本發(fā)明主要有關(guān)于一測試技術(shù)，特別是有關(guān)于藉由一測試裝置傳送一時脈信號給待測物，以測試待測物是否有開路/短路發(fā)生的測試技術(shù)。

背景技術(shù)：

表面粘著技術(shù)(surface-mounttechnology，smt)是目前常用的將電子元件焊接于電路板(printedcircuitboard，pcb)表面的技術(shù)。有別于使用插入式封裝技術(shù)(throughholetechnology，tht)，將電子元件安置在電路板的一面，并將接腳焊在電路板的另一面，表面粘著技術(shù)可以大幅降低電子產(chǎn)品的體積。

然而，由于usb3.1type-c連接器的腳位隱藏于元件本體下方，若在使用表面粘著技術(shù)將其焊接于電路板(或主機板上)，工廠在生產(chǎn)時并無法以人工或機器視覺設(shè)備等檢測方式來檢測電路板的usb3.1type-c連接器有無開路或短路的狀況發(fā)生，且若全使用x光(x-ray)來進(jìn)行檢測，將會花費較高的成本。

此外，由于usb為使用差動信號(differentialsignal)傳輸?shù)姆绞?，因此通常會在其?nèi)部加入0.1u的交流耦合電容(ac-couplingcapacitance)，此電容會影響一般以直流電vcc為信號源設(shè)計的開路/短路測試治具的檢測。因此，當(dāng)在進(jìn)行usb開路/短路測時(in-circuittest，ict)，將會無法測得正確的結(jié)果。

因此，如何針對具有交流耦合電容特別是使用表面粘著技術(shù)制成方式配置在電路板的裝置(例如：usbtype-c連接器)，進(jìn)行開路和短路的測試，將是值得討論的課題。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

有鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的問題，本發(fā)明提供了藉由一測試裝置傳送一時脈信 號給待測物，以測試待測物是否有開路/短路發(fā)生的測試方法。

根據(jù)本發(fā)明的一實施例提供了一種測試裝置。上述測試裝置用以測試一待測物，其中上述待測物包含一第二連接接口，且上述第二連接接口包含一欲測試的腳位及一接地腳位。上述測試裝置包括一時脈電路、一測試電路以及多個顯示燈。時脈電路產(chǎn)生一時脈信號。測試電路包含一第一連接接口以及一接地端，其中上述第一連接接口包含多個腳位耦接至上述待測物的上述第二連接接口，其中上述多個腳位的一第一腳位耦接至上述時脈電路以及上述待測物的上述接地腳位。多個顯示燈耦接至第一連接接口，且對應(yīng)至上述多個腳位。

在一些實施例中，上述測試裝置還包括一開關(guān)電路。開關(guān)電路連接上述接地腳位和上述第一腳位，或連接上述接地腳位和上述接地端。當(dāng)上述開關(guān)電路連接上述接地腳位及上述接地端時，上述時脈電路耦接至一量測棒，以及上述量測棒傳送上述時脈信號至上述欲測試的腳位。在一些實施例中，上述測試裝置還包括一連接裝置。上述連接裝置用以連接上述第一連接接口與上述第二連接接口。

根據(jù)本發(fā)明的一實施例提供了一種測試方法。上述測試方法用于測試一待測物的一測試裝置，其中上述測試裝置包括多個腳位以及多個顯示燈，且上述多個顯示燈對應(yīng)上述多個腳位。上述測試方法包括以下步驟：

耦接上述測試裝置和上述待測物；藉由上述測試裝置的一時脈電路產(chǎn)生一時脈信號；藉由上述多個腳位的一第一腳位接收上述時脈信號；藉由上述第一腳位傳送上述時脈信號至上述待測物的一接地腳位；以及當(dāng)上述測試裝置的上述第一腳位收到上述待測物回傳的上述時脈信號時，導(dǎo)通上述多個顯示燈的對應(yīng)至上述第一腳位的一第一顯示燈。

關(guān)于本發(fā)明其他附加的特征與優(yōu)點，此領(lǐng)域的本領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可根據(jù)本案實施方法中所公開的執(zhí)行聯(lián)系程序的使用者裝置、系統(tǒng)、以及方法，做些許的更動與修改而得到。

