑、危險(xiǎn)化學(xué)品、毒品等的快速檢測(cè)儀器的研發(fā)投入,離子遷移譜儀作為一種快速、痕量危險(xiǎn)化學(xué)品檢測(cè)技術(shù),正在不斷發(fā)展。

離子遷移譜相比于其他化學(xué)品檢測(cè)儀器,其優(yōu)勢(shì)主要是能對(duì)一些痕量毒害物進(jìn)行快速檢測(cè),利用不同離子在均勻弱電場(chǎng)條件下具有不同的遷移速度來(lái)區(qū)分被測(cè)物,具有檢測(cè)成本低、速度快、靈敏度高等特點(diǎn)。離子遷移譜探測(cè)裝置研究始于20世紀(jì)60年代,早期主要應(yīng)用于軍事方面,主要進(jìn)行痕量化學(xué)戰(zhàn)劑等的檢測(cè),當(dāng)前,隨著各種暴恐活動(dòng)的日益猖獗,在機(jī)場(chǎng)、火車(chē)站、地鐵口、海關(guān)口岸等場(chǎng)所的安檢部門(mén)中也大量投入了離子遷移譜儀,以輔助安檢人員完成各種痕量毒害危險(xiǎn)品的快速檢測(cè)。

HADAMARD變換技術(shù)是一種多路復(fù)用技術(shù),該技術(shù)主要是為了提高傳統(tǒng)分離技術(shù)的占空比,使得單位時(shí)間內(nèi)的離子通量顯著提升,最終有效地提高了離子遷移譜的信噪比,HADAMARD技術(shù)首先被應(yīng)用到光譜儀中,并隨之應(yīng)用到了毛細(xì)管電泳、氣相色譜、核磁共振、質(zhì)譜檢測(cè)以及離子遷移譜檢測(cè)中。然而,除了顯著提升的信噪比,HADAMARD技術(shù)也給這些脈沖分離技術(shù)引入了新的問(wèn)題——假峰現(xiàn)象。在毛細(xì)管電泳、氣相色譜等技術(shù)領(lǐng)域,這些假峰大多呈現(xiàn)出反向峰特性,因而易于識(shí)別;然而,對(duì)于HADAMARD離子遷移譜來(lái)說(shuō),這些假峰現(xiàn)象大多呈現(xiàn)出與信號(hào)峰相似的特性,在不借助其他分離儀器的條件下,我們很難快速地將這些可疑的峰定性為假峰,因?yàn)橐灿锌赡苁且驗(yàn)樾旁氡忍岣吆?,原先在信?hào)平均法中無(wú)法檢測(cè)出的峰被HADAMARD方法檢測(cè)出來(lái)的。這些假峰的出現(xiàn)嚴(yán)重影響了多路復(fù)用離子遷移譜的定性分析質(zhì)量。為此尋找一種快速甄別這些假峰的方法是非常必要的。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明技術(shù)解決問(wèn)題:針對(duì)常規(guī)HADAMARD變換離子遷移譜中存在諸多假峰,而且此類(lèi)假峰大多呈現(xiàn)出與信號(hào)峰相似的特征,難以進(jìn)行快速識(shí)別的問(wèn)題,提出利用將反向脈沖技術(shù)引入到HADAMARD多路復(fù)用技術(shù)中,構(gòu)建了一種反向脈沖HADAMARD變換離子遷移譜。該發(fā)明能夠在不改變多路復(fù)用離子遷移譜的信噪比的前提下,利用假峰與信號(hào)峰的反向特性實(shí)現(xiàn)了假峰的快速識(shí)別,提高了HADAMARD離子遷移譜的定性分析質(zhì)量。

