技術(shù)總結(jié)
一種利用纖芯失配干涉結(jié)構(gòu)測(cè)量溫度的方法，所述方法包括如下步驟：a)搭建纖芯錯(cuò)位熔接干涉結(jié)構(gòu)，所述纖芯錯(cuò)位熔接干涉結(jié)構(gòu)包括依次連接的泵浦源，波分復(fù)用器，增益光纖，第一單模光纖，第二單模光纖，第三單模光纖和光譜分析儀；b)對(duì)第一單模光纖，第二單模光纖和第三單模光纖進(jìn)行光纖錯(cuò)位熔接；c)測(cè)量待測(cè)溫控裝置的外界溫度：將第一單模光纖、第二單模光纖和第三單模光纖與溫控裝置組合為一體，根據(jù)不同溫度時(shí)波谷處的波長值的變化，記錄梳狀譜移動(dòng)的長度，得到梳狀譜隨溫度的變化曲線，選取測(cè)量點(diǎn)波長，此時(shí)光譜波長曲線發(fā)生漂移，根據(jù)漂移量通過以下公式可以推斷出外界溫度：Y＝aX?b，其中X為溫度，Y為變化波長，a，b為常數(shù)。

技術(shù)研發(fā)人員：祝連慶;何巍;董明利;婁小平;劉鋒;閆光;李紅
受保護(hù)的技術(shù)使用者：北京信息科技大學(xué)
文檔號(hào)碼：201610741972
技術(shù)研發(fā)日：2016.08.26
技術(shù)公布日：2016.12.07