附圖說明

圖1為顯示根據(jù)本發(fā)明的實施例所述的測試裝置100的方塊圖。

圖2為顯示根據(jù)本發(fā)明的一實施例所述的測試裝置100和待測物200其中一具有電容的腳位的簡易電路示意圖。

圖3為顯示根據(jù)本發(fā)明的實施例所述的開關(guān)電路300的示意圖。

圖4為根據(jù)本發(fā)明一實施例所述測試方法的流程圖400。

圖5為根據(jù)本發(fā)明另一實施例所述測試方法的流程圖500

其中，附圖標(biāo)記：

100測試裝置

110時脈電路

120測試電路

130多個顯示燈

121第一連接接口

200待測物

210第二連接接口

220電容

300開關(guān)電路

clk時脈信號

gnd接地端

pgnd接地腳位

400、500流程圖

具體實施方式

本章節(jié)所敘述的是實施本發(fā)明的最佳方式，目的在于說明本發(fā)明的精神而非用以限定本發(fā)明的保護(hù)范圍，本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視后附的權(quán)利要求保護(hù)范圍所界定者為準(zhǔn)。

圖1為顯示根據(jù)本發(fā)明的實施例所述的測試裝置100的方塊圖。如圖1所示，測試裝置100中包括一時脈電路110、一測試電路120以及多個顯示燈130。注意地是，在圖1中的方塊圖，僅為了方便說明本發(fā)明的實施例，但本發(fā)明并不以此為限。

根據(jù)本發(fā)明一實施例，測試電路120包含了一第一連接接口121以及一接地端gnd。根據(jù)本發(fā)明的實施例，第一連接接口121可為符合通用串行總線(universalserialbus，usb)3.1(usb3.1type-c)、高速外圍組件互連(peripheralcomponentinterconnectexpress，pcie)、快捷串行高級技術(shù) 附件(serialadvancedtechnologyattachmentexpress，sataexpress)、高清晰度多媒體接口(highdefinitionmultimediainterface，hdmi)、thunderbolt等有使用差動信號的連接器標(biāo)準(zhǔn)之一者的一連接器，但本發(fā)明并不以此為限。根據(jù)本發(fā)明一實施例，多個顯示燈130中包含了多個顯示燈，且每一顯示燈可為發(fā)光二極管(light-emittingdiode，led)、燈泡、發(fā)光元件之一者，但本發(fā)明并不以此為限。根據(jù)本發(fā)明一實施例，多個顯示燈130會耦接于第一連接接口121。

根據(jù)本發(fā)明一實施例，第一連接接口121包含了多個腳位(圖未顯示)，且多個腳位會對應(yīng)多個顯示燈130，舉例來說：第一腳位會對應(yīng)第一顯示燈、第二腳位會對應(yīng)第二顯示燈等等。

當(dāng)要測試一待測物200時，會將待測物200與測試裝置100相連接。具體來說，根據(jù)本發(fā)明一實施例，待測物200包含一第二連接接口210，當(dāng)要測試一待測物200時，待測物200的第二連接接口210會耦接于測試裝置100的測試電路120的第一連接接口121的多個腳位。

根據(jù)本發(fā)明的實施例，待測物200可為一主機板。根據(jù)本發(fā)明的實施例，第二連接接口210亦可符合usb3.1type-c、pcie、sataexpress、hdmi、thunderbolt等連接器標(biāo)準(zhǔn)之一者的一連接器。根據(jù)本發(fā)明的實施例，第一連接接口121和第二連接接口210會對應(yīng)相同的連接器標(biāo)準(zhǔn)，也就是說第二連接接口210中會包含對應(yīng)第一連接接口121的多個腳位的多個欲測試的腳位。根據(jù)本發(fā)明一實施例，本發(fā)明的測試裝置100還可包含一連接裝置(圖未繪示)，第一連接接口121和第二連接接口210可藉由連接裝置相連結(jié)。該連接裝置的兩端具有和第一連接接口121和第二連接接口210對應(yīng)相同連接器標(biāo)準(zhǔn)的連接接口。