本發(fā)明技術(shù)解決方案:一種反向脈沖HADAMARD離子遷移譜,包括電離源區(qū)、反應(yīng)區(qū)、 離子門(mén)、反向脈沖HADAMARD多路復(fù)用離子門(mén)控單元、遷移區(qū)、信號(hào)預(yù)處理單元、信號(hào)逆HADAMARD變換處理單元。所述電離源區(qū)內(nèi)有電離源,所述反應(yīng)區(qū)與所述遷移區(qū)間設(shè)置有一對(duì)稱(chēng)型BN離子門(mén),特征在于,所述離子門(mén)與所述反向脈沖HADAMARD多路復(fù)用離子門(mén)控單元相連,所述離子門(mén)控單元將反向脈沖技術(shù)應(yīng)用與HADAMARD多路復(fù)用技術(shù)相結(jié)合,將常規(guī)的門(mén)控序列轉(zhuǎn)換為反向HADAMARD多路復(fù)用離子門(mén)控序列,完成離子門(mén)的快速開(kāi)關(guān)控制,所述信號(hào)預(yù)處理單元首先利用電荷探測(cè)板探測(cè)離子電荷信號(hào),利用信號(hào)放大模塊完成離子電流到電壓信號(hào)的轉(zhuǎn)換,所述信號(hào)逆HADAMARD變換處理單元與所述信號(hào)預(yù)處理模塊相連,所述信號(hào)逆變換處理主要完成多路復(fù)用疊加譜數(shù)據(jù)的采集、模數(shù)轉(zhuǎn)換、逆HADAMARD變換處理、還原譜顯示、假峰快速識(shí)別。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述電離源區(qū)采用負(fù)高壓針對(duì)板式放電模式,電離源是一高壓模塊,其輸出的高壓是-11300V,通過(guò)放電針對(duì)空氣或高純氮?dú)夥烹姷玫椒磻?yīng)物離子或電子。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述電離區(qū)與所述反應(yīng)區(qū)之間設(shè)置有簾氣區(qū),所述簾氣區(qū)中通入的簾氣能阻隔樣品氣體進(jìn)入所述電離區(qū)。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述反應(yīng)區(qū)與遷移區(qū)通過(guò)對(duì)稱(chēng)型B-N型離子門(mén)阻隔,所述離子門(mén)與所述反向脈沖HADAMARD多路復(fù)用離子門(mén)控單元相連;在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述反向脈沖HADAMARD多路復(fù)用離子門(mén)控單元由最長(zhǎng)線性反饋移位寄存器、反向脈沖生成器(21)和門(mén)控驅(qū)動(dòng)電路(22)組成,首先由8階最長(zhǎng)線性反饋移位寄存器輸出255位偽隨機(jī)序列碼;所述反向脈沖生成器將該偽隨機(jī)二進(jìn)制脈沖序列做反向處理,得到反向的準(zhǔn)偽隨機(jī)二進(jìn)制脈沖序列;所述門(mén)控驅(qū)動(dòng)電路將輸出門(mén)控?cái)?shù)字序列轉(zhuǎn)換成0~220V的門(mén)控電壓信號(hào),并接入離子門(mén)兩端。所述離子門(mén)的門(mén)脈沖寬度為200μs。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述遷移區(qū)由一組等阻值電阻均勻串聯(lián)組成,利用一個(gè)負(fù)高壓模塊持續(xù)輸出高壓,得到的均勻遷移電場(chǎng)為300~500V/cm。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述信號(hào)預(yù)處理單元包括法拉第板(17)和信號(hào)放大模塊,通過(guò)法拉第板探測(cè)到離子電荷信號(hào)并將其轉(zhuǎn)換為離子電流信號(hào),利用所述信號(hào)放大模塊將離子電流轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào)接入所述信號(hào)逆HADAMARD變換處理單元。

進(jìn)一步,所述信號(hào)逆HADAMARD變換處理單元(7)將接收到的電壓信號(hào)進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換、疊加譜數(shù)據(jù)的顯示、逆HADAMARD變換處理、原始譜的顯示、假峰的快速識(shí)別處理。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,所述離子遷移譜是在常溫、常壓下工作,無(wú)需調(diào)節(jié)離子遷移區(qū)的溫度和濕度。

本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的優(yōu)點(diǎn)在于:本發(fā)明一種反向脈沖HADAMARD變換離子遷移譜,不僅能保障多路復(fù)用離子遷移譜的高占空比、高信噪比特性,而且能有效改變HADAMARD 離子遷移譜中的假峰和信號(hào)峰的相對(duì)朝向,從而實(shí)現(xiàn)了HADAMARD多路復(fù)用離子遷移譜的假峰的快速識(shí)別。本發(fā)明不必對(duì)現(xiàn)有HADAMARD離子遷移譜進(jìn)行硬件改動(dòng),無(wú)需額外增加假峰判識(shí)算法,在沒(méi)有額外增加時(shí)間開(kāi)銷(xiāo)的前提下,提高了HADAMARD多路復(fù)用離子遷移譜的定性分析質(zhì)量。本發(fā)明技術(shù)成果還可用于其它類(lèi)似的脈沖分離技術(shù)中,具有潛在的應(yīng)用價(jià)值。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明一種反向脈沖HADAMARD離子遷移譜原理圖;