當(dāng)待測物200耦接于測試裝置100后，時脈電路110會開始產(chǎn)生時脈信號clk。

圖2為顯示根據(jù)本發(fā)明的一實施例所述的測試裝置100和待測物200其中一具有電容的腳位的簡易電路示意圖。如圖2所示，根據(jù)本發(fā)明一實施例，第二連接接口210包含具有電容220的一欲測試的腳位(即第二連接接口210所包含的多個欲測試的腳位之一者)，以及一接地腳位pgnd。在本發(fā)明的實施例中，電容220可為表示一交流耦合電容(ac-couplingcapacitance)。第一連 接接口121的對應(yīng)第二連接接口210的欲測試的腳位的一腳位(例如：第一腳位，以下以第一腳位做說明)會耦接至?xí)r脈電路110以及待測物200的接地腳位pgnd，以形成一回路。因此，當(dāng)時脈電路110開始產(chǎn)生時脈信號clk后，第一連接接口121的第一腳位會將時脈信號clk傳送給待測物200。若沒有開路(open)的情況發(fā)生時，待測物200的接地腳位pgnd接收到時脈信號clk后，會再經(jīng)由第二連接接口210的欲測試的腳位回傳時脈信號clk給第一連接接口121的多個腳位。特別說明的是，圖2僅為顯示第一連接接口121的第一腳位以及第二連接接口210多個欲測試的腳位之一者，但本發(fā)明并不以此為限。也就是說，當(dāng)在開路測試時，第一連接接口的其他腳位，以及第二連接接口210其他欲測試的腳位亦會進(jìn)行上述的操作。因此，若沒有開路(open)的情況發(fā)生時，待測物200的接地腳位pgnd接收到時脈信號clk后，會經(jīng)由第二連接接口210所有欲測試的腳位回傳時脈信號clk給第一連接接口121的所有對應(yīng)的腳位。根據(jù)本發(fā)明另一實施例，若第二連接接口210的欲測試的腳位不包含電容220，亦可進(jìn)行上述開路測試。

因此，當(dāng)?shù)谝贿B接接口121的多個腳位接收到待測物200回傳的時脈信號clk后，每一腳位對應(yīng)的顯示燈130就會導(dǎo)通(即所有顯示燈都亮燈)。若有開路(open)的情況發(fā)生，待測物200的第二連接接口210則無法正?；貍鲿r脈信號clk給發(fā)生開路的腳位。也就是說，對應(yīng)發(fā)生開路的腳位的顯示燈130就無法被導(dǎo)通(即不亮燈)。舉例來說，當(dāng)待測物200耦接于測試裝置100后，若測試裝置100的第三顯示燈和第五顯示燈未亮燈，即表示第二連接接口210的第三腳位和第五腳位的電路發(fā)生開路的情況。因此，藉由本發(fā)明實施例所述的測試裝置100，即可測試待測物200的第二連接接口210的哪一腳位的電路發(fā)生開路的情況。于另一實施例中，顯示燈130可藉由人眼的視覺暫留達(dá)到持續(xù)亮燈的效果(實際上是在閃爍)。此時，顯示燈130閃爍的頻率會高于人眼視覺暫留的頻率(約為30hz)。時脈信號clk的頻率可視為顯示燈130的閃爍頻率，因此，時脈信號clk在頻率的選擇上，時脈信號clk的頻率高于人眼視覺暫留的頻率為佳，例如：2khz，但不以此為限。

根據(jù)本發(fā)明一實施例，測試裝置100更包括一開關(guān)電路。圖3為顯示根據(jù)本發(fā)明的實施例所述的開關(guān)電路300的示意圖。如圖3所示，開關(guān)電路可用以連接第二連接接口210的接地腳位pgnd和第一連接接口121的第一腳位，或 連接第二連接接口210的接地腳位pgnd和測試電路120的接地端gnd。根據(jù)本發(fā)明一實施例，可藉由一按鈕裝置來切換開關(guān)電路300。當(dāng)開關(guān)電路連接第二連接接口210的接地腳位pgnd和第一連接接口121的第一腳位時，可進(jìn)行待測物200的開路測試。開路測試的詳細(xì)過程如上述實施例所述，在此便不贅述。

當(dāng)開關(guān)電路連接第二連接接口210的接地腳位pgnd和測試電路120的接地端gnd時，可進(jìn)行待測物200的短路(short)測試。在進(jìn)行待測物200的短路測試時，一量測棒(圖未顯示)會耦接至?xí)r脈電路110。具體來說，使用者可使用量測棒接觸待測物200的一欲測試的腳位在第一連接接口121所對應(yīng)的一腳位，以藉由量測棒傳送時脈信號clk至第二連接接口210的該欲測試的腳位。當(dāng)僅有接觸的腳位所對應(yīng)的顯示燈130亮燈，即表示待測物200的該欲測試的腳位的電路未有短路的情況發(fā)生。當(dāng)除了接觸的腳位所對應(yīng)的顯示燈130之外，還有其他顯示燈130亮燈，即表示待測物200的該欲測試的腳位的電路有短路的情況發(fā)生。舉例來說，若使用者要檢測第二連接接口210的第二腳位，使用者可使用量測棒接觸第一連接接口121的第二腳位。若僅有對應(yīng)第一連接接口121的第二腳位的第二顯示燈亮燈，即表示第二連接接口210的第二腳位的電路未有短路的情況發(fā)生。若第一連接接口121的第二顯示燈和第三顯示燈同時亮燈，即表示第二連接接口210的第二腳位和第三腳位之間的電路有短路的情況發(fā)生。因此，藉由本發(fā)明實施例所述的測試裝置100，即可測試待測物200的第二連接接口210的那一腳位的電路發(fā)生短路的情況。根據(jù)本發(fā)明另一實施例，若第二連接接口210的欲測試的腳位不包含電容220，亦可進(jìn)行上述短路測試。