圖2為本發(fā)明一種反向脈沖HADAMARD離子遷移譜裝置結(jié)構(gòu)圖

圖3為常規(guī)HADAMARD變換離子遷移譜與本發(fā)明反向脈沖HADAMARD變換離子遷移譜對(duì)單產(chǎn)物離子檢測(cè)結(jié)果對(duì)比圖

圖4為常規(guī)HADAMARD變換離子遷移譜與本發(fā)明反向脈沖HADAMARD變換離子遷移譜對(duì)多產(chǎn)物離子檢測(cè)結(jié)果對(duì)比圖

其中,1-電離源區(qū),2-簾氣區(qū),3-反應(yīng)區(qū),4-反向脈沖技術(shù)HADAMARD多路復(fù)用離子門(mén)控單元,5-遷移區(qū),6-信號(hào)與處理模塊電荷探測(cè)區(qū),7-信號(hào)逆HADAMARD變換處理單元,8-負(fù)高壓模塊1,9-氣體出口1,10-載氣1進(jìn)口,11-簾氣,12-氣體出口2,13-載氣2進(jìn)樣口,14-離子門(mén),15-均勻遷移電場(chǎng),16-遷移氣進(jìn)口,17-法拉第板,18-信號(hào)放大模塊,19-最長(zhǎng)線性反饋移位寄存器,20-反向脈沖生成器,21-離子門(mén)控驅(qū)動(dòng)模塊,22-負(fù)高壓模塊2。

具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖,對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)闡述。

如圖1所示,一種反向脈沖HADAMARD離子遷移譜原理圖,可以看出,利用反向脈沖技術(shù)對(duì)HADAMARD多路復(fù)用脈沖序列進(jìn)行處理,將處理后的脈沖序列用于離子門(mén)的快速開(kāi)關(guān)控制。其得到的還原譜表明,采用常規(guī)的HADAMARD變換離子遷移譜得到的假峰(*)與信號(hào)峰的特征相似,難以被快速鑒別;利用反向脈沖技術(shù)HADAMARD變換離子遷移譜進(jìn)行檢測(cè),得到的假峰(Δ)與信號(hào)峰朝向相反,易于快速識(shí)別。

如圖2所示,一種反向脈沖HADAMARD離子遷移譜裝置圖。該離子遷移譜裝置包括電離源區(qū)(1)、簾氣區(qū)(2)、反應(yīng)區(qū)(3)、離子門(mén)(4)、反向脈沖技術(shù)HADAMARD多路復(fù)用離子門(mén)控單元(5)、遷移區(qū)(6)、信號(hào)預(yù)處理單元(7)、信號(hào)逆HADAMARD變換處理單元(8)。所述電離源區(qū)采用負(fù)電暈針對(duì)板式放電模式,利用負(fù)高壓模塊(9)輸出-11000V高壓給放電針,電離源區(qū)有出氣口1(11);所述簾氣區(qū)利用通入的簾氣(12)隔離樣品氣體進(jìn)入電離源區(qū);所述反應(yīng)區(qū)設(shè)置有進(jìn)氣口(13)和出氣口2(14);所述反應(yīng)區(qū)與遷移區(qū)之間設(shè) 置有對(duì)稱(chēng)型B-N型離子門(mén)(4),所述離子門(mén)與反向脈沖技術(shù)HADAMARD多路復(fù)用離子門(mén)控單元(5)連接,由門(mén)控單元驅(qū)動(dòng)離子門(mén)的開(kāi)關(guān);所述遷移區(qū)由一系列交替放置的金屬環(huán)和聚四氟乙烯環(huán)組成,通過(guò)一組等值電阻將各個(gè)金屬環(huán)連接,利用負(fù)高壓模塊(10)持續(xù)輸出-5400V左右的高壓,在所述遷移區(qū)形成均勻弱電場(chǎng),所述遷移區(qū)末端有遷移氣進(jìn)氣口(15),用于反吹中性氣體分子或攜帶樣品氣體進(jìn)入到遷移區(qū);所述信號(hào)預(yù)處理單元(7)通過(guò)法拉第板(16)探測(cè)離子電荷信號(hào),并將信號(hào)接入信號(hào)放大模塊(17),完成離子電流信號(hào)到電壓信號(hào)的轉(zhuǎn)換處理;所述信號(hào)逆HADAMARD變換處理單元(8)完成多路信號(hào)疊加譜的采集、模數(shù)轉(zhuǎn)換、逆HADAMARD變換、原始譜信號(hào)還原、假峰的快速識(shí)別等。

反向脈沖技術(shù)HADAMARD多路復(fù)用離子門(mén)控單元(5)是本發(fā)明的關(guān)鍵創(chuàng)新之處。在21世紀(jì)初,國(guó)外學(xué)者已經(jīng)著手研究多路復(fù)用離子遷移譜,HADAMARD多路復(fù)用技術(shù)被應(yīng)用到離子遷移譜(IMS)技術(shù)中形成了HADAMARD變換離子遷移譜。相對(duì)于常規(guī)的信號(hào)平均法,HADAMARD變換離子遷移譜能夠顯著提升離子遷移譜的信噪比。然而,在HADAMARD多路復(fù)用IMS中卻出現(xiàn)了假峰現(xiàn)象,與其他分離技術(shù)不同,這些假峰常常表現(xiàn)出與信號(hào)峰相似的特征,而且隨著偽隨機(jī)序列的改變,這些假峰的位置也跟著改變,這一問(wèn)題嚴(yán)重影響了離子遷移譜的快速定性分析質(zhì)量。為此,本發(fā)明利用反向脈沖技術(shù),改變了HADAMARD多路復(fù)用離子遷移譜中信號(hào)峰的朝向,但并未改變假峰的方向,在保障了HADAMARD離子遷移譜高信噪比的同時(shí),解決了假峰的快速判識(shí)問(wèn)題。這對(duì)于多路復(fù)用離子遷移譜來(lái)說(shuō),是非常實(shí)用的。本實(shí)施例中反向脈沖技術(shù)HADAMARD多路復(fù)用離子門(mén)控單元(5)首先利用8階最長(zhǎng)線性反饋移位寄存器(18),生成255位偽隨機(jī)二進(jìn)制脈沖序列,利用反向脈沖編碼技術(shù)(19)將該偽隨機(jī)二進(jìn)制序列碼變?yōu)榉聪虻亩M(jìn)制脈沖序列,最終接入離子門(mén)驅(qū)動(dòng)電路(20),由其輸出門(mén)控電壓信號(hào)控制離子門(mén)的快速開(kāi)關(guān)。

本發(fā)明中離子門(mén)(4)的脈沖寬度(調(diào)制分辨率)設(shè)置為200μs,離子門(mén)的關(guān)門(mén)電壓設(shè)置為165V,開(kāi)門(mén)電壓為0V。

本發(fā)明中,利用該方法進(jìn)行了單產(chǎn)物離子的檢測(cè)和多產(chǎn)物離子的檢測(cè),并將檢測(cè)結(jié)果與常規(guī)的HADAMARD變換離子遷移譜譜圖進(jìn)行了對(duì)比,如圖3所示,常規(guī)的HADAMARD變換離子遷移譜和本發(fā)明反向脈沖技術(shù)HADAMARD變換離子遷移譜單產(chǎn)物檢測(cè)對(duì)比,如圖4所示,常規(guī)的HADAMARD變換離子遷移譜和本發(fā)明反向脈沖技術(shù)HADAMARD變換離子遷移譜多產(chǎn)物檢測(cè)對(duì)比。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,采用反向脈沖技術(shù)的HADAMARD變換離子遷移譜能有效改變假峰與信號(hào)峰的相對(duì)特性,在沒(méi)有額外增加計(jì)算開(kāi)銷(xiāo)的條件下,快速解決假峰地鑒別,顯著提升了HADAMARD多路復(fù)用技術(shù)的定性分析質(zhì)量。

提供以上實(shí)施例僅僅是為了描述本發(fā)明的目的,而并非要限制本發(fā)明的范圍。本發(fā)明的 范圍由所附權(quán)利要求限定。不脫離本發(fā)明的精神和原理而做出的各種等同替換和修改,均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的范圍之內(nèi)。

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