圖4為根據(jù)本發(fā)明一實施例所述測試方法的流程圖400，此測試方法適用于藉由測試裝置100測試待測物200是否有開路的情況發(fā)生。如圖4所示，在步驟s410，耦接測試裝置100和待測物200。在步驟s420，藉由測試裝置100的一時脈電路110產(chǎn)生一時脈信號clk。在步驟s430，藉由測試裝置100的第一連接接口121的多個腳位的一第一腳位接收時脈信號clk。在步驟s440，藉由上述第一腳位傳送時脈信號clk至待測物200的一接地腳位pgnd。在步驟s450，當(dāng)測試裝置100的第一腳位收到待測物200回傳的時脈信號clk時，導(dǎo)通多個顯示燈130的對應(yīng)至上述第一腳位的一第一顯示燈。

特別說明的是，在步驟s450中，測試裝置100的其他未有發(fā)生開路的腳位亦會收到待測物200回傳的時脈信號clk。也就是說，這些未有發(fā)生開路的腳位所對應(yīng)的顯示燈亦會被導(dǎo)通。

圖5為根據(jù)本發(fā)明另一實施例所述測試方法的流程圖500，此測試方法適用于藉由測試裝置100測試待測物200是否有短路的情況發(fā)生。在此測試方法的測試裝置100更包含一開關(guān)電路300。開關(guān)電路300可連接待測物200的接地腳位pgnd和第一連接接口121的第一腳位，或連接待測物200的接地腳位pgnd和測試裝置100的一接地端gnd。當(dāng)開關(guān)電路300連接待測物200的接地腳位pgnd和第一連接接口121的第一腳位時，進(jìn)行待測物200的開路檢測流程(同流程圖400的步驟)。當(dāng)開關(guān)電路300連接待測物200的接地腳位pgnd和測試裝置100的接地端gnd時，則進(jìn)行流程圖500的步驟。

如圖5所示，在步驟s510，切換開關(guān)電路300，使待測物200的接地腳位pgnd連接至測試裝置100的接地端gnd。在步驟s520，藉由將量測棒耦接(接觸)至欲測試的腳位，以傳送時脈信號clk至待測物200的一欲測試的腳位。在步驟s530，當(dāng)欲測試的腳位收到待測物200回傳的時脈信號clk時，導(dǎo)通欲測試的腳位所對應(yīng)的顯示燈。因此，藉由此測試方法，使用者可使用量測棒接觸待測物200欲測試的腳位在第一連接接口121所對應(yīng)的腳位，以藉由量測棒傳送時脈信號clk至第二連接接口210的欲測試的腳位。當(dāng)僅有接觸的腳位所對應(yīng)的顯示燈130亮燈，即表示待測物200的該腳位的電路未有短路的情況發(fā)生。當(dāng)除了接觸的腳位所對應(yīng)的顯示燈130之外，還有其他顯示燈130亮燈，即表示待測物200的該腳位與其他顯示燈對應(yīng)的腳位的電路有短路的情況發(fā)生。

透過本發(fā)明的實施例所提出的測試方法，將可針對具有交流耦合電容特別是使用表面粘著技術(shù)制成方式配置于電路板的裝置，進(jìn)行開路和短路的測試。因此，在透過上述測試方法測試連接器的開路和短路時，不需區(qū)分測試的腳位是否具有電容即可測試，亦不會因測試的腳位具有電容而誤判測試的結(jié)果。

本說明書中所提到的“一實施例”或“實施例”，表示與實施例有關(guān)的所述特定的特征、結(jié)構(gòu)、或特性是包含根據(jù)本發(fā)明的至少一實施例中，但并不表示它們存在于每一個實施例中。因此，在本說明書中不同地方出現(xiàn)的“在一實施例中”或“在實施例中”詞組并不必然表示本發(fā)明的相同實施例。

以上段落使用多種層面描述。顯然的，本文的教示可以多種方式實現(xiàn)，而在范例中公開的任何特定架構(gòu)或功能僅為一代表性的狀況。根據(jù)本文的教示，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)理解在本文公開的各層面可獨立實作或兩種以上的層面可以合并實作。

雖然本發(fā)明已以較佳實施例公開如上，但其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的更動與修改，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視后附的權(quán)利要求保護(hù)范圍所界定者為準(zhǔn)。